本發(fā)明是關(guān)于一種電容式觸控技術(shù)，特別是關(guān)于一種電容式感測裝置的判斷基線值的更新方法及電容式感測裝置。
背景技術(shù)：
：：為了提升使用上的便利性，越來越多電子裝置使用觸摸屏(touchscreen)作為操作介面，以讓使用者直接在觸摸屏上點(diǎn)選畫面來進(jìn)行操作，以此提供更為便捷且人性化的操作模式。觸摸屏主要由提供顯示功能之顯示器以及提供觸控功能之感測裝置所組成。一般而言，感測裝置是利用自電容(self-capacitance)感測技術(shù)及/或互電容(mutualcapacitance)感測技術(shù)來得知面板是否有被使用者觸碰。在感測過程中，當(dāng)感測裝置偵測到某個坐標(biāo)位置的電容值的變化時，感測裝置判斷此坐標(biāo)位置有被使用者觸碰。因此，在運(yùn)作時，感測裝置會對每一個坐標(biāo)位置都儲存有未觸碰的電容值(判斷基線值)，便利后續(xù)接收到最新的電容值(感測值)時，將接收到的感測值與對應(yīng)的判斷基線值做比對來判斷是否某坐標(biāo)位置有被觸碰。然而，感測裝置上久置的物件(如，水、手、手的余溫或其他導(dǎo)電物件等)常會造成感測裝置誤判。舉例來說，當(dāng)在判斷基線值更新之前導(dǎo)電物件已久置于感測裝置上時，更新后的判斷基線值則包含了導(dǎo)電物件所引發(fā)的電容值，以致更新后的判斷基線值成為后續(xù)信號獲取時的錯誤計(jì)算基礎(chǔ)?；蛘撸艟弥玫膶?dǎo)電物件離開后判斷基線值未立即更新，原導(dǎo)電物件所余留溫度將造成原導(dǎo)電物件所在區(qū)塊產(chǎn)生導(dǎo)電物件形狀的觸碰假象，以致感測裝置誤判觸碰存在。因此，如何有效地避免久置導(dǎo)電物件所造成的誤判，以提升電容式感測裝置之性能才是業(yè)界不斷致力研發(fā)的方向之一。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：在一實(shí)施例中，一種電容式感測裝置的判斷基線值的更新方法，其包括：讀出多個偵測點(diǎn)的出廠基線值、讀出這些偵測點(diǎn)的記錄基線值、偵測這些偵測點(diǎn)以得到這些偵測點(diǎn)的第一量測值、計(jì)算偵測點(diǎn)的第一量測值與對應(yīng)的出廠基線值之間的第一差異值、計(jì)算第一差異值的第一變化量、比較第一變化量與第一閥值、當(dāng)?shù)谝蛔兓啃∮诘谝婚y值時，以第一量測值作為偵測點(diǎn)的判斷基線值并基于判斷基線值進(jìn)行偵測點(diǎn)的位置信息的感測過程、計(jì)算感測點(diǎn)的第一量測值與對應(yīng)的記錄基線值之間的第二差異值、計(jì)算第二差異值的第二變化量、比較第二變化量與第二閥值、當(dāng)?shù)诙兓啃∮诘诙y值時，以第一量測值作為偵測點(diǎn)的判斷基線值并基于判斷基線值進(jìn)行感測過程、當(dāng)?shù)谝蛔兓坎恍∮诘谝婚y值且第二變化量不小于第二閥值時，以出廠基線值作為偵測點(diǎn)的判斷基線值、禁能偵測點(diǎn)的驅(qū)動以及進(jìn)行各偵測點(diǎn)的校驗(yàn)過程、以及于完成所有偵測點(diǎn)的校驗(yàn)過程后，基于判斷基線值進(jìn)行感測過程。其中，各偵測點(diǎn)的校驗(yàn)過程包括：重復(fù)偵測此偵測點(diǎn)多次以得到偵測點(diǎn)的第二量測值、依序進(jìn)行第二量測值的多階濾波以產(chǎn)生一濾波數(shù)列、根據(jù)濾波數(shù)列與變化門檻依序判定各第二量測值的信號特性為高頻及低頻中之一、計(jì)數(shù)在禁能偵測點(diǎn)的驅(qū)動下第二量測值的信號特性連續(xù)判定為低頻的連續(xù)數(shù)量、當(dāng)?shù)诙繙y值的信號特性第一次判定為高頻時，使能偵測點(diǎn)的驅(qū)動、計(jì)數(shù)在使能偵測點(diǎn)的驅(qū)動下第二量測值的信號特性中剩余者判定為高頻的累計(jì)次數(shù)、當(dāng)連續(xù)數(shù)量達(dá)第三閥值時，再次偵測此偵測點(diǎn)以得到偵測點(diǎn)的第三量測值并以第三量測值更新此偵測點(diǎn)的判斷基線值、以及當(dāng)累計(jì)次數(shù)達(dá)第四閥值時，再次偵測此偵測點(diǎn)以得到偵測點(diǎn)的第四量測值并以第四量測值更新偵測點(diǎn)的判斷基線值。在一些實(shí)施例中，一種電容式感測裝置，其包括：多條第一電極線、多條第二電極線、一儲存單元以及一感測控制器。這些第一電極線與這些第二電極線交錯，并且第一電極線與第二電極線界定以一矩陣配置的多個偵測點(diǎn)。儲存單元用于儲存多個偵測點(diǎn)的出廠基線值以及記錄基線值。感測控制器電性連接第一電極線、第二電極線以及儲存單元，并且用以執(zhí)行前述的更新過程。綜上，根據(jù)本發(fā)明的電容式感測裝置的判斷基線值的更新方法及電容式感測裝置，其得以避免久置的觸碰元件造成誤判，也可避免在觸碰事件發(fā)生或結(jié)束時立即判斷基線值而造成后續(xù)量測值錯亂，由此快速轉(zhuǎn)換判斷基線值為可用狀態(tài)，進(jìn)而降低判斷基線值的更新次數(shù)并節(jié)省資源。附圖說明圖1為應(yīng)用本發(fā)明任一實(shí)施例的感測裝置的電子裝置的示意圖。圖2為圖1中信號感測器的實(shí)施例的示意圖。圖3和圖4為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的電容式感測裝置的判斷基線值的更新方法的流程圖。圖5和圖6為圖4中步驟s70的一實(shí)施例的流程圖。