專利名稱：測試usb設備的方法及自動化測試設備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及芯片自動化測試領(lǐng)域，尤其涉及一種測試通用串行總線(USB，UNIVERSALSERIAL BUS)設備的方法及自動化測試設備(ATE，AUTOMATIC TEST EQUIPMENT)。
背景技術(shù)：
在芯片自動化測試領(lǐng)域，對USB設備的測試主要包括直流測試及功能測試，直流測試用來測試USB設備的電流和電壓特性，功能測試用來測試USB設備是否能夠?qū)崿F(xiàn)預定的功能?，F(xiàn)有技術(shù)中對USB設備的測試主要使用ATE，由ATE中集成的電流源或電流表、電壓源或電壓表對USB設備進行直流測試，使用計算機對USB設備進行功能測試，根據(jù)兩次測試的結(jié)果判斷USB設備是否通過測試。從上述對USB設備的測試過程可以看出，對USB設備進行測試的整個過程包括使用不同的測試設備進行的兩次相對獨立的測試，測試流程復雜。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施例提供了 一種測試USB設備的方法及ATE，以解決測試USB設備的流程復雜的問題?！矫妫景l(fā)明實施例提供了一種測試USB設備的方法,該方法包括識別與ATE連接的USB設備的接入方式；在識別出所述USB設備的接入方式后，向所述USB設備發(fā)送測試指令；接收所述USB設備發(fā)送的測試結(jié)果，所述測試結(jié)果是USB設備根據(jù)所述測試指令執(zhí)行測試完成后得出的測試結(jié)果；將所述測試結(jié)果與預設結(jié)果進行比較，得出所述USB設備是否通過測試的結(jié)果。另一方面,本發(fā)明實施例還提供了一種ATE,所述ATE包括識別單元，用于識別與ATE連接的USB設備的接入方式；發(fā)送單元，用于在識別單元識別出所述USB設備的接入方式后，向所述USB設備發(fā)送測試指令；接收單元，用于接收所述USB設備發(fā)送的測試結(jié)果，所述測試結(jié)果是USB設備根據(jù)所述發(fā)送單元發(fā)送的所述測試指令執(zhí)行測試完成后得出的測試結(jié)果；得出單元，用于將所述接收單元接收的所述測試結(jié)果與預設結(jié)果進行比較，得出所述USB設備是否通過測試的結(jié)果。與現(xiàn)有技術(shù)相比，使用本發(fā)明實施例所提供的測試USB設備的方法和用于測試USB設備的ATE，可以將現(xiàn)有技術(shù)中對USB設備進行測試時所包含的由不同測試設備完成的直流測試和功能測試合并在由ATE執(zhí)行的一次測試中完成，簡化了測試流程。


為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。通過附圖所示，本發(fā)明的上述及其它目的、特征和優(yōu)勢將更加清晰。在全部附圖中相同的附圖標記指示相同的部分。并未刻意按實際尺寸等比例縮放繪制附圖，重點在于示出本發(fā)明的主旨。圖1A為本發(fā)明測試USB設備的方法一個實施例的流程圖；圖1B為本發(fā)明ATE與USB設備連接所使用的線纜的示意圖；圖2A為本發(fā)明測試USB設備的方法另一個實施例的流程圖；圖2B為本發(fā)明二進制數(shù)據(jù)與TTL電平對應關(guān)系示意圖；圖3為本發(fā)明測試USB設備的方法另一個實施例的流程圖；圖4A為本發(fā)明ATE的一個實施例框圖；圖4B為本發(fā)明ATE的識別單元的一個實施例框圖；圖4C為本發(fā)明ATE的發(fā)送單元的一個實施例框圖。
