本教導(dǎo)涉及用于電子裝置(諸如打印機(jī)、復(fù)印機(jī)等)中的客戶可更換組件的安全、認(rèn)證和防偽措施的領(lǐng)域。

背景技術(shù)：

電子裝置(諸如打印機(jī)、復(fù)印機(jī)等)的模塊化設(shè)計(jì)允許由終端用戶更換組件或電子子系統(tǒng)。這些組件子系統(tǒng)或“客戶可更換單元監(jiān)視器(crum)”可以包括墨水和墨粉盒、靜電復(fù)印模塊、熔凝器組件以及其它電子裝置子系統(tǒng)。盡管組件的終端用戶更換對消費(fèi)者是方便、成本有效的，但不是由原始設(shè)備制造商或特許供應(yīng)商生產(chǎn)的組件(即非-oem組件)可能是低質(zhì)量的，可能具有兼容性的問題，并且可能產(chǎn)生保修問題，結(jié)果令消費(fèi)者不滿意。

特別是，低于標(biāo)準(zhǔn)的偽造組件可能包括制造商標(biāo)記和商標(biāo)，這是不合法的，造成消費(fèi)者認(rèn)為組件是由oem生產(chǎn)的。除了從oem轉(zhuǎn)移銷售收入之外，偽造組件的過早故障可能導(dǎo)致降低的品牌忠誠度。

盡管可以由oem制造包括防偽措施的可更換組件，但偽造組件的收入潛力很高，黑市供應(yīng)商越來越老練且資金充足。全息標(biāo)記和密封可以被準(zhǔn)確地再創(chuàng)建，加密的電子簽名可以被破解，因此在防止組件的復(fù)制上成功是有限的。必須持續(xù)地提高安全措施，以確保客戶可更換產(chǎn)品受到保護(hù)不被偽造。

對復(fù)印和偽造具有提高的抵抗力的新的安全措施會是本領(lǐng)域受歡迎的另外一點(diǎn)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

下面呈現(xiàn)簡化的發(fā)明內(nèi)容以便提供對本教導(dǎo)的一個或多個實(shí)施例的一些方面的基本理解。此發(fā)明內(nèi)容不是詳盡的概述，也不旨在標(biāo)識本教導(dǎo)的關(guān)鍵或重要元件，也不是界定本公開的范圍。而是，其主要目的只是以簡化形式呈現(xiàn)一個或多個構(gòu)思，作為后面呈現(xiàn)的詳細(xì)描述的前奏。

在一個實(shí)施例中，用于認(rèn)證組件子系統(tǒng)的方法可以包括：向所述組件子系統(tǒng)發(fā)送測試電壓值；向測試單元施加輸入電壓，其中，所述輸入電壓基于所述測試電壓值；從所述測試單元讀響應(yīng)電壓，其中，所述響應(yīng)電壓由施加到所述測試單元的輸入電壓產(chǎn)生；將所述響應(yīng)電壓與預(yù)期輸出電壓比較；以及響應(yīng)于匹配所述預(yù)期輸出電壓的響應(yīng)電壓，啟用所述組件子系統(tǒng)的功能。

在另一實(shí)施例中，電子系統(tǒng)可以包括主機(jī)裝置和安裝于所述主機(jī)裝置中的組件子系統(tǒng)。所述組件子系統(tǒng)可以包括：認(rèn)證模塊，所述認(rèn)證模塊被配置成接收測試電壓值并輸出測試電壓；以及測試單元，所述測試單元被配置成接收由所述認(rèn)證模塊輸出的所述測試電壓，所述測試單元包括字線、位線和存儲器膜，所述存儲器膜被插入所述字線和所述位線之間。所述測試單元可以被配置成響應(yīng)于接收所述測試電壓輸出響應(yīng)電壓。所述電子系統(tǒng)還可以包括主機(jī)控制器，所述主機(jī)控制器被配置成基于所述測試電壓值將所述響應(yīng)電壓與預(yù)期電壓比較。

