一種上下電測試電路及上下電測試裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明適用于電子領(lǐng)域，提供了一種上下電測試電路及裝置，該電路包括：至少一電源，用于提供工作電源電壓以及測試電源電壓；控制單元，用于將所述控制終端輸出的指令轉(zhuǎn)化為上電測試指令信號和測試選擇信號；至少一測試選擇開關(guān)，用于在所述測試選擇信號的控制下導(dǎo)通或關(guān)斷，并于導(dǎo)通時輸出上電測試指令信號；電源控制單元，用于選擇輸出一個或多個所述測試電源電壓；至少一可控開關(guān)單元，用于在上電測試指令信號的控制下導(dǎo)通或關(guān)斷，并于導(dǎo)通時利用所述測試電源電壓對所述待測設(shè)備進行上電測試。本發(fā)明通過指令控制可控開關(guān)單元閉合或關(guān)斷，實現(xiàn)對待測設(shè)備上下電的自動化多路測試，測試成本低，體積小，效率高。
【專利說明】一種上下電測試電路及上下電測試裝置【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明屬于電子領(lǐng)域，尤其涉及一種上下電測試電路及上下電測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]軟件開發(fā)后需要通過一定的載體設(shè)備對其進行上下電測試，以驗證其功能的實現(xiàn)，以及實現(xiàn)的效果，目前傳統(tǒng)方法測試軟件通常需要人工手動切斷或閉合電源完成待測設(shè)備的上、下電，自動化程度低，或者通過LABVIEW軟件進行測試，但是，LABVIEff軟件無法實現(xiàn)指令控制，售價又過高，并且只能實現(xiàn)兩路上下電的測試，因此導(dǎo)致測試成本高、方案復(fù)雜、效率低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明實施例的目的在于提供一種自動控制上下電的測試電路，旨在解決軟件測試無法實現(xiàn)自動化,并且測試成本高、方案復(fù)雜、效率低的問題。
[0004]本發(fā)明實施例是這樣實現(xiàn)的，一種自動控制上下電的測試電路，其特征在于，所述電路與控制終端和待測設(shè)備連接，所述電路包括:
[0005]至少一電源，用于提供工作電源電壓以及測試電源電壓；
[0006]控制單元，用于將所述控制終端輸出的指令轉(zhuǎn)化為上電測試指令信號和測試選擇信號，所述控制單元的控制端與所述控制終端的輸出端連接，所述控制單元的電源端與所述電源的輸出端連接；
[0007]至少一測試選擇開關(guān)，用于在所述測試選擇信號的控制下導(dǎo)通或關(guān)斷，并于導(dǎo)通時輸出上電測試指令信號，所述`測試選擇開關(guān)的控制端與所述控制單元的測試選擇輸出端連接，所述測試選擇開關(guān)的輸入端與所述控制單元的上電測試指令輸出端連接；
[0008]電源控制單元，用于選擇輸出一個或多個所述測試電源電壓，所述電源控制單元的輸入端與一個或多個所述電源的輸出端連接；
[0009]至少一可控開關(guān)單元，用于在上電測試指令信號的控制下導(dǎo)通或關(guān)斷，并于導(dǎo)通時利用所述測試電源電壓對所述待測設(shè)備進行上電測試，所述可控開關(guān)單元的控制端與所述測試選擇開關(guān)的輸出端連接，所述可控開關(guān)單元的輸入端與所述電源控制單元的輸出端連接，所述可控開關(guān)單元的輸出端與所述待測設(shè)備的電源端連接；
[0010]所述測試選擇開關(guān)與所述可控開關(guān)單元的數(shù)量相等。
[0011]進一步地，所述控制單元為基于ARM架構(gòu)的MCU，所述控制單元的控制端、測試選擇輸出端和上電測試指令輸出端均為串行數(shù)據(jù)通信接口。
[0012]更進一步地，所述控制單元的測試選擇輸出端和上電測試指令輸出端均為GPIO接口。
[0013]更進一步地，所述控制單元和所述待測設(shè)備均通過232、485或TTL協(xié)議進行數(shù)據(jù)傳輸。
[0014]更進一步地，所述測試選擇開關(guān)為N型MOS管，所述N型MOS管的柵極為所述測試選擇開關(guān)的控制端，所述N型MOS管的漏極為所述測試選擇開關(guān)的輸入端，所述N型MOS管的柵極為所述測試選擇開關(guān)的輸出端。
