技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于像差圖圖像處理的主軸回轉(zhuǎn)誤差新算法，將光學(xué)平晶作為測(cè)試樣件通過(guò)專(zhuān)用夾具安裝在待測(cè)精密機(jī)床的主軸上，光學(xué)平晶隨主軸一起回轉(zhuǎn)，通過(guò)干涉儀采集主軸回轉(zhuǎn)完整圓周時(shí)光學(xué)平晶的像差圖，像差圖表面上信息包含了主軸在每個(gè)相位的運(yùn)動(dòng)誤差信息，對(duì)像差圖進(jìn)行灰度化、去噪、閾值分割、邊緣特征提取等圖像處理可計(jì)算得出主軸的回轉(zhuǎn)誤差。本發(fā)明可以實(shí)現(xiàn)在機(jī)床加工過(guò)程中實(shí)時(shí)獲取像差圖并處理計(jì)算出主軸的回轉(zhuǎn)誤差。本算法簡(jiǎn)單易行，為主軸回轉(zhuǎn)誤差的動(dòng)態(tài)測(cè)量和主軸回轉(zhuǎn)誤差數(shù)據(jù)采集、處理、評(píng)定提供新的技術(shù)途徑。

技術(shù)研發(fā)人員：付鵬強(qiáng);曹慶輝;任博遠(yuǎn);王義文;周麗杰
受保護(hù)的技術(shù)使用者：哈爾濱理工大學(xué)
文檔號(hào)碼：201710028856
技術(shù)研發(fā)日：2017.01.16
技術(shù)公布日：2017.05.31