在另一實(shí)施例中，打印機(jī)可以包括主機(jī)裝置和安裝于所述主機(jī)裝置中的組件子系統(tǒng)。所述組件子系統(tǒng)可以包括：認(rèn)證模塊，所述認(rèn)證模塊被配置成接收測試電壓值并輸出測試電壓；測試單元，所述測試單元被配置成接收由所述認(rèn)證模塊輸出的所述測試電壓，所述測試單元包括字線、位線和存儲器膜，所述存儲器膜被插入所述字線和所述位線之間。所述測試單元可以被配置成響應(yīng)于接收所述測試電壓輸出響應(yīng)電壓。所述打印機(jī)還可以包括主機(jī)控制器，所述主機(jī)控制器被配置成基于所述測試電壓值將所述響應(yīng)電壓與預(yù)期電壓比較；以及殼體，所述殼體包住所述組件子系統(tǒng)。

附圖說明

被并入并構(gòu)成本說明書的一部分的附圖圖解說明本教導(dǎo)的實(shí)施例，并連同描述一起用來解釋本公開的原理。在圖中：

圖1和圖2是包括根據(jù)本教導(dǎo)的實(shí)施例的組件子系統(tǒng)的電子系統(tǒng)的框圖；

圖3是根據(jù)本教導(dǎo)的實(shí)施例包括可以是測試單元的陣列的一部分的至少一個測試單元的測試結(jié)構(gòu)的示意透視描繪；

圖4是描繪根據(jù)本教導(dǎo)的實(shí)施例用于組件子系統(tǒng)的認(rèn)證的方法的流程圖；以及

圖5是根據(jù)本教導(dǎo)的實(shí)施例的電子裝置(諸如打印機(jī))的透視描繪。

應(yīng)當(dāng)注意，附圖中的一些細(xì)節(jié)已經(jīng)被簡化，附圖被繪制以促進(jìn)對本教導(dǎo)的理解而不是保持嚴(yán)格的結(jié)構(gòu)準(zhǔn)確性、細(xì)節(jié)和比例。

具體實(shí)施方式

現(xiàn)在將詳細(xì)地描述本教導(dǎo)的示例性實(shí)施例，這些實(shí)施例的示例在附圖中被圖示。在任何可能的情況下，在全部圖中將使用相同的附圖標(biāo)記以指示相同或相似的零件。

除非另外指出，否則本文中使用的詞語“打印機(jī)”包括出于任何目的執(zhí)行打印輸出功能的任何設(shè)備，諸如數(shù)字復(fù)印機(jī)、書籍制作機(jī)、傳真機(jī)、多功能機(jī)、靜電復(fù)印裝置等。除非另外指出，否則詞語“聚合物”包括由長鏈分子形成的寬范圍的碳基化合物的任何一種，包括熱固型聚酰亞胺、熱塑性塑料、樹脂、聚碳酸酯、環(huán)氧樹脂和本領(lǐng)域已知的相關(guān)化合物。

本教導(dǎo)的實(shí)施例可以提供一種難以復(fù)制的并提供比一些傳統(tǒng)安全措施更高安全等級的安全措施。一個實(shí)施例可以采用存儲器材料的使用，諸如對輸入電壓具有非線性響應(yīng)的鐵電材料或聚合物材料。

圖1是根據(jù)本教導(dǎo)的實(shí)施例的電子系統(tǒng)100的示意描繪。圖1描繪了主機(jī)裝置102，其中安裝了crum104。主機(jī)裝置102可以包括主機(jī)控制器106，主機(jī)控制器106經(jīng)由第一數(shù)據(jù)總線110與主機(jī)認(rèn)證模塊接口108電通信。crum104包括認(rèn)證模塊112，認(rèn)證模塊112被配置成包括本文中描述的安全協(xié)議，以確保crum104是認(rèn)證組件子系統(tǒng)，而不是偽造組件子系統(tǒng)。

認(rèn)證模塊112可以包括認(rèn)證模塊控制器114和一個或多個測試單元(例如一個或多個存儲器單元)116。認(rèn)證模塊控制器114可以與主機(jī)裝置102通過第二數(shù)據(jù)總線118電通信，第二數(shù)據(jù)總線118與主機(jī)認(rèn)證模塊接口108電通信。第二數(shù)據(jù)總線118可以是例如有線連接(包括電接觸)和/或無線連接(包括射頻識別(rfid)裝置)。

測試單元116可以與認(rèn)證模塊控制器114通過第三數(shù)據(jù)總線120電通信。盡管圖1描繪了一種可能的電子系統(tǒng)100的設(shè)計(jì)的概述，但要認(rèn)識到其它設(shè)計(jì)可以包括沒有被描繪的其它特征，而描述的特征可以被去掉或被修改。而且，圖1的概述不旨在個別地描繪諸如微處理器、存儲器、電源等的所有支持電子器件，其可以由本領(lǐng)域技術(shù)人員設(shè)計(jì)到本教導(dǎo)中。

