技術編號：6500215
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明公開了一種通過校核字來檢查RAM的方法，包括以下步驟計算并分配好每個檢查對象的校驗字，并將被檢查的對象與校核字相關聯(lián)；判斷RAM檢查的校核字是否正確，進而判斷RAM地址或存儲單元是否正常。本發(fā)明可以檢查是否所有用于安全數(shù)據(jù)存儲的RAM區(qū)地址正確無誤，存儲單元能夠正常讀寫訪問。專利說明通過校核字來檢查RAM的方法[0001]本發(fā)明屬于軟件算法領域，用于檢查安全關鍵系統(tǒng)中RAM的狀況。背景技術[0002]在工業(yè)控制系統(tǒng)和安全信號系統(tǒng)(應用于航空電子、鐵路...
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