通過(guò)校核字來(lái)檢查ram的方法
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種通過(guò)校核字來(lái)檢查RAM的方法，包括以下步驟：計(jì)算并分配好每個(gè)檢查對(duì)象的校驗(yàn)字，并將被檢查的對(duì)象與校核字相關(guān)聯(lián)；判斷RAM檢查的校核字是否正確，進(jìn)而判斷RAM地址或存儲(chǔ)單元是否正常。本發(fā)明可以檢查是否所有用于安全數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的RAM區(qū)地址正確無(wú)誤，存儲(chǔ)單元能夠正常讀寫訪問(wèn)。
【專利說(shuō)明】通過(guò)校核字來(lái)檢查RAM的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于軟件算法領(lǐng)域，用于檢查安全關(guān)鍵系統(tǒng)中RAM的狀況。
【背景技術(shù)】
[0002]在工業(yè)控制系統(tǒng)和安全信號(hào)系統(tǒng)(應(yīng)用于航空電子、鐵路信號(hào)、核電等行業(yè))中，所有用于安全數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的RAM區(qū)必須保證其地址正確無(wú)誤，存儲(chǔ)單元能夠正常讀寫訪問(wèn)。當(dāng)校核字檢查錯(cuò)誤時(shí)，要啟動(dòng)故障管理機(jī)制，及時(shí)采取安全措施以避免更為嚴(yán)重的事故發(fā)生。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種通過(guò)校核字來(lái)檢查RAM的方法，它可以檢查是否所有用于安全數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的RAM區(qū)地址正確無(wú)誤，存儲(chǔ)單元能夠正常讀寫訪問(wèn)。
[0004]為了解決以上技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種通過(guò)校核字來(lái)檢查RAM的方法，包括以下步驟:計(jì)算并分配好每個(gè)檢查對(duì)象的校驗(yàn)字，并將被檢查的對(duì)象與校核字相關(guān)聯(lián)；判斷RAM檢查的校核字是否正確，進(jìn)而判斷RAM地址或存儲(chǔ)單元是否正常。
[0005]本發(fā)明的有益效果在于:可以檢查是否所有用于安全數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的RAM區(qū)地址正確無(wú)誤，存儲(chǔ)單元能夠正常讀寫訪問(wèn)。
[0006]對(duì)于每一個(gè)獨(dú)立的檢查對(duì)象，校核字是唯一分配的。
[0007]所有校核字是由α算法正運(yùn)算離線生成并且離線分配的。
[0008]所有校核字的預(yù)處理值是由β算法正運(yùn)算依據(jù)已分配的校核字和被檢查的對(duì)象離線生成的。
[0009]所有校核字的在線運(yùn)算過(guò)程是與其離線生成過(guò)程和在線檢查過(guò)程均無(wú)關(guān)，但與校核字的預(yù)處理值有關(guān)，屬于β算法逆運(yùn)算的范疇。
[0010]所有校核字的離線生成過(guò)程和在線檢查過(guò)程是與校核字分配的序號(hào)相關(guān)的，分別屬于α算法正運(yùn)算和逆運(yùn)算的范疇。
[0011]具體還包括以下步驟:
[0012]離線預(yù)運(yùn)算階段，首先采用α算法生成用于RAM檢查的校核字，然后根據(jù)被檢查RAM區(qū)的地址，刷新常量校驗(yàn)和，以及預(yù)分配的校核字，通過(guò)β算法算出該校核字對(duì)應(yīng)的預(yù)處理值，該階段的運(yùn)算應(yīng)該離線完成；
[0013]在線運(yùn)算階段，首先動(dòng)態(tài)刷新RAM區(qū)，計(jì)算刷新常量校驗(yàn)和，然后根據(jù)被檢查RAM區(qū)的地址，刷新常量校驗(yàn)和，以及離線計(jì)算好的預(yù)處理值，通過(guò)β算法的逆運(yùn)算算出該RAM區(qū)校核字；
