本發(fā)明提供一種自動(dòng)化測試系統(tǒng)及方法，且特別涉及一種TPM安全芯片自動(dòng)化測試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

TPM安全芯片(TPM:Trusted Platform Module)是指符合可信賴平臺模塊(TPM)標(biāo)準(zhǔn)的芯片，它是一個(gè)可獨(dú)立進(jìn)行密鑰生成、加解密的裝置，內(nèi)部擁有獨(dú)立的處理器和存儲(chǔ)單元，可存儲(chǔ)密鑰和特征數(shù)據(jù)，為電腦提供加密和安全認(rèn)證服務(wù)。因此，TPM安全芯片能有效地保護(hù)電腦，防止非法用戶訪問。

現(xiàn)有技術(shù)中，在測試TPM安全芯片時(shí)是使用廠商驅(qū)動(dòng)程序自帶的無線訪問節(jié)點(diǎn)(AP)進(jìn)行自身檢測，即通過人為點(diǎn)選工具條中的TPM AP圖標(biāo)，選擇自測進(jìn)行測試，測試完成后會(huì)顯示PASS或FAIL。

然而，通過上述測試方法進(jìn)行測試，測試結(jié)果無法儲(chǔ)存，后續(xù)出現(xiàn)問題也無法追蹤。

有鑒于此，實(shí)有必要開發(fā)一種TPM安全芯片自動(dòng)化測試系統(tǒng)及方法，以解決上述測試結(jié)果無法儲(chǔ)存，后續(xù)出現(xiàn)問題也無法追蹤的問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

因此，本發(fā)明的目的是提供一種TPM安全芯片自動(dòng)化測試系統(tǒng)及方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)對TPM安全芯片的功能測試時(shí)，測試結(jié)果無法儲(chǔ)存，后續(xù)無法追蹤的問題。

為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供一種TPM安全芯片自動(dòng)化測試系統(tǒng)，所述TPM安全芯片設(shè)于電腦中，所述測試系統(tǒng)包括：

采集單元，其與TPM安全芯片連接，獲取TPM安全芯片的硬件信息及狀態(tài)信息；

處理單元，其與所述采集單元連接，所述處理單元判斷采集單元獲取的TPM安全芯片的硬件信息及狀態(tài)信息，獲得測試結(jié)果；

顯示單元，其與所述處理單元連接，所述顯示單元顯示測試結(jié)果；

現(xiàn)場管理系統(tǒng)，其與所述處理單元連接，處理單元將測試結(jié)果上傳至現(xiàn)場管理系統(tǒng)中。

可選的，所述測試結(jié)果為通過和不通過。

可選的，所述測試系統(tǒng)包括關(guān)閉單元，所述關(guān)閉單元與所述處理單元連接，當(dāng)關(guān)閉單元接收到測試結(jié)果后，該關(guān)閉單元經(jīng)過一段時(shí)間關(guān)閉所述測試系統(tǒng)。

另外，本發(fā)明還提供一種TPM安全芯片自動(dòng)化測試方法，其包括以下步驟：

(1)采集單元獲取TPM安全芯片的硬件信息及狀態(tài)信息；

(2)處理單元判斷采集單元獲取的TPM安全芯片的硬件信息是否存在；

(3)處理單元判斷采集單元獲取的TPM安全芯片的狀態(tài)信息是否有效；

(4)處理單元獲取測試結(jié)果，并將測試結(jié)果上傳至現(xiàn)場管理系統(tǒng)中；

(5)顯示單元顯示測試結(jié)果。

可選的，當(dāng)硬件信息存在且狀態(tài)信息有效時(shí)，所述測試結(jié)果為通過；當(dāng)硬件信息不存在或狀態(tài)信息無效時(shí)，所述測試結(jié)果為不通過。

可選的，所述步驟(5)之后還包括步驟：關(guān)閉單元接收到測試結(jié)果后，關(guān)閉單元經(jīng)過一段時(shí)間關(guān)閉所述測試系統(tǒng)。

