Usb芯片的系統(tǒng)測(cè)試方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種USB芯片的系統(tǒng)測(cè)試方法，用于對(duì)USB3.0芯片進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試，其包括如下步驟：a檢測(cè)編碼模塊將標(biāo)準(zhǔn)USB3.0芯片內(nèi)的所有邏輯狀態(tài)按順序依次標(biāo)記，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的標(biāo)記函數(shù)；b檢測(cè)編碼模塊按照設(shè)定的編碼規(guī)則，將芯片內(nèi)部邏輯狀態(tài)所對(duì)應(yīng)的標(biāo)記函數(shù)進(jìn)行編碼，形成標(biāo)準(zhǔn)編碼值，將標(biāo)準(zhǔn)編碼值記錄到標(biāo)準(zhǔn)文件庫中；c在待測(cè)USB3.0芯片仿真過程中，檢測(cè)模塊將待測(cè)USB3.0芯片內(nèi)部邏輯狀態(tài)按照相同的編碼規(guī)則進(jìn)行編碼，將獲得的編碼值記錄到臨時(shí)文件中，將編碼值內(nèi)容與標(biāo)準(zhǔn)編碼值內(nèi)容進(jìn)行對(duì)比，查找對(duì)比結(jié)果不一致的編碼值內(nèi)容。本發(fā)明的USB芯片的系統(tǒng)測(cè)試方法，投資成本低，在測(cè)試過程與邏輯仿真同步進(jìn)行，因而能夠快速的對(duì)USB3.0芯片內(nèi)部邏輯狀態(tài)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控和錯(cuò)誤定位。
【專利說明】USB芯片的系統(tǒng)測(cè)試方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及芯片系統(tǒng)測(cè)試領(lǐng)域，更具體地涉及一種USB芯片的系統(tǒng)測(cè)試方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 現(xiàn)有的USB3. 0芯片的系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)主要是通過FPGA板、USB3. 0邏輯分析儀爾后 利用相關(guān)的USB3. 0標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試函數(shù)對(duì)USB3. 0芯片進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試，其主要采取設(shè)計(jì)完成后的 硬件成品測(cè)試，用USB3. 0邏輯分析儀對(duì)連接USB3. 0主機(jī)和從機(jī)設(shè)備的系統(tǒng)進(jìn)行相關(guān)協(xié)議 的測(cè)試，無法做到在邏輯設(shè)計(jì)的同時(shí)就對(duì)協(xié)議處理的邏輯狀態(tài)實(shí)時(shí)糾錯(cuò)和定位。
[0003] 且現(xiàn)有技術(shù)USB3. 0芯片的系統(tǒng)測(cè)試方式的缺點(diǎn)是投資成本高，因?yàn)檫壿嫹治鰞x 與相關(guān)測(cè)試板（如FPGA板）成本較高，并且無法對(duì)USB3. 0芯片內(nèi)部邏輯狀態(tài)做到實(shí)時(shí)監(jiān) 控和錯(cuò)誤定位，只能對(duì)外部數(shù)據(jù)進(jìn)行檢查，因此錯(cuò)誤定位速度慢，定位時(shí)間晚。
[0004] 因此，有必要提供一種改進(jìn)的USB芯片的系統(tǒng)測(cè)試方法克服上述缺陷。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明的目的是提供一種USB芯片的系統(tǒng)測(cè)試方法，用于對(duì)USB3. 0芯片進(jìn)行系統(tǒng) 測(cè)試，本發(fā)明的USB芯片的系統(tǒng)測(cè)試方法投資成本低，在測(cè)試過程與邏輯仿真同步進(jìn)行，因 而能夠快速的對(duì)USB3. 0芯片內(nèi)部邏輯狀態(tài)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控和錯(cuò)誤定位。
