本發(fā)明是有關(guān)于一種光學(xué)觸控技術(shù)，且特別是有關(guān)于一種光學(xué)觸控系統(tǒng)、光學(xué)觸控裝置及其觸控檢測(cè)方法。

背景技術(shù)：

屏幕觸控技術(shù)已泛用于各種消費(fèi)型電子裝置上，其讓使用者可直覺式地點(diǎn)選屏幕上的物件而達(dá)到操控的效果。在以往的觸控技術(shù)中，以電容式觸控屏幕的觸控效果最好，但其成本也最為昂貴。在其他觸控技術(shù)中，以光學(xué)鏡頭來檢測(cè)觸碰位置的光學(xué)式觸控屏幕具有成本低、準(zhǔn)確度佳等優(yōu)點(diǎn)，目前已然成為大尺寸觸控屏幕的另外一種選擇。

光學(xué)式觸控屏幕是利用在屏幕的邊緣設(shè)置多個(gè)光學(xué)鏡頭，通過拍攝使用者手指在屏幕上操作的影像而分析所拍攝影像中因觸控物(如，觸控筆)遮斷光線所產(chǎn)生的數(shù)據(jù)，并結(jié)合三角定位法來算出觸碰點(diǎn)的精確位置。然而，光學(xué)鏡頭雖然已盡量設(shè)置在接近觸控屏幕的位置，但是光學(xué)鏡頭的影像截取面與觸控面之間還是會(huì)有一段間距。在某些使用情況下，例如利用觸控物(觸控筆)在觸控屏幕上寫字，如果使用者在每個(gè)筆劃之間沒有將觸控筆相對(duì)于觸控屏幕抬起足夠距離而使觸控物與觸控屏幕之間的間距不夠遠(yuǎn)的話，還是會(huì)被判定觸控筆仍然接觸到觸控屏幕，在筆劃與筆劃之間便會(huì)產(chǎn)生多余的連接線條，使屏幕產(chǎn)生非使用者期待的影像。因此，如何在光學(xué)觸控技術(shù)中判斷觸控筆是否實(shí)際地接觸到觸控屏幕，仍然是需要改進(jìn)的問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供一種光學(xué)觸控系統(tǒng)、光學(xué)觸控裝置及其觸控檢測(cè)方法，可準(zhǔn)確地檢測(cè)觸控筆接觸到觸控面板的時(shí)機(jī)，從而判定觸控筆所觸碰的位置。

本發(fā)明揭露一種光學(xué)觸控系統(tǒng)。光學(xué)觸控系統(tǒng)包括光學(xué)觸控裝置及觸控筆。光學(xué) 觸控裝置包括觸控面板、多個(gè)光學(xué)傳感器、第一光源以及處理器。觸控面板具備觸控面。第一光源周期性地產(chǎn)生第一光線。處理器耦接所述光學(xué)傳感器以及第一光源。觸控筆包括開關(guān)模塊以及第二光源。開關(guān)模塊耦接第二光源。當(dāng)所述觸控筆觸碰此觸控面時(shí)，開關(guān)模塊使第二光源產(chǎn)生第二光線。處理器依據(jù)所述光學(xué)傳感器所接收的第一光線與第二光線判定所述觸控筆的位置。

本發(fā)明揭露一種光學(xué)觸控裝置的觸控檢測(cè)方法。光學(xué)觸控裝置包括一觸控面。觸控檢測(cè)方法包括下列步驟。周期性地產(chǎn)生第一光線。依據(jù)第一光線而判斷是否獲得預(yù)估觸碰位置。當(dāng)獲得所述預(yù)估觸碰位置后，在第一光源的下一個(gè)禁能期間中判斷是否接收第二光線，其中所述第二光線是由觸控筆在觸碰所述觸控面時(shí)產(chǎn)生。若是，判定所述預(yù)估觸控位置為觸控筆所觸碰的位置。

