專利名稱：主板測試支架的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種主板測試支架。
背景技術：
隨著電腦運算速度的不斷加快，作為電腦核心部件CPU的功耗也越來越大，相對應電腦CPU散熱要求也越來越高，而更高的散熱要求使得CPU散熱器越做越大，重量也隨之加重。在計算機主機板的研發(fā)和制造階段，需要單獨對主板進行信號完整性、功能型、可靠性等一系列的測試，此時主板沒有固定在機箱內，而是用一些螺柱加以支撐，此時過重的 CPU散熱器會把主機板壓彎造成PCB形變，進而造成PCB內信號走線發(fā)生形變或斷裂。

發(fā)明內容
鑒于以上內容，有必要提供一種主板測試支架，以支撐主板以防止主板在測試時被壓彎變形。一種主板測試支架，用于支撐一待測主板，所述主板測試支架包括一框架、一第一輔助支撐件及一第二輔助支撐件，所述框架包括一前壁、一后壁及兩側壁，所述前壁、后壁及兩側壁圍成一收容區(qū)，所述第一及第二輔助支撐件設置在所述前壁與所述后壁之間，所述第一及第二輔助支撐件的兩端分別固定在所述前壁及后壁的內側，所述第一及第二輔助支撐件的上表面與所述框架的前壁、后壁及兩側壁的上表面在同一平面，所述第一及第二輔助支撐件及所述框架上均設有對應所述待測主板上的通孔的螺孔以使螺柱可以穿過所述待測主板上的通孔及所述主板測試支架上的螺孔來固定并支撐所述待測主板。本發(fā)明主板測試支架包括所述框架、所述第一輔助支撐件及第二輔助支撐件，當所述待測主板進行測試時通過所述框架、所述第一及第二輔助支撐件可以對所述待測主板進行有效地支撐，從而防止了所述待測主板在測試時被壓彎變形。


下面結合附圖及較佳實施方式對本發(fā)明作進一步詳細描述圖1是本發(fā)明主板測試支架第一較佳較佳實施方式的示意圖。圖2是圖1主板測試支架支撐的待測主板的示意圖。圖3是圖1主板測試支架支撐待測主板的示意圖。圖4是本發(fā)明主板測試支架第二較佳較佳實施方式的示意圖。主要元件符號說明待測主板1第一列通孔2第二列通孔3第三列通孔4第四列通孔5
公頭螺柱6
母頭螺柱7
滑楣8
散熱元件9
框架10
前_11
后_12
側_13
收容區(qū)14
第— 輔助支撐件20
第二輔助支撐件30
第—-列螺孔41
第二列螺孔42
第三列螺孔43
第四列螺孔44
層絕緣材料50
主板測試支架100
具體實施例方式請參考圖1及圖2，本發(fā)明主板測試支架100用于支撐一待測主板1。所述主板測試支架100第一較佳實施方式包括一框架10、一第一輔助支撐件20及一第二輔助支撐件 30。所述框架10、所述第一及第二輔助支撐件20、30是由剛性材料制成的。所述待測主板 1的兩側緣處開設有第一及第二列通孔2、3，所述待測主板1還在靠近其一側緣處開設有平行于其兩側緣的第三及第四列通孔4、5。一散熱元件9設置于所述第二列通孔3與所述第四列通孔5之間。所述框架10的輪廓尺寸與所述待測主板1的輪廓尺寸相同。所述框架10呈長方形，其包括一前壁11、一后壁12及兩側壁13。所述前壁11、所述后壁12及兩側壁13—體成型，并共同圍成一收容區(qū)14。所述第一及第二輔助支撐件20、30呈條狀。所述第一及第二輔助支撐件20、30設置在所述前壁11與所述后壁12之間且與所述兩側壁13平形，所述第一及第二輔助支撐件20、30的兩端分別固定在所述框架10的前壁11及后壁12靠近一側壁13的內側使得所述第一及第二支撐件20、30對應所述主板1上的第三及第四列通孔 4、5。所述第一及第二輔助支撐件20、30的上表面與所述框架10的前壁11、后壁12及兩側壁13的上表面在同一平面。所述兩側壁13上分別開設對應所述待測主板1的第一及第二列通孔2、3的第一及第二列螺孔41、42。所述第一輔助支撐件20上開設對應所述待測主板1的第三列通孔4的第三列螺孔43。所述第二輔助支撐件30上開設對應所述待測主板 1上的第四列通孔5的第四列螺孔44。所述第一及第二輔助支撐件20、30的上表面與所述框架10的前壁11、后壁12及兩側壁13的上表面除了第一至第四列螺孔41-44的位置外均貼附一層絕緣材料50來使所述主板測試支架100與所述待測主板1絕緣。