圖7至圖10為圖4中步驟s70的另一實(shí)施例的流程圖。圖11為一實(shí)施例的第二量測值與濾波數(shù)列的關(guān)系示意圖。圖12為另一實(shí)施例的第二量測值與濾波數(shù)列的關(guān)系示意圖。圖13為又一實(shí)施例的第二量測值與濾波數(shù)列的關(guān)系示意圖。圖14為根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的電容式感測裝置的判斷基線值的更新方法的局部流程圖。實(shí)施方式圖1為應(yīng)用本發(fā)明任一實(shí)施例的感測裝置的電子裝置的示意圖。圖1為圖1中信號感測器的實(shí)施例的示意圖。在下述的說明中，雖然以電子裝置為例進(jìn)行說明，但本發(fā)明并不以此為限制。參照圖1，電子裝置包含電容式感測裝置、顯示器20、及處理單元30。電容式感測裝置包含一感測控制器12、一信號感測器14以及一儲存單元16。感測控制器12連接信號感測器14與儲存單元16，并且信號感測器14位于顯示器20的顯示面上。處理單元30電性連接感測控制器12與顯示器20。信號感測器14包括交錯配置的多條電極線，并且這些電極線電性連接至感測控制器12。其中，n及m為正整數(shù)。再者，n可等于m，亦可不等于m。從頂視視角來看，這些電極線包括彼此間隔設(shè)置的第一電極線x1～xn以及彼此間隔設(shè)置的第二電極線y1～ym。第一電極線x1～xn與第二電極線y1～ym相互交錯，并且界定以一矩陣配置的多個偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)(因而提供一感測區(qū))，如圖2所示。換言之，第一電極線x1～xn與第二電極線y1～ym是構(gòu)成一個平面坐標(biāo)系統(tǒng)。在一些實(shí)施例中，此平面坐標(biāo)系統(tǒng)可為笛卡爾坐標(biāo)系統(tǒng)(cartesiancoordinatesystem)、極坐標(biāo)系統(tǒng)、非直角坐標(biāo)系統(tǒng)、或是其他平面坐標(biāo)系統(tǒng)。并且，交迭后之第一電極線x1～xn與第二電極線y1～ym的頂視圖呈菱形蜂巢狀、網(wǎng)格狀或柵狀。其中，第一電極線x1～xn與第二電極線y1～ym可為一層或多層的圖案化導(dǎo)電薄膜。在一些實(shí)施例中(例如：在觸摸屏等具有顯示器20的應(yīng)用上)，各圖案化導(dǎo)電薄膜可以為透明或半透明的材質(zhì)，例如：但不限于氧化銦(ito)錫薄膜。在另一些實(shí)施例中(例如：在電子畫板或手寫板等不具顯示器20的應(yīng)用上)，各圖案化導(dǎo)電薄膜以為不透光的材質(zhì)。在此，感測控制器12可以采用自電容(self-capacitance)觸控技術(shù)、互電容(mutualcapacitance)觸控技術(shù)或正反讀取觸控技術(shù)來感測使用者的觸碰動作。感測控制器12的執(zhí)行過程包括偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值的更新過程、偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測過程以及各偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的校驗(yàn)過程。圖3和4為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的電容式感測裝置的判斷基線值的更新方法的流程圖。在開機(jī)時，感測控制器12接收到一開機(jī)信號。感測控制器12根據(jù)開機(jī)信號執(zhí)行偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值的更新過程。在更新過程中，參照圖3，感測控制器12從儲存單元16讀出偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的出廠基線值(步驟s41)，以及從儲存單元16讀出偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的記錄基線值(步驟s43)。并且，感測控制器12偵測所有偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)，以得到偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的量測值(以下稱之為第一量測值)(步驟s45)。在得到偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的第一量測值(步驟s45)后，感測控制器12計(jì)算多個第一量測值與其分別對應(yīng)的多個出廠基線值之間的差異值(以下稱之為第一差異值)(步驟s47)。換言之，感測控制器12計(jì)算偵測點(diǎn)p(1,1)的第一量測值與偵測點(diǎn)p(1,1)的出廠基線值之間的第一差異值、計(jì)算偵測點(diǎn)p(2,1)的第一量測值與偵測點(diǎn)p(2,1)的出廠基線值之間的第一差異值……依此類推至計(jì)算偵測點(diǎn)p(n,m)的第一量測值與偵測點(diǎn)p(n,m)的出廠基線值之間的第一差異值。在計(jì)算完所有偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的第一量測值與其分別對應(yīng)的出廠基線值之間的第一差異值(步驟s47)后，感測控制器12計(jì)算所有第一差異值的平均值與變化量(variance)(以下稱之為第一變化量)(步驟s49)。