具體實施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整的描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。其次，本發(fā)明結(jié)合示意圖進行詳細描述，在詳述本發(fā)明實施例時，為便于說明，表示裝置結(jié)構(gòu)的剖面圖會不依一般比例作局部放大，而且所述示意圖只是示例，其在此不應限制本發(fā)明保護的范圍。此外，在實際制作中應包含長度、寬度及深度的三維空間尺寸。參見圖1A，為本發(fā)明測試USB設備的方法一個實施例的流程圖，該方法包括如下步驟步驟101，識別與ATE連接的USB設備的接入方式。要對USB設備進行測試，需要滿足USB設備的電氣需求。圖1B為本發(fā)明ATE與USB設備連接所使用的線纜的示意圖，本發(fā)明實施例中ATE通過具有VBUS、D+/D_、GND四條線路的線纜與USB設備進行連接，其中VBUS用于連接USB設備的VCC與ATE提供的+5V電源，D+/D_用于連接USB設備的D+/D-與ATE相應的測試通道(CHANNEL)，GND用于連接USB設備的GND與ATE的GND，以使二者共地，ATE通過上述線纜連接USB設備，從而滿足USB設備的電氣需求。ATE與USB設備進行通信時所采用的通信頻率可以根據(jù)實際需要選擇比特率為 12MBPS 或者1. 5MBPS。ATE在所述USB設備的電氣需要得到滿足后，向所述USB設備發(fā)送用于請求USB設備描述符的GET_DESCRIPTOR指令包、以及用于設置USB設備地址的SET_ADDRESS指令包等的枚舉命令，然后接收USB設備對枚舉命令的響應消息，所述響應信息主要包含設備描述符、配置描述符、接口描述符、端點描述符等USB標準描述符等用于識別USB設備接入方式的描述符集合，還可以包括字符串描述符等其他描述符，ATE根據(jù)從響應消息中識別出的USB設備的接入方式確定與USB設備的通信方式。
步驟102，在識別出所述USB設備的接入方式后，向所述USB設備發(fā)送測試指令。所述測試指令用于對USB設備進行直流測試和功能測試，對于不同的USB設備，測試命令包括的具體內(nèi)容也可以有所不同，對此本發(fā)明實施例不進行限制。USB設備在接收到測試指令之后會向ATE發(fā)送握手包，但因握手包不涉及芯片測試過程中的數(shù)據(jù)交換，對測試結(jié)果不會造成影響，所以可以跳過對握手包的處理?？蛇x的，可以以忽略接收到握手包的方式來跳過對握手包的處理。步驟103，接收所述USB設備發(fā)送的測試結(jié)果，所述測試結(jié)果是USB設備根據(jù)所述測試指令執(zhí)行測試完成后得出的測試結(jié)果。需要說明的是，由于USB設備存在不主動向ATE發(fā)送測試結(jié)果的情況，因此在接收USB設備發(fā)送的測試結(jié)果之前，還可以包括向USB設備發(fā)送IN包的步驟，所述IN包用于觸發(fā)USB設備向ATE發(fā)送測試結(jié)果，USB設備在接收到ATE發(fā)送的IN包后，向ATE發(fā)送測試結(jié)果。步驟104，將所述測試結(jié)果與預設結(jié)果進行比較，得出所述USB設備是否通過測試的結(jié)果。在接收到USB設備返回的測試結(jié)果后，ATE可以利用比較功能，將接收到的測試結(jié)果與USB設備通過測試時應當?shù)玫降慕Y(jié)果，也就是預設結(jié)果，進行比較，當二者一致時得出USB設備通過測試的結(jié)果，當二者不一致時得出USB設備未能通過測試的結(jié)果。從上述實施例可以看出，本發(fā)明提供的測試USB設備的方法，由于使用ATE對USB設備進行測試，因此可以由ATE順序執(zhí)行直流測試，對USB設備進行識別，以及對USB設備的功能測試，將現(xiàn)有技術(shù)中對USB設備進行測試時所包含的由不同測試設備完成的直流測試和功能測試合并在由ATE執(zhí)行的一次測試中完成，簡化了測試流程。