圖2描繪圖1的電子系統(tǒng)100，重點(diǎn)在認(rèn)證模塊112的各個子系統(tǒng)上。在主機(jī)裝置102和安裝于主機(jī)裝置102內(nèi)的認(rèn)證模塊112之間的第二數(shù)據(jù)總線118上的雙向通信可以使用無線信號200實(shí)現(xiàn)，其中，第二數(shù)據(jù)總線118包括無線數(shù)據(jù)總線118。無線信號200可以通過例如主機(jī)裝置102中的無線詢問器和crum104中的應(yīng)答器實(shí)現(xiàn)。主機(jī)裝置102和認(rèn)證模塊112之間的雙向通信還可以通過有線信號202執(zhí)行，有線信號202例如由crum有線接口204(諸如電連接器、插頭等)建立。

安裝于crum104中的認(rèn)證模塊控制器114包括控制邏輯206，控制邏輯206控制認(rèn)證模塊112以及如描繪的其它支持電子器件的操作。認(rèn)證模塊控制器114包括微控制器核208(例如微處理器)，其執(zhí)行支持認(rèn)證協(xié)議的邏輯和運(yùn)算操作?？刂七壿?06可以與支持硬件電通信，支持硬件諸如存儲器210(例如易失性存儲器諸如隨機(jī)存取存儲器，和非易失性存儲器諸如電可擦除可編程只讀存儲器(eeprom))、遞減計(jì)數(shù)器212和一次性寫可編程(wotp)存儲器214。

認(rèn)證模塊控制器114還可以包括防克隆機(jī)構(gòu)216。防克隆機(jī)構(gòu)216可以包括密碼算法，其使用例如靜態(tài)數(shù)據(jù)和變量或唯一數(shù)據(jù)來生成加密密鑰。加密密鑰可以在主機(jī)裝置102和crum104的認(rèn)證模塊112之間交換，作為相互認(rèn)證的方式。認(rèn)證模塊112還可以包括加密引擎218，其用于加密從crum104到主機(jī)裝置102的輸出；測試矢量生成器220，其用于生成測試參數(shù)，測試參數(shù)從認(rèn)證模塊控制器114向測試單元116輸出。從認(rèn)證模塊控制器114到測試單元的輸出可以是模擬輸出。測試單元116可以包括一個或多個無源模擬裝置，這些裝置響應(yīng)于由專用集成電路(asic)222生成的不同的電(即電流和/或電壓，后文總稱為“電壓”)輸入電平用非線性輸出進(jìn)行響應(yīng)。換言之，在將測試單元116的輸入與產(chǎn)生的測試單元116的輸出比較時，測試單元116的鐵電材料產(chǎn)生電壓遲滯現(xiàn)象。在一個實(shí)施例中，測試單元116的輸入和輸出是電壓，其中，輸入是已知的，產(chǎn)生的輸出被測量。asic222的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(adc)數(shù)字化此遲滯現(xiàn)象的值。

電源和接地可以通過有線接口204供應(yīng)到認(rèn)證模塊112。除了電源和接地之外，有線接口204還可以包括第二數(shù)據(jù)總線118，第二數(shù)據(jù)總線118用來在主機(jī)裝置102和crum104之間傳遞電信號和數(shù)據(jù)，使得對于此功能，不需要無線信號200。在其它設(shè)計(jì)中，有線接口204可以包括電源和接地，而第二數(shù)據(jù)總線118包括無線信號200，無線信號200使用射頻(rf)接口電路205在主機(jī)裝置102和認(rèn)證模塊112之間傳遞數(shù)據(jù)。