在計(jì)算得第一變化量(步驟s49)后，感測控制器12比較第一變化量與一第一閥值(步驟s51)，以確認(rèn)第一量測值與出廠基線值之間是否具有全等差異現(xiàn)象(即，信號感測器14的感測區(qū)當(dāng)前的表面狀態(tài)相似于出廠時的表面狀態(tài))。在一些實(shí)施例中，出廠基線值與第一閥值可為預(yù)先儲存在儲存單元16中的一預(yù)設(shè)值。在一些實(shí)施例中，出廠基線值與第一閥值可通過同時制造的相同規(guī)格(如，尺寸相同且玻璃厚度亦相同)的多個電容式感測裝置(如，10個、20個、30個或更多個)以相同感測技術(shù)所量測及計(jì)算而得。當(dāng)?shù)谝蛔兓啃∮诘谝婚y值(即，具有全等差異現(xiàn)象)時，感測控制器12以偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的第一量測值作為其判斷基線值(步驟s53)，并基于當(dāng)前之判斷基線值(步驟s53所建立的偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值)進(jìn)行偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測過程(步驟s55)。在得到偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的第一量測值(步驟s45)后，感測控制器12還計(jì)算多個第一量測值與對應(yīng)的多個記錄基線值之間的差異值(以下稱之為第二差異值)(步驟s57)。換言之，感測控制器12計(jì)算偵測點(diǎn)p(1,1)的第一量測值與偵測點(diǎn)p(1,1)的記錄基線值之間的第二差異值、計(jì)算偵測點(diǎn)p(2,1)的第一量測值與偵測點(diǎn)p(2,1)的記錄基線值之間的第二差異值……依此類推至計(jì)算偵測點(diǎn)p(n,m)的第一量測值與偵測點(diǎn)p(n,m)的記錄基線值之間的第二差異值。在計(jì)算完所有偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的第二量測值與其分別對應(yīng)的記錄基線值之間的第二差異值(步驟s57)后，感測控制器12計(jì)算所有第二差異值的平均值與變化量(以下稱之為第二變化量)(步驟s59)。在計(jì)算得第二變化量(步驟s59)后，感測控制器12比較第二變化量與一第二閥值(步驟s61)，以確認(rèn)第一量測值與記錄基線值之間是否具有全等差異現(xiàn)象(即，信號感測器14的感測區(qū)當(dāng)前的表面狀態(tài)相似于前次關(guān)機(jī)時的表面狀態(tài))。在一些實(shí)施例中，第二閥值可為預(yù)先儲存在儲存單元16中的另一預(yù)設(shè)值。在一些實(shí)施例中，此第二閥值可通過同時制造之相同規(guī)格(如，尺寸相同且玻璃厚度也相同)的多個電容式感測裝置(如，10個、20個、30個或更多個)以相同感測技術(shù)所量測及計(jì)算而得。當(dāng)?shù)诙兓啃∮诘诙y值時，感測控制器12以偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的第二量測值作為其判斷基線值(步驟s63)，并基于當(dāng)前的判斷基線值(步驟s63所建立的偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值)進(jìn)行偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測過程(步驟s55)。然而，當(dāng)?shù)谝蛔兓坎恍∮诘谝婚y值且第二變化量不小于第二閥值(即，不存在全等差異現(xiàn)象，其表示開機(jī)時可能已有不同觸碰元件在感測區(qū)上或有新的局部噪聲等影響感測結(jié)果的因子存在于信號感測器14上)時，感測控制器12以所有偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的出廠基線值作為其判斷基線值(步驟s65)，并且禁能偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的驅(qū)動(步驟s67)。換言之，感測控制器12不驅(qū)動偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)，即不進(jìn)行偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測過程。在步驟s67的一實(shí)施例中，感測控制器12不提供驅(qū)動電壓給偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)。在步驟s67的另一實(shí)施例中，感測控制器12將偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)接地。在禁能偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的驅(qū)動(步驟s67)后，感測控制器12進(jìn)行各偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的校驗(yàn)過程(步驟s70)。圖5和6為圖4中步驟s70的一實(shí)施例的流程圖。