[0015]更進一步地，所述電源控制單元包括:
[0016]第一導(dǎo)通模塊和第二導(dǎo)通模塊；
[0017]所述電源控制單元的第一輸入端同時與所述電源控制單元的第一輸出端和所述第一導(dǎo)通模塊的第一輸入端連接，所述電源控制單元的第二輸入端同時與所述電源控制單元的第二輸出端和所述第一導(dǎo)通模塊的第二輸入端連接，所述電源控制單元的第二輸出端還同時與所述第一導(dǎo)通模塊的輸出端和所述第二導(dǎo)通模塊的第一輸入端連接，所述電源控制單元的第三輸入端同時與所述電源控制單元的第三輸出端和所述第二導(dǎo)通模塊的第二輸入端連接，所述電源控制單元的第三輸出端還與所述第二導(dǎo)通模塊的輸出端連接。
[0018]更進一步地，所述可控開關(guān)單元為繼電器，所述繼電器的線圈端為所述可控開關(guān)單元的控制端，所述繼電器的公共端為所述可控開關(guān)單元的輸入端，所述繼電器的常開端為所述可控開關(guān)單元的輸出端。
[0019]更進一步地，所述電源為多個，分別為第一電源和第二電源；
[0020]所述第一電源和所述第二電源的輸出端分別與所述電源控制單元的第一輸入端和第二輸入端連接。
[0021]更進一步地，所述測試選擇開關(guān)和所述可控開關(guān)單元均為多個；
[0022]多個測試選擇開關(guān)的控制端均與所述控制單元的一個或多個測試選擇輸出端連接，多個測試選擇開關(guān)的輸入端均與所述控制單元的一個或多個上電測試指令輸出端連接，多個測試選擇開關(guān)的輸出端分別與多個可控開關(guān)單元的控制端連接，多個可控開關(guān)單元的輸入端分別與所述電源控制單元的多個輸出端連接，多個可控開關(guān)單元的輸出端分別與多個待測設(shè)備的電源端連接。
[0023]本發(fā)明實施例的另一目的在于提供一種采用上述上下電測試電路的上下電的測
試裝置。
[0024]本發(fā)明實施例通過指令控制可控開關(guān)單元閉合或關(guān)斷，實現(xiàn)對待測設(shè)備上下電的自動化測試，無需購買軟件，測試成本低，并且可以同時進行多路測試，測試裝置簡單，體積小，測試效率高。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0025]圖1為本發(fā)明實施例提供的上下電測試電路的結(jié)構(gòu)圖；
[0026]圖2為本發(fā)明實施例提供的多路相同電壓的上下電測試電路的結(jié)構(gòu)圖；
[0027]圖3為本發(fā)明實施例提供的三路兩種電壓的上下電測試電路的結(jié)構(gòu)圖；
[0028]圖4為本發(fā)明實施例提供的三路三種電壓的上下電測試電路的結(jié)構(gòu)；
[0029]圖5為本發(fā)明實施例提供的三路三種電壓的上下電測試電路中電源控制單元的結(jié)構(gòu)圖。
【具體實施方式】
[0030]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應(yīng)當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0031]本發(fā)明實施例通過指令控制可控開關(guān)單元閉合或關(guān)斷，實現(xiàn)對待測設(shè)備上下電的自動化測試，無需購買軟件，測試成本低，并且可以同時進行多路測試，測試裝置簡單，體積小，測試效率高。
[0032]以下結(jié)合具體實施例對本發(fā)明的實現(xiàn)進行詳細描述:
[0033]圖1示出了本發(fā)明實施例提供的上下電測試電路的結(jié)構(gòu)，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明相關(guān)的部分。
[0034]作為本發(fā)明一實施例，該上下電測試電路可以應(yīng)用于各種上下電的測試裝置中。
[0035]該上下電測試電路I與控制終端PC和待測設(shè)備2連接，該電路包括:
[0036]至少一電源11，用于提供工作電源電壓以及測試電源電壓；
[0037]控制單元12，用于將控制終端PC輸出的指令轉(zhuǎn)化為上電測試指令信號和測試選擇信號，該控制單元12的控制端與控制終端PC的輸出端連接，控制單元12的電源端與電源11的輸出端連接；