圖3是測試結(jié)構(gòu)300的示意透視描繪，測試結(jié)構(gòu)300包括襯底302和讀電極或位線304，例如使用第一圖案化導(dǎo)電層形成的埋入的位線。位線304可以使用鑲嵌工藝、光刻法或另一適當(dāng)工藝形成。圖3的結(jié)構(gòu)可以包括提供平坦的工作表面的支持介電層306。隨后，存儲器膜308形成于位線304上，一個或多個寫電極或字線310a-310d形成于存儲器膜308上。字線310a-310d可以使用第二圖案化導(dǎo)電層形成。盡管在圖3中描繪了四個字線及四個測試單元116(圖1)，但測試結(jié)構(gòu)300可以包括任何數(shù)目的字線，例如對于只包括一個測試單元的測試結(jié)構(gòu)為一個字線，或?qū)τ诎▋蓚€或更多個測試單元的測試結(jié)構(gòu)為兩個或更多個字線。

圖3還描繪電耦連到多個字線310a-310d的多個第一地址線312a-312d和電耦連到位線304的第二地址線314。第一地址線312a-312d和第二地址線314路由到asicadc核222，使得asicadc核222中的電路能夠單獨(dú)地尋址每個測試單元。每個測試單元116(圖1)包括字線312、位線304和在字線310和位線304的相交處的存儲器膜308中的一個。電荷因此可以寫入并從每個測試單元116的存儲器膜308讀出。

要理解，與圖3中描繪的結(jié)構(gòu)類似的結(jié)構(gòu)可以形成于其它襯底位置處，以同時形成多個測試單元結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)可以用來形成多個不同的crum。而且，圖3的測試結(jié)構(gòu)300可以包括出于簡潔沒有描繪的其它結(jié)構(gòu)，而描繪的結(jié)構(gòu)可以被去掉或被修改。例如，位線304可以形成于字線310上，測試結(jié)構(gòu)300可以包括允許與字線310和位線304電接觸的互連、導(dǎo)電墊等。

圖案化存儲器膜308可以提供每個測試單元的電容器介質(zhì)。存儲器膜308可以包括例如鐵電或駐極體聚合物存儲器材料。存儲器膜308可以選擇為以下中的一個或多個：即聚偏二氟乙烯(pvdf)；聚偏二乙烯與任何其共聚物；基于共聚物或pvdf-三氟乙烯(pvdf-tree)的三元聚合物；奇數(shù)尼龍；奇數(shù)尼龍與任何其共聚物；氰基聚合物；和氰基聚合物與任何其共聚物。

因此，圖3的結(jié)構(gòu)描繪包括如描繪的一個或多個測試單元的測試結(jié)構(gòu)300。在圖3中，描繪了四個測試單元，其中，每個測試單元包括字線310、位線304和在字線310與位線304相交的相交處的存儲器膜(即存儲器介質(zhì)或電容器介質(zhì))308。電荷可以被寫入并從每個測試單元讀出。電荷存儲在處于每個字線310和位線304的相交處的存儲器膜308(即存儲器介質(zhì)或電容器介質(zhì))上。

相同或不同的測試電壓可以被寫入多個測試單元的每個測試單元，然后與響應(yīng)電壓對應(yīng)的電流可以從多個測試單元讀出。在包括多個測試單元的實(shí)施例中，存儲于每個測試單元上的電流可以串行地從每個測試單元讀出，或者來自兩個或更多個測試單元(包括測試單元的陣列中的所有測試單元)的電流可以被同時地讀出，并用來確定響應(yīng)電壓。要認(rèn)識到，測試結(jié)構(gòu)300可以包括出于簡潔沒有被描繪的其它結(jié)構(gòu)，而各個描繪的結(jié)構(gòu)可以被去掉或被修改。

將參照只包括一個測試單元的測試結(jié)構(gòu)300描述測試單元的讀和寫操作，并且如果測試結(jié)構(gòu)300包括多個測試單元，所描述的操作可以根據(jù)需要被修改，并被串行地或并行地施加。

在對一個或多個測試單元的寫操作過程中，電壓脈沖可以在持續(xù)時間內(nèi)被施加于字線310和位線304之間，以對直接位于字線310和位線304之間的存儲器膜308設(shè)置電荷。電壓脈沖的極性將確定寫入存儲器單元的值或邏輯狀態(tài)。寫電壓可以是例如從大約7.0伏(v)到大約24v。

