本申請基于2015年12月18日申請的特愿2015－247182號、2016年9月30日申請的特愿2016－192554號、2016年10月28日申請的特愿2016－211534號各日本專利申請來主張優(yōu)先權(quán)，將這些申請的全部內(nèi)容引入到本發(fā)明中。

本發(fā)明涉及輸入裝置以及電子設(shè)備。

背景技術(shù)：

以往公知有例如日本特開2010－74689號公報那樣具備輸入裝置的電子設(shè)備，其中，所述輸入裝置具有：檢測正被觸碰的鍵的第1檢測單元、和對被進(jìn)行了使?fàn)顟B(tài)變位的操作的鍵加以檢測的第2檢測單元。

在以往的電子設(shè)備的輸入裝置中，在鍵的觸摸操作時當(dāng)然進(jìn)行通過第1檢測單元對觸摸操作的檢測，即便是鍵的按下操作時(參照專利文獻(xiàn)1的圖3(c))，也進(jìn)行了通過第1檢測單元對觸摸操作的檢測。即，需要在鍵向其按下方向位移的期間，也能夠檢測因?qū)︽I的觸摸操作而產(chǎn)生的靜電電容的變化的構(gòu)成。由此，設(shè)計能夠檢測對各鍵的觸摸操作和按下操作雙方的輸入裝置時的自由度受到限制。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明鑒于上述課題而提出，其目的在于，提供一種輸入裝置，該輸入裝置具備：向某一方向位移的鍵；第1檢測電路，具備對因按壓體向上述鍵的接觸或者接近而產(chǎn)生的靜電電容的變化進(jìn)行檢測的靜電電容檢測部；以及第2檢測電路，具有第1電極，并且檢測與上述鍵的位移一起向上述某一方向位移的第2電極和上述第1電極的電連接，其中，根據(jù)上述鍵的位移量，以排他的方式切換由上述第1檢測電路檢測并且同時上述第2檢測電路不檢測的第1檢測狀態(tài)和由上述第2檢測電路檢測并且同時上述第1檢測電路不檢測的第2檢測狀態(tài)。

另外，本發(fā)明還提供一種電子設(shè)備，具備輸入裝置和控制部，上述輸入裝置具備：向某一方向位移的鍵；第1檢測電路，具備對因按壓體向上述鍵的接觸或者接近而產(chǎn)生的靜電電容的變化進(jìn)行檢測的靜電電容檢測部；以及第2檢測電路，具有第1電極，并且檢測與上述鍵的位移一起向上述某一方向位移的第2電極和上述第1電極的電連接，其中，根據(jù)上述鍵的位移量，以排他的方式切換由上述第1檢測電路檢測并且同時上述第2檢測電路不檢測的第1檢測狀態(tài)和由上述第2檢測電路檢測并且同時上述第1檢測電路不檢測的第2檢測狀態(tài)，上述控制部根據(jù)上述第1檢測電路以及上述第2檢測電路的檢測結(jié)果來執(zhí)行至少一個功能。

附圖說明

其中，附圖中的各部件不一定相互成比例。

圖1是表示本發(fā)明的實施方式涉及的作為輸入裝置的電子計算器10的俯視圖。

圖2是表示本發(fā)明的實施方式涉及的電子計算器10的輸入部11的數(shù)值鍵110的圖，(a)是數(shù)值鍵110的俯視圖，(b)是表示數(shù)值鍵110的鍵結(jié)構(gòu)的觸摸操作檢測時的ⅱ-ⅱ剖視圖，(c)是表示數(shù)值鍵110的鍵結(jié)構(gòu)的觸擊操作檢測時的ⅱ-ⅱ剖視圖。

圖3是表示本發(fā)明的實施方式涉及的電子計算器10的觸摸檢測片120上的導(dǎo)電圖案的透視俯視圖。

圖4是本發(fā)明的實施方式涉及的電子計算器10的框圖。

圖5是表示使用了本發(fā)明的實施方式涉及的電子計算器10的輸入操作檢測處理的流程圖。

圖6是表示本發(fā)明的實施方式涉及的電子計算器10的存儲部400中存儲的觸摸輸入圖案的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。

圖7是表示使用了本發(fā)明的實施方式涉及的電子計算器10的用戶操作的一個例子的圖。

圖8是表示本發(fā)明的第1變形例涉及的電子計算器10a的觸摸檢測片120上的導(dǎo)電圖案的透視俯視圖。

圖9是本發(fā)明的第2變形例涉及的電子計算器10b的與ⅱ-ⅱ剖視圖相當(dāng)?shù)钠室晥D，(a)是數(shù)值鍵110的俯視圖，(b)是表示數(shù)值鍵110的鍵結(jié)構(gòu)的觸摸操作檢測時的ⅱ-ⅱ剖視圖。