請參考圖3，當需要對所述待測主板1進行測試時，將所述待測主板1置于所述主板測試支架100上，使得所述待測主板1上的第一至第四列通孔2-5分別對應所述主板測試支架100上的第一至第四列螺孔41-44，通過若干公頭螺柱6穿過每一通孔及對應的每一螺孔與若干母頭螺柱7鎖合來將所述待測主板1固定并支撐在所述主板測試支架100上。在其他實施方式中，所述第一及第二輔助支撐件20、30在所述前壁11及后壁12 的內側的位置可以根據(jù)實際進行調整。所述第一及第二輔助支撐件20、30也可滑動地固定在所述框架10的前壁11及后壁12的內側，即在所述框架10的前壁11及后壁12的內側分別開設一滑槽8 (請參考圖4)使所述第一及第二輔助支撐件20、30的兩端分別容置在所述前壁11及后壁12的滑槽8內，并根據(jù)需要選擇性地固定在滑槽8的任意位置，如通過螺絲穿過所述前壁11及后壁12的底部與所述第一及第二支撐件20、30的兩端鎖合的方式固定。從而可以通過調節(jié)所述第一及第二輔助支撐件20、30固定在所述滑槽內的位置來對應不同待測主板的通孔位置從而對不同待測主板進行固定和支撐。所述框架10上的螺孔的位置可以根據(jù)支撐的待測主板上的通孔的位置不同來適應性地改變。所述第一及第二輔助支撐件20、30的數(shù)量可以根據(jù)實際需要進行調整。由于所述主板測試支架100包括所述框架10、所述第一輔助支撐件20及第二輔助支撐件30，當所述待測主板1進行測試時對所述待測主板1進行支撐，從而防止了所述待測主板1在測試時由于所述散熱元件9的重量過重而將所述待測主板1壓彎變形。
權利要求
1.一種主板測試支架，用于支撐一待測主板，所述主板測試支架包括一框架、一第一輔助支撐件及一第二輔助支撐件，所述框架包括一前壁、一后壁及兩側壁，所述前壁、后壁及兩側壁圍成一收容區(qū)，所述第一及第二輔助支撐件設置在所述前壁與所述后壁之間，所述第一及第二輔助支撐件的兩端分別固定在所述前壁及后壁的內側，所述第一及第二輔助支撐件的上表面與所述框架的前壁、后壁及兩側壁的上表面在同一平面，所述第一及第二輔助支撐件及所述框架上均設有對應所述待測主板上的通孔的螺孔以使螺柱可以穿過所述待測主板上的通孔及所述主板測試支架上的螺孔來固定并支撐所述待測主板。
2.如權利要求1所述的主板測試支架，其特征在于所述框架的前壁及后壁的內側分別開設一滑槽使所述第一及第二輔助支撐件的兩端分別容置并滑動固定在所述前壁及后壁的滑槽內。
3.如權利要求1所述的主板測試支架，其特征在于所述待測主板的兩側緣處開設有第一及第二列通孔，所述待測主板還在靠近其一側緣處開設有平行于其兩側緣的第三及第四列通孔，所述框架的兩側壁上分別開設對應所述待測主板的第一及第二列通孔的第一及第二列螺孔，所述第一輔助支撐件上開設對應所述待測主板的第三列通孔的第三列螺孔， 所述第二輔助支撐件上開設對應所述待測主板上的第四列通孔的第四列螺孔。
4.如權利要求1所述的主板測試支架，其特征在于所述框架、所述第一及第二輔助支撐件均由剛性材料制成。
5.如權利要求1所述的主板測試支架，其特征在于所述第一及第二輔助支撐件的上表面與所述框架的上表面除了螺孔的位置外均貼附一層絕緣材料。
6.如權利要求1所述的主板測試支架，其特征在于所述框架的輪廓尺寸與所述待測主板的輪廓尺寸相同。
全文摘要
一種主板測試支架，用于支撐一待測主板，所述主板測試支架包括一框架、一第一輔助支撐件及一第二輔助支撐件，所述框架包括一前壁、一后壁及兩側壁，所述前壁、所述后壁及兩側壁圍成一收容區(qū)，所述第一及第二輔助支撐件容置在所述收容區(qū)內，且所述第一及第二輔助支撐件的兩端分別固定在所述前壁及后壁的內側，所述第一及第二輔助支撐件的上表面與所述框架的前壁、后壁及兩側壁的上表面在同一平面，所述第一及第二輔助支撐件及所述框架上均設有對應所述待測主板上的通孔的螺孔以使螺柱可以穿過所述待測主板上的通孔及所述主板測試支架上的螺孔來固定并支撐所述待測主板。本發(fā)明防止了所述待測主板在測試時被壓彎變形。
文檔編號G06F11/26GK102339249SQ20101023916
公開日2012年2月1日 申請日期2010年7月28日 優(yōu)先權日2010年7月28日
發(fā)明者黃發(fā)生 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司