為了讀作為寫操作的結(jié)果存儲于測試單元上的電流，兩個單獨(dú)的電壓脈沖可以被施加在字線310和位線304之間。每個電壓脈沖可以被施加一段持續(xù)時間，并且可以被延遲隔開。施加的兩個電壓脈沖具有相對于字線310和位線304的極性。在每個脈沖的開始和結(jié)束處的電荷差被測量，然后這兩個差彼此相減。如果減去后的值超過閾值，則存儲于測試單元上的電荷值被確定為等于零值。如果減去后的值低于閾值，則存儲于測試單元上的電荷被確定為“1”。初始施加電壓是潛在破壞性的，因此，如果第一脈沖返回大的電荷差，則存儲器的狀態(tài)與從兩個差值的相減返回的最終值的狀態(tài)相反，接著，可能需要第三電壓脈沖，以在讀序列之前將存儲器恢復(fù)到其原始狀態(tài)。在測試單元的讀過程中，在字線310和位線304之間施加電壓使存儲在測試單元的存儲器膜上的電流傾倒到位線中，該電流被感測或測量以確定存儲的電流的值。來自位線的電流可以通過感測詢問器被饋送，然后到達(dá)adc電路(例如adcasic核222)。

在用于組件子系統(tǒng)的認(rèn)證的一種方法中，crum104例如被用戶安裝到主機(jī)裝置102中。在crum104的初次安裝之后，或者在安裝之后的任何時間，主機(jī)裝置102可以在由主機(jī)控制器106的軟件或固件確定的時間發(fā)起認(rèn)證請求。在一個實(shí)施例中，主機(jī)裝置102可以被編程以在規(guī)則或隨機(jī)間隔周期性發(fā)起認(rèn)證。認(rèn)證請求從主機(jī)控制器106經(jīng)由第一數(shù)據(jù)總線110傳送到主機(jī)認(rèn)證模塊接口108。

由主機(jī)控制器106生成的認(rèn)證請求導(dǎo)致使用主機(jī)裝置102內(nèi)或主機(jī)認(rèn)證模塊接口108內(nèi)的測試值選擇協(xié)議選擇一個或多個測試電壓值，所述測試值選擇協(xié)議可以選擇或隨機(jī)化來自可允許測試電壓值的范圍的測試電壓值以在認(rèn)證過程中被施加到測試單元116。可允許測試電壓值的范圍可以在裝置設(shè)計(jì)中被初始確定。測試電壓值是可以施加到測試單元116以產(chǎn)生如下文描述的適當(dāng)?shù)臏y試單元響應(yīng)的那些測試電壓值。認(rèn)證請求和一個或多個測試電壓值經(jīng)由第二數(shù)據(jù)總線118被傳送到認(rèn)證模塊112的認(rèn)證模塊控制器114。在一個實(shí)施例中，第二數(shù)據(jù)總線118包括無線信號200，無線信號200由主機(jī)裝置102輸出并被rf接口電路205接收。在另一實(shí)施例中，第二數(shù)據(jù)總線118包括由主機(jī)裝置102輸出并被有線接口204接收的有線信號202，或者包括有線信號202和無線信號200。在任何一種情況下，第二數(shù)據(jù)總線118是雙向數(shù)據(jù)總線。

一旦認(rèn)證模塊控制器114從主機(jī)認(rèn)證模塊接口108接收認(rèn)證請求，認(rèn)證模塊控制器114基于從主機(jī)裝置102接收的模擬測試電壓值生成測試電壓，并將測試電壓通過位線304和字線310施加到測試單元116。測試電壓可以由測試矢量生成器220基于測試電壓值生成。

取決于施加到存儲器膜308的測試電壓，存儲器膜308會向位線304傳導(dǎo)響應(yīng)電壓，響應(yīng)電壓被認(rèn)證模塊控制器114讀。響應(yīng)電壓會取決于存儲器膜308使用的特定材料以及用來制造存儲器膜308的方法。盡管兩個不同的存儲器膜308可以具有相同的化學(xué)組成，但如果存儲器膜308是使用不同的制造方法形成的，則兩種材料的電遲滯將是不同的，因此導(dǎo)致針對相同的輸入電壓的不同的響應(yīng)電壓。因此，用于存儲器膜308的特定材料會以特定方式沿著非線性響應(yīng)曲線對具體的輸入電壓作出反應(yīng)。包括用于存儲器膜308的特定材料的真正crum會對測試電壓值作出響應(yīng)，測試電壓值由主機(jī)裝置102以取決于特定的存儲器膜308以及用來制造存儲器膜308的方法的特定方式供應(yīng)到crum。偽造的crum不可能包括針對由主機(jī)裝置102供應(yīng)的測試電壓值的正確響應(yīng)所需的特定的存儲器膜308。即便從真正的crum取下存儲器膜308并分析，也不可能能夠通過化學(xué)分析或反向工程確定其制造方法。盡管oem和非oem都能夠量化測試單元116上使用的存儲器膜308的遲滯現(xiàn)象，但材料的制造方法只有oem知道。因此，非oem不能夠制造具有針對來自主機(jī)裝置102的輸入產(chǎn)生正確輸出的相同遲滯現(xiàn)象的存儲器膜308，由此能夠確定crum的偽造性質(zhì)。