具體實施方式

首先，使用圖1～圖7對本發(fā)明的實施方式進(jìn)行說明。

圖1是表示本發(fā)明的實施方式涉及的作為輸入裝置的電子計算器10的俯視圖。圖2是表示本發(fā)明的實施方式涉及的電子計算器10的輸入部11的數(shù)值鍵110的圖，(a)是數(shù)值鍵110的俯視圖，(b)是表示數(shù)值鍵110的鍵結(jié)構(gòu)的觸摸操作檢測時(第1檢測狀態(tài))的ⅱ-ⅱ剖視圖，(c)是表示數(shù)值鍵110的鍵結(jié)構(gòu)的觸擊操作檢測時(第2檢測狀態(tài))的ⅱ-ⅱ剖視圖。

如圖1所示，電子計算器10具備輸入部11、顯示部12、太陽能電池面板13。輸入部11具備全部清除鍵[ac]、清除當(dāng)前輸入鍵[c]、正負(fù)切換鍵[+/－]、數(shù)字鍵[0]～[9]、運(yùn)算鍵[+][－][×][÷][＝]等鍵。每一個鍵都是構(gòu)成為能夠向某一方向(與紙面正交的方向)位移，并能夠檢測其觸擊的觸擊鍵。數(shù)字鍵[0]～[9]中的9個數(shù)值鍵[1]～[9]110、110…被配置為3×3的行列狀。另外，這些數(shù)值鍵[1]～[9]110、110…不僅作為按鍵(strokekey)發(fā)揮功能，還作為觸摸鍵發(fā)揮功能。

輸入部11的鍵結(jié)構(gòu)如在圖2(b)、(c)中表示了剖面那樣，具備數(shù)值鍵110、觸摸檢測片120、鍵施力片130、和基板140。

數(shù)值鍵110由導(dǎo)電性金屬等具有導(dǎo)電性的材料構(gòu)成，如圖2(a)所示，俯視下在中央部具備鍵頂部111，并在其周邊部以包圍鍵頂部111的四方的形式具備ロ字狀的凸緣部112。另外，在鍵頂部111的上表面印刷有該數(shù)值鍵所固有的數(shù)字。在圖2(a)中，表示了數(shù)值鍵[9]110來進(jìn)行說明，但任意的數(shù)值鍵[1]110～[8]110除了向鍵頂部111的印刷內(nèi)容之外都相同。以下，在本說明書中有時將“數(shù)值鍵[1]～[9]110、110…”的每一個單獨表現(xiàn)為“數(shù)值鍵110”。

觸摸檢測片120具備：絕緣片121，設(shè)有供各數(shù)值鍵110分別插入的多個孔121h、121h…；和導(dǎo)電圖案(參照圖3)，包括2個觸摸檢測電極122r、122l、與各觸摸檢測電極122r、122l連接的布線123r、123l，2個觸摸檢測電極122r、122l至少形成在絕緣片121的下表面的、各孔121h的周邊部且與ロ字狀的凸緣部112的對置的2條邊相對應(yīng)的各位置。

鍵施力片130由橡膠等彈性部件構(gòu)成，具備整體俯視為近似矩形狀的基部131、和該近似矩形狀中的與各數(shù)值鍵110重合地配置的部分成為向上方(相對于鍵施力片130、配置各數(shù)值鍵110的一側(cè))隆起的形狀的鍵上推部132。鍵上推部132具備：配置在數(shù)值鍵110的正下方的抵接部133、和伴隨著數(shù)值鍵110的觸擊操作而變形來產(chǎn)生將抵接部133以及數(shù)值鍵110向上施力的彈性回彈力的裙?fàn)畈?34。在抵接部133的下表面(與基板140的上表面相對的面)設(shè)置有對置電極135。

基板140具備絕緣性的基部141和形成在基部141上表面的電極、布線、電子部件等，尤其在基部141上表面中的與鍵施力片130的各對置電極135相對的部分設(shè)置有觸擊檢測電極(第1電極)142。

