本發(fā)明涉及OGS觸摸屏檢測(cè)方法領(lǐng)域，具體是一種OGS觸摸屏的ITO走線反光檢查方法。

背景技術(shù)：

OGS觸摸屏中ITO走線中，由于ITO走線整體面積較大，線路之間空白較多，因此在點(diǎn)亮OGS觸摸屏?xí)r易出現(xiàn)線路陰影。同時(shí)，在對(duì)OGS觸摸屏的ITO走線進(jìn)行反光檢查時(shí)，也會(huì)由于相對(duì)的原因出現(xiàn)線路陰影，影響產(chǎn)品的整體品質(zhì)和檢查效果。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：
本發(fā)明的目的是提供一種OGS觸摸屏的ITO走線反光檢查方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)OGS觸摸屏ITO走線線路陰影導(dǎo)致的問題。

為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案為：

一種OGS觸摸屏的ITO走線反光檢查方法，其特征在于：在ITO走線相鄰線路之間空白處、每個(gè)線路內(nèi)部空白處分別設(shè)置空心長(zhǎng)方形陣列，利用空心長(zhǎng)方形陣列減小ITO走線面積，以消除反光檢查時(shí)ITO走線線路影子，然后再進(jìn)行反光檢查。

所述的一種OGS觸摸屏的ITO走線反光檢查方法，其特征在于：相鄰線路之間空白處設(shè)置的空心長(zhǎng)方形陣列為多行多列空心長(zhǎng)方形陣列。

所述的一種OGS觸摸屏的ITO走線反光檢查方法，其特征在于：線路內(nèi)部空白處的空心長(zhǎng)方形陣列為單列多行空心長(zhǎng)方形陣列。

本發(fā)明在相鄰線路空白處和每個(gè)線路內(nèi)部空白處，分別設(shè)置空心長(zhǎng)方形陣列，利用空心長(zhǎng)方形陣列占據(jù)ITO走線空白處，以減小ITO走線面積，從而可消除線路的陰影，提高了OGS觸摸屏的品質(zhì)，并提高了檢查可靠性。

附圖說明

圖1為本發(fā)明原理示意圖。

具體實(shí)施方式

如圖1所示，一種OGS觸摸屏的ITO走線反光檢查方法，在ITO走線相鄰線路1之間空白處、每個(gè)線路1內(nèi)部空白處分別設(shè)置空心長(zhǎng)方形陣列2，利用空心長(zhǎng)方形陣列2減小ITO走線面積，以消除反光檢查時(shí)ITO走線線路影子，然后再進(jìn)行反光檢查。

相鄰線路之間空白處設(shè)置的空心長(zhǎng)方形陣列為多行多列空心長(zhǎng)方形陣列。

線路內(nèi)部空白處的空心長(zhǎng)方形陣列為單列多行空心長(zhǎng)方形陣列。