[0006] 為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種USB芯片的系統(tǒng)測(cè)試方法，用于對(duì)USB3. 0芯片 進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試，其包括如下步驟：a.檢測(cè)編碼模塊將標(biāo)準(zhǔn)USB3. 0芯片內(nèi)的所有邏輯狀態(tài)按 順序依次標(biāo)記，且產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的標(biāo)記函數(shù)；b.檢測(cè)編碼模塊按照設(shè)定的編碼規(guī)則，將芯片內(nèi) 部邏輯狀態(tài)所對(duì)應(yīng)的標(biāo)記函數(shù)進(jìn)行編碼，形成標(biāo)準(zhǔn)編碼值，并將標(biāo)準(zhǔn)編碼值記錄到標(biāo)準(zhǔn)文 件庫中；c.在待測(cè)USB3. 0芯片仿真過程中，檢測(cè)模塊將待測(cè)USB3. 0芯片內(nèi)部邏輯狀態(tài)按 照相同的編碼規(guī)則進(jìn)行編碼，將編碼后獲得的編碼值記錄到臨時(shí)文件中，且將臨時(shí)文件中 的編碼值內(nèi)容與標(biāo)準(zhǔn)文件庫中的標(biāo)準(zhǔn)編碼值內(nèi)容進(jìn)行對(duì)比，查找對(duì)比結(jié)果不一致的編碼值 內(nèi)容。
[0007] 較佳地，所述步驟C中的編碼規(guī)則與所述步驟b中的編碼規(guī)則相同。
[0008] 較佳地，在所述步驟c中，通過測(cè)試邏輯代碼對(duì)待測(cè)USB3. 0芯片進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試。
[0009] 較佳地，在所述步驟c中，當(dāng)臨時(shí)文件中的編碼值內(nèi)容與標(biāo)準(zhǔn)文件庫中記錄的標(biāo) 準(zhǔn)編碼值內(nèi)容對(duì)比的結(jié)果不一致時(shí)，中止對(duì)比，根據(jù)所述標(biāo)記信息定位不一致的編碼值內(nèi) 容，查找出錯(cuò)誤所在待測(cè)USB3. 0芯片中的位置。
[0010] 較佳地，所述標(biāo)記函數(shù)存儲(chǔ)于測(cè)試平臺(tái)一固定數(shù)據(jù)庫內(nèi)。
[0011] 與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的USB芯片的系統(tǒng)測(cè)試方法，通過將臨時(shí)文件中的編碼 值內(nèi)容與標(biāo)準(zhǔn)文件庫中記錄的標(biāo)準(zhǔn)編碼值內(nèi)容依次進(jìn)行對(duì)比，實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)USB3. 0芯片的 實(shí)時(shí)監(jiān)控，當(dāng)對(duì)比結(jié)果不一致時(shí)，即可判斷被測(cè)USB3. 0芯片出錯(cuò)，從而通過對(duì)比結(jié)果即可 判斷被測(cè)USB3. 0芯片是否有出錯(cuò)，且通過對(duì)比結(jié)果不一致的位置可準(zhǔn)確地定位USB3. 0芯 片出錯(cuò)的位置，可快速地對(duì)錯(cuò)誤進(jìn)行定位。
[0012] 通過以下的描述并結(jié)合附圖，本發(fā)明將變得更加清晰，這些附圖用于解釋本發(fā)明。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0013] 圖1為本發(fā)明USB芯片的系統(tǒng)測(cè)試方法的流程圖。

【具體實(shí)施方式】
[0014] 現(xiàn)在參考附圖描述本發(fā)明的實(shí)施例，附圖中類似的元件標(biāo)號(hào)代表類似的元件。如 上所述，本發(fā)明提供了一種USB芯片的系統(tǒng)測(cè)試方法，用于對(duì)USB3.0芯片進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試，本 發(fā)明的USB芯片的系統(tǒng)測(cè)試方法投資成本低，在測(cè)試過程與邏輯仿真同步進(jìn)行，因而能夠 快速的對(duì)USB3. 0芯片內(nèi)部邏輯狀態(tài)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控和錯(cuò)誤定位。
[0015] 請(qǐng)參考圖1，圖1為本發(fā)明USB芯片的測(cè)試方法的流程圖。如圖1所示，所述USB 芯片的測(cè)試方法，在本發(fā)明中具體為USB3. 0芯片的測(cè)試方法，包括如下步驟：