參照圖2(b)、(c)，對觸摸操作檢測時和觸擊操作檢測時的各鍵結(jié)構(gòu)簡單地進(jìn)行說明。

如圖2(b)所示，在不進(jìn)行數(shù)值鍵110的觸擊操作的狀態(tài)下，檢測觸摸操作。在該狀態(tài)下，鍵施力片130基于其材質(zhì)所具有的彈性回彈力而保持其本身原來的形狀。由此，鍵上推部132的抵接部133的上表面與數(shù)值鍵110的下表面抵接(推壓下表面)來對其進(jìn)行支承，并且使凸緣部112的對置的2條邊的上表面與觸摸檢測片120的觸摸檢測電極122r、122l抵接。鍵頂部111經(jīng)由凸緣部112和觸摸檢測電極122r，與觸摸檢測電路(第1檢測電路)211(參照圖4)所具備的靜電電容檢測部的一個連接，并且經(jīng)由凸緣部112和觸摸檢測電極122l，與觸摸檢測電路211所具備的其他靜電電容檢測部的一個連接。將包括這些鍵頂部111、凸緣部112、觸摸檢測電極122r、122l和具有多個靜電電容檢測部的觸摸檢測電路211的部分稱為觸摸操作檢測部210。

另一方面，用戶克服鍵施力片130的彈性回彈力而用指尖按壓鍵頂部111時，數(shù)值鍵110沿著其觸擊方向(圖2(c)的上下方向)向下位移。因該觸擊操作引起的數(shù)值鍵110的觸擊位移量(在圖2(b)、(c)中為上下方向的數(shù)值鍵110的移動量)成為某一大小時，如圖2(c)所示，鍵施力片130的對置電極135與基板140的觸擊檢測電極142相互接觸，而檢測到觸擊操作。此時凸緣部112與觸摸檢測電極122r、122l分離，經(jīng)由這些部件的鍵頂部111與上述的2個靜電電容檢測部的電連接被解除。

圖3是表示本發(fā)明的實施方式涉及的電子計算器10的觸摸檢測片120上的導(dǎo)電圖案中的觸摸檢測電極122以及布線123的透視俯視圖。在圖3中，從電子計算器10的上方(紙面近前側(cè))觀察時的導(dǎo)電圖案的配置被表示為透視俯視圖，但實際的導(dǎo)電圖案形成在絕緣片121的下方(相對于該絕緣片121，配置鍵施力片130、基板140的一側(cè))。觸摸檢測片120具備：以3×3的行列狀設(shè)置有9個矩形狀的孔121h1～121h9的近似矩形狀的鍵用孔形成部、從鍵用孔形成部的右下部分以較細(xì)的寬度延伸出的引出線形成部、以及與引出線形成部的前端相連且設(shè)有靜電電容檢測部的未圖示的靜電電容檢測部形成部。以下在本說明書中，在對全部的孔共同的特征進(jìn)行說明的情況下，有時不對各個孔進(jìn)行區(qū)別而記載為孔121h。

在各孔121h的周邊以包圍該孔的方式設(shè)有2個觸摸檢測電極122r、122l。俯視下右側(cè)的觸摸檢測電極122r為右大括號狀，并被設(shè)置成與孔121h的右邊的全長在上下邊的右側(cè)部分相接，俯視下左側(cè)的觸摸檢測電極122l為左大括號狀，并被設(shè)置成與孔121h的左邊的全長在上下邊的左側(cè)部分相接。2個觸摸檢測電極122r、122l在與孔121h的上下邊鄰接的部分相互分離。右側(cè)的觸摸檢測電極122r經(jīng)由布線123r與靜電電容檢測部的一個連接，左側(cè)的觸摸檢測電極122l經(jīng)由布線123l與其他靜電電容檢測部的一個連接。

另外，沿行方向(圖的左右方向)排列的3個孔121h、例如最上一行的3個孔121h7、121h8、121h9的各右側(cè)的觸摸檢測電極122r7、122r8、122r9通過1根布線123r3相互并列地與一個第3行位置檢測用靜電電容檢測部212c(參照圖4)連接。同樣，對于正中的行而言，3個孔121h4、121h5、121h6的各右側(cè)的觸摸檢測電極122r4、122r5、122r6通過1根布線123r2相互并列地與一個第2行位置檢測用靜電電容檢測部212b連接。最下一行也同樣，3個孔121h1、121h2、121h3的各右側(cè)的觸摸檢測電極122r1、122r2、122r3通過1根布線123r1相互并列地與一個第1行位置檢測用靜電電容檢測部212a連接。

另一方面，沿列方向(圖的上下方向)排列的3個孔121h、例如以最右側(cè)的列進(jìn)行說明時，3個孔121h9、121h6、121h3的各左側(cè)的觸摸檢測電極122l9、122l6、122l3通過1根布線123l3相互并列地與一個第3列位置檢測用靜電電容檢測部213c(參照圖4)連接。正中的列和最左側(cè)的列也同樣，3個孔121h8、121h5、121h2的各左側(cè)的觸摸檢測電極122l8、122l5、122l2通過1根布線123l2相互并列地與一個第2列位置檢測用靜電電容檢測部213b連接，3個孔121h7、121h4、121h1的各左側(cè)的觸摸檢測電極122l7、122l4、122l1通過1根布線123l1相互并列地與一個第1列位置檢測用靜電電容檢測部213a連接。