參見圖2A，為本發(fā)明測試USB設備的方法另一個實施例的流程圖，該方法包括如下步驟步驟201，ATE向USB設備發(fā)送枚舉命令。ATE發(fā)送向USB設備發(fā)送用于請求USB設備描述符的GET_DESCRIPTOR指令包、以及用于設置USB從設備地址的SET_ADDRESS指令包等的枚舉命令。如圖2B所示，由于邏輯門電路(TTL，TRANSISTOR-TRANSISTOR LOGIC)中的高電平可以用來表示二進制數(shù)據(jù)I，低電平可以用來表示二進制數(shù)據(jù)0，因此ATE可以利用PATTERN功能將所述枚舉命令包含的指令包轉(zhuǎn)換為二進制數(shù)據(jù)，并以相應的TTL電平形式發(fā)送給USB設備，利用MATCH功能接收USB設備以TTL電平形式發(fā)送的信息，從而實現(xiàn)與USB設備的通信?？蛇x的，ATE可以使用PATTERN功能，向USB設備發(fā)送TTL電平形式的枚舉命令。步驟202，ATE在發(fā)送完所述枚舉命令，并間隔預定的時間長度后，向所述USB設備發(fā)送IN包。由于USB設備不會主動向ATE發(fā)送枚舉命令的響應信息，只有接收到作為觸發(fā)命令的IN包的觸發(fā)后才會向USB設備發(fā)送響應信息，因此要完成對USB設備的識別需要向USB設備發(fā)送IN包。由于ATE在每一次信息發(fā)送完成后都會接收到USB設備發(fā)送的握手包，而握手包對USB設備進行測試的過程不會起到影響作用，為了提高測試的效率，可以采用在ATE向USB設備連續(xù)發(fā)送的信息之間增加發(fā)送延時的方法來忽略握手包，從而提升測試的效率，延時時長可以根據(jù)需要進行設定，對不同的USB設備及不同的測試步驟可以設置不同的延時時長?？蛇x的，ATE可以在發(fā)送完所述枚舉命令，并間隔預定的時間長度后，向USB設備發(fā)送TTL電平形式的IN包。步驟203，ATE接收所述USB設備根據(jù)所述IN包的觸發(fā)發(fā)送的所述枚舉命令的響
應信息。USB設備發(fā)送的響應信息主要包含設備描述符、配置描述符、接口描述符、端點描述符等現(xiàn)有USB通訊協(xié)議要求的USB標準描述符，還可以包括字符串描述符等其他所需的描述符。ATE在接收到所述描述符后，可以獲知有USB設備接入、以及如何與該接入的USB設備進行通信的信息。步驟204，ATE在識別出所述USB設備的接入方式后，使用PATTERN功能，向所述USB設備發(fā)送用于命令USB設備接收測試命令的OUT包。USB設備連接到ATE上，并由ATE識別出該USB設備后，該USB設備并不能直接接收ATE發(fā)送的命令，因此ATE需要向USB設備發(fā)送用于觸發(fā)USB設備接收數(shù)據(jù)的OUT包，USB設備在接收到OUT包后開始準備接收枚舉命令等各種命令?？蛇x的，ATE在識別出所述USB設備的接入方式后，可以使用PATTERN功能，向所述USB設備發(fā)送用于命令所述USB設備接收所述測試命令的TTL電平形式的OUT包。步驟205，ATE在發(fā)送完所述OUT包，并間隔預定的時間長度后，向USB設備發(fā)送所述測試命令?？蛇x的，在發(fā)送完所述OUT包，并間隔預定的時間長度后，ATE向USB設備發(fā)送所述測試命令，具體的，該ATE可以使用PATTERN功能，向所述USB設備發(fā)送TTL電平形式的所述測試命令。步驟206，ATE在發(fā)送完測試命令，并間隔預定的時間長度后，向USB設備發(fā)送IN包。由于USB設備執(zhí)行測試需要一定的時間，因此ATE在發(fā)送測試命令之后，可以間隔一定的時間長度再向USB設備發(fā)送IN包，間隔的時間長度要大于USB設備執(zhí)行測試命令所需要的時間長度，這樣做不僅保證發(fā)送IN包時USB設備已經(jīng)得出了測試結(jié)果，同時還可以忽略USB設備發(fā)送的握手包。