[0014]在線檢查階段，獲得所有在線計(jì)算出的RAM校核字，然后根據(jù)α算法的逆運(yùn)算檢查這些校核字的正確性，從而確定對(duì)應(yīng)的RAM區(qū)是否存在故障。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0015]下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。[0016]圖1是本發(fā)明所述通過(guò)校核字來(lái)檢查RAM的總體方法流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0017]本發(fā)明提供一種通過(guò)校核字來(lái)檢查RAM的方法，該算法能夠應(yīng)用于包括但并不局限于安全信號(hào)系統(tǒng)、工業(yè)控制系統(tǒng)等領(lǐng)域。
[0018]本發(fā)明事先計(jì)算并分配好每個(gè)檢查對(duì)象的校驗(yàn)字，并將被檢查的對(duì)象(比如地址和存儲(chǔ)單元)與校核字相關(guān)聯(lián)，然后在安全操作(或安全輸出)前判斷RAM檢查的校核字是否正確，進(jìn)而判斷RAM地址或存儲(chǔ)單元是否正常。
[0019]對(duì)于每一個(gè)獨(dú)立的檢查對(duì)象(如每一塊獨(dú)立的內(nèi)存區(qū))，校核字是唯一分配的；
[0020]所有校核字是由α算法正運(yùn)算離線生成并且離線分配的；
[0021]所有校核字的預(yù)處理值是由β算法正運(yùn)算依據(jù)已分配的校核字和被檢查的對(duì)象離線生成的；
[0022]所有校核字的在線運(yùn)算過(guò)程是與其離線生成過(guò)程和在線檢查過(guò)程均無(wú)關(guān)，但與校核字的預(yù)處理值有關(guān)，屬于β算法逆運(yùn)算的范疇；
[0023]所有校核字的離線生成過(guò)程和在線檢查過(guò)程是與校核字分配的序號(hào)相關(guān)的，分別屬于α算法正運(yùn)算和逆運(yùn)算的范疇；
[0024]根據(jù)圖1所示，該檢查方法可以分為以下三個(gè)階段。
[0025]I)離線預(yù)運(yùn)算階段，首先采用α算法生成用于RAM檢查的校核字，然后根據(jù)被檢查RAM區(qū)的地址，刷新常量校驗(yàn)和，以及預(yù)分配的校核字，通過(guò)β算法算出該校核字對(duì)應(yīng)的預(yù)處理值，該階段的運(yùn)算應(yīng)該離線完成；
[0026]2)在線運(yùn)算階段，首先動(dòng)態(tài)刷新RAM區(qū)，計(jì)算刷新常量校驗(yàn)和，然后根據(jù)被檢查RAM區(qū)的地址，刷新常量校驗(yàn)和，以及離線計(jì)算好的預(yù)處理值，通過(guò)β算法的逆運(yùn)算算出該RAM區(qū)校核字。
[0027]3)在線檢查階段，獲得所有在線計(jì)算出的RAM校核字，然后根據(jù)α算法的逆運(yùn)算檢查這些校核字的正確性，從而確定對(duì)應(yīng)的RAM區(qū)是否存在故障。
[0028]以上三個(gè)階段如果能夠從硬件上獨(dú)立，比如每個(gè)階段都采用不同的CPU來(lái)完成，則可以達(dá)到更充分的檢查目的。
[0029]相關(guān)算法說(shuō)明如下:
[0030]α算法及其逆運(yùn)算可表示為:
[0031]Checkffordi= a (Seed, i)；
[0032]Seed= a (Checkffordi, i)；
[0033]β算法及其逆運(yùn)算可表示為:
[0034]PreconditionValuei= β (Checkffordi, Addr, Checksum)；
[0035]Checkffordi= β (PreconditionValuei, Addr, Checksum)；