這6個靜電電容檢測部、即上述的第1至第3行位置檢測用靜電電容檢測部212a、212b、212c以及第1至第3列位置檢測用靜電電容檢測部213a、213b、213c都是相互不同且能夠獨立地檢測靜電電容的變化的靜電電容檢測部。6根布線123r1、123r2、123r3、123l1、123l2、123l3經(jīng)由鍵用孔形成部中的多個孔121h、121h…之間以及引出線形成部，被繞到設(shè)置于靜電電容檢測部形成部的各對應(yīng)的靜電電容檢測部。

以下對上述那樣的本實施方式的電子計算器10的鍵結(jié)構(gòu)中的觸摸操作檢測時的動作進(jìn)行說明。以針對存在多個的數(shù)值鍵110、110…中任意一個數(shù)值鍵110，具體為數(shù)值鍵[9]110進(jìn)行了觸摸操作的情況的動作為例來進(jìn)行說明，但即便是其他數(shù)值鍵110也同樣地進(jìn)行動作。在本說明書中，將用戶的指尖等與數(shù)值鍵110接觸或者用戶的指尖等接近數(shù)值鍵110直至能夠通過靜電電容檢測部檢測靜電電容的變化的位置中的任意一個、且數(shù)值鍵110的凸緣部112與觸摸檢測片120的觸摸檢測電極122r、122l相互接觸的狀態(tài)(第1檢測狀態(tài))，設(shè)為進(jìn)行了觸摸操作的狀態(tài)。在該狀態(tài)時、即觸摸操作檢測時，數(shù)值鍵110的觸擊(stroke)位移量為零。另外，此時的鍵結(jié)構(gòu)如圖2(b)所示那樣，鍵施力片130的對置電極135與基板140的觸擊檢測電極142相互分離。

對數(shù)值鍵[9]110的鍵頂部111進(jìn)行觸摸操作時，通過經(jīng)由凸緣部112、右側(cè)的觸摸檢測電極122r9以及1根布線123r3與數(shù)值鍵[9]110的鍵頂部111連接的第3行位置檢測用靜電電容檢測部來檢測靜電電容的變化。與此同時，通過經(jīng)由凸緣部112、左側(cè)的觸摸檢測電極122l9以及1根布線123l3與數(shù)值鍵[9]110的鍵頂部111連接的第3列位置檢測用靜電電容檢測部來檢測靜電電容的變化。

這樣，對多個鍵110、110…中的任意一個數(shù)值鍵110進(jìn)行觸摸操作時，通過6個靜電電容檢測部中的任意2個靜電電容檢測部來檢測靜電電容的變化，并能夠基于檢測出變化的2個靜電電容檢測部的組合來檢測對哪一個數(shù)值鍵110進(jìn)行了觸摸操作。具體而言，在通過第3行位置檢測用靜電電容檢測部和第3列位置檢測用靜電電容檢測部檢測出靜電電容的變化時，視為對數(shù)值鍵[9]110進(jìn)行了觸摸操作而可確定被觸摸的鍵。另外，在通過第3行位置檢測用靜電電容檢測部和第2列位置檢測用靜電電容檢測部檢測出靜電電容的變化時，可知對數(shù)值鍵[8]110進(jìn)行了觸摸操作，以下同樣，在通過第1行位置檢測用靜電電容檢測部和第1列位置檢測用靜電電容檢測部檢測出靜電電容的變化時，可知對數(shù)值鍵[1]110進(jìn)行了觸摸操作。這樣，在本實施方式中，如果布線為6根則可確定9個數(shù)值鍵[1]～[9]110中的哪一個數(shù)值鍵110被觸摸。

接下來，以針對存在多個的數(shù)值鍵110中的任意一個數(shù)值鍵110，具體而言對數(shù)值鍵[9]110進(jìn)行了觸擊操作的情況的動作為例來進(jìn)行說明，但即便是其他數(shù)值鍵110也同樣地進(jìn)行動作。在本說明書中，將用戶的指尖等與數(shù)值鍵110接觸且鍵施力片130的對置電極135與基板140的觸擊檢測電極142相互接觸的狀態(tài)(第2檢測狀態(tài))設(shè)為進(jìn)行了觸擊操作的狀態(tài)。在該狀態(tài)時、即觸擊操作檢測時，數(shù)值鍵110的觸擊位移量成為某一大小。另外，此時的鍵結(jié)構(gòu)如圖2(c)所示那樣，數(shù)值鍵110的凸緣部112與觸摸檢測片120的觸摸檢測電極122r、122l相互分離。

