專利名稱：Sata接口測試裝置及測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種SATA(Serial Advanced Technology Attachment，串行高階配置)接口測試裝置及測試方法。
背景技術(shù)：
電腦主板常用的硬盤接口有IDEantegrated Drive Electronics，整合電子式驅(qū)動)、ATA (Advanced Technology Attachment，高階配置)以及 SATA 三種標(biāo)準(zhǔn)。其中 SATA 接口相較前兩者具有更高的數(shù)據(jù)傳輸率與更少的引腳，因而更加符合未來的接口標(biāo)準(zhǔn)發(fā)展趨勢。SATA接口目前已逐漸代替并行的ATA接口而發(fā)展成為電腦中的常見接口，現(xiàn)在電腦主板上至少設(shè)有4個SATA接口，用來連接外部SATA硬盤及光驅(qū)等設(shè)備。電腦主板在裝配完成之后，需經(jīng)過全面的功能測試，其中包括對主板上各種接口的測試。在對主板的多個SATA接口進行測試時，通常是通過將每一 SATA接口連接一 SATA 硬盤來分別進行測試。若使用一個SATA硬盤，則需要將該SATA硬盤分別連接至所述多個 SATA接口，造成所述SATA硬盤的反復(fù)多次插拔，容易造成SATA硬盤的損壞。由于硬盤的價格一般較高，因此在大規(guī)模的生產(chǎn)線應(yīng)用時將會帶來較多的額外成本。

發(fā)明內(nèi)容
針對上述問題，有必要提供一種只需一個SATA硬盤即可完成待測主板的多個 SATA接口測試的SATA接口測試裝置。另，還有必要提供一種采用上述的SATA接口測試裝置對待測主板的多個SATA接口進行測試的測試方法。一種SATA接口測試裝置，用于對待測主板的多個SATA接口進行測試，所述SATA 接口測試裝置包括與所述待測主板的多個SATA接口數(shù)量相當(dāng)?shù)亩鄠€SATA接口，所述SATA接口測試裝置的多個SATA接口一一對應(yīng)連接至所述待測主板的多個SATA接口 ；USB接口，連接至所述待測主板的USB接口，所述SATA接口測試裝置的USB接口用于接收所述待測主板傳送的選擇信號；切換單元，連接至外部SATA硬盤及所述SATA接口測試裝置的多個SATA接口；及微處理器，連接至所述SATA接口測試裝置的USB接口及切換單元，所述微處理器根據(jù)所述選擇信號控制所述切換單元選擇性地連接所述所述待測主板的多個SATA接口之一至所述SATA硬盤。一種上述SATA接口測試裝置的SATA接口測試方法，用于測試待測板SATA接口的功能是否正常，該方法包括如下步驟待測主板通過所述USB接口發(fā)送用于選通所述多個SATA接口其中之一的選擇信號至所述SATA接口測試裝置的USB接口；微處理器根據(jù)接收到的所述選擇信號控制切換單元選通該選擇信號對應(yīng)的待測主板的SATA接口與SATA硬盤建立連接；待測主板檢測到所述SATA硬盤；待測主板通過被選通的所述SATA接口對所述SATA硬盤進行數(shù)據(jù)的寫入及讀出， 以判斷被選通的所述SATA接口功能是否正常；采用上述步驟對待測主板其余的SATA接口進行測試。所述的SATA接口測試裝置通過設(shè)置一切換單元分別連接至所述待測主板的多個 SATA接口及SATA硬盤，并通過所述待測主板發(fā)送選擇信號選擇性地選通所述多個SATA接口中之一進行測試，實現(xiàn)了只需一個SATA硬盤即可完成多個SATA接口的的測試，且所述 SATA硬盤無需反復(fù)插拔，有效防止SATA硬盤因反復(fù)插拔造成的損壞，同時降低了測試成本。


圖1為本發(fā)明較佳實施方式的SATA接口測試裝置用于測試待測主板的SATA接口的功能模塊圖。圖2為圖1所示SATA接口測試裝置對待測主板的SATA接口進行測試的流程圖。主要元件符號說明SATA接口測試裝置10USB 接口11、53微處理器12SATA 接口13、51切換單元14電源15SATA 硬盤30待測主板50
具體實施例方式請參閱圖1，本發(fā)明較佳實施方式的SATA接口測試裝置10用于連接SATA硬盤30 至待測主板50的多個SATA接口 51，以實現(xiàn)對所述待測主板50的多個SATA接口 51進行功能測試。所述SATA接口測試裝置10包括U SB接口 11、與所述USB接口 11連接的微處理器12、與所述待測主板50的SATA接口 51數(shù)量相當(dāng)?shù)亩鄠€SATA接口 13、與所述微處理器 12連接的切換單元14及電源15。所述USB接口 11通過數(shù)據(jù)線連接至所述待測主板50的USB接口 53，以接收所述待測主板50傳送的用于選通所述多個SATA接口 13中之一的選擇信號。所述微處理器12 接收該選擇信號并經(jīng)過處理后傳送至所述切換單元14。所述多個SATA接口 13均連接至所述切換單元14，且所述多個SATA接口 13通過數(shù)據(jù)線分別與所述待測主板50的多個SATA 接口一一對應(yīng)連接。所述切換單元14通過數(shù)據(jù)線連接至所述SATA硬盤30，所述切換單元 14接收到該微處理器12處理后的選擇信號后，根據(jù)所述選擇信號選擇性的連通其中一個 SATA接口 13至所述SATA硬盤30，從而實現(xiàn)所述待測主板50的多個SATA接口 51在不同時間段內(nèi)分別與同一 SATA硬盤30連接，實現(xiàn)測試。