專利名稱：使用隨機(jī)采樣技術(shù)降低手指耦合噪聲的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電容式傳感器陣列的領(lǐng)域。更具體而言，本發(fā)明涉及減少或消除在諸如觸摸屏之類的電容式傳感器陣列的輸出中的錯(cuò)誤的領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
許多電子設(shè)備正在結(jié)合觸摸屏類型的顯示器。觸摸屏是檢測通常通過手指、手、 手寫筆、或其它指示設(shè)備在顯示區(qū)域內(nèi)的觸摸的存在、位置和壓力的顯示器。觸摸屏使得用戶能夠在不需要任何中間設(shè)備的情況下直接與顯示面板交互，而不是利用鼠標(biāo)或觸摸板 (touchpad)間接地與顯示面板交互。觸摸屏可以實(shí)現(xiàn)在計(jì)算機(jī)中或者實(shí)現(xiàn)為接入網(wǎng)的終端。觸摸屏通常出現(xiàn)在銷售點(diǎn)系統(tǒng)、自動取款機(jī)(ATM)、移動電話、個(gè)人數(shù)字助理(PDA)、便攜式游戲機(jī)、衛(wèi)星導(dǎo)航設(shè)備和信息家電中。存在很多種觸摸屏技術(shù)。電容式觸摸屏面板涂覆有、部分涂覆有或構(gòu)圖有一種材料，該材料在一個(gè)或更多個(gè)電容式觸摸傳感器(簡稱為觸摸傳感器)之中傳導(dǎo)持續(xù)電流。 觸摸傳感器表現(xiàn)出在水平軸和垂直軸二者中的用以實(shí)現(xiàn)電容的存儲電子的精確控制場。人體也是存儲了電子并因而表現(xiàn)出電容的電子設(shè)備。當(dāng)通過諸如手指之類的另一電容場改變觸摸傳感器的參考電容時(shí)，位于面板的每個(gè)拐角處的電子電路測量所產(chǎn)生的參考電容的失真。與觸摸事件有關(guān)的測量信息發(fā)送給電容式觸摸屏控制器用于數(shù)學(xué)處理。觸摸傳感器可以利用裸手指觸摸或者利用由裸手握持的導(dǎo)電設(shè)備觸摸。觸摸傳感器也基于接近度工作， 并且不必直接接觸來觸發(fā)。在大多數(shù)情況中，不發(fā)生對導(dǎo)電金屬表面的直接接觸，且觸摸傳感器通過絕緣玻璃或塑料層而與用戶的身體隔離。在不觸摸的情況下通過接近于表面快速地?fù)]動手掌，通?？梢杂|發(fā)具有旨在由手指觸摸的電容式按鈕的設(shè)備。電容式觸摸屏由布置成行和列的觸摸傳感器的陣列制成。通道可以是指單個(gè)傳感器、行傳感器或列傳感器。在典型的電容式觸摸屏應(yīng)用中，依次測量每個(gè)通道的電容以生成電容式觸摸屏中的電容變化分布。該電容分布可以用來檢測觸摸事件的存在以及報(bào)告觸摸坐標(biāo)的位置。典型地，按照固定間隔完成針對每個(gè)通道的采樣。然而，這可能形成與特定噪聲頻率相同的拍頻。手指耦合噪聲是當(dāng)用戶觸摸電容式觸摸屏?xí)r通過手指或?qū)щ娛謱懝P耦合到一個(gè)或更多觸摸傳感器的噪聲。僅手指下方的觸摸傳感器受手指耦合噪聲影響。人體充當(dāng)可能拾取環(huán)境噪聲的天線，環(huán)境噪聲為諸如由周圍緊湊式熒光燈生成的噪聲，隨后當(dāng)觸摸時(shí)環(huán)境噪聲傳遞到觸摸傳感器。人體也接地到地面，該地面可以是與電容式傳感器的設(shè)備接地不同的接地。在兩個(gè)不同的接地的情況下，接地噪聲也將添加到整個(gè)系統(tǒng)。手指耦合噪聲可以是范圍從接近于DC到數(shù)百千赫茲(kHz)的任何頻率，其中幅度高達(dá)幾伏的峰間值。當(dāng)特定頻率下的噪聲電平足夠高時(shí)，它可能造成電容式觸摸屏控制器在實(shí)際并不存在觸摸時(shí)報(bào)告觸摸，稱為誤觸摸。

發(fā)明內(nèi)容
隨機(jī)采樣技術(shù)包括用于減少或消除在諸如觸摸面板(touch panel)之類的電容式傳感器陣列的輸出中的錯(cuò)誤的技術(shù)。對觸摸面板的通道進(jìn)行周期性采樣以確定一個(gè)或更多個(gè)觸摸事件的存在。按照輪循方式對每個(gè)通道各自采樣。在每個(gè)輪循期間，對所有通道進(jìn)行一次采樣。以這種方式，每個(gè)輪循稱為采樣循環(huán)。執(zhí)行多個(gè)采樣循環(huán)使得對每個(gè)通道進(jìn)行多次采樣。在一些實(shí)施例中，通過對預(yù)定數(shù)目的采樣循環(huán)上的針對每個(gè)通道的采樣值求平均，確定針對該通道的通道電容。在其它實(shí)施例中，使用除了求平均之外的手段來計(jì)算通道電容，包括但不限于計(jì)算平均數(shù)或加權(quán)平均。使用隨機(jī)采樣技術(shù)來對每個(gè)通道進(jìn)行采樣。 可以使用多種不同的隨機(jī)化技術(shù)。一種隨機(jī)采樣技術(shù)使每個(gè)采樣循環(huán)中的開始通道隨機(jī)化。另一種隨機(jī)采樣技術(shù)使每個(gè)采樣循環(huán)中的所有通道的選擇隨機(jī)化。又一種隨機(jī)采樣技術(shù)使每個(gè)采樣循環(huán)之間的采樣循環(huán)延遲周期隨機(jī)化。另一種隨機(jī)采樣技術(shù)使在采樣每個(gè)通道之間的通道延遲周期隨機(jī)化。在一個(gè)方面中，公開了一種檢測在電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備上的一個(gè)或更多個(gè)觸摸事件的方法。該方法包括配置多個(gè)通道，每個(gè)通道對應(yīng)于電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備；根據(jù)隨機(jī)化算法，對多個(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行采樣；針對每個(gè)通道，使用采樣數(shù)據(jù)計(jì)算通道電容；以及從針對多個(gè)通道計(jì)算的通道電容，確定一個(gè)或更多個(gè)觸摸事件。在一些實(shí)施例中，隨機(jī)化算法包括執(zhí)行多個(gè)采樣循環(huán)，每個(gè)采樣循環(huán)包括對多個(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行采樣。在另一個(gè)方面中，公開了另一種檢測在電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備上的一個(gè)或更多個(gè)觸摸事件的方法。該方法包括配置多個(gè)通道，每個(gè)通道對應(yīng)于電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備；根據(jù)隨機(jī)化算法，對多個(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行采樣，使得對每個(gè)通道采樣，其中對每個(gè)通道進(jìn)行采樣包括測量每個(gè)通道的電容；執(zhí)行多個(gè)采樣循環(huán)，其中采樣循環(huán)包括對多個(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行一次采樣；針對每個(gè)通道，使用來自針對該通道的多個(gè)采樣循環(huán)的所測量的電容計(jì)算通道電容；以及從針對多個(gè)通道計(jì)算的通道電容，確定一個(gè)或更多個(gè)觸摸事件。
