技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種基于多方向形態(tài)學(xué)濾波復(fù)雜云背景下紅外小目標(biāo)檢測方法，根據(jù)云層邊緣和目標(biāo)成像后在幾何形態(tài)特征的差異性，提出多個(gè)方向的Tophat方法進(jìn)行濾波處理，并通過原始圖像與濾波圖像差值灰度確定目標(biāo)分割閾值，進(jìn)而提取紅外目標(biāo)。所述紅外小目標(biāo)檢測技術(shù)根據(jù)云層邊緣成像后的幾何形態(tài)，設(shè)計(jì)基于該形態(tài)的多個(gè)方向?yàn)V波模塊，運(yùn)用Tophat濾波方法主要包含中值濾波、腐蝕和膨脹濾波方法提取除紅外小目標(biāo)外囊括云層邊緣的背景信息，并通過差值圖像生成的分割閾值提取目標(biāo)。

技術(shù)研發(fā)人員：余躍;楊景景;曹耀心;楊大偉;吳建東;劉明娜
受保護(hù)的技術(shù)使用者：上海航天控制技術(shù)研究所
文檔號碼：201610727873
技術(shù)研發(fā)日：2016.08.25
技術(shù)公布日：2017.01.11