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一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測(cè)試裝置的平晶裝夾結(jié)構(gòu)的制作方法

文檔序號(hào):10255335閱讀:551來(lái)源:國(guó)知局
一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測(cè)試裝置的平晶裝夾結(jié)構(gòu)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測(cè)試裝置的平晶裝夾結(jié)構(gòu),屬于機(jī)械夾具技術(shù)超精密測(cè)量領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]機(jī)床主軸是機(jī)床的關(guān)鍵部件,機(jī)床主軸的回轉(zhuǎn)精度決定機(jī)床的加工精度,且機(jī)床的加工精度越高,機(jī)床主軸回轉(zhuǎn)精度占有的比重越大;通過(guò)測(cè)試主軸的回轉(zhuǎn)誤差,可尋找主軸回轉(zhuǎn)誤差的來(lái)源、預(yù)測(cè)待加工工件表面的形狀以及提高機(jī)床的加工精度等等。
[0003]目前,主軸回轉(zhuǎn)誤差測(cè)試系統(tǒng)通常由高精度電容或電感位移傳感器、標(biāo)準(zhǔn)球和計(jì)算機(jī)等組成,傳感器的性能、標(biāo)準(zhǔn)球的加工精度決定了該種測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試精度,然而該種測(cè)量系統(tǒng)傳感器易受環(huán)境的干擾,影響最終主軸回轉(zhuǎn)誤差測(cè)試結(jié)果。因此,提出了一種基于動(dòng)態(tài)干涉儀的主軸回轉(zhuǎn)誤差測(cè)試系統(tǒng),該種測(cè)試方法動(dòng)態(tài)干涉儀作為測(cè)量傳感器,平晶作為檢測(cè)基準(zhǔn),通過(guò)干涉儀實(shí)時(shí)采集獲取平晶表面三維形貌,通過(guò)分析平晶形貌信息獲取主軸回轉(zhuǎn)誤差,平晶是高精密光學(xué)元件。因此,平晶的裝夾方式影響著主軸回轉(zhuǎn)測(cè)試的測(cè)量結(jié)果O
[0004]常用的平晶檢測(cè)系統(tǒng)由激光干涉儀、平晶裝夾結(jié)構(gòu)、計(jì)算機(jī)以及圖像處理軟件等軟硬件設(shè)備組成,由于平晶是高精密光學(xué)元件,稍有外力作用在平晶表面都會(huì)引起平晶表面三維結(jié)構(gòu)的變化,甚至平晶自身的重力都會(huì)引起平晶表面三維形貌的變化,因此在裝配待檢測(cè)平晶時(shí),盡量避免產(chǎn)生裝夾結(jié)構(gòu)與平晶產(chǎn)生裝夾應(yīng)力,以免產(chǎn)生的應(yīng)力破壞平晶表面的三維形貌;那么當(dāng)平晶在處于回轉(zhuǎn)過(guò)程時(shí),將會(huì)引入新的干擾因素影響平晶表面三維形貌的測(cè)量。根據(jù)現(xiàn)有平晶的裝夾結(jié)構(gòu),尚未發(fā)現(xiàn)能適用與在動(dòng)態(tài)回轉(zhuǎn)過(guò)程中檢測(cè)平晶平面度的專用夾具。因此,本文設(shè)計(jì)一種用于回轉(zhuǎn)誤差測(cè)試裝置的平晶裝夾結(jié)構(gòu),該裝夾結(jié)構(gòu)具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作方便以及裝夾應(yīng)力小等特點(diǎn)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有裝夾技術(shù)存在的不足,提供一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測(cè)試裝置的平晶裝夾結(jié)構(gòu)。
[0006]為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案:
[0007]—種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測(cè)試裝置的平晶裝夾結(jié)構(gòu),所述的平晶裝夾結(jié)構(gòu)包括底座托盤、預(yù)緊夾片和壓蓋,所述的底座托盤安裝在機(jī)床主軸的一端,所述的壓蓋與所述的底座托盤采用活動(dòng)連接的方式固定,所述的預(yù)緊夾片安裝在所述的底座托盤的內(nèi)壁上。
[0008]所述的底座托盤安裝在機(jī)床主軸的末端,所述的底座托盤上設(shè)有頂緊螺栓孔,所述的頂緊螺栓孔周圍均勻分布安裝有配重塊。
[0009]所述的底座托盤的外部分別設(shè)有均勻分布的調(diào)節(jié)螺釘。
[0010]所述的底座托盤的內(nèi)部底面處安裝有環(huán)形墊圈。
[0011]所述的預(yù)緊夾片的厚度不超過(guò)5_,且表面設(shè)有硅膠墊片。
[0012]所述的預(yù)緊夾片的外壁上安裝有連接凹槽,底座托盤上安裝的無(wú)頭內(nèi)六角螺釘與所述的連接凹槽固定連接。
[0013]所述的壓蓋具有凹形結(jié)構(gòu),便于加入硅膠類墊圈。
[0014]有益效果:
[0015]1、本實(shí)用新型的底座托盤安裝在機(jī)床主軸的末端,通過(guò)頂緊螺栓孔安裝頂緊螺釘進(jìn)行固定,并在所述的頂緊螺栓孔周圍均勻分布安裝配重塊,能夠有效防止裝夾結(jié)構(gòu)在回轉(zhuǎn)過(guò)程中發(fā)生偏振。
[0016]2、本實(shí)用新型的底座托盤的外部分別設(shè)有均勻分布的調(diào)節(jié)螺釘,通過(guò)調(diào)節(jié)螺釘即可調(diào)節(jié)平晶平面與回轉(zhuǎn)軸線的垂直度,省時(shí)便捷。
[0017]3、本實(shí)用新型的預(yù)緊夾片安裝在底座托盤的內(nèi)壁上,通過(guò)調(diào)節(jié)螺釘可裝配不同口徑的光學(xué)平晶,適用性強(qiáng)。
[0018]4、本實(shí)用新型的預(yù)緊夾片表面設(shè)有硅膠墊片,能夠有效避免光學(xué)平晶與夾片剛性接觸而破壞平晶表面結(jié)構(gòu),安全性高。
[0019]5、本實(shí)用新型的壓蓋具有凹形結(jié)構(gòu),便于加入硅膠類墊圈,在調(diào)節(jié)光學(xué)平晶工作平面與回轉(zhuǎn)軸線的垂直度時(shí),能夠避免光學(xué)平晶與壓蓋發(fā)生剛性接觸而破壞平晶表面結(jié)構(gòu)。
【附圖說(shuō)明】
[0020]圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)不意圖;
[0021]圖2為本實(shí)用新型底座托盤的結(jié)構(gòu)不意圖;
[0022]圖3為本實(shí)用新型壓蓋的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0023]圖4為本實(shí)用新型預(yù)緊夾片的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0024]圖中:1_底座托盤、2-壓蓋、3-預(yù)緊夾片、4-環(huán)形墊圈、5-調(diào)節(jié)螺釘、6-配重塊、7-無(wú)頭內(nèi)六角螺釘、8-頂緊螺栓孔、9-凹形結(jié)構(gòu)、10-連接凹槽。
【具體實(shí)施方式】
[0025]下面結(jié)合【具體實(shí)施方式】對(duì)本專利的技術(shù)方案作進(jìn)一步詳細(xì)地說(shuō)明。
[0026]—種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測(cè)試裝置的平晶裝夾結(jié)構(gòu),所述的平晶裝夾結(jié)構(gòu)包括底座托盤1、預(yù)緊夾片3和壓蓋2,所述的底座托盤I安裝在機(jī)床主軸的一端,所述的壓蓋2與所述的底座托盤I采用活動(dòng)連接的方式固定,所述的預(yù)緊夾片3安裝在所述的底座托盤I的內(nèi)壁上。
[0027]所述的底座托盤I安裝在機(jī)床主軸的末端,所述的底座托盤I上設(shè)有頂緊螺栓孔8,所述的頂緊螺栓孔8周圍均勻分布安裝有配重塊6。
[0028]所述的底座托盤I的外部分別設(shè)有均勻分布的調(diào)節(jié)螺釘5。
[0029]所述的底座托盤I的內(nèi)部底面處安裝有環(huán)形墊圈4。