本發(fā)明揭露一種光學(xué)觸控裝置。此光學(xué)觸控裝置包括觸控面板、多個(gè)光學(xué)傳感器、第一光源、光源產(chǎn)生模塊、觸碰位置判斷模塊以及接觸判斷模塊。觸控面板具備觸控面。光源產(chǎn)生模塊控制所述第一光源以周期性地產(chǎn)生第一光線。觸碰位置判斷模塊依據(jù)此第一光線而判斷是否獲得預(yù)估觸碰位置。接觸判斷模塊耦接所述觸碰位置判斷模塊。當(dāng)獲得此預(yù)估觸碰位置后，接觸判斷模塊在第一光源的下一個(gè)禁能期間中判斷是否接收第二光線，其中第二光線是由觸控筆在觸碰至觸控面時(shí)產(chǎn)生。若是，接觸判斷模塊判定所述預(yù)估觸控位置為此觸控筆所觸碰的位置。

本發(fā)明揭露一種光學(xué)觸控系統(tǒng)，其包括觸控面板以及觸控筆。光學(xué)觸控裝置包括觸控面板、多個(gè)光學(xué)傳感器、第一光源以及處理器。觸控面板具有觸控面。第一光源周期性地產(chǎn)生第一光線。處理器耦接所述光學(xué)傳感器以及第一光源。觸控筆包括開關(guān)模塊以及第二光源。當(dāng)開關(guān)模塊被按壓時(shí)，第二光源產(chǎn)生第二光線。所述處理器依據(jù)所述光學(xué)傳感器所接收的第一光線與第二光線判定所述觸控筆的位置。

本發(fā)明揭露一種光學(xué)觸控裝置的觸控檢測(cè)方法，其中所述光學(xué)觸控裝置包括觸控面。所述觸控檢測(cè)方法包括下列步驟。周期性地產(chǎn)生第一光線。依據(jù)所述第一光線而判斷是否獲得預(yù)估觸碰位置。當(dāng)獲得所述預(yù)估觸碰位置后，在所述第一光源的下一個(gè)禁能期間中判斷是否接收第二光線，其中此第二光線是由觸控筆的開關(guān)模塊被按壓時(shí)所產(chǎn)生。若是，判定此預(yù)估觸控位置為觸控筆所觸碰的位置。

本發(fā)明揭露一種光學(xué)觸控裝置。此光學(xué)觸控裝置包括觸控面板、多個(gè)光學(xué)傳感器、第一光源、光源產(chǎn)生模塊、觸碰位置判斷模塊以及接觸判斷模塊。觸控面板具備觸控 面。光源產(chǎn)生模塊控制所述第一光源以周期性地產(chǎn)生第一光線。觸碰位置判斷模塊依據(jù)此第一光線而判斷是否獲得預(yù)估觸碰位置。接觸判斷模塊耦接所述觸碰位置判斷模塊。當(dāng)獲得此預(yù)估觸碰位置后，接觸判斷模塊在第一光源的下一個(gè)禁能期間中判斷是否接收第二光線，其中第二光線是由觸控筆的開關(guān)模塊被按壓時(shí)所產(chǎn)生。若是，接觸判斷模塊判定所述預(yù)估觸控位置為此觸控筆所觸碰的位置。

基于上述，本發(fā)明實(shí)施例所述的光學(xué)觸控系統(tǒng)、光學(xué)觸控裝置及其觸控檢測(cè)方法是先行通過光學(xué)觸控裝置上的第一光線來判定是否獲得預(yù)估觸碰位置。獲得此預(yù)估觸碰位置之后，光學(xué)觸控裝置在第一光源的下一個(gè)禁能期間中通過觸控筆上發(fā)出的第二光線來判斷觸控筆是否確實(shí)觸碰到觸控面板。第二光線可以是由觸控筆在觸碰至觸控面板時(shí)產(chǎn)生的，也可以是由使用者按壓觸控筆上的開關(guān)模塊時(shí)產(chǎn)生的。藉此，光學(xué)觸控裝置便可通過檢測(cè)到第二光線與否來作為觸控筆是否確實(shí)觸碰至觸控面板的信號(hào)，藉以輔助判斷此預(yù)估觸碰位置是否確實(shí)是觸控筆所觸碰的實(shí)際位置。此外，第二光線的亮度可以被調(diào)整為低于光學(xué)觸控裝置所預(yù)先設(shè)置的閥值，藉以達(dá)成省電的作用。