[0038]作為本發(fā)明一實施例，該控制單元12可以采用基于ARM(Advanced RISC Machine)架構(gòu)的MCU (Micro Controller Unit)實現(xiàn),控制單元12的控制端、測試選擇輸出端和上電測試指令輸出端均可以采用串行數(shù)據(jù)通信接口，尤其適用通用輸入/輸出(GeneralPurpose Input Output，GP10)接口，控制單元12和待測設(shè)備2均可以采用232、485或TTL協(xié)議進行數(shù)據(jù)傳輸。當然，控制單元12也可以采用分離元件構(gòu)成的電路實現(xiàn)。
[0039]至少一測試選擇開關(guān)13，用于在測試選擇信號的控制下導(dǎo)通或關(guān)斷，并于導(dǎo)通時輸出上電測試指令信號，該測試選擇開關(guān)13的控制端與控制單元12的測試選擇輸出端連接，測試選擇開關(guān)13的輸入端與控制單元12的上電測試指令輸出端連接；
[0040]作為本發(fā)明一實施例，測試選擇開關(guān)13可以采用半導(dǎo)體開關(guān)器件實現(xiàn)，例如MOS管或三極管，若測試選擇開關(guān)13為N型MOS管，則該N型MOS管的柵極為測試選擇開關(guān)13的控制端，N型MOS管的漏極為測試選擇開關(guān)13的輸入端，N型MOS管的柵極為測試選擇開關(guān)13的輸出端，本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)N型MOS管與測試選擇開關(guān)13端口的對應(yīng)關(guān)系很容易得知若測試選擇開關(guān)13為P型MOS管以及三極管時，其端口的對應(yīng)關(guān)系。
[0041]電源控制單元15，用于選擇輸出一個或多個測試電源電壓，該電源控制單元15的輸入端與一個或多個電源11的輸出端連接；
[0042]作為本發(fā)明一實施例，該電源控制單元15可以根據(jù)需要通過MOS管或其他半導(dǎo)體開關(guān)搭建選擇電路，也可以采用具有多路選擇功能的集成芯片實現(xiàn)，具體描述參見后續(xù)實施例。
[0043]至少一可控開關(guān)單元14，用于在上電測試指令信號的控制下導(dǎo)通或關(guān)斷，并于導(dǎo)通時利用測試電源電壓對待測設(shè)備2進行上電測試，該可控開關(guān)單元14的控制端與測試選擇開關(guān)13的輸出端連接，可控開關(guān)單元14的輸入端與電源控制單元15的輸出端連接，可控開關(guān)單元14的輸出端與待測設(shè)備2的電源端連接；
[0044]作為本發(fā)明一實施例，可控開關(guān)單元14可以采用繼電器實現(xiàn)，結(jié)合圖1，繼電器的線圈端為可控開關(guān)單元14的控制端，繼電器的公共端為可控開關(guān)單元14的輸入端，繼電器14的常開端為可控開關(guān)單元的輸出端。
[0045]測試選擇開關(guān)13與可控開關(guān)單元14的數(shù)量相等。[0046]在本發(fā)明實施例中，控制終端PC執(zhí)行自動化腳本文件，并將指令輸出給控制控制單元12，控制單元12上電后將控制終端PC的指令轉(zhuǎn)化為測試選擇信號，控制測試選擇開關(guān)13導(dǎo)通，并在導(dǎo)通時將控制單元12生成的上電測試指令信號傳遞給可控開關(guān)單元14，可控開關(guān)單元14在上電測試指令信號的控制下導(dǎo)通，向待測設(shè)備2輸出電源控制單元15輸出的電源電壓，以實現(xiàn)上電測試，并由控制單元12控制測試選擇開關(guān)13關(guān)斷，從而使可控開關(guān)單元14斷開，停止對待測設(shè)備2供電實現(xiàn)下電測試。
[0047]應(yīng)當想到，根據(jù)實際需要可以通過多個提供不同電壓的電源同時對多個待測設(shè)備進行多組不同電壓的上下電測試，或者當控制單元需要的工作電壓與上電測試的電壓不同時,也可以相應(yīng)的增加電源數(shù)量。
[0048]本發(fā)明實施例通過指令控制可控開關(guān)單元閉合或關(guān)斷，實現(xiàn)對待測設(shè)備上下電的自動化測試，無需購買軟件，測試成本低，并且可以同時進行多路測試，測試裝置簡單，體積小，測試效率高。
[0049]圖2示出了本發(fā)明實施例提供的多路相同電壓的上下電測試電路的結(jié)構(gòu)，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明相關(guān)的部分。