以一個偵測點(diǎn)p(1,1)的校驗(yàn)過程為例，在校驗(yàn)過程中，參照圖5，感測控制器12重復(fù)偵測偵測點(diǎn)p(1,1)多次(連續(xù)偵測偵測點(diǎn)p(1,1))以得到偵測點(diǎn)p(1,1)的多個量測值(以下稱之為第二量測值)(步驟s71)。在重復(fù)偵測偵測點(diǎn)p(1,1)多次(步驟s71)后，感測控制器12依序進(jìn)行偵測點(diǎn)p(1,1)的多個第二量測值的多階濾波以產(chǎn)生一濾波數(shù)列(步驟s73)。在一些實(shí)施例中，多階濾波能以卷積計(jì)算(如下列公式1所示)實(shí)現(xiàn)。其中，y[t]為偵測點(diǎn)p(1,1)的卷積值、t為偵測順序、k為濾波的階數(shù)、x[t-i]為偵測點(diǎn)p(1,1)的第二量測值，以及bi為多階濾波函數(shù)。在此，多階濾波函數(shù)可采用高通濾波(hpf)拓樸或低通濾波(hpf)拓樸。換言之，此多階濾波可為高通濾波或低通濾波。舉例來說，以10階高通濾波函數(shù)為例，每一階的濾波函數(shù)值如下：b1＝-0.025120904、b2＝-0.050093264、b3＝-0.094839125、b4＝-0.191258273、b5＝-0.629379518、b6＝0.629379518、b7＝0.191258273、b8＝0.094839125、b9＝0.050093264、以及b10＝0.025120904。另外，以偵測18次(步驟s71)、4階高通濾波以及觸碰元件為手為例，產(chǎn)生的濾波數(shù)列如下表一所示。表一在產(chǎn)生偵測點(diǎn)p(1,1)的濾波數(shù)列(步驟s73)后，感測控制器12根據(jù)此濾波數(shù)列與一變化門檻依序判定第二量測值的信號特性為高頻及低頻中之一(步驟s75)。在此，感測控制器12計(jì)數(shù)在禁能多個偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的驅(qū)動下偵測點(diǎn)p(1,1)的多個第二量測值的信號特性連續(xù)判定為低頻的數(shù)量(以下稱之為連續(xù)數(shù)量)(步驟s77)。在計(jì)數(shù)連續(xù)數(shù)量(步驟s77)后，感測控制器12會確認(rèn)連續(xù)數(shù)量是否達(dá)第三閥值。當(dāng)連續(xù)數(shù)量達(dá)第三閥值時，感測控制器12會再次偵測此偵測點(diǎn)p(1,1)以得到偵測點(diǎn)p(1,1)的量測值(以下稱之為第三量測值)，并且以再次得到的偵測點(diǎn)p(1,1)的第三量測值更新偵測點(diǎn)p(1,1)的判斷基線值(步驟s79)。在一些實(shí)施例中，第三閥值可為預(yù)先儲存在儲存單元16中的一預(yù)設(shè)值。在一些實(shí)施例中，第三閥值為正整數(shù)。在一些實(shí)施例中，第三閥值大于1且小于步驟s71中重復(fù)偵測偵測點(diǎn)的次數(shù)。參照第6圖，當(dāng)偵測點(diǎn)p(1,1)的多個第二量測值的信號特性第一次判定為高頻時，感測控制器12使能多個偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的驅(qū)動(步驟s81)。在此，雖以驅(qū)動全部偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)為例，但本發(fā)明不限于此，也可是驅(qū)動具有進(jìn)行判定的偵測點(diǎn)p(1,1)一定感測區(qū)域(以a*b為例)的多個偵測點(diǎn)p(1,1)～p(a,b)。其中，a為小于n且大于1的正整數(shù)，而b為小于m且大于1的正整數(shù)。為方便說明，以下仍以驅(qū)動全部偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)為例進(jìn)行說明。在因第一次判定為高頻而驅(qū)動偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)(步驟s81)后，感測控制器12計(jì)數(shù)在使能多個偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的驅(qū)動下偵測點(diǎn)p(1,1)的多個第二量測值的信號特性中剩余者判定為高頻的次數(shù)(以下稱之為累計(jì)次數(shù))(步驟s83)。在計(jì)數(shù)累計(jì)次數(shù)(步驟s83)后，感測控制器12會確認(rèn)累計(jì)次數(shù)是否達(dá)第四閥值。當(dāng)累計(jì)次數(shù)達(dá)第四閥值時，感測控制器12會再次偵測此偵測點(diǎn)p(1,1)以得到偵測點(diǎn)p(1,1)的量測值(以下稱之為第四量測值)，并且以再次得到的偵測點(diǎn)p(1,1)的第四量測值更新偵測點(diǎn)p(1,1)的判斷基線值(步驟s85)。在一些實(shí)施例中，第四閥值可為預(yù)先儲存在儲存單元16中的一預(yù)設(shè)值。在一些實(shí)施例中，第四閥值為正整數(shù)。在一些實(shí)施例中，第四閥值大于1且小于步驟s71中重復(fù)偵測偵測點(diǎn)的次數(shù)。在完成所有p(1,1)～p(n,m)的校驗(yàn)過程(步驟s70)后，感測控制器12則基于當(dāng)前之判斷基線值(步驟s70所檢驗(yàn)后最后得到的偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值)進(jìn)行偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測過程(步驟s55)。