為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例，并配合所附圖式作詳細(xì)說明如下。

附圖說明

圖1是依照本發(fā)明一實(shí)施例的光學(xué)觸控系統(tǒng)的示意圖。

圖2及圖3是依照本發(fā)明一實(shí)施例的觸控筆的結(jié)構(gòu)圖。

圖4是依照本發(fā)明一實(shí)施例用以周期性產(chǎn)生第一光線l1的脈沖寬度調(diào)制信號(hào)s1以及第二光線l2的波形示意圖。

圖5是依照本發(fā)明一實(shí)施例的光學(xué)觸控裝置的觸控檢測(cè)方法的流程圖。

圖6是圖1的光學(xué)觸控裝置的功能方塊圖。

附圖標(biāo)號(hào)：

100：光學(xué)觸控系統(tǒng)

110：光學(xué)觸控裝置

120：觸控筆

130：光機(jī)模塊

140：處理器

150：觸控面板

160：觸控面

210：開關(guān)模塊

220：第二光源

230：觸控端

240：儲(chǔ)電設(shè)備

310：反光區(qū)

410、430、450：信號(hào)s1的使能期間

420、440、460：信號(hào)s1的禁能期間

610：觸控面板

620：光學(xué)傳感器

630：第一光源

640：處理器

650：光源產(chǎn)生模塊

660：觸碰位置判斷模塊

670：接觸判斷模塊

s510～s530：步驟

a1、a2：虛線箭頭

l1：第一光線

l2：第二光線

l3：第三光線

s1：脈沖寬度調(diào)制信號(hào)

具體實(shí)施方式

圖1是依照本發(fā)明一實(shí)施例的光學(xué)觸控系統(tǒng)100的示意圖。光學(xué)觸控系統(tǒng)100包括光學(xué)觸控裝置110以及觸控筆120。光學(xué)觸控裝置110包括觸控面板150、至少兩個(gè)光機(jī)模塊130以及處理器140。于本實(shí)施例中，每個(gè)光機(jī)模塊130可以包括光學(xué)傳感器(例如，紅外光照相機(jī))以及第一光源。觸控面板150包括觸控面160。

于部分實(shí)施例中，第一光源可以獨(dú)立于光機(jī)模塊之外，且第一光源的數(shù)量可以為 單個(gè)或多個(gè)。換句話說，第三光線l3為從觸控筆反射第一光線l1的光線。于本實(shí)施例中，第一光源為可發(fā)出紅外光的發(fā)光二極管單元，且第一光源受到處理器130的控制而間歇性或周期性地發(fā)射第一光線(如，紅外光)。應(yīng)用本實(shí)施例者可適度地針對(duì)光機(jī)模塊、光學(xué)傳感器以及第一光源的擺放位置進(jìn)行適度地調(diào)整，例如將光學(xué)傳感器與第一光源分開并設(shè)置在光學(xué)觸控裝置110的不同位置…等。

第一光源可以不限制在紅外光源，也可以是可視光源、其他不可視光源(如，紫外光)或是激光光源。本發(fā)明實(shí)施例是為了避免光線讓使用者感到刺眼，并降低環(huán)境光的影響，因而選擇肉眼不可見的紅外光源來作為第一光源，且其產(chǎn)生的第一光線l1便為紅外光線。光機(jī)模塊130中光學(xué)傳感器的鏡頭前方可搭配上述紅外光線的濾光片，藉以濾除不需要的其他波長(zhǎng)光線，以降低環(huán)境光的干擾。紅外光線的波長(zhǎng)位在760納米(nm)至1毫米(mm)之間。處理器140可以是中央處理單元(cpu)、微處理器或特殊應(yīng)用集成電路(application-specificintegratedcircuit；asic)，本發(fā)明實(shí)施例并不受限于此。