[0050]作為本發(fā)明一實施例，該上下電測試電路I可以采用一個電源同時對多個待測設(shè)備進行上下電測試，此時，可以相應(yīng)增加測試選擇開關(guān)和可控開關(guān)單元的數(shù)量，參見圖2。
[0051]測試選擇開關(guān)131、132的控制端均與控制單元12的一個或多個測試選擇輸出端連接，測試選擇開關(guān)131、132的輸入端均與控制單元12的一個或多個上電測試指令輸出端連接，測試選擇開關(guān)131、132的輸出端分別與可控開關(guān)單元141、142的控制端連接，可控開關(guān)單元141、142的輸入端分別與電源控制單元15的第一輸出端、第二輸出端連接，可控開關(guān)單元141、142的輸出端分別與第一待測設(shè)備21和第二待測設(shè)備22的電源端連接。
[0052]同時對多個待測設(shè)備進行上下電測設(shè)的工作原理與對一個待測設(shè)備測試的工作原理相同，詳見上述實施例，此處不再贅述。
[0053]圖3示出了本發(fā)明實施例提供的三路兩種電壓的上下電測試電路的結(jié)構(gòu)，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明相關(guān)的部分。
[0054]作為本發(fā)明一實施例，該上下電測試電路I還可以采用多個電源提供多種電壓，為多個待測設(shè)備同時提供不同的電壓進行上下電測試，具體為:
[0055]第一電源111和第二電源112分別提供5V和12V的電壓，第一電源111和第二電源112的輸出端分別與電源控制單元15的第一輸入端和第二輸入端連接；
[0056]測試選擇開關(guān)131、132、133的控制端均與控制單元12的一個或多個測試選擇輸出端連接，測試選擇開關(guān)131、132、133的輸入端均與控制單元12的一個或多個上電測試指令輸出端連接，測試選擇開關(guān)131、132、133的輸出端分別與可控開關(guān)單元141、142、143的控制端連接，可控開關(guān)單元141、142、143的輸入端分別與電源控制單元15的第一輸出端、第二輸出端、第三輸出端連接，可控開關(guān)單元141、142、143的輸出端分別與第一待測設(shè)備21、第二待測設(shè)備22和第三待測設(shè)備23的電源端連接。
[0057]在本發(fā)明實施例中，當對電源控制單元15輸入多個電源時，電源控制單元15的第一輸出端通過可控開關(guān)單兀141向第一待測設(shè)備21輸出第一測試電源電壓，電源控制單兀15的第二輸出端和第三輸出端分別通過可控開關(guān)單元142、143向第二待測設(shè)備22、第三待測設(shè)備23輸出第二測試電源電壓。圖4示出了本發(fā)明實施例提供的三路三種電壓的上下電測試電路的結(jié)構(gòu)，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明相關(guān)的部分。
[0058]作為本發(fā)明一實施例，該上下電測試電路I采用三個電源提供三種電壓，為三個待測設(shè)備同時提供不同的電壓進行上下電測試，具體為:
[0059]第一電源111、第二電源112和第三電源113分別提供5V、12V和24V的電壓，第一電源111、第二電源112和第三電源113的輸出端分別與電源控制單元15的第一輸入端、第二輸入端和第三輸入端連接；
[0060]測試選擇開關(guān)131、132、133的控制端均與控制單元12的一個或多個測試選擇輸出端連接，測試選擇開關(guān)131、132、133的輸入端均與控制單元12的一個或多個上電測試指令輸出端連接，測試選擇開關(guān)131、132、133的輸出端分別與可控開關(guān)單元141、142、143的控制端連接，可控開關(guān)單元141、142、143的輸入端分別與電源控制單元15的第一輸出端、第二輸出端、第三輸出端連接，可控開關(guān)單元141、142、143的輸出端分別與第一待測設(shè)備21、第二待測設(shè)備22和第三待測設(shè)備23的電源端連接。
[0061]在本發(fā)明實施例中，第一電源111為控制單元12供電，并為第一待測設(shè)備21提供第一測試電源電壓，第二電源112和第三電源113分別為第二待測設(shè)備22和第三待測設(shè)備23提供第二測試電源電壓和第三測試電源電壓。