觸擊檢測電極142經(jīng)由基板140上的未圖示的布線與觸擊檢測電路(第2檢測電路)221(參照圖4)連接。對數(shù)值鍵[9]110進(jìn)行觸擊操作時，鍵施力片130的對置電極135與基板140的觸擊檢測電極142的接觸由上述的觸擊檢測電路221檢測。將包括這些對置電極135、觸擊檢測電極142、基板140上的布線和觸擊檢測電路221的部分稱為觸擊操作檢測部220。

另外，在觸摸檢測時的第1檢測狀態(tài)與觸擊操作檢測時的第2檢測狀態(tài)之間的狀態(tài)、即數(shù)值鍵110的觸擊位移量大于零且小于上述的既定量時，數(shù)值鍵110的凸緣部112與觸摸檢測片120的觸摸檢測電極122r、122l相互分離，并且鍵施力片130的對置電極135與基板140的觸擊檢測電極142相互分離。在該中間狀態(tài)下，觸摸操作和觸擊操作都不被檢測。

本實施方式的電子計算器10由于具有上述那樣的結(jié)構(gòu)，所以具有能夠針對某一鍵檢測觸摸操作以及觸擊操作雙方，并且在該鍵的觸擊操作檢測時不進(jìn)行由用于檢測該鍵的觸摸操作的檢測電路執(zhí)行的觸摸操作的檢測的新的構(gòu)成。

圖4是本發(fā)明的實施方式涉及的電子計算器10的框圖。電子計算器10具備輸入檢測部200、控制部(cpu)300、存儲部400、以及顯示部500。

輸入檢測部200包括輸入部11。輸入檢測部200包括：具備觸摸檢測電路211的觸摸操作檢測部210，以及具備觸擊檢測電路221的觸擊操作檢測部220。所述觸摸檢測電路211包括前述的第1行位置檢測用靜電電容檢測部212a、第2行位置檢測用靜電電容檢測部212b以及第3行位置檢測用靜電電容檢測部212c、和第1列位置檢測用靜電電容檢測部213a、第2列位置檢測用靜電電容檢測部213b以及第3列位置檢測用靜電電容檢測部213c。

控制裝置300接收來自電子計算器10的各部的信號，基于接收到的信號來生成控制信號，并向各部發(fā)送，基于這些控制信號對各部進(jìn)行控制。

存儲裝置400包括：存儲有電子計算器10的控制命令的rom410、和暫時保持由顯示部500顯示的數(shù)據(jù)并為了控制裝置300的計算處理而暫時展開數(shù)據(jù)的ram420。

顯示部500基于從控制裝置300接收到的控制信號，來顯示各種計算結(jié)果等信息。

在觸摸操作檢測時，根據(jù)用戶的指尖接觸或者接近的數(shù)值鍵110，在第1至第3行位置檢測用靜電電容檢測部212a、212b以及212c中的一個行位置檢測用靜電電容檢測部、和第1至第3列位置檢測用靜電電容檢測部213a、213b以及213c中的一個列位置檢測用靜電電容檢測部中檢測靜電電容的變化。觸摸檢測電路211根據(jù)各靜電電容的變化量是否比預(yù)先決定的閾值大，來將各對應(yīng)的檢測信號向控制裝置300發(fā)送。

在觸擊操作檢測時，觸擊檢測電路221根據(jù)被進(jìn)行了觸擊操作的數(shù)值鍵110，將各對應(yīng)的檢測信號向控制裝置300發(fā)送。

控制裝置300基于從輸入檢測部200接收到的檢測信號，能夠檢測被進(jìn)行了輸入操作的數(shù)值鍵110、和對該數(shù)值鍵110進(jìn)行的操作的種類(觸摸操作或者觸擊操作的哪一個操作)。

圖5是表示使用了本發(fā)明的實施方式涉及的電子計算器10的輸入操作檢測處理的流程圖?？刂蒲b置300以恒定的周期(例如10ms間隔)進(jìn)行是否接收到與對任意鍵的觸摸操作以及觸擊操作中的任意一個對應(yīng)的檢測信號的判定。圖6是為了確定與觸摸操作對應(yīng)的功能而在ram中存儲的信息的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。該信息包括作為第1、第2、第3以及第4數(shù)列pi1～pi4(以下稱為觸摸輸入圖案pi1～pi4。)的{9、5、1}、{8、5、2}、{7、5、3}以及{4、5、6}多個數(shù)列、與各數(shù)列建立了對應(yīng)的檢索標(biāo)志以及特定的功能。在電子計算器10的電源接通時，作為初始化處理中的一個，針對全部的觸摸輸入圖案將檢索標(biāo)志設(shè)定為1，后述的變量i、j的值也被改寫為1。