在一些實(shí)施例中，隨機(jī)化算法包括以隨機(jī)選擇的通道開始每個(gè)采樣循環(huán)。在一些實(shí)施例中，按照預(yù)定次序?qū)Χ鄠€(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行采樣，每個(gè)采樣循環(huán)開始于隨機(jī)選擇的通道，并且對于該采樣循環(huán)的其余部分繼續(xù)按照所述次序進(jìn)行采樣。在一些實(shí)施例中， 隨機(jī)化算法還包括隨機(jī)地選擇采樣循環(huán)內(nèi)的每個(gè)通道。在一些實(shí)施例中，在每個(gè)采樣循環(huán)之間包括采樣循環(huán)延遲周期，并且其中隨機(jī)化算法還包括隨機(jī)地改變在每個(gè)采樣循環(huán)之間的采樣循環(huán)延遲周期。在一些實(shí)施例中，在每個(gè)通道采樣之間包括通道延遲周期，并且其中隨機(jī)化算法還包括隨機(jī)地改變通道延遲周期。在一些實(shí)施例中，多個(gè)通道包括N個(gè)通道，并且隨機(jī)化算法包括每M個(gè)通道采樣隨機(jī)地生成通道延遲周期，使得在隨機(jī)生成新的通道延遲周期并將其應(yīng)用于下M個(gè)通道采樣之前，針對M個(gè)通道采樣的每一個(gè)通道采樣應(yīng)用相同的通道延遲周期。在一些實(shí)施例中，M小于N。在其它實(shí)施例中，M大于N。在一些實(shí)施例中，噪聲分布在所采樣的通道的頻率響應(yīng)之中。在一些實(shí)施例中，噪聲分布在所述多個(gè)通道中的多個(gè)通道之中。在一些實(shí)施例中，針對每個(gè)通道計(jì)算通道電容包括對來自針對該通道的多個(gè)采樣循環(huán)的所測量的電容求平均。在一些實(shí)施例中，每個(gè)通道包括在電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備中的行傳感器或者在電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備中的列傳感器。在又一方面中，公開了一種用于檢測在觸摸面板上的一個(gè)或更多個(gè)觸摸事件的裝置。該裝置包括電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備，包括多個(gè)通道，每個(gè)通道包括觸摸傳感器；處理器， 配置成實(shí)現(xiàn)隨機(jī)化算法；以及測量電路，耦合到電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備并且耦合到處理器，其中測量電路配置成根據(jù)隨機(jī)化算法對多個(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行采樣，其中處理器配置成從測量電路接收采樣數(shù)據(jù)，使用所接收到的采樣數(shù)據(jù)針對每個(gè)通道計(jì)算通道電容，并且從針對多個(gè)通道計(jì)算的通道電容確定一個(gè)或更多個(gè)觸摸事件。在一些實(shí)施例中，隨機(jī)化算法包括執(zhí)行多個(gè)采樣循環(huán)，每個(gè)采樣循環(huán)包括對多個(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行采樣。在一些實(shí)施例中，隨機(jī)化算法還包括以隨機(jī)選擇的通道開始每個(gè)采樣循環(huán)。在一些實(shí)施例中，處理器和測量電路配置成使得按照預(yù)定次序?qū)Χ鄠€(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行采樣，每個(gè)采樣循環(huán)開始于隨機(jī)選擇的通道，并且對于該采樣循環(huán)的其余部分繼續(xù)按照所述次序進(jìn)行采樣。在一些實(shí)施例中，隨機(jī)化算法還包括隨機(jī)地選擇采樣循環(huán)內(nèi)的每個(gè)通道。在一些實(shí)施例中，在每個(gè)采樣循環(huán)之間包括采樣循環(huán)延遲周期，并且其中隨機(jī)化算法還包括隨機(jī)地改變在每個(gè)采樣循環(huán)之間的采樣循環(huán)延遲周期。在一些實(shí)施例中，在每個(gè)通道采樣之間包括通道延遲周期，并且其中隨機(jī)化算法還包括隨機(jī)地改變通道延遲周期。在一些實(shí)施例中，多個(gè)通道包括N個(gè)通道，并且隨機(jī)化算法包括每M個(gè)通道采樣隨機(jī)地生成通道延遲周期，使得在隨機(jī)生成新的通道延遲周期并將其應(yīng)用于下M個(gè)通道采樣之前，針對M個(gè)通道采樣的每一個(gè)通道采樣應(yīng)用相同的通道延遲周期。在一些實(shí)施例中， M小于N。在其它實(shí)施例中，M大于N。在一些實(shí)施例中，處理器配置成通過對來自針對每個(gè)通道的多個(gè)采樣循環(huán)的所測量的電容求平均來計(jì)算針對該通道的通道電容。在一些實(shí)施例中，每個(gè)通道包括在電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備中的行傳感器或者在電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備中的列傳感器。在一些實(shí)施例中，電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備包括二維觸摸面板。在一些實(shí)施例中，電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備包括一維虛擬滑動條。在另一方面中，公開了另一種用于檢測在觸摸面板上的一個(gè)或更多個(gè)觸摸事件的裝置。