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一種通用接口測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法

文檔序號(hào):6336740閱讀:239來源:國(guó)知局
專利名稱:一種通用接口測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及集成電路測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法,尤其涉及一種通用接口測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法。
背景技術(shù)
隨著集成電路工藝的不斷發(fā)展以及集成電路(簡(jiǎn)稱“IC”)應(yīng)用領(lǐng)域的不斷深入,IC 芯片的設(shè)計(jì)復(fù)雜度和性能復(fù)雜度較以前有了本質(zhì)的提升,這對(duì)芯片設(shè)計(jì)公司和芯片應(yīng)用廠商的系統(tǒng)測(cè)試方案提出了更高的要求。當(dāng)前的IC芯片設(shè)計(jì)公司普遍采用兩種系統(tǒng)測(cè)試方案第一,建立基于服務(wù)器的軟件芯片仿真平臺(tái)。本方案主要是針對(duì)硬件代碼的覆蓋率測(cè)試及有限的模塊功能進(jìn)行測(cè)試; 第二,通過搭建板級(jí)的FPGA (現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列)或ASIC (專用集成電路)測(cè)試平臺(tái)。本方案主要針對(duì)模塊級(jí)和系統(tǒng)級(jí)的功能進(jìn)行測(cè)試。第一種方案是對(duì)硬件代碼級(jí)別的仿真,能夠追溯到較底層的系統(tǒng)實(shí)現(xiàn),但比第二種方案更耗時(shí),在模塊功能測(cè)試階段通常用來進(jìn)行功能錯(cuò)誤定位。對(duì)嵌入式軟件的測(cè)試通常采用搭建板級(jí)平臺(tái)的方式。板級(jí)平臺(tái)一般為包含F(xiàn)PGA 或ASIC芯片的PCB電路板和一塊測(cè)試控制板。測(cè)試控制板用來檢測(cè)信號(hào)、切換器件、模擬芯片外部行為、接口信號(hào)測(cè)試等。這一板級(jí)平臺(tái)的組成已經(jīng)得到實(shí)際應(yīng)用,并能滿足多個(gè)相類似項(xiàng)目的測(cè)試通用性要求。現(xiàn)有的軟件測(cè)試架構(gòu)主要有兩種第一,將測(cè)試代碼(含測(cè)試向量)和模塊驅(qū)動(dòng)代碼全部下載到測(cè)試芯片中;第二,將測(cè)試代碼(含測(cè)試向量)與模塊驅(qū)動(dòng)代碼分開,前者以腳本形式存放于PC端,后者下載至測(cè)試芯片,使用串口作為PC與測(cè)試平臺(tái)的連接。當(dāng)測(cè)試通訊接口模塊時(shí),兩種架構(gòu)均采用測(cè)試控制板上的通訊接口與PC進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸。第一種架構(gòu)的缺點(diǎn)是總代碼量受限于測(cè)試芯片的代碼容量大小,且無法完成隨機(jī)及自動(dòng)化的測(cè)試。這個(gè)問題可以在第二種架構(gòu)中得到解決,但第二種架構(gòu)存在需要人工切換接口、串口數(shù)據(jù)吞吐量過低、使用單接口對(duì)應(yīng)的讀卡機(jī)設(shè)備、無法實(shí)現(xiàn)在同一時(shí)刻多接口自動(dòng)傳輸?shù)膯栴}。這些問題會(huì)嚴(yán)重影響到軟件測(cè)試的工作效率和測(cè)試覆蓋率。需要人工切換接口則表明測(cè)試平臺(tái)并沒有做到真正的全自動(dòng)化。串口數(shù)據(jù)吞吐量過低,對(duì)于大數(shù)據(jù)量傳輸?shù)膽?yīng)用將是個(gè)潛在的瓶頸。使用單接口對(duì)應(yīng)的讀卡機(jī)設(shè)備,不利于軟件測(cè)試腳本的統(tǒng)一化,同時(shí)增加了設(shè)備費(fèi)用,且不能在同一時(shí)刻多接口自動(dòng)傳輸。在當(dāng)今多接口芯片應(yīng)用發(fā)展迅速的情形中,無法滿足測(cè)試的需求。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的提供一種通用接口測(cè)試系統(tǒng),不但能夠解決多接口測(cè)試的兼容問題, 而且能滿足大數(shù)據(jù)量的測(cè)試需求。采用通用的接口測(cè)試系統(tǒng)可滿足多接口芯片的測(cè)試需求,同時(shí)采用腳本自動(dòng)化測(cè)試代替人工測(cè)試,有效地降低人工操作成本,縮短測(cè)試周期,滿足應(yīng)用需求。