處理器140耦接觸控面板150、光機(jī)模塊130中的光學(xué)傳感器以及第一光源。這些光學(xué)傳感器受到處理器140驅(qū)動(dòng)以獲得觸控面板150的觸控面160上的光學(xué)影像，并將這些光學(xué)影像回傳給處理器140。處理器140通過這些光學(xué)影像并利用三角定位法來獲得觸控筆120在觸控面160上的位置。然而，雖然光學(xué)傳感器已盡量設(shè)置在接近觸控屏幕的位置，但是光學(xué)傳感器的影像截取面與觸控面之間仍然會(huì)有一段間距。因此，雖然能夠通過第一光源來得知觸控筆120在觸控面160上的位置，但無法得知觸控筆120是否已確實(shí)接觸到觸控面160。

因此，本發(fā)明實(shí)施例特別對(duì)觸控筆120進(jìn)行設(shè)計(jì)，使觸控筆的觸控端(如觸控筆120的筆尖)在按壓到觸控面板150的觸控面160時(shí)會(huì)產(chǎn)生燈光信號(hào)。此燈光信號(hào)也就是本發(fā)明實(shí)施例所述的第二光線l2(圖1中是以虛線箭頭繪示)。藉此，光學(xué)觸控裝置110中的處理器140便可通過檢測(cè)到第二光線l2與否來作為觸控筆120是否確實(shí)觸碰至觸控面板150的信號(hào)，藉以輔助判斷此檢測(cè)到的位置資訊是否確實(shí)是觸控筆120所觸碰到觸控面160的實(shí)際位置。

圖2及圖3是依照本發(fā)明一實(shí)施例的觸控筆120的結(jié)構(gòu)圖。圖2繪示觸控筆120的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，圖3則繪示觸控筆120的外部結(jié)構(gòu)。請(qǐng)同時(shí)參考圖2及圖3，觸控筆120主要包括開關(guān)模塊210以及第二光源220，并且還包括觸控端230、儲(chǔ)電設(shè)備240以 及反光區(qū)310。開關(guān)模塊210耦接第二光源220。于本實(shí)施例中，開關(guān)模塊210為以彈簧構(gòu)成的壓力開關(guān)，第二光源220則是可以發(fā)出第二光線l2(如，紅外光線)的發(fā)光二極管單元。第二光源220主要設(shè)置在觸控筆120的觸控端230。此觸控端230可以是觸控筆120的筆尖部分，其主要用以與觸控面160接觸。觸控端230為透明材質(zhì)的物件，其包裹住以紅外線發(fā)光二極管單元來實(shí)現(xiàn)的第二光源220。當(dāng)使用者手持觸控筆120并使其觸控端230被按壓時(shí)，開關(guān)模塊210便將儲(chǔ)電設(shè)備240與第二光源220相連接，從而使第二光源220產(chǎn)生第二光線l2。相對(duì)地，當(dāng)使用者手持觸控筆120并使其觸控端230不被按壓時(shí)，則觸控筆120不會(huì)產(chǎn)生第二光線l2。換句話說，開關(guān)模塊210可判斷觸控筆120是否觸碰至觸控面板150以使第二光源220產(chǎn)生第二光線l2。儲(chǔ)電設(shè)備240可以是電池。

圖3中的反光區(qū)310則設(shè)置于觸控筆120的筆身部分，用以將圖1中第一光源所產(chǎn)生的第一光線l1反射而產(chǎn)生第三光線l3，藉以讓圖1的光學(xué)觸控裝置110能夠更為清楚地知悉觸控筆120所在的位置。

于本實(shí)施例中，第一光線l1與第二光線l2可以具備相同波長(zhǎng)，例如皆為紅外光線；上述第一光源與第二光源220皆可以利用發(fā)射紅外光線的發(fā)光二極管單元來實(shí)現(xiàn)。第二光源220較不考慮使用激光光源，其原因在于激光光源所需耗費(fèi)的能量較高，而觸控筆120本身所攜帶的電池240容量有限，因此存在儲(chǔ)電量較低的問題。