該裝置包括電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備，包括多個(gè)通道，每個(gè)通道包括觸摸傳感器；處理器，配置成實(shí)現(xiàn)隨機(jī)化算法；以及測量電路，耦合到電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備并且耦合到處理器，其中測量電路配置成根據(jù)隨機(jī)化算法對多個(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行采樣，使得對每個(gè)通道采樣并執(zhí)行多個(gè)采樣循環(huán)，其中對每個(gè)通道采樣包括測量每個(gè)通道的電容，其中采樣循環(huán)包括對多個(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行一次采樣，其中處理器配置成接收來自多個(gè)采樣循環(huán)的所測量的電容數(shù)據(jù)，使用所接收到的所測量的電容數(shù)據(jù)針對每個(gè)通道計(jì)算通道電容， 并且從針對多個(gè)通道計(jì)算的通道電容確定一個(gè)或更多個(gè)觸摸事件。


并入到本說明書中并構(gòu)成本說明書的一部分的附示了差分傳感機(jī)制的實(shí)施例，并且與描述一起用于說明觸覺反饋系統(tǒng)的原理，但不將本發(fā)明限于所公開的例子。圖1圖示了使用隨機(jī)采樣技術(shù)的示例性應(yīng)用的框圖。圖2圖示了用作電容式觸摸界面的示例性觸摸面板。圖3圖示了用于對觸摸面板的通道進(jìn)行采樣的非隨機(jī)采樣技術(shù)。圖4圖示了使用非隨機(jī)采樣技術(shù)的示例性頻率響應(yīng)。圖5圖示了用于對觸摸面板的通道進(jìn)行采樣的第一隨機(jī)采樣技術(shù)。圖6圖示了使用非隨機(jī)采樣技術(shù)的示例性頻率響應(yīng)。圖7圖示了除了應(yīng)用第一隨機(jī)采樣技術(shù)之外可與圖6相比的頻率響應(yīng)。圖8圖示了用于對觸摸面板的通道進(jìn)行采樣的第二隨機(jī)采樣技術(shù)。圖9圖示了用于對觸摸面板的通道進(jìn)行采樣的第三隨機(jī)采樣技術(shù)。圖10圖示了用于對觸摸面板的通道進(jìn)行采樣的第四隨機(jī)采樣技術(shù)。圖11圖示了使用非隨機(jī)采樣技術(shù)的示例性頻率響應(yīng)。圖12圖示了除了應(yīng)用第三或第四隨機(jī)采樣技術(shù)之外可與圖11相比的頻率響應(yīng)。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明的實(shí)施例針對用于減少電容式觸摸屏中的噪聲的隨機(jī)采樣技術(shù)。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將認(rèn)識到，以下對本發(fā)明的詳細(xì)描述僅是說明性的，并不旨在于以任何方式進(jìn)行限制。受益于本公開的本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將容易理解到本發(fā)明的其它實(shí)施例?，F(xiàn)在將更詳細(xì)地參照如附圖所示的本發(fā)明的實(shí)現(xiàn)。在所有附圖以及以下的詳細(xì)描述中將使用相同的參考指示符指代相同或類似的部分。為了清楚起見，不是這里描述的實(shí)現(xiàn)的所有常規(guī)特征都示出和描述。當(dāng)然，將理解到，在任何這種實(shí)際實(shí)現(xiàn)的開發(fā)中，必須做出很多實(shí)現(xiàn)所特定的決策以便達(dá)到開發(fā)者的特定目標(biāo)，諸如符合應(yīng)用和商業(yè)有關(guān)約束，并且將理解到，這些特定目標(biāo)將隨著不同的實(shí)現(xiàn)以及不同的開發(fā)者而變化。而且，將理解到， 這種開發(fā)過程可能是復(fù)雜且耗時(shí)的，但仍將是受益于本公開的本領(lǐng)域普通技術(shù)人員的常規(guī)工程任務(wù)。盡管將結(jié)合下面的實(shí)施例描述隨機(jī)采樣技術(shù)，但將理解到，它們不旨在于限制這些實(shí)施例和例子的方法和系統(tǒng)。相反，隨機(jī)采樣技術(shù)旨在于涵蓋可以包括在由所附權(quán)利要求限定的本發(fā)明精神和范圍內(nèi)的各種替換方案、修改方案和等同方案。此外，在以下詳細(xì)描述中，為了更充分說明方法和系統(tǒng)，闡述了很多特定細(xì)節(jié)。然而對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員而言將明白的是，方法和系統(tǒng)可以在沒有這些特定細(xì)節(jié)的情況下實(shí)施。根據(jù)本申請，使用包括硬件、軟件或其任意組合在內(nèi)的各種類型的處理系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)一些組件、處理步驟和/或數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。另外，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將認(rèn)識到，在不脫離這里公開的本發(fā)明概念的范圍和精神的情況下也可以使用不太通用性質(zhì)的器件，諸如硬連線器件、專用集成電路(ASIC)等。隨機(jī)采樣技術(shù)包括用于減少或消除在諸如觸摸板、觸摸屏、觸摸滑動條等之類的電容式傳感器陣列的輸出中的錯(cuò)誤的技術(shù)，該電容式傳感器陣列包括檢測手寫筆的存在和位置的觸摸傳感器以及檢測并確定手指位置的觸摸傳感器。如這里所使用的那樣，對手指、 觸摸、觸摸事件等的引用是指用戶通過用戶的手指或用戶握持的導(dǎo)電設(shè)備(諸如導(dǎo)電手寫筆)接觸或適當(dāng)靠近地接觸觸摸屏或觸摸面板。隨機(jī)采樣技術(shù)描述在存在無關(guān)信號的情況下提取與觸摸事件有關(guān)的信號的手段。特別是，隨機(jī)采樣技術(shù)描述了將存在于主頻率上的諸如手指耦合噪聲之類的任何噪聲分散或減少到不引起誤觸摸的水平的方法。隨機(jī)采樣技術(shù)使對每個(gè)傳感器通道進(jìn)行采樣的間隔隨機(jī)化。在一些實(shí)施例中，通過使通道的采樣順序隨機(jī)化來實(shí)現(xiàn)隨機(jī)化。