在接收到與觸摸操作以外的操作對應(yīng)的檢測信號(以下，為了方便起見而將此稱為“檢測到操作”。)的情況下、即檢測到觸擊操作的情況下(步驟s10：是)或者檢測到其他操作的情況下(步驟s10：否，步驟s15：否，步驟s85：是)，控制裝置300將ram中存儲的檢索標(biāo)志改寫為1并且將變量i改寫為1(步驟s90、s95)，然后執(zhí)行與檢測到的觸擊操作或者其他操作對應(yīng)的處理(步驟s100)。在沒檢測到任何操作的情況下(步驟s10：否，步驟s15：否，步驟s85：否)，結(jié)束本輸入操作檢測處理。因此，在檢測到針對數(shù)值鍵[1]～[9]110、110…以外的鍵、即無法檢測觸摸操作的鍵的任意一個(例如，全部清除鍵[ac]或清除當(dāng)前輸入鍵[c]等)的觸擊操作的情況下(步驟s10：是)，由控制裝置300執(zhí)行與該觸擊操作對應(yīng)的處理(步驟s100)。此外，雖然沒有圖示，但進(jìn)行在步驟s100中接收到的操作與上次的檢測結(jié)果是否相同的判定，在由控制裝置300判定為與上次的檢測結(jié)果相同的情況下，不進(jìn)行處理而直接結(jié)束本輸入操作檢測處理。

如果控制裝置300判定為未檢測到觸擊操作且檢測到了觸摸操作(步驟s10：否，步驟s15：是)，則基于該檢測信號來確定被進(jìn)行了觸摸操作的數(shù)值鍵110(步驟s20)。此時，取得與在該數(shù)值鍵110的鍵頂部111印刷的數(shù)字相同的數(shù)值作為鍵信息?？刂蒲b置300判定這次取得的鍵信息與上次取得的鍵信息是否相同(步驟s22)，在二者相同的情況下，結(jié)束本輸入操作檢測處理(步驟22：是)。在這次取得的鍵信息與上次取得的鍵信息不同的情況下(步驟s22：否)，接下來進(jìn)行該鍵信息是否是預(yù)先決定出的幾個鍵中的一個的判定。

具體而言，控制裝置300首先取得登記完畢的觸摸輸入圖案的個數(shù)ma(步驟s25)且對變量j進(jìn)行初始化(步驟s30)，然后從第1個觸摸輸入圖案起按順序判定檢索標(biāo)志是否是1(步驟s32)。如果檢索標(biāo)志為1(步驟s32：是)，則判定在步驟s20中取得的鍵信息是否與ram中存儲的觸摸輸入圖案中的從開頭起第j個圖案的第i位數(shù)值pij相等(步驟s35)。在這些值一致的情況下(步驟s35：是)，將該第j個圖案的檢索標(biāo)志改寫為1(步驟s40)，在不一致的情況下(步驟s35：否)將檢索標(biāo)志改寫為0(步驟s45)。如果在步驟s32中檢索標(biāo)志不是1(步驟s32：否)，則在將變量j自加1(步驟s33)之后移至接下來的觸摸輸入圖案的檢索標(biāo)志的判定處理(步驟s32)。

對ram中存儲的1個以上觸摸輸入圖案反復(fù)進(jìn)行判定處理(步驟s35)以及檢索標(biāo)志的改寫處理(步驟s40、s45)(步驟s50、s55：否)，如果對全部(ma個)的觸摸輸入圖案結(jié)束了處理(步驟s50、s55：是)，則取得檢索標(biāo)志為1的觸摸輸入圖案的個數(shù)mb。如果個數(shù)mb等于1(步驟s65：是)則執(zhí)行與檢索標(biāo)志為1的該觸摸輸入圖案建立對應(yīng)地存儲于ram的特定的功能(步驟s80)。在個數(shù)mb不等于1時(步驟s65：否)將變量i自加1(步驟s75)，然后結(jié)束處理。

若將以上的輸入操作檢測處理匯總，則如果鍵被觸摸操作的順序與預(yù)先登記的觸摸輸入圖案相等(步驟s10：否，s15：是，s20、s25、s30、s35：是/否，s40、s45、s50、s55：是/否，s60、s65：是/否，s70、s75)，則執(zhí)行與該圖案對應(yīng)的特定的功能(步驟s80)。如果在鍵被觸摸操作的順序與預(yù)先登記的觸摸輸入圖案相等之前進(jìn)行了觸摸操作以外的操作、即觸擊操作或其他操作(步驟s10：是/否，s15：否，s85：是)，則對觸摸輸入圖案檢測用的變量進(jìn)行初始化(步驟s90、s95)，然后執(zhí)行與該操作建立了對應(yīng)的處理(步驟s100)。