一旦測試電壓已經(jīng)被施加到測試單元116，響應(yīng)電壓可以由asic核222內(nèi)的adc電路從模擬輸出轉(zhuǎn)換成數(shù)字輸出。數(shù)字化信號還能夠被加密引擎加密，以在傳送到主機(jī)之前保護(hù)數(shù)據(jù)。響應(yīng)電壓然后由crum104通過第二數(shù)據(jù)總線118向主機(jī)認(rèn)證模塊接口108發(fā)送，然后通過第一數(shù)據(jù)總線110向主機(jī)控制器106發(fā)送。響應(yīng)電壓然后被主機(jī)控制器106分析，以確定響應(yīng)于測試電壓值crum是否返回正確的響應(yīng)電壓。如果返回正確的或預(yù)期的響應(yīng)電壓(例如，如果響應(yīng)電壓與預(yù)期電壓匹配)，則控制器106認(rèn)證crum104，并啟用主機(jī)裝置102的功能。如果返回不正確的響應(yīng)電壓(例如，如果響應(yīng)電壓與預(yù)期響應(yīng)電壓的差超過可允許公差)，則控制器106拒絕crum104，并禁止主機(jī)裝置102的功能，直到真正的crum104被安裝并通過認(rèn)證過程驗(yàn)證。

圖4是描繪用于組件子系統(tǒng)(諸如crum104)的認(rèn)證的一種方法400的概述的流程圖。在402，認(rèn)證協(xié)議例如響應(yīng)于crum安裝到主機(jī)裝置中而被啟動。認(rèn)證協(xié)議還可以在隨機(jī)或規(guī)則的間隔被啟動。認(rèn)證協(xié)議通常會由主機(jī)裝置啟動。在認(rèn)證協(xié)議的啟動402之后，在404，主機(jī)裝置生成測試電壓值。測試電壓值可以隨機(jī)地從電壓的范圍中選擇，電壓的范圍可以被適當(dāng)?shù)厥┘拥揭粋€或多個測試單元，并從測試單元生成可接受(例如可重復(fù)及可測量)的輸出。在406，測試電壓值被發(fā)送到crum，在408，crum將測試電壓值轉(zhuǎn)換成測試電壓，測試電壓然后被施加到測試單元。

在向測試單元施加測試電壓之后，在410，來自測試單元的響應(yīng)電壓被crum讀，然后在412響應(yīng)電壓被發(fā)送到主機(jī)裝置。在414，響應(yīng)電壓被主機(jī)裝置分析，這可以包括基于測試電壓值將從crum返回的響應(yīng)電壓與預(yù)期電壓比較。如果響應(yīng)電壓與預(yù)期電壓匹配，或者在預(yù)期電壓的公差范圍內(nèi)(即存在響應(yīng)電壓匹配)，則在416，主機(jī)裝置的功能和/或crum的功能被啟用。如果響應(yīng)電壓與預(yù)期電壓不匹配(即存在響應(yīng)電壓不匹配)，則在418，主機(jī)裝置功能和/或crum的功能被禁止。

為了確保在測試過程中不返回由于電壓波動造成的不正確的響應(yīng)電壓，認(rèn)證協(xié)議400可以被重復(fù)多次。

在測試單元116的設(shè)計(jì)中，幾種測試模式可以被施加到存儲器膜，以便特征化在施加的輸入電壓的范圍上存儲器膜的鐵電電荷輸出響應(yīng)。針對施加的電壓的測量的輸出響應(yīng)可以用來生成測試響應(yīng)算法，測試響應(yīng)算法生成針對任何測試電壓輸入的預(yù)期輸出。