所述電源15連接至所述SATA硬盤30， 用于為所述SATA硬盤30提供工作電壓。在本發(fā)明較佳實施方式中，所述切換單元14可以為譯碼器或者多工器。請參閱圖2，利用本發(fā)明SATA接口測試裝置10對所述待測主板50的多個SATA接口 51進行測試時，包括如下步驟步驟Sl 待測主板50發(fā)送選擇信號至所述SATA接口測試裝置10。待測主板50通過所述USB接口 53發(fā)送用于選通所述多個SATA接口 51其中之一的選擇信號至所述SATA 接口測試裝置10的USB接口 11。步驟S2 微處理器12根據(jù)所述選擇信號控制所述切換單元14選通該選擇信號對應(yīng)的SATA接口 13與SATA硬盤30建立連接。即選通待測主板50的其中一個SATA接口 51 與所述SATA硬盤30建立連接。步驟S3 待測主板50檢測到所述SATA硬盤。步驟S4 測試被選通的所述SATA接口 51。待測主板50通過被選通的所述SATA 接口 51對所述SATA硬盤30進行數(shù)據(jù)的寫入及讀出，以判斷被選通的所述SATA接口 51功能是否正常。步驟S5 采用上述步驟S1-S4對其余的SATA接口 51進行測試，直至完成所述待測主板50的所有SATA接口 51的測試。所述的SATA接口測試裝置10通過設(shè)置一切換單元14分別連接至所述待測主板 50的多個SATA接口 51及SATA硬盤30，并通過所述待測主板50發(fā)送選擇信號選擇性地選通所述多個SATA接口 51中之一進行測試，實現(xiàn)了只需一個SATA硬盤30即可完成多個 SATA接口 51的測試，且所述SATA硬盤30無需反復(fù)插拔，有效防止SATA硬盤30因反復(fù)插拔造成的損壞，同時降低了測試成本。另外，本領(lǐng)域技術(shù)人員還可在本發(fā)明權(quán)利要求公開的范圍和精神內(nèi)做其他形式和細節(jié)上的各種修改、添加和替換。當(dāng)然，這些依據(jù)本發(fā)明精神所做的各種修改、添加和替換等變化，都應(yīng)包含在本發(fā)明所要求保護的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種SATA接口測試裝置，用于對待測主板的多個SATA接口進行測試，其特征在于， 所述SATA接口測試裝置包括與所述待測主板的多個SATA接口數(shù)量相當(dāng)?shù)亩鄠€SATA接口，所述SATA接口測試裝置的多個SATA接口一一對應(yīng)連接至所述待測主板的多個SATA接口 ；USB接口，連接至所述待測主板的USB接口，所述SATA接口測試裝置的USB接口用于接收所述待測主板傳送的選擇信號；切換單元，連接至外部SATA硬盤及所述SATA接口測試裝置的多個SATA接口；及微處理器，連接至所述SATA接口測試裝置的USB接口及切換單元，所述微處理器根據(jù)所述選擇信號控制所述切換單元選擇性地連接所述待測主板的多個SATA接口之一至所述 SATA硬盤。
2.如權(quán)利要求1所述的SATA接口測試裝置，其特征在于所述切換單元為多工器或譯碼器。
3.如權(quán)利要求1或2所述的SATA接口測試裝置，其特征在于所述SATA接口測試裝置還包括電源，所述電源電性連接至所述SATA硬盤，用于為所述SATA硬盤提供工作電壓。
4.一種如權(quán)利要求1所述的SATA接口測試裝置的SATA接口測試方法，用于測試待測板SATA接口的功能是否正常，該方法包括如下步驟待測主板通過所述USB接口發(fā)送用于選通所述多個SATA接口其中之一的選擇信號至所述SATA接口測試裝置的USB接口；微處理器根據(jù)接收到的所述選擇信號控制切換單元選通該選擇信號對應(yīng)的待測主板的SATA接口與SATA硬盤建立連接；待測主板檢測到所述SATA硬盤；待測主板通過被選通的所述SATA接口對所述SATA硬盤進行數(shù)據(jù)的寫入及讀出，以判斷被選通的所述SATA接口功能是否正常；采用上述步驟對待測主板其余的SATA接口進行測試。
全文摘要
本發(fā)明提供一種SATA接口測試裝置，所述SATA接口測試裝置包括USB接口、切換單元、微處理器及多個SATA接口，所述SATA接口測試裝置的USB接口用于接收所述待測主板傳送的選擇信號；所述微處理器連接至所述SATA接口測試裝置的USB接口及切換單元，所述微處理器根據(jù)所述選擇信號控制所述切換單元選擇性地連接所述所述待測主板的多個SATA接口之一至所述SATA硬盤。本發(fā)明所述的SATA接口測試裝置只需一個SATA硬盤即可完成多個SATA接口的的測試，有效防止SATA硬盤因反復(fù)插拔造成的損壞，同時降低了測試成本。本發(fā)明還涉及一種上述SATA接口測試裝置的測試方法。
文檔編號G06F11/267GK102467431SQ201010551199
公開日2012年5月23日 申請日期2010年11月19日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月19日
發(fā)明者張萬宏 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司