圖7至10為圖4中步驟s70的另一實(shí)施例的流程圖。參照圖7，在步驟s75的一些實(shí)施例中，感測控制器12會逐一判斷各第二量測值的信號特性為高頻或低頻(步驟s751)。當(dāng)感測控制器12判定第二量測值的信號特性為低頻時，感測控制器12確認(rèn)偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)是否驅(qū)動(步驟s753)。參照圖7，在步驟s77的一些實(shí)施例中，當(dāng)感測控制器12判定第二量測值的信號特性為低頻且確認(rèn)偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)未驅(qū)動時，感測控制器12控制一計(jì)數(shù)器(以下稱之為第一計(jì)數(shù)器)將其計(jì)數(shù)值加1以得到連續(xù)數(shù)量(即，第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值)(步驟s771)。參照圖7及8，在步驟s83的一些實(shí)施例中，在計(jì)數(shù)連續(xù)數(shù)量(步驟s771)后，感測控制器12會比較連續(xù)數(shù)量與第三閥值(步驟s791)，以確認(rèn)連續(xù)數(shù)量是否達(dá)第三閥值(步驟s792)。當(dāng)連續(xù)數(shù)量達(dá)第三閥值時，感測控制器12再次偵測此偵測點(diǎn)p(1,1)，以得到偵測點(diǎn)p(1,1)的第三量測值(步驟s793)。然后，感測控制器12則以得到之偵測點(diǎn)p(1,1)的第三量測值(步驟s793所得到的第三量測值)更新偵測點(diǎn)p(1,1)的判斷基線值(步驟s795)。在更新后，感測控制器12會確認(rèn)此偵測點(diǎn)p(1,1)是否為最后一偵測點(diǎn)，即是否還有下一偵測點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過程(步驟s710)。當(dāng)還有下一偵測點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過程時，感測控制器12則進(jìn)行下一偵測點(diǎn)p(2,1)的校驗(yàn)過程(即，返回執(zhí)行步驟s71)。當(dāng)無下一偵測點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過程時，感測控制器12則基于當(dāng)前之判斷基線值(步驟s70所檢驗(yàn)后最后得到的偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值)進(jìn)行偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測過程(步驟s55)。當(dāng)連續(xù)數(shù)量未達(dá)第三閥值時，感測控制器12會確認(rèn)此偵測點(diǎn)p(1,1)是否有下一第二量測值要判定信號特性(步驟s750)。當(dāng)有下一第二量測值時，感測控制器12則繼續(xù)判斷下一第二量測值為高頻或低頻(即，返回執(zhí)行步驟s751)。當(dāng)無下一第二量測值時，感測控制器12確認(rèn)此偵測點(diǎn)p(1,1)是否為最后一偵測點(diǎn)，即是否還有下一偵測點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過程(步驟s710)。當(dāng)感測控制器12判定第二量測值的信號特性為低頻且確認(rèn)偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)驅(qū)動時，感測控制器12會確認(rèn)此偵測點(diǎn)p(1,1)是否有下一第二量測值要判定信號特性(步驟s750)。當(dāng)有下一第二量測值時，感測控制器12則繼續(xù)判斷下一第二量測值為高頻或低頻(即，返回執(zhí)行步驟s751)。當(dāng)無下一第二量測值時，感測控制器12確認(rèn)此偵測點(diǎn)p(1,1)是否為最后一偵測點(diǎn)，即是否還有下一偵測點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過程(步驟s710)。當(dāng)還有下一偵測點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過程時，感測控制器12則進(jìn)行下一偵測點(diǎn)p(2,1)的校驗(yàn)過程(即，返回執(zhí)行步驟s71)。當(dāng)無下一偵測點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過程時，感測控制器12則基于當(dāng)前之判斷基線值(步驟s70所檢驗(yàn)后最后得到的偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值)進(jìn)行偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測過程(步驟s55)。參照圖7及9，當(dāng)感測控制器12判定第二量測值的信號特性為高頻時，感測控制器12確認(rèn)是否有一驅(qū)動標(biāo)志，以確認(rèn)此偵測點(diǎn)p(1,1)的第二量測值是否第一次判定為高頻(步驟s755)。