相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明的TPM安全芯片自動(dòng)化測試系統(tǒng)及方法，由于直接將測試結(jié)果上傳至現(xiàn)場管理系統(tǒng)中，從而測試結(jié)果不僅可以儲(chǔ)存，還方便追蹤結(jié)果，便于后續(xù)處理。同時(shí)，當(dāng)關(guān)閉單元接收到測試結(jié)果后，該關(guān)閉單元經(jīng)過一段時(shí)間關(guān)閉所述測試系統(tǒng)，從而使得測試更加自動(dòng)化和快捷。

【附圖說明】

圖1繪示本發(fā)明TPM安全芯片自動(dòng)化測試系統(tǒng)一較佳實(shí)施例的示意圖。

圖2繪示本發(fā)明TPM安全芯片自動(dòng)化測試方法一較佳實(shí)施例的示意圖。

【具體實(shí)施方式】

請參閱圖1所示，圖1繪示了本發(fā)明TPM安全芯片自動(dòng)化測試系統(tǒng)一較佳實(shí)施例的示意圖。

于一較佳實(shí)施例中，本發(fā)明提供一種TPM安全芯片自動(dòng)化測試系統(tǒng)100，所述TPM安全芯片11設(shè)于電腦10中，所述測試系統(tǒng)包括：

采集單元101，其與TPM安全芯片11連接，獲取TPM安全芯片11的硬件信息及狀態(tài)信息；

處理單元102，其與所述采集單元101連接，所述處理單元102判斷采集單元101獲取的TPM安全芯片11的硬件信息及狀態(tài)信息，獲得測試結(jié)果；

顯示單元103，其與所述處理單元102連接，所述顯示單元103顯示測試結(jié)果；

現(xiàn)場管理系統(tǒng)104(SFSC：shop floor control system)，其與所述處理單元103連接，處理單元103將測試結(jié)果上傳至現(xiàn)場管理系統(tǒng)104中。

其中，所述測試結(jié)果為通過和不通過。

其中，所述測試系統(tǒng)包括關(guān)閉單元105，所述關(guān)閉單元105與所述處理單元102連接，當(dāng)關(guān)閉單元105接收到測試結(jié)果后，該關(guān)閉單元105經(jīng)過一段時(shí)間關(guān)閉所述測試系統(tǒng)100，從而使得測試更加自動(dòng)化和快捷。

請參閱圖2所示，其繪示了本發(fā)明TPM安全芯片自動(dòng)化測試方法一較佳實(shí)施例的示意圖。

于一較佳實(shí)施例中，本發(fā)明還提供一種TPM安全芯片自動(dòng)化測試方法，其包括以下步驟：

步驟201：采集單元101獲取TPM安全芯片11的硬件信息及狀態(tài)信息；

步驟202：處理單元102判斷采集單元101獲取的TPM安全芯片11的硬件信息是否存在；

步驟203：處理單元102判斷采集單元101獲取的TPM安全芯片11的狀態(tài)信息是否有效；

步驟204：處理單元102獲取測試結(jié)果，并將測試結(jié)果上傳至現(xiàn)場管理系統(tǒng)104中；

步驟205：顯示單元105顯示測試結(jié)果。

其中，當(dāng)TPM安全芯片11的硬件信息存在且狀態(tài)信息有效時(shí)，所述測試結(jié)果為通過；當(dāng)TPM安全芯片11的硬件信息不存在或狀態(tài)信息無效時(shí)，所述測試結(jié)果為不通過。

其中，所述步驟205之后還包括步驟206：當(dāng)關(guān)閉單元105接收到測試結(jié)果后，該關(guān)閉單元105經(jīng)過一段時(shí)間關(guān)閉所述測試系統(tǒng)100。

相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明的TPM安全芯片自動(dòng)化測試系統(tǒng)及方法，由于直接將測試結(jié)果上傳至現(xiàn)場管理系統(tǒng)104中，從而測試結(jié)果不僅可以儲(chǔ)存，還方便追蹤結(jié)果，便于后續(xù)處理。同時(shí)，當(dāng)關(guān)閉單元105接收到測試結(jié)果后，關(guān)閉單元105經(jīng)過一段時(shí)間關(guān)閉所述測試系統(tǒng)100，從而使得測試更加更加自動(dòng)化和快捷。