專利名稱：Mxm接口測試連接卡及具有該測試連接卡的測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試連接卡及具有該測試連接卡的測試系統(tǒng)，尤其涉及一種應(yīng)用于移動 PCI-E 模組接口(mobile PCI-Express module interface，以下簡稱 MXM 接口)的測試連接卡及具有該測試連接卡的測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
移動PCI-E模組接口 (mobile PCI-E module，以下簡稱MXM接口)是一種基于 PCI-Express界面，用于連接圖形處理器、顯卡等設(shè)備的常用接口。其采用與PCI-Express 兼容的通訊協(xié)議，可應(yīng)用于多種不同類型的筆記本產(chǎn)品，從而受到普遍歡迎。為保證主機板上的MXM接口可以正常工作，通常需要在產(chǎn)品出廠前對所述MXM接口進行信號測試，以驗證所述MXM接口是否符合PCI-E規(guī)范的要求。目前的測試方法通常是在主板上的相應(yīng)測試點焊線以引出對應(yīng)的信號線，然后組成接地回路，再用探棒接觸信號線以進行探測。然而，由于對每一產(chǎn)品的測試都需要在主板上找到測試點，再通過焊線將信號線引出來加以測試，不僅費時費力，而且還很容易損壞主機板。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述內(nèi)容，有必要提供一種方便測試的MXM接口測試連接卡。另，有必要提供一種具有該測試連接卡的測試系統(tǒng)。一種MXM接口測試連接卡，用于連接待測試的MXM插槽，所述MXM插槽內(nèi)設(shè)置一組信號傳輸引腳，所述MXM接口測試連接卡包括金手指及一組信號測試引腳，所述金手指包括若干信號連接引腳，所述金手指插接于該MXM插槽內(nèi)，且所述信號連接引腳分別與相應(yīng)的信號傳輸引腳相連，所述信號測試引腳分別與相應(yīng)的信號連接引腳電連接，通過對每一信號測試引腳的信號進行測試，以判斷與每一信號測試引腳相應(yīng)的信號傳輸引腳性能。一種測試系統(tǒng)，用于測試MXM插槽的性能，所述MXM插槽內(nèi)設(shè)置一組信號傳輸引腳，所述測試系統(tǒng)包括上述MXM接口測試連接卡及測試設(shè)備，所述測試設(shè)備與所述信號測試引腳相連，用于對每一信號測試引腳的信號進行測試，以判斷與每一信號測試引腳相應(yīng)的信號傳輸引腳性能。上述測試系統(tǒng)通過設(shè)置一 MXM接口測試連接卡，使得在測試每一主機板上MXM插槽的性能時，僅需將MXM接口測試連接卡插接在該MXM插槽上，然后通過直接測試該信號測試引腳的性能即可測得該MXM插槽的性能。該測試系統(tǒng)操作簡單方便，且可有效避免主板因焊線而可能造成的損壞，節(jié)約了測試的成本。


圖1為本發(fā)明較佳實施例的具有MXM接口測試連接卡的測試系統(tǒng)的功能框圖。圖2為圖1的MXM接口測試連接卡的平面示意圖。主要元件符號說明
測試系統(tǒng)100
MXM插槽200
MXM接口測試連接卡11
連接件12
測試設(shè)備13
電路板111
金手指112
濾波單元113
信號傳輸引腳RXO-RX17
信號連接引腳TXO-TX17
電容C0-C17
信號測試引腳DO-D17
凸部11具體實施例方式請參照圖1與圖2，本發(fā)明較佳實施方式提供一種測試系統(tǒng)100，用于測試一設(shè)置于主板(圖未示)上的MXM插槽200是否能夠正常工作。所述測試系統(tǒng)包括一 MXM接口測試連接卡11、至少一連接件12及一測試設(shè)備13。所述MXM接口測試連接卡11可插接于MXM 插槽200內(nèi)。在本發(fā)明較佳實施例中，該連接件12為一無線電天線接口(Sub-Miniature-A， 以下簡稱SMA)型連接器，該測試設(shè)備13為一示波器。該連接件12用于連接所述MXM接口測試連接卡11及所述測試設(shè)備13，以供測試設(shè)備13測試所述MXM插槽200的信號傳輸質(zhì)量。該MXM插槽200內(nèi)設(shè)置一組信號傳輸引腳RX0-RX17，其中信號傳輸引腳RX0-RX15 用于數(shù)據(jù)信號的傳輸；信號傳輸引腳RX16-RX17用于時鐘信號的傳輸。