在其它實(shí)施例中，通過在連續(xù)的通道采樣之間插入隨機(jī)延遲來實(shí)現(xiàn)隨機(jī)化。盡管這里描述的所示實(shí)施例應(yīng)用在移動電話中，但應(yīng)理解到，電容式觸摸傳感器可以在各種各樣的設(shè)備中使用。這種設(shè)備的例子包括但不限于諸如個(gè)人數(shù)字助理(PDA)、全球定位系統(tǒng)(GPQ接收器之類的便攜式設(shè)備以及諸如支持觸摸屏的顯示器和計(jì)算機(jī)系統(tǒng)以及家用電器之類的較大設(shè)備。圖1圖示了使用隨機(jī)采樣技術(shù)的示例性應(yīng)用的框圖。移動電話10包括微處理器 14，微處理器14耦合到存儲器15，存儲器15存儲用于由微處理器14執(zhí)行的程序指令并且一般包括用于這種程序指令的非易失性存儲裝置以及用于由微處理器14使用的臨時(shí)存儲裝置。存儲在存儲器15中的程序指今包括形成根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品的程序指令，該程序指令確定一個(gè)或更多個(gè)手指和/或手寫筆在集成液晶顯示器(LCD) /觸摸板 12中包括的觸摸傳感器陣列的表面處的位置。LCD/觸摸板12耦合到根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的觸摸板電路20，該觸摸板電路20包括測量LCD/觸摸板12內(nèi)觸摸板的觸摸感應(yīng)通道的電容的能力。移動電話10還包括用于將微處理器14耦合到集成IXD/觸摸板12內(nèi)的IXD的顯示控制器16和用于提供無線電話連接的無線電電路18。移動電話10還包括耦合到麥克風(fēng) 13和揚(yáng)聲器元件11的音頻編解碼器17，該麥克風(fēng)13和揚(yáng)聲器元件11提供與用戶的語音
ififn。觸摸板中的每個(gè)觸摸傳感器測量電容的變化。觸摸板電路20將感測的電容變化轉(zhuǎn)換成電壓。系統(tǒng)中存在的噪聲會改變由電容式觸摸傳感器察覺到的電容變化，使得它不能與真實(shí)的觸摸事件區(qū)分開。手指耦合噪聲會引起觸摸板電路20報(bào)告誤觸摸。圖2圖示了電容式觸摸傳感器的示例性陣列，統(tǒng)稱為觸摸面板，用作電容式觸摸界面。觸摸傳感器配置成行和列。白菱形是行觸摸傳感器，黑菱形是列觸摸傳感器。給定行中的所有白菱形，例如第1行中的15個(gè)白菱形經(jīng)由橋串行連接而形成一個(gè)單獨(dú)的行傳感器。類似地，給定列中的所有黑菱形串行連接而形成一個(gè)單獨(dú)的列傳感器。在圖2的示例性配置中，觸摸面板包括8個(gè)行傳感器和14個(gè)列傳感器。如這里所使用的那樣，通道是指單個(gè)觸摸傳感器、行傳感器或列傳感器。參照圖2的觸摸面板，每個(gè)行傳感器和每個(gè)列傳感器稱為通道。在這種具有8個(gè)行傳感器和14個(gè)列傳感器的示例性情況中，存在總共22個(gè)通道。當(dāng)手指或?qū)щ娛謱懝P靠近觸摸面板時(shí)，在接觸觸摸面板的區(qū)域處，通道電容改變，或者在圖2中的二維矩陣的觸摸傳感器的情況中，行傳感器和列傳感器的電容改變。模擬前端(AFE)電路將通道檢測到的電容轉(zhuǎn)換為成比例的電壓。在一些實(shí)施例中，觸摸板電路 20和AFE電路配置為電容測量電路。在其它實(shí)施例中，AFE電路可備選地配置成使得可以使用差分感測機(jī)制。AFE將所轉(zhuǎn)換的電壓輸出至模擬到數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)，該模擬到數(shù)字轉(zhuǎn)換器將該電壓轉(zhuǎn)換成數(shù)字編碼表示。噪聲源可以改變AFE的輸出。在不存在外來噪聲時(shí)，正常觸摸引起ADC輸出改變幾百個(gè)編碼。然而在存在外來噪聲時(shí)，沒有觸摸的傳感器也會引起 ADC輸出改變幾百個(gè)編碼。在這種情況下，觸摸板電路20無法區(qū)分實(shí)際觸摸和具有噪聲耦合的非觸摸?？梢允褂萌魏纬Ｒ?guī)觸摸感測電路系統(tǒng)來測量和確定每個(gè)通道的電容和電容變化。在優(yōu)選實(shí)施例中，使用在標(biāo)題為 “Charge Transfer Scheme to Convert Capacitance to Voltage for Touchscreen Controller”、代理人案卷號為 MAXIM-04500 的共同未決的美國專利申請No. XX/XXX, XXX中描述的感測電路和方法來測量和確定電容和電容變化。對觸摸面板的通道進(jìn)行周期性采樣以確定一個(gè)或更多個(gè)觸摸事件的存在。不對所有通道進(jìn)行持續(xù)性和同時(shí)的采樣，以便使功率和處理要求最低化。相反，按照輪循方式對每個(gè)通道進(jìn)行各自采樣。在每個(gè)輪循期間，對所有通道進(jìn)行一次采樣。以此方式，每個(gè)輪循稱為采樣循環(huán)。執(zhí)行多個(gè)采樣循環(huán)使得對每個(gè)通道進(jìn)行多次采樣。通過對預(yù)定數(shù)目的采樣循環(huán)上的針對每個(gè)通道的采樣值求平均，確定針對該通道的通道電容。通過求平均計(jì)算通道電容以便減小噪聲的影響。圖3圖示了用于對觸摸面板的通道進(jìn)行采樣的非隨機(jī)采樣技術(shù)。存在N數(shù)目的通道，例如22個(gè)通道，如在圖2的具有14列和8行的觸摸面板中那樣。從通道1開始并且以通道N結(jié)束，來對通道依次進(jìn)行采樣，其中采樣通道1由S 1標(biāo)示，采樣通道2由S2標(biāo)示， 采樣通道3由S3標(biāo)示，等等，直到采樣通道N由SN標(biāo)示。在每個(gè)通道的采樣之間存在通道延遲周期T。通過采樣循環(huán)延遲周期TD延遲每個(gè)輪循或采樣循環(huán)。通過對K數(shù)目的采樣循環(huán)上的針對每個(gè)通道的采樣值求平均，周期性地確定該通道的電容。例如，使用來自采樣循環(huán)1 (第1輪循)的采樣值Si、來自采樣循環(huán)2 (第2輪循)的采樣值Si、等等來自直到采樣循環(huán)K(第K輪循)的其余采樣循環(huán)的每個(gè)采樣值Si，計(jì)算針對通道1的通道電容。在該計(jì)算中使用的實(shí)際值是由采樣通道感測的原始數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換電壓、編碼或其它表示。在該非隨機(jī)采樣技術(shù)中，按照由(N_1)*T+TD限定的固定時(shí)間周期，對每個(gè)通道進(jìn)行采樣。該恒定的采樣周期形成拍頻。