可選的，ATE在發(fā)送完測試命令，并間隔預定的時間長度后，使用PATTERN功能，向所述USB設備發(fā)送TTL電平形式的IN包。步驟207，ATE在USB設備約定的I/O 口為高電平時，接收該USB設備根據(jù)所述IN包的觸發(fā)發(fā)送的測試結(jié)果，該測試結(jié)果是USB設備根據(jù)所述測試指令執(zhí)行測試完成后得出的測試結(jié)果。由于ATE的PATTERN功能簡單，無法直接判斷USB設備發(fā)送的信息是測試結(jié)果或者是其他信息，因此需要USB設備在發(fā)送信息之前通過對約定的I/O接口進行拉高或拉低操作作為標記，使ATE可以以特定I/O 口的電平作為判斷信息類型的標識，正確的接收需要的信息，忽略不必要的信息。例如，ATE與USB設備約定某個I/O 口為高電平時，USB設備發(fā)送的信息為測試結(jié)果，當ATE檢測到所述約定的I/O由低電平轉(zhuǎn)變?yōu)楦唠娖綍r，可以認定USB設備在此時發(fā)送的信息為測試結(jié)果。可選的，ATE可以接收所述USB設備根據(jù)所述IN包的觸發(fā)以TTL電平形式發(fā)送的測試結(jié)果，所述測試結(jié)果是USB設備根據(jù)所述測試指令執(zhí)行測試完成后得出的測試結(jié)果。步驟208，ATE將所述測試結(jié)果與預設結(jié)果進行比較，得出所述USB設備是否通過測試的結(jié)果。在接收到USB設備返回的測試結(jié)果后，ATE可以利用自身所擁有的比較功能，將接收到的測試結(jié)果與USB設備通過測試時應當?shù)玫降慕Y(jié)果，也就是所述預設結(jié)果，進行比較，當二者一致時得出USB設備通過測試的結(jié)果，當二者不一致時得出USB設備未能通過測試的結(jié)果。從上述實施例可以看出，本發(fā)明提供的測試USB設備的方法，由于使用ATE對USB設備進行測試，因此可以由ATE順序執(zhí)行直流測試，對USB設備進行識別，以及對USB設備的功能測試，將現(xiàn)有技術(shù)中對USB設備進行測試時所包含的由不同測試設備完成的直流測試和功能測試合并在由ATE執(zhí)行的一次測試中完成，簡化了測試流程。參見圖3，為本發(fā)明測試USB設備的方法一個實施例的流程圖，該實施例詳細示出了 ATE對USB設備進行測試的方法，該方法包括如下步驟步驟301，ATE使用PATTERN功能，以TTL電平形式，向USB設備發(fā)送枚舉命令。步驟302，USB設備接收到ATE發(fā)送的枚舉命令后生成響應所述枚舉命令的響應信
肩、O步驟303，ATE在發(fā)送完枚舉命令并間隔預定的時間長度后，使用PATTERN功能，以TTL電平形式，向USB設備發(fā)送IN包。步驟304，USB設備在接收到所述IN包后，設置約定的I/O的電平，并向ATE發(fā)送響應信息。步驟305，ATE根據(jù)所述響應信息所所包含的USB設備的接入方式，以TTL電平形式，向USB設備發(fā)送用于命令USB設備接收測試指令的OUT包。步驟306，USB設備在接收OUT包后準備接收測試命令。步驟307，ATE在OUT包發(fā)送完成，并間隔預定的時間長度后，使用PATTERN功能，以TTL電平形式，向USB設備發(fā)送測試命令。步驟308，USB設備在接收到所述測試命令后開始進行測試，得出測試結(jié)果。步驟309，ATE在發(fā)送測試命令完成，并間隔預定的時間長度后，使用PATTERN功能，以TTL電平形式，向USB設備發(fā)送IN包。其中，所述預定的時間長度大于USB設備進行測試所需要的時間長度。步驟310，USB設備接收到所述IN包后，設置約定的I/O 口電平，并以TTL電平形式向ATE發(fā)送USB所述測試結(jié)果。步驟311，ATE利用PATTERN的MATCH功能，接收測試結(jié)果。