特別說明的是，處理器140系依據(jù)光機(jī)模塊130中的光學(xué)傳感器所接收的第一光線l1而判斷是否獲得預(yù)估觸碰位置。為了讓圖1中光學(xué)觸控裝置110的處理器140能夠分辨第三光線l1(由第一光線l1通過觸控筆120反射而從光機(jī)模塊130中的光學(xué)傳感器獲得的光線)與第二光線l2(由觸控筆120的觸控端230被按壓而產(chǎn)生)之間的差異，本發(fā)明實(shí)施例的處理器140利用第一光源在周期性產(chǎn)生的第一光線l1的下一個(gè)禁能期間來判斷光機(jī)模塊130中的光學(xué)傳感器是否已接收到第二光線l2，藉以判斷在第一光線l1的上一個(gè)使能期間所獲得的預(yù)估觸碰位置是否確實(shí)為觸控筆120以與觸控面160接觸的位置。

另一個(gè)符合本發(fā)明精神的實(shí)施例中，也可以使圖1的觸控筆120的開關(guān)模塊采用按壓式開關(guān)，而非圖2～圖3所示的壓力開關(guān)。當(dāng)使用者認(rèn)為觸控筆120的觸控端已經(jīng)接觸到圖1的觸控面板110的觸控面160時(shí)，使用者便可主動(dòng)地按壓此按壓式開關(guān)，以使第二光源產(chǎn)生第二光線。藉此，圖1的處理器140便可判定此時(shí)通過第一光線 l1得知的預(yù)估觸碰位置確實(shí)是觸控筆120的正確觸碰位置。

圖4是依照本發(fā)明一實(shí)施例用以周期性產(chǎn)生第一光線l1的脈沖寬度調(diào)制(pwm)信號(hào)s1以及第二光線l2的波形示意圖。請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D1及圖4，于本實(shí)施例中，第一光源受控于圖1的處理器140的pwm信號(hào)s1而產(chǎn)生第一光線l1。換句話說，當(dāng)pwm信號(hào)s1位于使能期間(如，期間410、430、450)時(shí)，第一光源便會(huì)產(chǎn)生第一光線l1；當(dāng)pwm信號(hào)s1位于禁能期間(如，期間420、440、460)時(shí)，第一光源便會(huì)關(guān)閉而不產(chǎn)生第一光線l1。若是處理器140在信號(hào)s1的使能期間通過第一光線l1來獲得第三光線l3以計(jì)算得到觸控筆120或其他觸控物的觸控信號(hào)(在此將此觸控信號(hào)稱為是預(yù)估觸碰位置)的話，則有幾種可能，一種可能是，觸控筆120的觸控端已接觸到觸控面160，且以使第二光源產(chǎn)生第二光線；第二種可能是，觸控筆120的觸控端已接觸到觸控面160，但使用者并未按壓觸控筆120的按壓式開關(guān)而沒有使第二光源產(chǎn)生第二光線；第三種可能是，觸控筆120實(shí)際上沒有接觸到觸控面160。

為了要判斷觸控筆120是否已接觸到觸控面160，處理器140會(huì)在第一光源控制第一光線l1的信號(hào)s1的下一個(gè)禁能期間時(shí)來判斷是否接收到第二光線l2。其理由在于，若是第一光線l1持續(xù)被產(chǎn)生，且依據(jù)第一光線l1所產(chǎn)生的第三光線l3與第二光線l2皆為紅外光，則處理器140無法分辨兩者。相對(duì)地，當(dāng)位于信號(hào)s1的禁能期間時(shí)，由于第一光線l1并未產(chǎn)生，因此處理器140通過光學(xué)傳感器所獲得的光線便為第二光線l2。在此以圖4中的波形圖配合圖1來說明，若圖1的處理器140在信號(hào)s1的使能期間410獲得上述的預(yù)估觸碰位置的話，便會(huì)在信號(hào)s1的下一個(gè)禁能期間420中判斷是否通過光機(jī)模塊130中的光學(xué)傳感器來接收到第二光線l2(如虛線箭頭a所示意)。由于處理器140在信號(hào)s1的下一個(gè)禁能期間420中并未接收到第二光線l2(第二光線l2為禁能)，表示觸控筆120實(shí)際上沒有接觸到觸控面160，或是使用者并未按壓觸控筆120的按壓式開關(guān)而沒有使第二光源產(chǎn)生第二光線。因此，處理器140便判斷此預(yù)估觸控位置不是觸控筆120所觸碰的位置而舍棄不用。