與使用非隨機(jī)采樣技術(shù)對觸摸面板進(jìn)行采樣相關(guān)聯(lián)的頻率響應(yīng)顯示在拍頻處的峰值。觸摸檢測易于受在拍頻處的噪聲的影響，因?yàn)樵谙嗤呐念l處執(zhí)行觸摸事件的采樣。圖4圖示了對應(yīng)于觸摸事件的使用非隨機(jī)采樣技術(shù)的示例性頻率響應(yīng)。圖4所示頻率響應(yīng)的峰值表明拍頻的影響。取平均通常將噪聲減少平均的數(shù)目的平方根。但是，如果在噪聲和采樣周期之間存在固定的頻率關(guān)系，則求平均不會減少噪聲。如果噪聲具有與拍頻相同的頻率，則對K個(gè)采樣循環(huán)上的采樣值求平均不會影響噪聲峰值，因?yàn)槊總€(gè)采樣具有相同噪聲。由于噪聲和采樣率具有相同頻率，所以相同的噪聲被反復(fù)采樣。非隨機(jī)采樣技術(shù)中所見的噪聲峰值可以通過使針對每個(gè)通道進(jìn)行采樣的時(shí)間間隔隨機(jī)化來緩解。代替導(dǎo)致系統(tǒng)性噪聲的在拍頻處的采樣，使采樣隨機(jī)化，從而取平均使得噪聲分散在多個(gè)頻率之中。使用隨機(jī)化的最終結(jié)果在于，即使噪聲存在于特定頻率或頻率跨度上，噪聲也分散在其它頻率之中，由此減少峰值噪聲。使用非隨機(jī)采樣技術(shù)，如果峰值噪聲存在于作為與拍頻相同的頻率或者拍頻的倍數(shù)的特定頻率處，則峰值噪聲將不會由于取平均而減少。然而隨機(jī)采樣技術(shù)確實(shí)帶來減少的峰值噪聲?？梢允褂枚喾N不同的隨機(jī)化技術(shù)。圖5圖示了用于對觸摸面板的通道進(jìn)行采樣的第一隨機(jī)采樣技術(shù)。第一隨機(jī)采樣技術(shù)使每個(gè)采樣循環(huán)中的開始通道隨機(jī)化。換言之，每個(gè)采樣循環(huán)以隨機(jī)的通道開始。在一些實(shí)施例中，使用隨機(jī)數(shù)生成器來生成針對每個(gè)采樣循環(huán)的開始通道的號數(shù)。備選地，可以使用用于生成隨機(jī)開始號數(shù)的任何常規(guī)方法。以隨機(jī)選擇的開始通道開始，對所有N個(gè)通道依次進(jìn)行采樣。在每個(gè)采樣循環(huán)內(nèi)，在對通道N進(jìn)行采樣之后，采樣順序循環(huán)回到通道 1，以便在該采樣循環(huán)期間對所有通道進(jìn)行采樣。如圖5的示例性順序中所示，第一采樣循環(huán)(第1輪循)開始于隨機(jī)選擇的通道5，之后是通道6等等直到通道N，之后是通道1，然后是通道2等等，直到以通道4完成第一采樣循環(huán)。通過通道延遲周期T對每個(gè)通道的采樣進(jìn)行延遲。通過采樣循環(huán)延遲周期TD對每個(gè)采樣循環(huán)進(jìn)行延遲。第二采樣循環(huán)(第2 輪循)開始于隨機(jī)選擇的通道N，之后是通道1等等直到以通道N-I完成第二采樣循環(huán)。最后一個(gè)采樣循環(huán)K (第K輪循)開始于隨機(jī)選擇的通道11，之后是通道12等等直到以通道 10完成最后一個(gè)采樣循環(huán)。通過對在K個(gè)采樣循環(huán)上的針對每個(gè)通道的采樣值求平均，周期性地確定該通道的電容或代表值。由于從一個(gè)切換循環(huán)到下一個(gè)切換循環(huán)不是以同一絕對順序?qū)νǖ肋M(jìn)行采樣，所以處理器必須重新布置采樣順序來執(zhí)行平均計(jì)算。例如，通道1 可以是在給定采樣循環(huán)中被采樣的第一個(gè)通道，但通道1不總是在所有采樣循環(huán)中都作為第一個(gè)通道被采樣。如此，通道1的采樣必須在不同采樣循環(huán)內(nèi)從不同采樣位置一起匹配， 以便適當(dāng)?shù)厍笃骄Ｔ撝匦虏贾眯枰郊拥奶幚?。圖6圖示了使用非隨機(jī)采樣技術(shù)的示例性頻率響應(yīng)。圖7圖示了除了應(yīng)用第一隨機(jī)采樣技術(shù)之外可與圖6相比的頻率響應(yīng)。圖6示出了在拍頻上存在的噪聲激勵(lì)。圖7示出了由第一隨機(jī)采樣技術(shù)帶來的噪聲激勵(lì)的降低。在備選實(shí)施例中，修改第一隨機(jī)采樣技術(shù)使得隨機(jī)地選擇每個(gè)通道，而不只是開始的通道。在該修改技術(shù)中，在每個(gè)采樣循環(huán)期間一次地且隨機(jī)地選擇每個(gè)采樣。圖8圖示了用于對觸摸面板的通道進(jìn)行采樣的第二隨機(jī)采樣技術(shù)。該第二隨機(jī)采樣技術(shù)使每個(gè)采樣循環(huán)之間的采樣循環(huán)延遲周期隨機(jī)化。在第二隨機(jī)采樣技術(shù)中，通道的采樣順序隨采樣循環(huán)的不同保持恒定。如圖8的示例性次序所示，通道1始終首先被采樣。 應(yīng)理解到，可以選擇任何通道作為第一個(gè)采樣通道，只要該通道針對所有采樣循環(huán)保持為第一個(gè)采樣通道。以諸如通道1之類的第一個(gè)采樣通道開始，對所有N個(gè)通道依次進(jìn)行采樣。在一些實(shí)施例中，使用隨機(jī)數(shù)生成器來生成每個(gè)采樣循環(huán)之間的通道延遲周期。備選地，可以使用用于生成隨機(jī)開始號數(shù)的任何常規(guī)方法。通過通道延遲周期T對每個(gè)通道的采樣進(jìn)行延遲。通過采樣循環(huán)延遲周期對每個(gè)采樣循環(huán)進(jìn)行延遲，該采樣循環(huán)延遲周期表示為某固定周期TD加上隨機(jī)生成的延遲dX。如圖8所示，在第一采樣循環(huán)(第1輪循)與第二采樣循環(huán)(第2輪循)之間的采樣循環(huán)延遲周期為TD+dl，并且在第二采樣循環(huán)與第三采樣循環(huán)(未示出)之間的采樣循環(huán)延遲周期為TD+d2。隨機(jī)延遲dX的大小和范圍可編程為使得滿足期望的隨機(jī)化水平。在一些實(shí)施例中，隨機(jī)延遲dX的大小設(shè)定為在固定周期TD的10%內(nèi)。對于每個(gè)特定的觸摸面板實(shí)現(xiàn)，可編程值可以變化。通過對在K個(gè)采樣循環(huán)上的針對每個(gè)通道的采樣值求平均，周期性地確定該通道的電容或表示值。由于采樣順序在每個(gè)采樣循環(huán)之間是相同的，所以在求平均之前無需附加的處理來重新布置通道采樣。圖9圖示了用于對觸摸面板的通道進(jìn)行采樣的第三隨機(jī)采樣技術(shù)。該第三隨機(jī)采樣技術(shù)使在對每個(gè)通道進(jìn)行采樣之間的通道延遲周期隨機(jī)化。在第三隨機(jī)采樣技術(shù)中，通道的采樣順序隨采樣循環(huán)(輪循)的不同而保持恒定。