步驟312，將所述測試結(jié)果與預設結(jié)果進行比較，得出所述USB設備是否通過測試的結(jié)果。在接收到USB設備返回的測試結(jié)果后，ATE利用自身所擁有的比較功能，將接收到的測試結(jié)果與USB設備通過測試時應當?shù)玫降慕Y(jié)果，也就是所述預設結(jié)果，進行比較，當測試結(jié)果與預設結(jié)果一致時得出USB設備通過測試的結(jié)果，當測試結(jié)果與預設結(jié)果不一致時得出USB設備未能通過測試的結(jié)果。從上述實施例可以看出，ATE可以利用PATTERN功能向USB設備發(fā)送測試命令并利用MATCH功能接收USB設備發(fā)送的測試結(jié)果，將對USB設備進行測試所包含的由不同測試設備完成的直流測試和功能測試合并在由ATE執(zhí)行的一次測試中完成，簡化了測試流程。與本發(fā)明測試USB設備的方法相對應，本發(fā)明還提供了用于測試USB設備的ATE。參見圖4A，為本發(fā)明ATE的一個實施例框圖。該ATE包括識別單元401,發(fā)送單元402,接收單元403,得出單元404。其中，所述識別單元401，用于識別與ATE連接的USB設備的接入方式。所述，識別單元401，用于發(fā)送請求USB從設備描述符的GET_DESCRIPTOR指令包、用于設置USB從設備地址的SET_ADDRESS指令包等枚舉命令，然后接收USB設備對枚舉命令的響應消息，由于所述響應消息的內(nèi)容主要包含設備描述符、配置描述符等，ATE可以根據(jù)響應消息的內(nèi)容確定與USB設備的通信方式，完成對USB設備接入方式的識別。所述發(fā)送單元402，用于在識別單元401識別出所述USB設備的接入方式后，向所述USB設備發(fā)送測試指令。所述測試指令用于對USB設備進行直流測試和功能測試，根據(jù)的USB設備不同，測試命令的具體內(nèi)容也可以有所不同。所述接收單元403，用于接收所述USB設備發(fā)送的測試結(jié)果，所述測試結(jié)果是USB設備根據(jù)所述發(fā)送單元402發(fā)送的所述測試指令執(zhí)行測試完成后得出的測試結(jié)果。由于接收單元403功能簡單，無法直接判斷USB設備發(fā)送的信息是測試結(jié)果或者是其他信息，因此需要USB設備在發(fā)送信息之前通過對約定的I/O接口進行拉高或拉低操作作為標記，使接收單元403可以以特定I/O 口的電平作為判斷信息類型的標識，正確的接收需要的信息，忽略不必要的信息。需要說明的是，由于所述USB設備存在不主動向ATE發(fā)送測試測試結(jié)果的情況，因此所述ATE還可以包括IN包發(fā)送單元，所述IN包發(fā)送單元用于向所述USB設備發(fā)送IN包，所述IN包用于觸發(fā)USB設備向接收單元403發(fā)送測試結(jié)果，USB設備在接收到所述IN包發(fā)送單元發(fā)送的IN包后，將約定的I/O 口置為高電平并向所述接收單元404發(fā)送測試結(jié)果O可選的，所述IN包發(fā)送單元，向所述USB設備發(fā)送TTL電平形式的IN包，所述USB設備接收所述IN包后，以TTL電平形式向所述接收單元403發(fā)送的測試結(jié)果。所述得出單元404，用于將所述接收單元403接收的所述測試結(jié)果與預設結(jié)果進行比較，得出所述USB設備是否通過測試的結(jié)果。在所述接收單元403接收到USB設備返回的測試結(jié)果后，所述得出單元404利用ATE的比較功能，將接收到的測試結(jié)果與USB設備通過測試時應當?shù)玫降慕Y(jié)果，也就是預設結(jié)果，進行比較，當二者一致時得出USB設備通過測試的結(jié)果，當二者不一致時得出USB設備未能通過測試的結(jié)果。從上述實施例可以看出，本發(fā)明的ATE可以對USB設備進行測試，由于ATE同時可以完成直流測試和功能測試，使得原本需要兩次的測試合并為一次，簡化了測試流程。參見圖4B，為本發(fā)明所述ATE的識別單元的一個實施例框圖。