[0016] 步驟S101，檢測(cè)編碼模塊將標(biāo)準(zhǔn)USB3. 0芯片內(nèi)的所有邏輯狀態(tài)按順序依次標(biāo) 記，且產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的標(biāo)記函數(shù)；在本步驟中，檢測(cè)平臺(tái)的檢測(cè)編碼模塊將標(biāo)準(zhǔn)USB3. 0芯片的 所有邏輯狀態(tài)按照順序依次進(jìn)行標(biāo)記，并產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的標(biāo)記函數(shù)；例如將邏輯狀態(tài)LTSSM、 SS. Disabled、SS. Inactive、Rx. Detect、Polling、compliance、Recovery、U0、Ul、U2、U3、 loopback、HotReset 依次標(biāo)記成 0xl001、0xl002、0xl003、0xl004、0xl005、0xl006、0xl007、 (^1008、(^1009、(^100 &、(^10013、(^100(3，且其他邏輯狀態(tài)編碼類似；另外，在本發(fā)明的優(yōu)選 實(shí)施方式中采用perl、C等編寫的測(cè)試函數(shù)庫對(duì)待測(cè)芯片內(nèi)部的各個(gè)邏輯狀態(tài)自動(dòng)添加相 關(guān)監(jiān)控點(diǎn)。
[0017] 步驟S102,檢測(cè)編碼模塊按照設(shè)定的編碼規(guī)則，將芯片內(nèi)部邏輯狀態(tài)所對(duì)應(yīng)的 標(biāo)記函數(shù)進(jìn)行編碼，形成標(biāo)準(zhǔn)編碼值，并將標(biāo)準(zhǔn)編碼值記錄到標(biāo)準(zhǔn)文件庫中；在本步驟中， 所述檢測(cè)編碼模塊在USB3. 0協(xié)議的規(guī)定下，對(duì)通過標(biāo)記產(chǎn)生的標(biāo)記函數(shù)進(jìn)行編碼，從而 形成標(biāo)準(zhǔn)編碼值，并將標(biāo)準(zhǔn)編碼值記錄到測(cè)試平臺(tái)的標(biāo)準(zhǔn)文件庫中；其中所述編碼規(guī)定為 USB3. 0協(xié)議下的常用編碼規(guī)則，在此不再細(xì)述。例如在USB3. 0芯片正常的枚舉數(shù)據(jù)傳輸過 程中，LTSSM相關(guān)協(xié)議中的邏輯狀態(tài)為：SS. Disabled-Rx. Detect-Polling-U0,將各個(gè) 邏輯狀態(tài)首先標(biāo)記成0xl001、0xl003、0xl004、0xl007,然后再將各個(gè)邏輯狀態(tài)進(jìn)行編碼，存 儲(chǔ)到標(biāo)準(zhǔn)文件庫中；另外，在本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式中，所述標(biāo)記函數(shù)存儲(chǔ)于測(cè)試平臺(tái)一固 定數(shù)據(jù)庫內(nèi)，從而使得所述標(biāo)準(zhǔn)文件庫中的標(biāo)記函數(shù)可在多次測(cè)試中使用。
[0018] 步驟S103,在待測(cè)USB3. 0芯片仿真過程中，檢測(cè)模塊將待測(cè)USB3. 0芯片內(nèi)部邏輯 狀態(tài)按照相同的編碼規(guī)則進(jìn)行編碼，將編碼后獲得的編碼值記錄到臨時(shí)文件中，且將臨時(shí) 文件中的編碼值內(nèi)容與標(biāo)準(zhǔn)文件庫中的標(biāo)準(zhǔn)編碼值內(nèi)容進(jìn)行對(duì)比，查找對(duì)比結(jié)果不一致的 編碼值內(nèi)容；在本步驟中，利用測(cè)試邏輯代碼對(duì)待測(cè)USB3. 0芯片進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試，在測(cè)試進(jìn) 行中通過測(cè)試檢測(cè)模塊將待測(cè)USB3. 0芯片內(nèi)部邏輯狀態(tài)按照與步驟S102相同的編碼規(guī)則 進(jìn)行編碼，將編碼后的編碼值記錄到測(cè)試平臺(tái)的臨時(shí)文件中，并將臨時(shí)文件中的編碼值內(nèi) 容與標(biāo)記文件記錄的標(biāo)準(zhǔn)編碼值內(nèi)容依次進(jìn)行對(duì)比，其中編碼值內(nèi)容具體包括USB3. 0芯 片中各個(gè)邏輯值、所在模塊位置、不應(yīng)該出現(xiàn)的錯(cuò)誤數(shù)值等信息。在本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式 中，當(dāng)臨時(shí)文件中的編碼值內(nèi)容與標(biāo)準(zhǔn)文件庫中記錄的標(biāo)準(zhǔn)編碼值內(nèi)容對(duì)比的結(jié)果不一致 時(shí)，說明當(dāng)前待測(cè)USB3. 0芯片存在錯(cuò)誤，從而中止對(duì)比，且根據(jù)所述標(biāo)記信息定位不一致 的編碼值內(nèi)容，查找出錯(cuò)誤所在待測(cè)USB3. 0芯片中的位置，即對(duì)當(dāng)前待測(cè)USB3. 0芯片的錯(cuò) 誤定位；當(dāng)臨時(shí)文件中的編碼值內(nèi)容與標(biāo)準(zhǔn)文件庫中記錄的標(biāo)準(zhǔn)編碼值內(nèi)容對(duì)比的結(jié)果一 致時(shí)，則說明當(dāng)前待測(cè)USB3. 0芯片通過測(cè)試，不存在問題。