在另一實(shí)施例中，對于所有可用的測試電壓輸入值的測量響應(yīng)電壓可以被存儲作為查詢表。在此實(shí)施例中，測試電壓可以被隨機(jī)地或順序地選擇并施加到測試單元116，并且響應(yīng)于測試電壓的測量的測試單元輸出與來自查詢表的預(yù)期值比較。

在認(rèn)證過程中，如果響應(yīng)值沒有落入預(yù)期極限內(nèi)，則可以生成標(biāo)志以觸發(fā)嵌入認(rèn)證模塊內(nèi)的防克隆機(jī)構(gòu)。存儲器膜和密碼防克隆算法的特征可以用來相互補(bǔ)充。

真正的crum104可以被制造為包括各個安全系統(tǒng)以防止crum104的反向工程。例如，認(rèn)證模塊控制器114可以包括加密引擎218，加密引擎加密由crum104傳遞到主機(jī)裝置102的響應(yīng)。除了本文中描述的私鑰設(shè)計(jì)之外，可以實(shí)現(xiàn)諸如先進(jìn)加密標(biāo)準(zhǔn)(aes)或其它加密的標(biāo)準(zhǔn)加密。因此，在主機(jī)裝置102和crum104之間的第二數(shù)據(jù)總線118可以在雙方向上攜帶加密數(shù)據(jù)。

另外，真正的crum104可以包括防克隆機(jī)構(gòu)216。防克隆機(jī)構(gòu)216的密碼算法可以包括例如來自私鑰的挑戰(zhàn)響應(yīng)對、主機(jī)102和crum104內(nèi)的靜態(tài)和可變數(shù)據(jù)、隨機(jī)數(shù)和其它隨機(jī)數(shù)據(jù)的使用。crum104可以將此信息輸入到算法中，以生成數(shù)字輸出。主機(jī)裝置102又會使用與向crum104發(fā)送的數(shù)據(jù)相同的數(shù)據(jù)執(zhí)行此相同的密碼函數(shù)，然后將結(jié)果與由crum104生成的響應(yīng)比較，以確定數(shù)據(jù)的真實(shí)性。

要認(rèn)識到，如本文中使用的術(shù)語“測試電壓”指在持續(xù)時間內(nèi)從可能的電壓的范圍中選擇的被施加到一個或多個測試單元(即存儲器單元)的電壓。而且，術(shù)語“響應(yīng)電壓”指代表在測試電壓的施加過程中在一個或多個測試單元的存儲器材料上收集的電子電荷的輸出值。在一個實(shí)施例中，為了從存儲器材料讀響應(yīng)電壓，在測試電壓的施加過程中存儲于存儲器材料上的電荷可以通過產(chǎn)生電荷信號的詢問器被饋送。電荷信號然后被放大并被饋送到adc中。測試單元存儲并返回特定電荷，該特定電荷為存儲器材料的特征并針對不同的存儲器材料變化，并且還針對使用不同的制造工藝生產(chǎn)的具有相同的化學(xué)式的存儲器材料變化。收集或存儲于存儲器材料中的電荷被變換成信號，該信號可以通過放大器饋送并變換成數(shù)字輸出，該數(shù)字輸出被返回主機(jī)并與預(yù)期值比較以認(rèn)證crum。由于存儲的電荷取決于施加的測試電壓和存儲器材料的特征，并在測試電壓的施加之后從存儲器單元讀出，所以代表存儲的電荷、從存儲器單元讀出的值在本文中被稱作“響應(yīng)電壓”。

圖5描繪包括打印機(jī)殼體502的打印機(jī)500，包括本教導(dǎo)的實(shí)施例，例如crum的至少一個結(jié)構(gòu)(諸如至少一個打印頭504)已經(jīng)安裝于打印機(jī)殼體502中。殼體502可以包住打印頭504。在操作中，墨水506從一個或多個打印頭504中的一個或多個噴嘴74噴射。打印頭504根據(jù)數(shù)字指令操作，以使用例如打印引擎510在打印介質(zhì)508(諸如紙張、塑料等)上產(chǎn)生期望圖像。打印頭504可以相對于打印介質(zhì)508在掃描運(yùn)動中往復(fù)運(yùn)動，以逐行生成打印圖像。替代性地，打印頭504可以保持固定，打印介質(zhì)508相對于打印頭504運(yùn)動，在單次通過中產(chǎn)生與打印頭504一樣寬的圖像。打印頭504可以比打印介質(zhì)508更窄或與其一樣寬。在另一實(shí)施例中，打印頭504可以打印到中間表面(諸如旋轉(zhuǎn)鼓或皮帶(出于簡潔沒有描繪))以后續(xù)傳遞到打印介質(zhì)508。