該識別單元包括枚舉發(fā)送子單元4011, IN包發(fā)送子單元4012,響應接收子單元4013。其中，所述枚舉發(fā)送子單元4011，用于向USB設備發(fā)送枚舉命令?？蛇x的，所述枚舉發(fā)送子單元4011，用于向USB設備發(fā)送TTL電平形式的枚舉命令。所述IN包發(fā)送子單元4012，用于在所述枚舉發(fā)送子單元發(fā)送完所述枚舉命令后，并間隔預定的時間長度后，向所述USB設備發(fā)送IN包?？蛇x的，所述IN包發(fā)送子單元4012，在所述枚舉發(fā)送子單元發(fā)送完所述枚舉命令，并間隔預定的時間長度后，向USB設備發(fā)送TTL電平形式的IN包。所述響應接收子單元4013，用于接收所述USB設備根據(jù)所述IN包發(fā)送子單元IN包的觸發(fā)發(fā)送的所述枚舉命令的響應信息?？蛇x的，所述響應接收子單元4013，用于接收所述USB設備根據(jù)所述IN包發(fā)送子單元發(fā)送的所述IN包的觸發(fā)，以TTL電平形式發(fā)送的所述枚舉命令的響應信息。從上述實施例可以看出，本發(fā)明提供的識別單元可以完成USB設備的識別和接入，從而為使用ATE測試USB設備做好準備。參見圖4C，為本發(fā)明所述ATE的發(fā)送單元的一個實施例框圖。該發(fā)送單元包括0UT包發(fā)送子單元4021，測試命令發(fā)送子單元4022。其中，所述OUT包發(fā)送子單元4021，用于向所述USB設備發(fā)送用于命令USB設備接收測試命令的OUT包?？蛇x的，所述OUT包發(fā)送子單元4021，用于向所述USB設備發(fā)送用于命令所述USB設備接收所述測試命令的TTL電平形式的OUT包。所述測試命令發(fā)送子單元4022，用于在所述OUT包發(fā)送子單元發(fā)送完所述OUT包，并間隔預定的時間長度后，向USB設備發(fā)送測試命令?？蛇x的，所述測試命令發(fā)送子單元4022，用于在所述OUT包發(fā)送子單元發(fā)送完所述OUT包，并間隔預定的時間長度后，向所述USB設備發(fā)送TTL電平形式的所述測試命令。從上述實施例可以看出，該發(fā)送單元可以在識別USB設備之后完成測試命令的發(fā)送并且忽略掉不必要的信息，簡化了測試的流程，提高了測試的效率。本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到本發(fā)明實施例中的技術(shù)可借助軟件加必需的通用硬件平臺的方式來實現(xiàn)。基于這樣的理解，本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻的部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計算機軟件產(chǎn)品可以存儲在存儲介質(zhì)中，如R0M/RAM、磁碟、光盤等，包括若干指令用以使得一臺計算機設備(可以是個人計算機，服務器，或者網(wǎng)絡設備等)執(zhí)行本發(fā)明各個實施例或者實施例的某些部分所述的方法。本說明書中的各個實施例均采用遞進的方式描述，各個實施例之間相同相似的部分互相參見即可，每個實施例重點說明的都是與其他實施例的不同之處。尤其，對于系統(tǒng)實施例而言，由于其基本相似于方法實施例，所以描述的比較簡單，相關(guān)之處參見方法實施例的部分說明即可。以上所述的本發(fā)明實施方式，并不構(gòu)成對本發(fā)明保護范圍的限定。