參照圖9，在步驟s81的一些實(shí)施例中，當(dāng)無驅(qū)動標(biāo)志(表示第一次判定為高頻)時，感測控制器12會使能偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的驅(qū)動(步驟s811)并且設(shè)定驅(qū)動旗標(biāo)(步驟s813)。除了驅(qū)動偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)(步驟s811)，感測控制器12還會將第一計(jì)數(shù)器歸零，即將計(jì)數(shù)的連續(xù)數(shù)量歸零(步驟s815)。然后，感測控制器12確認(rèn)此偵測點(diǎn)p(1,1)是否有下一第二量測值要判定信號特性(步驟s750)。當(dāng)有下一第二量測值時，感測控制器12則繼續(xù)判斷下一第二量測值為高頻或低頻(即，返回執(zhí)行步驟s751)。當(dāng)無下一第二量測值時，感測控制器12確認(rèn)此偵測點(diǎn)p(1,1)是否為最后一偵測點(diǎn)，即是否還有下一偵測點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過程(步驟s710)。當(dāng)還有下一偵測點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過程時，感測控制器12則進(jìn)行下一偵測點(diǎn)p(2,1)的校驗(yàn)過程(即，返回執(zhí)行步驟s71)。當(dāng)無下一偵測點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過程時，感測控制器12則基于當(dāng)前的判斷基線值(步驟s70所檢驗(yàn)后最后得到的偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值)進(jìn)行偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測過程(步驟s55)。參照圖9及10，在步驟s83的一些實(shí)施例中，當(dāng)無驅(qū)動標(biāo)志(表示第一次判定為高頻)時，感測控制器12控制另一計(jì)數(shù)器(以下稱之為第二計(jì)數(shù)器)將其計(jì)數(shù)值加1以得到累計(jì)次數(shù)(即，第二計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值)(步驟s831)。參照圖10，在步驟s85的一些實(shí)施例中，在計(jì)數(shù)連續(xù)數(shù)量(步驟s831)后，感測控制器12會比較連續(xù)數(shù)量與第四閥值(步驟s851)，以確認(rèn)連續(xù)數(shù)量是否達(dá)第四閥值(步驟s852)。當(dāng)連續(xù)數(shù)量達(dá)第四閥值時，感測控制器12再次偵測此偵測點(diǎn)p(1,1)，以得到偵測點(diǎn)p(1,1)的第四量測值(步驟s853)。然后，感測控制器12則以得到的偵測點(diǎn)p(1,1)的第四量測值(步驟s853所得到的第四量測值)更新偵測點(diǎn)p(1,1)的判斷基線值(步驟s855)。在更新后，感測控制器12會確認(rèn)此偵測點(diǎn)p(1,1)是否為最后一偵測點(diǎn)，即是否還有下一偵測點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過程(步驟s710)。當(dāng)還有下一偵測點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過程時，感測控制器12則進(jìn)行下一偵測點(diǎn)p(2,1)的校驗(yàn)過程(即，返回執(zhí)行步驟s71)。當(dāng)無下一偵測點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過程時，感測控制器12則基于當(dāng)前的判斷基線值(步驟s70所檢驗(yàn)后最后得到的偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值)進(jìn)行偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測過程(步驟s55)。當(dāng)連續(xù)數(shù)量未達(dá)第四閥值時，感測控制器12會確認(rèn)此偵測點(diǎn)p(1,1)是否有下一第二量測值要判定信號特性(步驟s750)。當(dāng)有下一第二量測值時，感測控制器12則繼續(xù)判斷下一第二量測值為高頻或低頻(即，返回執(zhí)行步驟s751)。當(dāng)無下一第二量測值時，感測控制器12確認(rèn)此偵測點(diǎn)p(1,1)是否為最后一偵測點(diǎn)，即是否還有下一偵測點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過程(步驟s710)。在一些實(shí)施例中，感測控制器12能一次掃描全部偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)并重復(fù)掃描多次，以得到全部偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的第二量測值。然后，感測控制器12再逐一執(zhí)行各偵測點(diǎn)的多個第二量測值的多階濾波以及后續(xù)信號特性的判定。