[0019] 本發(fā)明的USB芯片的測(cè)試方法，具體為USB3. 0芯片的測(cè)試方法通過在測(cè)試平臺(tái)上 調(diào)用預(yù)先準(zhǔn)備好的測(cè)試函數(shù)庫對(duì)待測(cè)USB3. 0芯片進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試，且在測(cè)試過程中不需要 使用FPGA板和USB3. 0邏輯分析儀，因而投資成本低；另外，本發(fā)明的USB芯片的系統(tǒng)測(cè)試 方法的測(cè)試過程與邏輯仿真幾乎是同步的，因而能夠快速的對(duì)芯片內(nèi)部的邏輯狀態(tài)進(jìn)行實(shí) 時(shí)監(jiān)控并進(jìn)行錯(cuò)誤定位。
[0020] 以上結(jié)合最佳實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了描述，但本發(fā)明并不局限于以上揭示的實(shí)施 例，而應(yīng)當(dāng)涵蓋各種根據(jù)本發(fā)明的本質(zhì)進(jìn)行的修改、等效組合。
【權(quán)利要求】
1. 一種USB芯片的系統(tǒng)測(cè)試方法，用于對(duì)USB3. 0芯片進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試，其特征在于，包括 如下步驟： a. 檢測(cè)編碼模塊將標(biāo)準(zhǔn)USB3. 0芯片內(nèi)的所有邏輯狀態(tài)按順序依次標(biāo)記，且產(chǎn)生對(duì)應(yīng) 的標(biāo)記函數(shù)； b. 檢測(cè)編碼模塊按照設(shè)定的編碼規(guī)則，將芯片內(nèi)部邏輯狀態(tài)所對(duì)應(yīng)的標(biāo)記函數(shù)進(jìn)行編 碼，形成標(biāo)準(zhǔn)編碼值，并將標(biāo)準(zhǔn)編碼值記錄到標(biāo)準(zhǔn)文件庫中； c. 在待測(cè)USB3. 0芯片仿真過程中，檢測(cè)模塊將待測(cè)USB3. 0芯片內(nèi)部邏輯狀態(tài)按照 相同的編碼規(guī)則進(jìn)行編碼，將編碼后獲得的編碼值記錄到臨時(shí)文件中，且將臨時(shí)文件中的 編碼值內(nèi)容與標(biāo)準(zhǔn)文件庫中的標(biāo)準(zhǔn)編碼值內(nèi)容進(jìn)行對(duì)比，查找對(duì)比結(jié)果不一致的編碼值內(nèi) 容。
2. 如權(quán)利要求1所述的USB芯片的系統(tǒng)測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟c中的編碼規(guī) 則與所述步驟b中的編碼規(guī)則相同。
3. 如權(quán)利要求1所述的USB芯片的系統(tǒng)測(cè)試方法，其特征在于，在所述步驟c中，通過 測(cè)試邏輯代碼對(duì)待測(cè)USB3. 0芯片進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試。
4. 如權(quán)利要求1所述的USB芯片的系統(tǒng)測(cè)試方法，其特征在于，在所述步驟c中，當(dāng)臨 時(shí)文件中的編碼值內(nèi)容與標(biāo)準(zhǔn)文件庫中記錄的標(biāo)準(zhǔn)編碼值內(nèi)容對(duì)比的結(jié)果不一致時(shí)，中止 對(duì)比，根據(jù)所述標(biāo)記信息定位不一致的編碼值內(nèi)容，查找出錯(cuò)誤所在待測(cè)USB3. 0芯片中的 位置。
5. 如權(quán)利要求1所述的USB芯片的系統(tǒng)測(cè)試方法，其特征在于，所述標(biāo)記函數(shù)存儲(chǔ)于測(cè) 試平臺(tái)一固定數(shù)據(jù)庫內(nèi)。
【文檔編號(hào)】G06F11/28GK104123212SQ201410347403
【公開日】2014年10月29日 申請(qǐng)日期:2014年7月21日 優(yōu)先權(quán)日:2014年7月21日
【發(fā)明者】曾月瓏, 王剛 申請(qǐng)人:四川和芯微電子股份有限公司