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主板測試系統(tǒng)及其測試治具的制作方法

文檔序號:6356711閱讀:368來源:國知局
專利名稱:主板測試系統(tǒng)及其測試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種主板測試系統(tǒng)及其測試治具。
背景技術(shù)
隨著服務(wù)器的主板尺寸越來越小,為了節(jié)省空間,很多主板在設(shè)計上放棄了使用傳統(tǒng)的PCIE插槽,而使用更為迷你的連接器,但是在對主板的測試過程中需要用到帶有PCIE連接器的顯卡、網(wǎng)卡等來插接到主板內(nèi),而沒有PCIE插槽的主板在測試方面給測試機開發(fā)人員造成了很大的困擾。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容,有必要提供一種主板測試系統(tǒng)及其測試治具,以方便快捷地對所 述主板進行測試。一種測試治具,用于連接至一主板的PCIE信號端口來對所述主板進行測試,所述測試治具包括一板體、一 PCIE連接端口、一 PCIE插槽及一電源模組,所述PCIE連接端口用于連接至所述主板的PCIE信號端口,所述PCIE插槽連接至所述PCIE連接端口以與所述主板上的PCIE信號端口通信,所述電源模組連接至所述PCIE插槽以給所述PCIE插槽提供電壓,所述PCIE插槽用于在對所述主板測試時插接一外接卡。一種主板測試系統(tǒng),包括一主板及一測試治具,所述主板包括一 PCIE信號端口,所述測試治具包括一板體、一 PCIE連接端口、一 PCIE插槽及一電源模組,所述PCIE連接端口連接至所述主板的PCIE信號端口,所述PCIE插槽連接至所述PCIE連接端口以與所述主板上的PCIE信號端口通信,所述電源模組連接至所述PCIE插槽以給所述PCIE插槽提供電壓,所述PCIE插槽用于在對所述主板測試時插接一外接卡。本發(fā)明主板測試系統(tǒng)通過所述測試治具的PCIE連接端口連接至所述主板的PCIE信號端口,從而將所述主板的PCIE信號端口連接至所述PCIE插槽,當對所述主板進行測試時將所述外界卡插入所述PCIE插槽內(nèi)即可,方便快捷。


下面結(jié)合附圖及較佳實施方式對本發(fā)明作進一步詳細描述
圖I是本發(fā)明主板測試系統(tǒng)的較佳實施方式的示意圖。主要元件符號說明 _
板體110
PCIE連接端口
PCIE插槽i
電源模組
11 及電流保護電落—50~
軟排線_60_
測試治具_100
主板|200PCIE信號端口|220
主板測試系統(tǒng)|300
如下具體實施方式
將結(jié)合上述附圖進一步說明本發(fā)明。
具體實施例方式請參考圖I,本發(fā)明主板測試系統(tǒng)300的較佳實施方式包括一主板200及一測試治具100。所述主板200包括一 PCIE信號端口 220。所述測試治具100連接至所述PCIE信號端口 220來對所述主板200進行測試。所述測試治具100包括一板體10、一 PCIE連接端口 20、一 PCIE插槽30、一電源模組40及一穩(wěn)壓及電流保護電路50。所述電源模組40連接至所述PCIE插槽30及所述穩(wěn)壓及電流保護電路50以給所述PCIE插槽30及所述穩(wěn)壓及電流保護電路50提供電壓。所述 PCIE連接端口 20通過一軟排線60連接至所述PCIE信號端口。所述PCIE插槽30連接至所述PCIE連接端口以與所述PCIE信號端口 220通信。所述穩(wěn)壓及電流保護電路50連接至所述PCIE插槽30以對所述PCIE插槽30進行穩(wěn)壓及電路保護。由于所述穩(wěn)壓及電流保護電路50屬于現(xiàn)有技術(shù),所述穩(wěn)壓及電流保護電路50的具體的電路結(jié)構(gòu)在此不再贅述。