如圖9的示例性次序所示，通道1 始終首先被采樣。應(yīng)理解到，可以選擇任何通道作為第一個(gè)采樣通道，只要該通道針對所有采樣循環(huán)保持為第一個(gè)采樣通道。以諸如通道1之類的第一個(gè)采樣通道開始，對所有N個(gè)通道依次進(jìn)行采樣。在一些實(shí)施例中，使用隨機(jī)數(shù)生成器來生成每個(gè)采樣循環(huán)之間的通道延遲周期。備選地，可以使用用于生成隨機(jī)開始號數(shù)的任何常規(guī)方法。通過通道延遲周期對每個(gè)通道的采樣進(jìn)行延遲，該通道延遲周期表示為某固定周期T加上隨機(jī)生成的延遲dX。通過采樣循環(huán)延遲周期對每個(gè)采樣循環(huán)進(jìn)行延遲，該采樣循環(huán)延遲周期表示為某固定周期TD加上隨機(jī)生成的延遲dX。在對每M個(gè)通道進(jìn)行采樣之后， 改變隨機(jī)延遲dX。在第三隨機(jī)采樣技術(shù)中，M小于通道數(shù)N。如圖9所示，針對第一 M個(gè)通道應(yīng)用隨機(jī)延遲dl。對下一 M個(gè)通道應(yīng)用隨機(jī)延遲d2，該下一 M個(gè)通道包括采樣循環(huán)1 (第 1輪循)中的通道M+1至通道N以及采樣循環(huán)2(第2輪循)中的通道1至通道2M-N。向采樣循環(huán)延遲周期的固定部分TD添加在采樣循環(huán)1中的通道M到采樣循環(huán)2中的通道2M-N 之間應(yīng)用的隨機(jī)延遲d2。應(yīng)理解到，第三隨機(jī)采樣技術(shù)中的隨機(jī)延遲dl和d2的大小可以與第二隨機(jī)采樣技術(shù)中的隨機(jī)延遲dl和d2的大小相同或者可以不與之相同。在一些實(shí)施例中，第三隨機(jī)采樣技術(shù)中的隨機(jī)延遲dl和d2的大小小于第二隨機(jī)采樣技術(shù)中的隨機(jī)延遲dl和d2的大小。隨機(jī)延遲dX的大小和范圍可編程為使得滿足期望的隨機(jī)化水平。通過對在K個(gè)采樣循環(huán)上的針對每個(gè)通道的采樣值求平均，周期性地確定該通道的電容或表示值。由于采樣順序在每個(gè)采樣循環(huán)之間是相同的，所以在求平均之前無需附加的處理來重新布置通道采樣。圖10圖示了用于對觸摸面板的通道進(jìn)行采樣的第四隨機(jī)采樣技術(shù)。除了 M大于通道數(shù)N之外，第四隨機(jī)采樣技術(shù)與第三隨機(jī)采樣技術(shù)相同。圖11圖示了使用非隨機(jī)采樣技術(shù)的示例性頻率響應(yīng)。圖12圖示了除了應(yīng)用第三或第四隨機(jī)采樣技術(shù)之外可與圖11相比的頻率響應(yīng)。圖11示出了存在于拍頻上的噪聲激勵(lì)。圖12示出了由第三或第四隨機(jī)采樣技術(shù)帶來的噪聲激勵(lì)的降低。使用第二隨機(jī)采樣技術(shù)可見與圖12所示類似的結(jié)果。上面在諸如圖2的觸摸面板之類的二維陣列的觸摸傳感器的上下文中描述了隨機(jī)采樣技術(shù)。隨機(jī)采樣技術(shù)也可以應(yīng)用于一維陣列的觸摸傳感器，其中與觸摸傳感器的行或列不同，測量每個(gè)單獨(dú)的觸摸傳感器。這種一維應(yīng)用的例子是將隨機(jī)采樣技術(shù)應(yīng)用于虛擬滑動條和滾輪。已經(jīng)按照并入細(xì)節(jié)的特定實(shí)施例描述了本發(fā)明，以便于理解本發(fā)明的構(gòu)造和操作的原理。這里對特定實(shí)施例及其細(xì)節(jié)的這種引用并不旨在于將所附權(quán)利要求的范圍限定于此。本領(lǐng)域技術(shù)人員將明白的是，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可以在為說明而選擇的實(shí)施例中進(jìn)行各種修改。
權(quán)利要求
1.一種檢測在電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備上的一個(gè)或更多個(gè)觸摸事件的方法，包括a.配置多個(gè)通道，每個(gè)通道對應(yīng)于所述電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備；b.根據(jù)隨機(jī)化算法，對所述多個(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行采樣；c.針對每個(gè)通道，使用采樣數(shù)據(jù)計(jì)算通道電容；以及d.從針對所述多個(gè)通道計(jì)算的所述通道電容，確定一個(gè)或更多個(gè)觸摸事件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述隨機(jī)化算法包括執(zhí)行多個(gè)采樣循環(huán)，每個(gè)采樣循環(huán)包括對所述多個(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行采樣。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中所述隨機(jī)化算法還包括以隨機(jī)選擇的通道開始每個(gè)采樣循環(huán)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中按照預(yù)定次序?qū)λ龆鄠€(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行采樣，每個(gè)采樣循環(huán)開始于所述隨機(jī)選擇的通道，并且對于所述采樣循環(huán)的其余部分繼續(xù)按照所述次序進(jìn)行采樣。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中所述隨機(jī)化算法還包括隨機(jī)地選擇所述采樣循環(huán)內(nèi)的每個(gè)通道。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中在每個(gè)采樣循環(huán)之間包括采樣循環(huán)延遲周期，并且其中所述隨機(jī)化算法包括隨機(jī)地改變在每個(gè)采樣循環(huán)之間的所述采樣循環(huán)延遲周期。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中在每個(gè)通道采樣之間包括通道延遲周期，并且其中所述隨機(jī)化算法包括隨機(jī)地改變所述通道延遲周期。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中所述多個(gè)通道包括N個(gè)通道，并且所述隨機(jī)化算法包括每M個(gè)通道采樣隨機(jī)地生成所述通道延遲周期，使得在隨機(jī)生成新的通道延遲周期并將其應(yīng)用于下M個(gè)通道采樣之前，針對M個(gè)通道采樣的每一個(gè)通道采樣應(yīng)用相同的通道延遲周期。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中M小于N。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中M大于N。