應(yīng)當(dāng)可理解的是，各步驟的執(zhí)行順序并不限于前述描述順序，可依據(jù)步驟的執(zhí)行內(nèi)容適當(dāng)?shù)卣{(diào)配執(zhí)行順序。在一些實(shí)施例中，變化門檻包括一上閥值。舉例來說，以觸碰元件為水為例，參照圖11，l1為此偵測點(diǎn)的第二量測值，而l2為此偵測點(diǎn)的濾波數(shù)列。在此，上閥值δh可設(shè)定為30，因此第1至12及14至24次偵測所得的第二量測值的信號特性會判定為低頻，而第13次偵測所得的第二量測值的信號特性會判定為高頻。此時，在第12次偵測所得的第二量測值的信號特性的判定后，連續(xù)數(shù)量會為12。在第13次偵測所得的第二量測值的信號特性的判定后，感測控制器12驅(qū)動偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)。在一些實(shí)施例中，變化門檻包括一下閥值。舉例來說，以觸碰元件為手且觸碰元件久置于信號感測器14上不離開為例，參照圖12，l3為此偵測點(diǎn)的第二量測值，而l4為此偵測點(diǎn)的濾波數(shù)列。在此，下閥值δl可設(shè)定為-30，因此第1至12及14至24次偵測所得的第二量測值的信號特性會判定為低頻，而第13次偵測所得的第二量測值的信號特性會判定為高頻。此時，在第12次偵測所得的第二量測值的信號特性的判定后，連續(xù)數(shù)量會為12。在第13次偵測所得的第二量測值的信號特性的判定后，感測控制器12驅(qū)動偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)。在一些實(shí)施例中，變化門檻包括一上閥值以及一下閥值。舉例來說，以觸碰元件為手為例，參照圖13，l5為此偵測點(diǎn)的第二量測值，而l6為此偵測點(diǎn)的濾波數(shù)列。在此，上閥值δh可設(shè)定為30，并且下閥值δl可設(shè)定為-30，因此第1至12、14至21、23及24次偵測所得的第二量測值的信號特性會判定為低頻，而第13及22次偵測所得的第二量測值的信號特性會判定為高頻。此時，在第12次偵測所得的第二量測值的信號特性的判定后，連續(xù)數(shù)量會為12。在第13次偵測所得的第二量測值的信號特性的判定后，感測控制器12驅(qū)動偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)。在第24次偵測所得的第二量測值的信號特性的判定后，累計(jì)次數(shù)會為1。然而，雖然前述是以上閥值為下閥值的相反數(shù)為例，但本發(fā)明不限于此，例如：上閥值也可不為下閥值的相反數(shù)。在上述實(shí)施方式中所描述的“記錄基線值”為感測裝置前一次關(guān)機(jī)時所使用的判斷基線值。在一些實(shí)施例中，參照圖14，當(dāng)感測控制器12接收到一關(guān)機(jī)信號(步驟s91)時，感測控制器12根據(jù)關(guān)機(jī)信號儲存?zhèn)蓽y點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的當(dāng)前的判斷基線值至儲存單元16以作為偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的記錄基線值(步驟s93)，然后再完成關(guān)機(jī)(步驟s95)。在上述實(shí)施方式中雖是描述感測控制器12是在開機(jī)后執(zhí)行偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值的更新過程，但本發(fā)明不限于此。在一些實(shí)施例中，除開機(jī)時執(zhí)行外，感測控制器12也會在執(zhí)行偵測點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測過程的過程中每隔一間隔時間即執(zhí)行一次判斷基線值的更新過程。并且，每次的間隔時間可依據(jù)需求設(shè)計(jì)為相同間隔時間，也設(shè)計(jì)成不同間隔時間。在上述實(shí)施方式中所描述的“全等差異現(xiàn)象”是表示對應(yīng)兩值之間的差距均大致上為等距。在上述實(shí)施方式中所描述的“位置信息”可以是但不限于觸碰坐標(biāo)，此觸碰坐標(biāo)可以是但不限于相對坐標(biāo)、絕對坐標(biāo)、或其他能表現(xiàn)所輸入位置的信息。再者，此位置信息在觸碰元件觸碰信號感測器14時由處理單元30所獲得的。在一些實(shí)施例中，處理單元30可與電容式感測裝置設(shè)置在同一殼體，或者與電容式感測裝置設(shè)置在不同殼體(例如：主機(jī)中的處理器)。在一些實(shí)施例中，電子裝置可以是但不限于智能型手機(jī)(smartphone)、導(dǎo)航機(jī)(pnd)、數(shù)位相框(pdf)、電子書(e-book)、筆記型電腦(netbook)、平版電腦(tabletorpad)、觸控面板、電子畫板或手寫板等。若電子裝置為觸控面板或具有觸控面板的裝置，可以是用手指或觸控筆等觸碰元件來發(fā)生觸碰事件；若電子裝置為電子畫板，可以是用電子畫板對應(yīng)的觸碰元件(如，觸碰畫筆)來發(fā)生觸碰事件；若電子裝置為手寫板，可以是用手寫板對應(yīng)的觸碰元件(如，手寫筆或手指)來發(fā)生觸碰事件。在一些實(shí)施例中，根據(jù)本發(fā)明的電容式感測裝置的判斷基線值的更新方法可由一計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)，以致于當(dāng)電腦(即，前述之電子裝置)載入程序并執(zhí)行后可完成根據(jù)本發(fā)明任一實(shí)施例的電容式感測裝置的判斷基線值的更新方法。