[0062]若有更多的可控開關(guān)單元(N個)與電源控制單元15連接時，則與電源控制單元15對應(yīng)的第一至第N輸出端連接，并且M個電源通過電源控制單元15的第一至第M輸出端分別輸出M個電源電壓，電源控制單元15的第M+1輸出端至第N輸出端輸出第M個電源對應(yīng)的電壓。
[0063]以三路測試為例，電源控制單元15的結(jié)構(gòu)參見圖5，該電源控制單元15包括:
[0064]第一導(dǎo)通模塊151和第二導(dǎo)通模塊152 ；
[0065]電源控制單兀15的第一輸入端VINl同時與電源控制單兀15的第一輸出端VOUTl和第一導(dǎo)通模塊151的第一輸入端連接，電源控制單兀15的第二輸入端VIN2同時與電源控制單元15的第二輸出端V0UT2和第一導(dǎo)通模塊151的第二輸入端連接，電源控制單元15的第二輸出端V0UT2還同時與第一導(dǎo)通模塊151的輸出端和第二導(dǎo)通模塊152的第一輸入端連接，電源控制單元15的第三輸入端VIN3同時與電源控制單元15的第三輸出端V0UT3和第二導(dǎo)通模塊152的第二輸入端連接，電源控制單元15的第三輸出端V0UT3還與第二導(dǎo)通模塊152的輸出端連接。
[0066]作為本發(fā)明一實施例，第一導(dǎo)通模塊151和第二導(dǎo)通模塊152作為一種功能選擇電路可以采用多種實現(xiàn)方式實現(xiàn)，例如，采用導(dǎo)通門電路實現(xiàn)，或者采用MOS管和三極管組合實現(xiàn)，本領(lǐng)域技術(shù)人員均可以根據(jù)具體需求選擇不同的器件實現(xiàn)，本實施例并不限定其連接結(jié)構(gòu)。
[0067]在本發(fā)明實施例中，當僅對電源控制單元15的第一輸入端VINl接入第一電源時，節(jié)點a和節(jié)點b之間導(dǎo)通，節(jié)點b和節(jié)點c之間也導(dǎo)通，因此，電源控制單元15的第一輸出端VOUTl、第二輸出端V0UT2和第三輸出端V0UT3均輸出第一電源電壓；
[0068]當在電源控制單元15的第一輸入端VINl接入第一電源、第二輸入端VIN2接入第二電源時，節(jié)點a和節(jié)點b之間斷開,節(jié)點b和節(jié)點c之間導(dǎo)通，因此，電源控制單元15的第一輸出端VOUTl輸出第一電源電壓，第二輸出端V0UT2和第三輸出端V0UT3均輸出第二電源電壓；[0069]當在電源控制單元15的第一輸入端VINl、第二輸入端VIN2和第三輸入端VIN3分別接入第一電源、第二電源和第三電源時，節(jié)點a和節(jié)點b之間斷開,節(jié)點b和節(jié)點c之間也斷開，電源控制單元15的第一輸出端V0UT1、第二輸出端V0UT2和第三輸出端V0UT3分別輸出第一電源電壓、第二電源電壓和第三電源電壓。
[0070]可以理解地，電源電壓的選擇可以根據(jù)實際需求設(shè)定，此處并不限定為5V、12V、24V。
[0071]電源的數(shù)量也并不做限定，但是優(yōu)選為六個以內(nèi)，因為電源過多將導(dǎo)致電源控制單元15的電路過于復(fù)雜，以增大電路面積。
[0072]作為本發(fā)明一優(yōu)選實施例，還可以通過遠程控制控制終端PC實現(xiàn)對上下電測試的遠程化控制。
[0073]本發(fā)明實施例的另一目的在于提供一種采用上述上下電測試電路的自動控制上下電的測試裝置。
[0074]本發(fā)明實施例通過串口與PC連接，然后通過PC輸出指令控制可控開關(guān)單元閉合或關(guān)斷，以實現(xiàn)對待測設(shè)備上下電的自動化測試，無需購買軟件，測試成本低，并且可以同時進行多路測試，測試裝置簡單，體積小，測試效率高。
[0075]以上僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種上下電測試電路，其特征在于，所述電路與控制終端和待測設(shè)備連接，所述電路包括: 至少一電源，用于提供工作電源電壓以及測試電源電壓； 控制單元，用于將所述控制終端輸出的指令轉(zhuǎn)化為上電測試指令信號和測試選擇信號，所述控制單元的控制端與所述控制終端的輸出端連接，所述控制單元的電源端與所述電源的輸出端連接； 至少一測試選擇開關(guān)，用于在所述測試選擇信號的控制下導(dǎo)通或關(guān)斷，并于導(dǎo)通時輸出上電測試指令信號，所述測試選擇開關(guān)的控制端與所述控制單元的測試選擇輸出端連接，所述測試選擇開關(guān)的輸入端與所述控制單元的上電測試指令輸出端連接； 