一種通用接口測(cè)試系統(tǒng),包含PC端測(cè)試腳本、通訊接口母板、通訊接口子板和測(cè)試平臺(tái)。測(cè)試平臺(tái)為FPGA或ASIC測(cè)試平臺(tái)。PC端測(cè)試腳本包含腳本運(yùn)行軟件以及PC端USB接口驅(qū)動(dòng)程序。通訊接口母板包含USB協(xié)議分析模塊和指令解析模塊。USB協(xié)議分析模塊包含USB 的A/D和D/A轉(zhuǎn)換模塊、對(duì)USB進(jìn)行軟件協(xié)議包分析的編碼、解碼驅(qū)動(dòng)模塊和接口開關(guān)。通訊接口子板根據(jù)不同應(yīng)用模塊需求獨(dú)立制版,可為RF接口子板、SCI7816接口子板或SD主機(jī)子板,通過子板內(nèi)部信號(hào)進(jìn)行不同接口的轉(zhuǎn)換。測(cè)試平臺(tái)包含待測(cè)試模塊的接口模塊和非接口模塊以及信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊。接口模塊用以接收腳本指令及發(fā)送反饋數(shù)據(jù);非接口模塊用以處理腳本中的測(cè)試命令和數(shù)據(jù),信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊用于查看內(nèi)部可探測(cè)管腳狀態(tài)。PC端通過USB接口與通訊接口母板連接,通訊接口母板通過硬線與通訊接口子板連接,通訊接口子板與測(cè)試平臺(tái)連接進(jìn)行測(cè)試通訊。一種通用接口測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試方法,包含以下測(cè)試內(nèi)容,分為兩部分流程 腳本命令發(fā)送流程
1、PC端將腳本命令通過PC端的USB驅(qū)動(dòng)程序發(fā)送至通訊接口母板;
2、通訊接口母板對(duì)該信號(hào)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換、協(xié)議解析、接口切換;
3、通訊接口子板上根據(jù)各端口協(xié)議進(jìn)行轉(zhuǎn)換;
4、測(cè)試平臺(tái)接口分別接收并進(jìn)行測(cè)試。反饋數(shù)據(jù)接收流程
1、測(cè)試平臺(tái)接口發(fā)送測(cè)試反饋數(shù)據(jù);
2、經(jīng)通訊接口子板上的端口協(xié)議轉(zhuǎn)換;
3、通訊接口母板上的協(xié)議解析、D/A轉(zhuǎn)換;
4、PC端USB端口接收并將測(cè)試結(jié)果反饋至PC端。采用本發(fā)明提供的測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法,能夠?qū)崿F(xiàn)多接口測(cè)試應(yīng)用同時(shí)測(cè)試的需求,采用USB接口能滿足吞吐大數(shù)據(jù)量的需求,采用自動(dòng)化的測(cè)試方式,能有效降低測(cè)試人工成本,提高測(cè)試效率。


圖1通用接口測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。 具體實(shí)施方案以下結(jié)合附圖1對(duì)本發(fā)明提出的通用接口測(cè)試系統(tǒng)及其測(cè)試方法進(jìn)行詳細(xì)的描述。PC端通過USB接口與通訊接口母板連接,將腳本命令通過PC端的USB驅(qū)動(dòng)程序發(fā)送至通訊接口母板。通訊接口母板對(duì)該信號(hào)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換、協(xié)議解析、接口切換等處理。通訊接口模板通過硬線與通訊接口子板連接,通訊接口子板上根據(jù)各端口協(xié)議進(jìn)行轉(zhuǎn)換。通訊接口子板與測(cè)試平臺(tái)連接進(jìn)行測(cè)試通訊,測(cè)試平臺(tái)接口分別接收并進(jìn)行測(cè)試。通訊接口母板主要由USB協(xié)議分析模塊和指令解析模塊兩部分構(gòu)成。USB協(xié)議分析模塊包含USB的A/D和D/A轉(zhuǎn)換模塊以及對(duì)USB進(jìn)行軟件協(xié)議包分析的編碼、解碼驅(qū)動(dòng)程序。指令解析部件是為了滿足多接口通訊的需要將PC下發(fā)的指令進(jìn)行解析,選擇哪些接口輸出、輸出哪些數(shù)據(jù)等,實(shí)現(xiàn)軟件可配置的集線器的功能。通訊接口子板根據(jù)不同模塊需求獨(dú)立制板,主要實(shí)現(xiàn)USB數(shù)字信號(hào)和所需模塊數(shù)字信號(hào)之間的協(xié)議轉(zhuǎn)換。通訊接口子板可以為RF接口通訊子板、SCI7816接口通訊子板或SD主機(jī)子板等。FPGA或ASIC測(cè)試平臺(tái)包含需測(cè)試模塊的接口模塊、非接口模塊及信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊。 接口模塊用以接收腳本指令及發(fā)送反饋數(shù)據(jù),非接口模塊用以處理腳本中的測(cè)試命令和數(shù)據(jù),信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊用于查看內(nèi)部可探測(cè)管腳狀態(tài)。測(cè)試平臺(tái)接口發(fā)送測(cè)試反饋數(shù)據(jù),經(jīng)通訊接口子板上的端口協(xié)議進(jìn)行轉(zhuǎn)換,數(shù)據(jù)經(jīng)通訊接口母板上的協(xié)議解析、D/A轉(zhuǎn)換,被PC端USB驅(qū)動(dòng)程序接收并反饋至PC端,完成測(cè)試過程。整個(gè)系統(tǒng)的測(cè)試過程可兼容多接口測(cè)試模塊需求,且采用USB通訊接口數(shù)據(jù)吞吐率大,能實(shí)現(xiàn)軟件和硬件兼容的自動(dòng)化測(cè)試。