若圖1的處理器140在信號(hào)s1的使能期間430繼續(xù)獲得預(yù)估觸碰位置的話，便會(huì)在信號(hào)s1的下一個(gè)禁能期間440中判斷是否通過光機(jī)模塊130中的光學(xué)傳感器來接收到第二光線l2(如虛線箭頭a2所示意)。由于處理器140在信號(hào)s1的下一個(gè)禁能期間440中已接收第二光線l2(第二光線l2為使能)，表示觸控筆120實(shí)際上已接觸到觸控面160，因此處理器140便判定此使能期間430獲得預(yù)估觸碰位置為觸 控筆120所實(shí)際觸碰的位置，并依據(jù)此預(yù)估觸控位置進(jìn)行報(bào)點(diǎn)動(dòng)作，藉以讓光學(xué)觸控系統(tǒng)110實(shí)現(xiàn)觸控功能。

于本實(shí)施例中，處理器140會(huì)設(shè)定一個(gè)亮度檢測(cè)閥值，藉以判斷第三光線l3是否可以用于判斷觸控筆120的位置。由于光學(xué)傳感器在取得光線后會(huì)將此光線的亮度轉(zhuǎn)換為灰階值(范圍為“1”～“255”)，光線的亮度最高為”255”，光線亮度最低為“1”，“0”則為沒有檢測(cè)到光線。本發(fā)明實(shí)施例是將亮度檢測(cè)閥值設(shè)定為“10”，光學(xué)觸控裝置110中的處理器140接收高于亮度檢測(cè)閥值“10”的第三光線l3來檢測(cè)觸控筆120的位置。換句話說，第三光線l3的亮度灰階值為”10”以上才可用于判斷觸控筆120的位置，否則會(huì)被舍棄不用。本發(fā)明實(shí)施例可將第二光線l2的亮度設(shè)定為灰階值“2”至“10”之間，這些灰階值均小于亮度檢測(cè)閥值，藉以節(jié)省觸控筆120中的電源消耗。

圖5是依照本發(fā)明一實(shí)施例的光學(xué)觸控裝置的觸控檢測(cè)方法的流程圖。請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D1及圖5，觸控檢測(cè)方法適用于光學(xué)觸控裝置110。于步驟s510中，光學(xué)觸控裝置110中的處理器140控制光機(jī)模塊130中的第一光源而周期性地產(chǎn)生第一光線l1。于步驟s520中，處理器140通過光機(jī)模塊130中的多個(gè)光學(xué)傳感器來依據(jù)第一光線l1而獲得第三光線l3。于步驟s530中，處理器140依據(jù)由第一光線l1反射的第三光線l3來判斷是否獲得觸控筆120的預(yù)估觸碰位置。若沒有獲得此預(yù)估觸碰位置時(shí)，處理器140便會(huì)重復(fù)步驟s510至s530以持續(xù)判斷是否獲得觸控筆的預(yù)估觸碰位置。當(dāng)獲得此預(yù)估觸碰位置后，便從步驟s530進(jìn)入步驟s540，處理器140在第一光線的下一個(gè)禁能期間中判斷是否接收第二光線l2。此第二光線l2可以是由觸控筆120在觸碰至觸控面160時(shí)產(chǎn)生，也可以是使用者主動(dòng)地按壓觸控筆120的開關(guān)模塊而使第二光源產(chǎn)生第二光線l2。若步驟s540為否，則進(jìn)入步驟s560以舍棄此預(yù)估觸碰位置，并回到步驟s510以自動(dòng)地繼續(xù)此觸控檢測(cè)方法。