11.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中針對每個(gè)通道計(jì)算所述通道電容包括對來自針對該通道的多個(gè)采樣循環(huán)的所測量的電容求平均。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中每個(gè)通道包括在所述電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備中的一行觸摸傳感器或者在所述電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備中的一列觸摸傳感器。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中噪聲分布在所采樣的通道的頻率響應(yīng)之中。
14.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中噪聲分布在所述多個(gè)通道中的多個(gè)通道之中。
15.一種檢測在電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備上的一個(gè)或更多個(gè)觸摸事件的方法，包括a.配置多個(gè)通道，每個(gè)通道對應(yīng)于所述電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備；b.根據(jù)隨機(jī)化算法，對所述多個(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行采樣，使得對每個(gè)通道采樣，其中對每個(gè)通道進(jìn)行采樣包括測量每個(gè)通道的電容；c.執(zhí)行多個(gè)采樣循環(huán)，其中采樣循環(huán)包括對所述多個(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行一次采樣；d.針對每個(gè)通道，使用來自針對該通道的多個(gè)采樣循環(huán)的所測量的電容計(jì)算通道電容；以及d.從針對所述多個(gè)通道計(jì)算的所述通道電容，確定一個(gè)或更多個(gè)觸摸事件。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中所述隨機(jī)化算法包括以隨機(jī)選擇的通道開始每個(gè)采樣循環(huán)。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中按照預(yù)定次序?qū)λ龆鄠€(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行采樣，每個(gè)采樣循環(huán)開始于所述隨機(jī)選擇的通道，并且對于所述采樣循環(huán)的其余部分繼續(xù)按照所述次序進(jìn)行采樣。
18.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中所述隨機(jī)化算法包括隨機(jī)地選擇所述采樣循環(huán)內(nèi)的每個(gè)通道。
19.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中在每個(gè)采樣循環(huán)之間包括采樣循環(huán)延遲周期， 并且其中所述隨機(jī)化算法包括隨機(jī)地改變在每個(gè)采樣循環(huán)之間的所述采樣循環(huán)延遲周期。
20.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中在每個(gè)通道采樣之間包括通道延遲周期，并且其中所述隨機(jī)化算法包括隨機(jī)地改變所述通道延遲周期。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，其中所述多個(gè)通道包括N個(gè)通道，并且所述隨機(jī)化算法包括每M個(gè)通道采樣隨機(jī)地生成所述通道延遲周期，使得在隨機(jī)生成新的通道延遲周期并將其應(yīng)用于下M個(gè)通道采樣之前，針對M個(gè)通道采樣的每一個(gè)通道采樣應(yīng)用相同的通道延遲周期。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的方法，其中M小于N。
23.根據(jù)權(quán)利要求21所述的方法，其中M大于N。
24.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中噪聲分布在所采樣的通道的頻率響應(yīng)之中。
25.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中噪聲分布在所述多個(gè)通道中的多個(gè)通道之中。
26.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中針對每個(gè)通道計(jì)算所述通道電容包括對來自針對該通道的多個(gè)采樣循環(huán)的所測量的電容求平均。
27.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中每個(gè)通道包括在所述電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備中的行傳感器或者在所述電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備中的列傳感器。