當對所述主板200進行測試時,需要將一外接卡如一顯卡(未示出)插入所述PCIE插槽30內(nèi),啟動所述主板200。所述主板200的PCIE信號端口 220通過所述PCIE信號端口 220與所述測試治具100的PCIE插槽30上的顯卡通信。通過連接至所述主板200的顯示器(未示出)便可直觀得到所述主板200的性能參數(shù)。在本實施方式中,所述穩(wěn)壓及電流保護電路50是用于對所述PCIE插槽30進行穩(wěn)壓及電流保護。在其他實施方式中,在所述PCIE插槽30的電壓及電流穩(wěn)定的條件下,所述穩(wěn)壓及電路保護電路50可以省略。所述主板測試系統(tǒng)300通過所述測試治具100的PCIE連接端口 20連接至所述主板200的PCIE信號端口 220,從而將所述主板200的PCIE信號端口 220連接至所述PCIE插槽30,當所述顯卡插入所述PCIE插槽30內(nèi)即可對所述主板200進行測試,方便快捷。
權(quán)利要求
1.一種測試治具,用于連接至一主板的PCIE信號端ロ來對所述主板進行測試,所述測試治具包括一板體、一 PCIE連接端ロ、一 PCIE插槽及ー電源模組,所述PCIE連接端ロ用于連接至所述主板的PCIE信號端ロ,所述PCIE插槽連接至所述PCIE連接端ロ以與所述主板上的PCIE信號端ロ通信,所述電源模組連接至所述PCIE插槽以給所述PCIE插槽提供電壓,所述PCIE插槽用于在對所述主板測試時插接一外接卡。
2.如權(quán)利要求I所述的測試治具,其特征在于所述測試治具還包括一穩(wěn)壓及電流保護電路,所述電源模組連接至所述穩(wěn)壓及電流保護電路以給所述穩(wěn)壓及電流保護電路提供電壓,所述穩(wěn)壓及電流保護電路連接至所述PCIE插槽以對所述PCIE插槽進行穩(wěn)壓及電路保護。
3.—種主板測試系統(tǒng),包括一主板及ー測試治具,所述主板包括一 PCIE信號端ロ,所述測試治具包括一板體、一 PCIE連接端ロ、一 PCIE插槽及ー電源模組,所述PCIE連接端ロ連接至所述主板的PCIE信號端ロ,所述PCIE插槽連接至所述PCIE連接端ロ以與所述主板上的PCIE信號端ロ通信,所述電源模組連接至所述PCIE插槽以給所述PCIE插槽提供電壓,所述PCIE插槽用于在對所述主板測試時插接一外接卡。
4.如權(quán)利要求3所述的主板測試系統(tǒng),其特征在于所述測試治具還包括ー穩(wěn)壓及電流保護電路,所述電源模組連接至所述穩(wěn)壓及電流保護電路以給所述穩(wěn)壓及電流保護電路提供電壓,所述穩(wěn)壓及電流保護電路連接至所述PCIE插槽以對所述PCIE插槽進行穩(wěn)壓及電路保護。
5.如權(quán)利要求3所述的主板測試系統(tǒng),其特征在于所述PCIE連接端ロ通過ー軟排線連接至所述PCIE信號端ロ。
全文摘要
一種測試治具,用于連接至一主板的PCIE信號端口來對所述主板進行測試,所述測試治具包括一板體、一PCIE連接端口、一PCIE插槽及一電源模組,所述PCIE連接端口用于連接至所述主板的PCIE信號端口,所述PCIE插槽連接至所述PCIE連接端口以與所述主板上的PCIE信號端口通信,所述電源模組連接至所述PCIE插槽以給所述PCIE插槽提供電壓,所述PCIE插槽用于在對所述主板測試時插接一外接卡。本發(fā)明實現(xiàn)了方便快捷地對所述主板進行測試。本發(fā)明還包括一種應(yīng)用所述測試治具的主板測試系統(tǒng)。
文檔編號G06F11/267GK102693175SQ20111007193
公開日2012年9月26日 申請日期2011年3月24日 優(yōu)先權(quán)日2011年3月24日
發(fā)明者張萬宏 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司
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