基于ram中存儲的具體例的觸摸輸入圖案來進(jìn)一步進(jìn)行說明。圖7是表示用戶對電子計算器10的輸入部11的操作的一個例子的圖。第1個觸摸輸入圖案是{9、5、1}。這對應(yīng)于在配置有數(shù)值鍵[1]～[9]110、110…的近似矩形狀的區(qū)域中從右上到左下以一條直線狀使手指滑動的輸入操作，對該觸摸輸入圖案關(guān)聯(lián)了以顯示部12所顯示的數(shù)值來計算百分率的功能。同樣，第2觸摸輸入圖案是{8、5、2}，這對應(yīng)于在上述的近似矩形狀的區(qū)域中從上到下使手指滑動的輸入操作，并且對該觸摸輸入圖案關(guān)聯(lián)了與[m+]鍵相同的功能。第3個觸摸輸入圖案是{7、5、3}，這對應(yīng)于在上述的近似矩形狀的區(qū)域中從左上到右下使手指滑動的輸入操作，并且對該觸摸輸入圖案關(guān)聯(lián)了與[m－]鍵相同的功能。第4觸摸輸入圖案是{4、5、6}，這對應(yīng)于在上述的近似矩形狀的區(qū)域中從左到右使手指滑動的輸入操作，并且對該觸摸輸入圖案關(guān)聯(lián)了與[mrc]鍵相同的功能。

若在初始狀態(tài)、即全部的檢索標(biāo)志為1且變量i為1時檢測到觸摸操作，則如果該被觸摸的數(shù)值鍵110是[9]、[8]、[7]以及[4]的任意一個，那么與該數(shù)值鍵對應(yīng)的觸摸輸入圖案的檢索標(biāo)志被改寫為1。在被觸摸的數(shù)值鍵110具體為[9]時，第1個觸摸輸入圖案{9、5、1}的檢索標(biāo)志被改寫為1，第2～4個觸摸輸入圖案的檢索標(biāo)志被改寫為0。接下來，在檢測到觸擊操作或者其他操作之前檢測出觸摸操作的情況下，當(dāng)被觸摸的數(shù)值鍵110不是[5]時，第1個觸摸輸入圖案{9、5、1}的檢索標(biāo)志被改寫為0，當(dāng)被觸摸的數(shù)值鍵110是[5]時，檢索標(biāo)志的值保持1不變。接下來，在檢測到觸擊操作或者其他操作之前檢測出對數(shù)值鍵[1]110的觸摸操作的情況下，由于與第1個觸摸輸入圖案{9、5、1}一致，所以由控制裝置300執(zhí)行與該圖案建立了對應(yīng)的特定的功能即計算百分率的功能。

由此，在本實施方式的電子計算器10中，由于能夠至少不設(shè)置[m+]、[m－]、[mrc]、[％]這4個鍵地通過觸摸操作來執(zhí)行與各鍵對應(yīng)的功能，所以能夠?qū)崿F(xiàn)輸入部11、電子計算器10的小型化。此外，觸摸輸入圖案并不限定于一條直線狀的輸入操作，也可以包括“[7]→[4]→[1]→[2]→[3]”(l字狀的輸入操作)、“[7]→[4]→[1]→[2]→[3]→[6]→[9]”(u字狀的輸入操作)等各種圖案。通過使這些觸摸輸入圖案與其他鍵的功能建立對應(yīng)，能夠針對更多的鍵不設(shè)置這些鍵地通過觸摸操作來執(zhí)行與各鍵對應(yīng)的功能。

[第1變形例]

圖8是表示本發(fā)明的第1變形例涉及的電子計算器10a的觸摸檢測片120a上的導(dǎo)電圖案中的觸摸檢測電極122以及布線123的透視俯視圖。與上述的實施方式等同的構(gòu)成被賦予相同或者類似的附圖標(biāo)記并為了簡要而省略了說明。在本變形例中，在設(shè)置于觸摸檢測片120a的各孔121h的周邊只設(shè)有一個觸摸檢測電極122。另外，在各觸摸檢測電極122連接有1根布線123，各布線123相互獨立地與能夠檢測靜電電容的變化的9個靜電電容檢測部(未圖示)的任意一個連接。若對數(shù)值鍵[1]～[9]110、110…的鍵頂部111、111…的任意一個進(jìn)行觸摸操作，則通過經(jīng)由該數(shù)值鍵110的凸緣部112、對應(yīng)的一個觸摸檢測電極122以及對應(yīng)的1根布線123而與該鍵頂部111連接的任意一個檢測用靜電電容檢測部來檢測靜電電容的變化。