[0036]α算法和β算法不需要特定的算法，但這兩個(gè)算法本身應(yīng)該是相異的。為了保證校核字生成和校驗(yàn)過(guò)程的正確性，α算法推薦采用隨機(jī)數(shù)(Seed)按照校核字的分配序號(hào)進(jìn)行循環(huán)移位的方式來(lái)生成校核字，然后采用其逆運(yùn)算進(jìn)行校驗(yàn)；β算法推薦采用多項(xiàng)式除法(如CRC算法)根據(jù)被檢查項(xiàng)和預(yù)分配的校核字來(lái)計(jì)算預(yù)處理值，然后采用其逆運(yùn)算計(jì)算校核字。其它非推薦算法也可以實(shí)現(xiàn)同樣的功能。[0037]本發(fā)明并不限于上文討論的實(shí)施方式。以上對(duì)【具體實(shí)施方式】的描述旨在于為了描述和說(shuō)明本發(fā)明涉及的技術(shù)方案?；诒景l(fā)明啟示的顯而易見(jiàn)的變換或替代也應(yīng)當(dāng)被認(rèn)為落入本發(fā)明的保護(hù)范圍。以上的【具體實(shí)施方式】用來(lái)揭示本發(fā)明的最佳實(shí)施方法，以使得本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員能夠應(yīng)用本發(fā)明的多種實(shí)施方式以及多種替代方式來(lái)達(dá)到本發(fā)明的目的。
【權(quán)利要求】
1.一種通過(guò)校核字來(lái)檢查RAM的方法，其特征在于，包括以下步驟: 計(jì)算并分配好每個(gè)檢查對(duì)象的校驗(yàn)字，并將被檢查的對(duì)象與校核字相關(guān)聯(lián)； 判斷RAM檢查的校核字是否正確，進(jìn)而判斷RAM地址或存儲(chǔ)單元是否正常。
2.如權(quán)利要求1所述的通過(guò)校核字來(lái)檢查RAM的方法，其特征在于，對(duì)于每一個(gè)獨(dú)立的檢查對(duì)象，校核字是唯一分配的。
3.如權(quán)利要求2所述的通過(guò)校核字來(lái)檢查RAM的方法，其特征在于，所有校核字是由α算法正運(yùn)算離線生成并且離線分配的。
4.如權(quán)利要求3所述的通過(guò)校核字來(lái)檢查RAM的方法，其特征在于，所有校核字的預(yù)處理值是由β算法正運(yùn)算依據(jù)已分配的校核字和被檢查的對(duì)象離線生成的。
5.如權(quán)利要求4所述的通過(guò)校核字來(lái)檢查RAM的方法，其特征在于，所有校核字的在線運(yùn)算過(guò)程是與其離線生成過(guò)程和在線檢查過(guò)程均無(wú)關(guān)，但與校核字的預(yù)處理值有關(guān)，屬于β算法逆運(yùn)算的范疇。
6.如權(quán)利要求5所述的通過(guò)校核字來(lái)檢查RAM的方法，其特征在于，所有校核字的離線生成過(guò)程和在線檢查過(guò)程是與校核字分配的序號(hào)相關(guān)的，分別屬于α算法正運(yùn)算和逆運(yùn)算的范疇。
7.如權(quán)利要求6所述的通過(guò)校核字來(lái)檢查RAM的方法，其特征在于，包括以下步驟: 離線預(yù)運(yùn)算階段，首先采用α算法生成用于RAM檢查的校核字，然后根據(jù)被檢查RAM區(qū)的地址，刷新常量校驗(yàn)和，以及預(yù)分配的校核字，通過(guò)β算法算出該校核字對(duì)應(yīng)的預(yù)處理值，該階段的運(yùn)算應(yīng)該離線完成； 在線運(yùn)算階段，首先動(dòng)態(tài)刷新RAM區(qū)，計(jì)算刷新常量校驗(yàn)和，然后根據(jù)被檢查RAM區(qū)的地址，刷新常量校驗(yàn)和，以及離線計(jì)算好的預(yù)處理值，通過(guò)β算法的逆運(yùn)算算出該RAM區(qū)校核字； 在線檢查階段，獲得所有在線計(jì)算出的RAM校核字，然后根據(jù)α算法的逆運(yùn)算檢查這些校核字的正確性，從而確定對(duì)應(yīng)的RAM區(qū)是否存在故障。
【文檔編號(hào)】G06F11/10GK103885852SQ201310064786
【公開(kāi)日】2014年6月25日 申請(qǐng)日期:2013年3月1日 優(yōu)先權(quán)日:2013年3月1日
【發(fā)明者】遲寶全, 吳昊 申請(qǐng)人:上海富欣智能交通控制有限公司