任何在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的修改、等同替換和改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種測試通用串行總線USB設備的方法，其特征在于，所述方法包括 識別與自動化測試設備ATE連接的USB設備的接入方式； 在識別出所述USB設備的接入方式后，向所述USB設備發(fā)送測試指令； 接收所述USB設備發(fā)送的測試結(jié)果，所述測試結(jié)果是USB設備根據(jù)所述測試指令執(zhí)行測試完成后得出的測試結(jié)果； 將所述測試結(jié)果與預設結(jié)果進行比較，得出所述USB設備是否通過測試的結(jié)果。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述識別與自動化測試設備ATE連接的USB設備的接入方式，包括 向USB設備發(fā)送枚舉命令； 在發(fā)送完所述枚舉命令，并間隔預定的時間長度后，向所述USB設備發(fā)送IN包； 接收所述USB設備根據(jù)所述IN包的觸發(fā)發(fā)送的所述枚舉命令的響應信息，所述響應信息中包含用于識別USB設備接入方式的設備描述符、配置描述符、接口描述符及端點描述符。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于， 所述向USB設備發(fā)送枚舉命令，具體為 向USB設備發(fā)送邏輯門電路TTL電平形式的枚舉命令； 所述向所述USB設備發(fā)送IN包，具體為 向USB設備發(fā)送TTL電平形式的IN包； 所述接收所述USB設備根據(jù)所述IN包的觸發(fā)發(fā)送的所述枚舉命令的響應信息，具體為 接收所述USB設備根據(jù)所述IN包的觸發(fā)以TTL電平形式發(fā)送的所述枚舉命令的響應信息。
4.如權(quán)利要求1至3任意一項權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，所述向所述USB設備發(fā)送測試指令，包括 向所述USB設備發(fā)送用于命令所述USB設備接收測試命令的OUT包； 在發(fā)送完所述OUT包，并間隔預定的時間長度后，向所述USB設備發(fā)送所述測試命令。
5.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于， 所述向所述USB設備發(fā)送用于命令所述USB設備接收測試命令的OUT包，具體為 向所述USB設備發(fā)送用于命令所述USB設備接收所述測試命令的TTL電平形式的OUT包； 所述向所述USB設備發(fā)送所述測試命令，具體為 向所述USB設備發(fā)送TTL電平形式的所述測試命令。
6.如權(quán)利要求1至5任意一項權(quán)利要求所述的方法，其特征在于， 所述接收所述USB設備發(fā)送的測試結(jié)果，具體為 接收USB設備在將約定I/O 口電平置為約定的電平時發(fā)送的測試結(jié)果，所述約定的電平為USB設備發(fā)送測試結(jié)果的標識。
7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于， 在所述接收所述USB設備發(fā)送的測試結(jié)果之前，還包括 在發(fā)送完測試命令，并間隔預定的時間長度后，向所述USB設備發(fā)送IN包；接收USB設備在將約定I/O 口電平置為約定的電平時發(fā)送的測試結(jié)果，具體為 接收所述USB設備根據(jù)所述IN包的觸發(fā)，將約定的I/O 口置為高電平時發(fā)送的測試結(jié)果O
8.一種ATE，其特征在于，用于測試USB設備，所述ATE包括 識別單元，用于識別與ATE連接的USB設備的接入方式； 發(fā)送單元，用于在識別單元識別出所述USB設備的接入方式后，向所述USB設備發(fā)送測試指令； 接收單元，用于接收所述USB設備發(fā)送的測試結(jié)果，所述測試結(jié)果是USB設備根據(jù)所述發(fā)送單元發(fā)送的所述測試指令執(zhí)行測試完成后得出的測試結(jié)果； 得出單元，用于將所述接收單元接收的所述測試結(jié)果與預設結(jié)果進行比較，得出所述USB設備是否通過測試的結(jié)果。