這樣，在本第1變形例中，與前述的實施方式相比，能夠?qū)⒂|摸檢測片120a中的形成觸摸檢測電極122的區(qū)域即觸摸電極形成部中形成的電極的數(shù)量以及向該電極的引繞布線的數(shù)量抑制得較少。由此，本變形例的電子計算器10a與前述的實施方式同樣，具有針對某一鍵檢測觸摸操作以及觸擊操作雙方、并且在該鍵的觸擊操作檢測時不進(jìn)行由用于檢測該鍵的觸摸操作的檢測電路執(zhí)行的觸摸操作的檢測的新的構(gòu)成，可進(jìn)一步使觸摸檢測片120a的觸摸電極形成部小型化、提高在該觸摸電極形成部形成電極以及引繞布線時的設(shè)計自由度。

[第2變形例]

圖9是本發(fā)明的第2變形例涉及的電子計算器10b的與ⅱ-ⅱ剖視圖相當(dāng)?shù)钠室晥D，(a)是數(shù)值鍵110的俯視圖，(b)是表示數(shù)值鍵110的鍵結(jié)構(gòu)的觸摸操作檢測時的ⅱ-ⅱ剖視圖。與上述的實施方式等同的構(gòu)成被賦予相同或者類似的附圖標(biāo)記并且為了簡要而省略了說明。在本變形例中，通過以覆蓋數(shù)值鍵110的鍵頂部111整體的方式涂覆絕緣性的樹脂而形成有絕緣膜113。該絕緣膜113例如也可以是為了對鍵頂部111的表面賦予所希望的色彩而被涂覆的樹脂性的墨水。對數(shù)值鍵[1]～[9]110、110…的鍵頂部111、111…的任意一個進(jìn)行觸摸操作時，通過經(jīng)由該數(shù)值鍵110的凸緣部112、對應(yīng)的2個觸摸檢測電極122r、122l以及對應(yīng)的2根布線123r3、123l3而與該鍵頂部111連接的任意2個檢測用靜電電容檢測部來檢測靜電電容的變化?；跈z測到變化的這2個靜電電容檢測部的組合，能夠檢測出對哪個數(shù)值鍵110進(jìn)行了觸摸操作。絕緣膜113的厚度大時，由于通過檢測用靜電電容檢測部檢測的靜電電容的變化量變小、觸摸檢測電路211的靈敏度下降，所以需要適當(dāng)?shù)卦O(shè)計厚度以使在賦予所希望的色彩的同時檢測靈敏度能滿足需要。另外，絕緣膜113也可以不是賦予色彩的部件，而是在視覺上透明或者半透明，或者通過賦予光澤感、不光滑感來賦予所希望的視覺或者觸覺效果的部件。

這樣，本第2變形例的電子計算器10b與前述的實施方式相同，具有能夠針對某一鍵檢測觸摸操作以及觸擊操作雙方、并且在該鍵的觸擊操作檢測時不進(jìn)行由用于檢測該鍵的觸摸操作的檢測電路執(zhí)行的觸摸操作的檢測的新的構(gòu)成，且能夠進(jìn)一步對鍵頂部111賦予所希望的色彩。本第2變形例并不限定于如上述那樣在數(shù)值鍵[1]～[9]110、110…的各孔121h的周邊設(shè)置有2個觸摸檢測電極122r、122l的情況，當(dāng)然也能夠應(yīng)用于如前述的第1變形例那樣在數(shù)值鍵[1]～[9]110、110…的各孔121h的周邊只設(shè)有一個觸摸檢測電極122的情況。

此外，本申請發(fā)明不限定于各實施方式，在實施階段中能夠在不脫離其主旨的范圍進(jìn)行各種變形。并且，各實施方式中包括各種階段的發(fā)明，可通過所公開的多個構(gòu)成要件中的適當(dāng)?shù)慕M合來構(gòu)成各種發(fā)明。例如，在即使從各實施方式所示的全部構(gòu)成要件刪除幾個構(gòu)成要件、或者幾個構(gòu)成要件為不同的形態(tài)并進(jìn)行組合，也能夠解決本說明書中敘述的課題、可獲得本說明書中敘述的效果的情況下，通過刪除該構(gòu)成要件或者組合而得到的構(gòu)成也可作為發(fā)明。

以上對本發(fā)明的實施方式進(jìn)行了說明，但在不脫離本發(fā)明精神和主旨的范圍內(nèi)可以進(jìn)行中變形，同樣也屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。