在一些實(shí)施例中，計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品可為一可讀取記錄媒體，而上述程序則儲存在可讀取記錄媒體中供計(jì)算機(jī)載入。在一些實(shí)施例中，上述程序本身即可為計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，并且經(jīng)由有線或無線的方式傳輸至計(jì)算機(jī)中。綜上，在本發(fā)明的實(shí)施例中，通過確認(rèn)當(dāng)前量測值(第一量測值)與出廠基線值之間或與記錄基線值之間是否具有全等差異現(xiàn)象來決定是否采用當(dāng)前量測值作為進(jìn)行接續(xù)的感測過程所使用的判斷基線值。在具有此現(xiàn)象時，采用當(dāng)前量測值作為判斷基線值。在不具有此現(xiàn)象時，則采用出廠基線值作為判斷基線值并進(jìn)行各偵測點(diǎn)的判斷基線值的校驗(yàn)過程。在校驗(yàn)過程中，透過偵測各偵測點(diǎn)的量測值(第二量測值)的信號特性為高頻或低頻來決定是否以當(dāng)前量測值(第三或第四量測值)更新對應(yīng)的判斷基線值與更新的時機(jī)。換言之，對量測到信號(第二量測值)的變更速率高者，采延遲更新判斷基線值；變更速率低者，則在超過更新累進(jìn)變化值(第三閥值)時才做更新。因此，根據(jù)本發(fā)明的電容式感測裝置的判斷基線值的更新方法及電容式感測裝置，其得以避免久置之觸碰元件造成誤判，也可避免在觸碰事件發(fā)生或結(jié)束時立即判斷基線值而造成后續(xù)量測值錯亂，由此快速轉(zhuǎn)換判斷基線值為可用狀態(tài)，進(jìn)而降低判斷基線值的更新次數(shù)并節(jié)省資源。符號說明12感測控制器14信號感測器142第一感測層144第二感測層16儲存單元20顯示器30處理單元x1～xn第一電極線y1～ym第二電極線p(1,1)～p(n,m)偵測點(diǎn)l1、l3、l5第二量測值l2、l4、l6濾波數(shù)列δh上閥值δl下閥值s41讀出多個偵測點(diǎn)的多個出廠基線值s43讀出多個偵測點(diǎn)的多個記錄基線值s45偵測多個偵測點(diǎn)以得到多個偵測點(diǎn)的多個第一量測值s47計(jì)算多個第一量測值與對應(yīng)的多個出廠基線值之間的多個第一差異值s49計(jì)算多個第一差異值的一第一變化量s51第一變化量是否小于第一閥值？s53以多個第一量測值作為多個偵測點(diǎn)的多個判斷基線值s55基于多個判斷基線值進(jìn)行多個偵測點(diǎn)的位置信息的感測過程s57計(jì)算多個第一量測值與對應(yīng)的多個記錄基線值之間的多個第二差異值s59計(jì)算多個第二差異值的一第二變化量s61第二變化量是否小于第二閥值？s63以多個第一量測值作為多個偵測點(diǎn)的多個判斷基線值s65以多個出廠基線值作為多個偵測點(diǎn)的多個判斷基線值s67禁能多個偵測點(diǎn)的驅(qū)動s70校驗(yàn)過程s71重復(fù)偵測一偵測點(diǎn)多次以得到偵測點(diǎn)的多個第二量測值s73依序進(jìn)行此偵測點(diǎn)的多個第二量測值的多階濾波以產(chǎn)生一濾波數(shù)列s75根據(jù)濾波數(shù)列與變化門檻依序判定此偵測點(diǎn)的各第二量測值的信號特性為高頻及低頻中之一s77計(jì)數(shù)在禁能偵測點(diǎn)的驅(qū)動下此偵測點(diǎn)的多個第二量測值的信號特性連續(xù)判定為低頻的連續(xù)數(shù)量s79當(dāng)連續(xù)數(shù)量達(dá)第三閥值時，再次偵測此偵測點(diǎn)以得到此偵測點(diǎn)的第三量測值，并以第三量測值更新此偵測點(diǎn)的判斷基線值s81當(dāng)多個第二量測值的信號特性第一次判定為高頻時，使能偵測點(diǎn)的驅(qū)動s83計(jì)數(shù)在使能偵測點(diǎn)的驅(qū)動下此偵測點(diǎn)的第二量測值的信號特性中剩余者判定為高頻的累計(jì)次數(shù)s85當(dāng)累計(jì)次數(shù)達(dá)第四閥值時，再次偵測此偵測點(diǎn)以得到此偵測點(diǎn)的第四量測值，并以第四量測值更新此偵測點(diǎn)的判斷基線值s91接收到關(guān)機(jī)信號s93根據(jù)關(guān)機(jī)信號儲存當(dāng)前的判斷基線值至儲存單元以作為記錄基線值s95關(guān)機(jī)s710是否有下一偵測點(diǎn)？s750是否有下一第二量測值？s751高頻或低頻？s753偵測點(diǎn)是否驅(qū)動？s755是否為第一次判定？s771計(jì)數(shù)值加1以得到連續(xù)數(shù)量s791比較連續(xù)數(shù)量與第三閥值s792是否達(dá)第三閥值？s793再次偵測偵測點(diǎn)以得到偵測點(diǎn)的第三量測值s795以第三量測值更新偵測點(diǎn)的判斷基線值s811使能偵測點(diǎn)的驅(qū)動s813設(shè)定驅(qū)動標(biāo)志s815將計(jì)數(shù)的連續(xù)數(shù)量歸零s831計(jì)數(shù)值加1以得到累計(jì)次數(shù)s851比較累計(jì)次數(shù)與第四閥值s852是否達(dá)第四閥值？s853再次偵測偵測點(diǎn)以得到偵測點(diǎn)的第四量測值s855以第四量測值更新偵測點(diǎn)的判斷基線值當(dāng)前第1頁12當(dāng)前第1頁12