電源控制單元，用于選擇輸出一個或多個所述測試電源電壓，所述電源控制單元的輸入端與一個或多個所述電源的輸出端連接； 至少一可控開關(guān)單元，用于在上電測試指令信號的控制下導(dǎo)通或關(guān)斷，并于導(dǎo)通時利用所述測試電源電壓對所述待測設(shè)備進行上電測試，所述可控開關(guān)單元的控制端與所述測試選擇開關(guān)的輸出端連接，所述可控開關(guān)單元的輸入端與所述電源控制單元的輸出端連接，所述可控開關(guān)單元的輸出端與所述待測設(shè)備的電源端連接； 所述測試選擇開關(guān)與所述可控開關(guān)單元的數(shù)量相等。
2.如權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述控制單元為基于ARM架構(gòu)的MCU，所述控制單元的控制端、測試選擇輸出端和上電測試指令輸出端均為串行數(shù)據(jù)通信接口。
3.如權(quán)利要求2所述的電路，其特征在于，所述控制單元的測試選擇輸出端和上電測試指令輸出端均為GPIO接口。
4.如權(quán)利要求2所述的電路，其特征在于，所述控制單元和所述待測設(shè)備均通過232、485或TTL協(xié)議進行數(shù)據(jù)傳輸。`
5.如權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述測試選擇開關(guān)為N型MOS管，所述N型MOS管的柵極為所述測試選擇開關(guān)的控制端，所述N型MOS管的漏極為所述測試選擇開關(guān)的輸入端，所述N型MOS管的柵極為所述測試選擇開關(guān)的輸出端。
6.如權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述電源控制單元包括: 第一導(dǎo)通模塊和第二導(dǎo)通模塊； 所述電源控制單元的第一輸入端同時與所述電源控制單元的第一輸出端和所述第一導(dǎo)通模塊的第一輸入端連接，所述電源控制單元的第二輸入端同時與所述電源控制單元的第二輸出端和所述第一導(dǎo)通模塊的第二輸入端連接，所述電源控制單元的第二輸出端還同時與所述第一導(dǎo)通模塊的輸出端和所述第二導(dǎo)通模塊的第一輸入端連接，所述電源控制單元的第三輸入端同時與所述電源控制單元的第三輸出端和所述第二導(dǎo)通模塊的第二輸入端連接，所述電源控制單元的第三輸出端還與所述第二導(dǎo)通模塊的輸出端連接。
7.如權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述可控開關(guān)單元為繼電器，所述繼電器的線圈端為所述可控開關(guān)單元的控制端，所述繼電器的公共端為所述可控開關(guān)單元的輸入端，所述繼電器的常開端為所述可控開關(guān)單元的輸出端。
8.如權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述電源為多個，分別為第一電源和第二電源； 所述第一電源和所述第二電源的輸出端分別與所述電源控制單元的第一輸入端和第二輸入端連接。
9.如權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述測試選擇開關(guān)和所述可控開關(guān)單元均為多個； 多個測試選擇開關(guān)的控制端均與所述控制單元的一個或多個測試選擇輸出端連接，多個測試選擇開關(guān)的輸入端均與所述控制單元的一個或多個上電測試指令輸出端連接，多個測試選擇開關(guān)的輸出端分別與多個可控開關(guān)單元的控制端連接，多個可控開關(guān)單元的輸入端分別與所述電源控制單元的多個輸出端連接，多個可控開關(guān)單元的輸出端分別與多個待測設(shè)備的電源端連接。
10.一種上下電測試裝置，其特征在于，所述裝置包括如權(quán)利要求1至7任一項所述的上下電測試 電路。
【文檔編號】G06F11/36GK103559128SQ201310516415
【公開日】2014年2月5日 申請日期:2013年10月28日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月28日
【發(fā)明者】丁志鵬, 孫鑫 申請人:深圳市宏電技術(shù)股份有限公司