若步驟s540為是，也就是處理器140在第一光線的下一個(gè)禁能期間中已接收到第二光線l2的話，則進(jìn)入步驟s550，判定此預(yù)估觸控位置為觸控筆120所觸碰的位置，并進(jìn)行后續(xù)的報(bào)點(diǎn)動(dòng)作，藉以讓光學(xué)觸控系統(tǒng)110實(shí)現(xiàn)觸控功能。

于部分實(shí)施例中，也可以將步驟s540以及s530的步驟順序顛倒，也就是先利用步驟s540來在第一光線l1的禁能期間中判斷是否接收第二光線l2。若步驟s540為是，則表示第一光線的下一個(gè)使能期間便可獲得觸控筆120所觸碰的位置，因此變 進(jìn)入步驟s530來獲得觸碰位置。應(yīng)用本實(shí)施例者可依其需求來調(diào)整步驟s530以及s540的順序。

圖6是圖1的光學(xué)觸控裝置110的功能方塊圖。請(qǐng)參考圖6，光學(xué)觸控裝置110包括觸控面板610、多個(gè)光學(xué)傳感器620、第一光源630以及處理器640。觸控面板610、多個(gè)光學(xué)傳感器620以及第一光源630與圖1中的觸控面板150、光機(jī)模塊130中的光學(xué)傳感器以及第一光源相似。處理器640中可具備多個(gè)功能模塊，這些功能模塊可以是以軟件實(shí)現(xiàn)也可以用硬件電路來實(shí)現(xiàn)。處理器640包括光源產(chǎn)生模塊650、觸碰位置判斷模塊660以及接觸判斷模塊670。光源產(chǎn)生模塊650通過第一光源630以周期性地產(chǎn)生第一光線。觸碰位置判斷模塊660依據(jù)第一光線來判斷是否獲得預(yù)估觸碰位置。接觸判斷模塊670耦接觸碰位置判斷模塊660。當(dāng)獲得此預(yù)估觸碰位置后，接觸判斷模塊670在第一光線的下一個(gè)禁能期間中判斷是否接收第二光線。所述第二光線可以是由觸控筆在觸碰至觸控面板610的觸控面時(shí)產(chǎn)生，也可以是使用者主動(dòng)地按壓觸控筆的開關(guān)模塊以使第二光源產(chǎn)生第二光線l2。當(dāng)已接收此第二光線時(shí)，接觸判斷模塊670便判定此預(yù)估觸控位置為觸控筆所觸碰的位置。本發(fā)明實(shí)施例的詳細(xì)實(shí)現(xiàn)方法請(qǐng)見上述實(shí)施例。

綜上所述，本發(fā)明實(shí)施例所述的光學(xué)觸控系統(tǒng)、光學(xué)觸控裝置及其觸控檢測(cè)方法是先行通過光學(xué)觸控裝置上的第一光線來判定是否獲得預(yù)估觸碰位置。獲得此預(yù)估觸碰位置之后，光學(xué)觸控裝置在第一光線的下一個(gè)禁能期間中通過觸控筆上發(fā)出的第二光線來判斷觸控筆是否確實(shí)觸碰到觸控面板，其中第二光線可以是由觸控筆在觸碰至觸控面板時(shí)產(chǎn)生的，也可以是由使用者按壓觸控筆上的開關(guān)模塊時(shí)產(chǎn)生的。藉此，光學(xué)觸控裝置可通過檢測(cè)到第二光線與否來作為觸控筆是否確實(shí)觸碰至觸控面板的信號(hào)，藉以輔助判斷此預(yù)估觸碰位置是否確實(shí)是觸控筆所觸碰的實(shí)際位置。此外，第二光線的亮度可以被調(diào)整為低于光學(xué)觸控裝置所預(yù)先設(shè)置的閥值，藉以達(dá)成省電的作用。

雖然本發(fā)明已以實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的更動(dòng)與潤(rùn)飾，故本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視權(quán)利要求為準(zhǔn)。