權(quán)利要求
1.一種通用接口測(cè)試系統(tǒng),其特征在于包含PC端測(cè)試腳本、通訊接口母板、通訊接口子板和測(cè)試平臺(tái)。
2.如權(quán)利要求1所述的一種通用接口測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述測(cè)試平臺(tái)為FPGA或 ASIC平臺(tái)。
3.如權(quán)利要求1所述的一種通用接口測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述通訊接口母板包含 USB協(xié)議分析模塊和指令解析模塊。
4.如權(quán)利要求1所述的一種通用接口測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述通訊接口子板根據(jù)不同應(yīng)用獨(dú)立制板,為RF接口子板、SCI7816接口子板或SD主機(jī)子板。
5.如權(quán)利要求1、3或4所述的一種通用接口測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述通訊接口母板通過硬線與通訊接口子板連接。
6.如權(quán)利要求1所述的一種通用接口測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述測(cè)試平臺(tái)包含接口模塊、非接口模塊和信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊。
7.如權(quán)利要求1所述的一種通用接口測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試方法,其特征在于包含腳本命令發(fā)送流程和測(cè)試數(shù)據(jù)反饋流程。
8.如權(quán)利要求7所述的一種通用接口測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試方法,其特征在于所述腳本命令發(fā)送流程為(1)PC端將腳本命令通過PC端的USB驅(qū)動(dòng)程序發(fā)送至通訊接口母板;(2)通訊接口母板對(duì)該信號(hào)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換、協(xié)議解析、接口切換;(3)通訊接口子板上根據(jù)各端口協(xié)議進(jìn)行轉(zhuǎn)換;(4)測(cè)試平臺(tái)接口分別接收并進(jìn)行測(cè)試。
9.如權(quán)利要求7所述的一種通用接口測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試方法,其特征在于所述測(cè)試數(shù)據(jù)反饋流程為(1)測(cè)試平臺(tái)接口發(fā)送測(cè)試反饋數(shù)據(jù);(2)數(shù)據(jù)經(jīng)通訊接口子板上的端口進(jìn)行協(xié)議轉(zhuǎn)換;(3)數(shù)據(jù)到達(dá)通訊接口母板,進(jìn)行協(xié)議解析、D/A轉(zhuǎn)換;(4)PC端USB端口接收并將測(cè)試結(jié)果反饋至PC端。
全文摘要
本發(fā)明提供一種通用接口測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法。通用測(cè)試系統(tǒng)由PC端測(cè)試腳本、通訊接口母板、通訊接口子板和測(cè)試平臺(tái)構(gòu)成。測(cè)試平臺(tái)為FPGA或ASIC平臺(tái)。PC端通過USB接口與通訊接口母板連接,通訊接口母板通過硬線與通訊接口子板連接,通訊接口子板與測(cè)試平臺(tái)連接進(jìn)行測(cè)試通訊。通訊子接口可根據(jù)測(cè)試需求獨(dú)立制板。同時(shí)本發(fā)明還提供一種通用接口測(cè)試系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)方法。采用本發(fā)明所述的測(cè)試系統(tǒng)及方法,能夠?qū)崿F(xiàn)多接口測(cè)試應(yīng)用同時(shí)測(cè)試的需求,采用USB接口滿足了吞吐大數(shù)據(jù)量的需求,自動(dòng)化的測(cè)試方式能有效降低測(cè)試人工成本,提高測(cè)試效率。
文檔編號(hào)G06F11/267GK102479134SQ20101055887
公開日2012年5月30日 申請(qǐng)日期2010年11月25日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月25日
發(fā)明者丁穎 申請(qǐng)人:上海華虹集成電路有限責(zé)任公司
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