[0030]所述的預(yù)緊夾片3的厚度不超過(guò)5mm,且表面設(shè)有硅膠墊片。
[0031]所述的預(yù)緊夾片3的外壁上安裝有連接凹槽10,底座托盤I上安裝的無(wú)頭內(nèi)六角螺釘7與所述的連接凹槽1固定連接。
[0032]所述的壓蓋2具有凹形結(jié)構(gòu)9,便于加入硅膠類墊圈。
[0033]上面對(duì)本專利的較佳實(shí)施方式作了詳細(xì)說(shuō)明,但是本專利并不限于上述實(shí)施方式,在本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員所具備的知識(shí)范圍內(nèi),還可以在不脫離本專利宗旨的前提下做出各種變化。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測(cè)試裝置的平晶裝夾結(jié)構(gòu),其特征在于,所述的平晶裝夾結(jié)構(gòu)包括底座托盤、預(yù)緊夾片和壓蓋,所述的底座托盤安裝在機(jī)床主軸的一端,所述的壓蓋與所述的底座托盤采用活動(dòng)連接的方式固定,所述的預(yù)緊夾片安裝在所述的底座托盤的內(nèi)壁上。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測(cè)試裝置的平晶裝夾結(jié)構(gòu),其特征在于:所述的底座托盤安裝在機(jī)床主軸的末端,所述的底座托盤上設(shè)有頂緊螺栓孔,所述的頂緊螺栓孔周圍均勻分布安裝有配重塊。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測(cè)試裝置的平晶裝夾結(jié)構(gòu),其特征在于:所述的底座托盤的外部分別設(shè)有均勻分布的調(diào)節(jié)螺釘。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測(cè)試裝置的平晶裝夾結(jié)構(gòu),其特征在于:所述的底座托盤的內(nèi)部底面處安裝有環(huán)形墊圈。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測(cè)試裝置的平晶裝夾結(jié)構(gòu),其特征在于:所述的預(yù)緊夾片的厚度不超過(guò)5_,且表面設(shè)有硅膠墊片。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測(cè)試裝置的平晶裝夾結(jié)構(gòu),其特征在于:所述的預(yù)緊夾片的外壁上安裝有連接凹槽,底座托盤上安裝的無(wú)頭內(nèi)六角螺釘與所述的連接凹槽固定連接。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測(cè)試裝置的平晶裝夾結(jié)構(gòu),其特征在于:所述的壓蓋具有凹形結(jié)構(gòu),便于加入硅膠類墊圈。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測(cè)試裝置的平晶裝夾結(jié)構(gòu),其組成包括底座托盤、預(yù)緊夾片和壓蓋,所述的底座托盤安裝在機(jī)床主軸的一端,所述的壓蓋與所述的底座托盤采用活動(dòng)連接的方式固定,所述的預(yù)緊夾片安裝在所述的底座托盤的內(nèi)壁上,所述的底座托盤安裝在機(jī)床主軸的末端,所述的底座托盤上設(shè)有頂緊螺栓孔,所述的頂緊螺栓孔周圍均勻分布安裝有配重塊。本實(shí)用新型用于靜壓主軸回轉(zhuǎn)誤差測(cè)試,通過(guò)調(diào)節(jié)底座托盤的螺釘,可減小夾結(jié)構(gòu)與主軸之間的裝配誤差,操作方便成本低。
【IPC分類】B23Q17/00
【公開(kāi)號(hào)】CN205166548
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520953297
【發(fā)明人】葛江華, 張德偉, 付鵬強(qiáng), 任博遠(yuǎn)
【申請(qǐng)人】哈爾濱理工大學(xué)
【公開(kāi)日】2016年4月20日
【申請(qǐng)日】2015年11月25日
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