28.一種用于檢測在觸摸面板上的一個(gè)或更多個(gè)觸摸事件的裝置，包括a.電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備，包括多個(gè)通道，每個(gè)通道包括觸摸傳感器；b.處理器，配置成實(shí)現(xiàn)隨機(jī)化算法；以及c.測量電路，耦合到所述電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備并且耦合到所述處理器，其中所述測量電路配置成根據(jù)所述隨機(jī)化算法對所述多個(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行采樣，其中所述處理器配置成從所述測量電路接收采樣數(shù)據(jù)，使用所接收到的采樣數(shù)據(jù)針對每個(gè)通道計(jì)算通道電容，并且從針對所述多個(gè)通道計(jì)算的所述通道電容確定一個(gè)或更多個(gè)觸摸事件。
29.根據(jù)權(quán)利要求觀所述的裝置，其中所述隨機(jī)化算法包括執(zhí)行多個(gè)采樣循環(huán)，每個(gè)采樣循環(huán)包括對所述多個(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行采樣。
30.根據(jù)權(quán)利要求四所述的裝置，其中所述隨機(jī)化算法還包括以隨機(jī)選擇的通道開始每個(gè)采樣循環(huán)。
31.根據(jù)權(quán)利要求30所述的裝置，其中所述處理器和所述測量電路配置成使得按照預(yù)定次序?qū)λ龆鄠€(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行采樣，每個(gè)采樣循環(huán)開始于所述隨機(jī)選擇的通道，并且對于所述采樣循環(huán)的其余部分繼續(xù)按照所述次序進(jìn)行采樣。
32.根據(jù)權(quán)利要求四所述的裝置，其中所述隨機(jī)化算法還包括隨機(jī)地選擇所述采樣循環(huán)內(nèi)的每個(gè)通道。
33.根據(jù)權(quán)利要求四所述的裝置，其中在每個(gè)采樣循環(huán)之間包括采樣循環(huán)延遲周期， 并且其中所述隨機(jī)化算法包括隨機(jī)地改變在每個(gè)采樣循環(huán)之間的所述采樣循環(huán)延遲周期。
34.根據(jù)權(quán)利要求四所述的裝置，其中在每個(gè)通道采樣之間包括通道延遲周期，并且其中所述隨機(jī)化算法包括隨機(jī)地改變所述通道延遲周期。
35.根據(jù)權(quán)利要求34所述的裝置，其中所述多個(gè)通道包括N個(gè)通道，并且所述隨機(jī)化算法包括每M個(gè)通道采樣隨機(jī)地生成所述通道延遲周期，使得在隨機(jī)生成新的通道延遲周期并將其應(yīng)用于下M個(gè)通道采樣之前，針對M個(gè)通道采樣的每一個(gè)通道采樣應(yīng)用相同的通道延遲周期。
36.根據(jù)權(quán)利要求34所述的裝置，其中M小于N。
37.根據(jù)權(quán)利要求34所述的裝置，其中M大于N。
38.根據(jù)權(quán)利要求觀所述的裝置，其中所述處理器配置成通過對來自針對每個(gè)通道的多個(gè)采樣循環(huán)的所測量的電容求平均來計(jì)算針對該通道的通道電容。
39.根據(jù)權(quán)利要求觀所述的裝置，其中每個(gè)通道包括在所述電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備中的行傳感器或者在所述電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備中的列傳感器。
40.根據(jù)權(quán)利要求觀所述的裝置，其中所述電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備包括二維觸摸面板。
41.根據(jù)權(quán)利要求觀所述的裝置，其中所述電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備包括一維虛擬滑動條。
42.一種用于檢測在觸摸面板上的一個(gè)或更多個(gè)觸摸事件的裝置，包括a.電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備，包括多個(gè)通道，每個(gè)通道包括觸摸傳感器；b.處理器，配置成實(shí)現(xiàn)隨機(jī)化算法；以及c.測量電路，耦合到所述電容式觸摸感應(yīng)設(shè)備并且耦合到所述處理器，其中所述測量電路配置成根據(jù)所述隨機(jī)化算法對所述多個(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行采樣，使得對每個(gè)通道采樣并且執(zhí)行多個(gè)采樣循環(huán)，其中對每個(gè)通道采樣包括測量每個(gè)通道的電容，其中采樣循環(huán)包括對所述多個(gè)通道中的每個(gè)通道進(jìn)行一次采樣，其中所述處理器配置成從所述多個(gè)采樣循環(huán)接收所測量的電容數(shù)據(jù)，使用所接收到的所測量的電容數(shù)據(jù)針對每個(gè)通道計(jì)算通道電容，并且從針對所述多個(gè)通道計(jì)算的所述通道電容確定一個(gè)或更多個(gè)觸摸事件。
全文摘要
本發(fā)明涉及使用隨機(jī)采樣技術(shù)降低手指耦合噪聲。隨機(jī)采樣技術(shù)包括用于減少或消除在諸如觸摸面板之類的電容式傳感器陣列的輸出中的錯(cuò)誤的技術(shù)。對觸摸面板的通道進(jìn)行周期性采樣以確定一個(gè)或更多個(gè)觸摸事件的存在。按照輪循方式對每個(gè)通道逐個(gè)地采樣，稱為采樣循環(huán)。在每個(gè)采樣循環(huán)期間，對所有通道進(jìn)行一次采樣。執(zhí)行多個(gè)采樣循環(huán)使得對每個(gè)通道進(jìn)行多次采樣。使用隨機(jī)采樣技術(shù)來對每個(gè)通道進(jìn)行采樣。一種隨機(jī)采樣技術(shù)使每個(gè)采樣循環(huán)中的開始通道隨機(jī)化。另一種隨機(jī)采樣技術(shù)使每個(gè)采樣循環(huán)中的所有通道的選擇隨機(jī)化。又一種隨機(jī)采樣技術(shù)使每個(gè)采樣循環(huán)之間的采樣循環(huán)延遲周期隨機(jī)化。另一種隨機(jī)采樣技術(shù)使在采樣每個(gè)通道之間的通道延遲周期隨機(jī)化。
文檔編號G06F3/044GK102236488SQ20111010810
公開日2011年11月9日 申請日期2011年4月21日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月22日
發(fā)明者A·R·喬哈拉帕爾卡, D·L·艾倫, N·維斯瓦納桑, P·錢 申請人:馬克西姆綜合產(chǎn)品公司