盡管陳述本教導(dǎo)的寬范圍的數(shù)字范圍和參數(shù)是近似值，但在特定的示例中陳述的數(shù)字值被盡可能準(zhǔn)確地報告。不過，任何數(shù)字值內(nèi)在地包含必然由其相應(yīng)的測試測量值中發(fā)現(xiàn)的標(biāo)準(zhǔn)偏差產(chǎn)生的某些誤差。而且，本文中公開的所有范圍要理解為包括本文中歸類的任何和所有子范圍。例如，“小于10”的范圍可以包括在(并包括)最小值0和最大值10之間的任何和所有子范圍，即，具有等于或大于零的最小值和等于或小于10的最大值的任何和所有子范圍，例如1到5。在某些情況下，如所述的參數(shù)的數(shù)字值可以呈現(xiàn)負(fù)值。在這種情況下，所述的“小于10”的范圍的示例值可以采用負(fù)值，例如-1，-2，-3，-10，-20，-30等。

盡管已經(jīng)參照一個或多個實(shí)施方式圖解說明了本教導(dǎo)，但在不偏離所附權(quán)利要求的精神和范圍下可以對所圖示的示例進(jìn)行更改和/或改進(jìn)。例如，要認(rèn)識到盡管把過程描述為一連串動作或事件，但本教導(dǎo)不受這些動作或事件的排序的限制。一些動作可以以不同次序和/或與除了本文中描述的那些之外的其它動作或事件同時地出現(xiàn)。同樣，實(shí)現(xiàn)根據(jù)本教導(dǎo)的一個或多個方面或?qū)嵤├姆椒?，并非需要所有的過程階段。要認(rèn)識到，結(jié)構(gòu)組件和/或處理階段可以被增加或現(xiàn)有的結(jié)構(gòu)組件和/或處理階段可以被去掉或被修改。而且，本文中描繪的一個或多個動作可以在一個或多個單獨(dú)的動作和/或階段中被執(zhí)行。而且，在術(shù)語“包括…的”、“包括”、“具有…的”、“具有”、“帶”或其變形用于詳細(xì)描述和權(quán)利要求的這方面講，這些術(shù)語旨在是以類似于術(shù)語“包括…的”的方式是包括性的。術(shù)語“…的至少一個”用來表示能夠被選擇的所列項(xiàng)目的一個或多個。而且，在本文中的討論和權(quán)利要求中，關(guān)于兩種材料使用的術(shù)語“在…上”、一個在另一個“上”表示這兩種材料之間的至少某種接觸，而“在…之上”表示材料是鄰近的，但可能具有一個或多個附加的介于中間的材料，使得接觸是可能的但不是必需的。“在…上”或“在…之上”都不暗示如本文中使用的任何方向性。術(shù)語“共形的”描述涂層材料，其中，底層材料的角度被共形材料保持。術(shù)語“大約”指所列的值可以被稍微改變，只要這種改變不導(dǎo)致過程或結(jié)構(gòu)與圖解說明的實(shí)施例不一致。最后，“示例性”指描述作為示例被使用，而不是暗示描述是理想的。通過考慮本文中的公開的說明書和實(shí)踐，本教導(dǎo)的其它實(shí)施例對本領(lǐng)域技術(shù)人員是顯然的。想要使說明書和示例被認(rèn)為只是示例性的，本教導(dǎo)的真實(shí)范圍和精神由下面的權(quán)利要求書指示。

如本申請中使用的相對位置的術(shù)語是基于平行于傳統(tǒng)平面或工件的工作表面的平面定義的，而不管工件的方位如何。如本申請中使用的術(shù)語“水平的”或“橫向的”被定義為與傳統(tǒng)平面或工件的工作表面平行的平面，而不管工件的方位如何。術(shù)語“豎直的”指垂直于水平的方向。諸如“在…上”、“側(cè)”(如“側(cè)壁”中的)、“較高”、“較低”、“在…之上”、“頂”和“底”的術(shù)語是關(guān)于工件頂表面上的傳統(tǒng)平面或工作表面定義的，而不管工件的方位如何。