9.如權(quán)利要求8所述的ATE，其特征在于，所述識別單元，包括 枚舉發(fā)送子單元，用于向USB設備發(fā)送枚舉命令； IN包發(fā)送子單元，用于在所述枚舉發(fā)送子單元發(fā)送完所述枚舉命令，并間隔預定的時間長度后，向所述USB設備發(fā)送IN包； 響應接收子單元，用于接收所述USB設備根據(jù)所述IN包發(fā)送子單元發(fā)送的所述IN包的觸發(fā)發(fā)送的所述枚舉命令的響應信息。
10.如權(quán)利要求9所述的ATE，其特征在于， 所述枚舉發(fā)送子單元，具體用于向USB設備發(fā)送TTL電平形式的枚舉命令； 所述IN包發(fā)送子單元，具體用于在所述枚舉發(fā)送子單元發(fā)送完所述枚舉命令，并間隔預定的時間長度后，向USB設備發(fā)送TTL電平形式的IN包； 所述響應接收子單元，具體用于接收所述USB設備根據(jù)所述IN包發(fā)送子單元發(fā)送的所述IN包的觸發(fā)，以TTL電平形式發(fā)送的所述枚舉命令的響應信息。
11.如權(quán)利要求8至10任意一項權(quán)利要求所述的ATE，其特征在于，所述發(fā)送單元，包括 OUT包發(fā)送子單元，用于向所述USB設備發(fā)送用于命令USB設備接收測試命令的OUT包； 測試命令發(fā)送子單元，用于在所述OUT包發(fā)送子單元發(fā)送完所述OUT包，并間隔預定的時間長度后，向USB設備發(fā)送測試命令。
12.如權(quán)利要求11所述的ATE，其特征在于， 所述OUT包發(fā)送子單元，具體用于向所述USB設備發(fā)送用于命令所述USB設備接收所述測試命令的TTL電平形式的OUT包； 所述測試命令發(fā)送子單元，具體用于在所述OUT包發(fā)送子單元發(fā)送完所述OUT包，并間隔預定的時間長度后，向所述USB設備發(fā)送TTL電平形式的所述測試命令。
13.如權(quán)利要求8至12任意一項權(quán)利要求所述的ATE，其特征在于， 所述接收單元，具體用于接收USB設備在將約定I/O 口電平置為約定的電平時發(fā)送的測試結(jié)果，所述約定的電平為USB設備發(fā)送測試結(jié)果的標識。
14.如權(quán)利要求13所述的ATE，其特征在于， 所述ATE還包括IN包發(fā)送單元，所述IN包發(fā)送單元，用于向所述USB設備發(fā)送IN包；所述接收單元，具體用于接收所述USB設備根據(jù)所述IN包發(fā)送單元發(fā)送的IN包的觸發(fā)，將約定的I/O 口置為高電平時發(fā)送的測試結(jié)果。
全文摘要
本發(fā)明實施例公開了測試USB設備的方法及ATE。其中測試USB設備的方法包括識別與自動化測試設備ATE連接的USB設備的接入方式；向所述USB設備發(fā)送測試指令；接收所述USB設備發(fā)送的測試結(jié)果；將所述測試結(jié)果與預設結(jié)果進行比較，得出所述USB設備是否通過測試的結(jié)果。所述ATE包括識別單元，發(fā)送單元，接收單元，得出單元。本發(fā)明實施例所提供的測試USB設備的方法和ATE，使原本需要使用不同測試設備進行的兩次相對獨立的測試合并成為一次測試，由此簡化了測試流程。
文檔編號G01R31/00GK103048559SQ20121049133
公開日2013年4月17日 申請日期2012年11月27日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月27日
發(fā)明者楊明慶, 張君邁 申請人:北京華大信安科技有限公司