所述MXM接口測試連接卡11包括一電路板111、一金手指112、一濾波單元113及一組信號測試引腳D0-D17。 該金手指112設(shè)置于電路板111的一側(cè)，包括一組信號連接引腳TX0-TX17，每一信號連接引腳均根據(jù)PCI-E標準定義，用于插接該待測MXM插槽200，并與MXM插槽200內(nèi)相應(yīng)的信號傳輸引腳電連接，以接收來自MXM插槽200的數(shù)據(jù)信號及時鐘信號。所述電路板111上與金手指112相連的兩端分別設(shè)有一凸部114，所述凸部114用于為金手指112在MXM插槽 200上的插拔提供便利，并保護該金手指112。該濾波單元113包括一組電容C0-C17，所述電容C0-C17的一端通過電路板111上的走線連接至與其相應(yīng)的信號連接引腳TX0-TX17上，另一端連接至相應(yīng)的信號測試引腳 D0-D17，用于將MXM插槽200的信號中的直流成分濾除，并傳送給該信號測試引腳D0-D17， 進而提高測試的準確度及精密度。所述信號測試引腳D0-D17設(shè)置在電路板111上，且與金手指112相對設(shè)置。該信號測試引腳D0-D17的一端分別與電容C0-C17的另一端相連，該信號測試引腳D0-D17的另一端的形狀及結(jié)構(gòu)與該連接件12相應(yīng)，可通過該連接件12連入至測試設(shè)備13上，進而通過所述測試設(shè)備13對所述MXM插槽200中的信號進行測量。測試時，將所述MXM接口測試連接卡11中的金手指112對準該MXM插槽200，以將該MXM接口測試連接卡11插接在所述待測MXM插槽200上，并使得該等信號連接引腳 TX0-TX15分別與相應(yīng)的信號傳輸引腳RX0-RX15相連。接著將連接件12的一端連接到測試設(shè)備13上，另一端依次連接至該等信號測試引腳D0-D17，以接通該MXM接口測試連接卡11及測試設(shè)備13。上電啟動裝載有所述MXM插槽200的電腦主板。此時，當MXM插槽 200輸出一頻率為2. 5G的信號時，使用者可通過測試設(shè)備13觀察電腦主板工作時每一信號測試引腳D0-D15輸出的波形，以分析及判斷與信號測試引腳D0-D15對應(yīng)的信號傳輸引腳RX0-RX15的信號輸出是否合格。當MXM插槽200輸出一頻率為5G的信號時，使用者可通過觀察電腦主板工作時每一信號測試引腳D0-D17輸出的波形，以分析及判斷與代表數(shù)據(jù)信號的信號測試引腳D0-D15對應(yīng)的信號傳輸引腳RX0-RX15及與代表時鐘信號的信號測試引腳D16-D17相應(yīng)的信號傳輸引腳RX16-RX17的信號輸出是否合格。顯然，本發(fā)明的測試系統(tǒng)100通過設(shè)置一 MXM接口測試連接卡11，在測試MXM插槽200的性能時，僅需將MXM接口測試連接卡11插接在該MXM插槽200上，便可通過直接測試該信號測試引腳D0-D15的性能，以直接測得該MXM插槽200的性能。該測試系統(tǒng)100 操作簡單方便，且可有效避免主板因焊線而可能造成的損壞，節(jié)約了測試的成本。另外，本領(lǐng)域技術(shù)人員還可在本發(fā)明權(quán)利要求公開的范圍和精神內(nèi)做其他形式和細節(jié)上的各種修改、添加和替換。當然，這些依據(jù)本發(fā)明精神所做的各種修改、添加和替換等變化，都應(yīng)包含在本發(fā)明所要求保護的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種MXM接口測試連接卡，用于連接待測試的MXM插槽，所述MXM插槽內(nèi)設(shè)置一組信號傳輸引腳，其特征在于所述MXM接口測試連接卡包括金手指及一組信號測試引腳，所述金手指包括若干信號連接引腳，所述金手指插接于該MXM插槽內(nèi)，且所述信號連接引腳分別與相應(yīng)的信號傳輸引腳相連，所述信號測試引腳分別與相應(yīng)的信號連接引腳電連接，通過對每一信號測試引腳的信號進行測試，以判斷與每一信號測試引腳相應(yīng)的信號傳輸引腳性能。
2.如權(quán)利要求1所述的MXM接口測試連接卡，其特征在于所述MXM接口測試連接卡包括電路板，所述金手指及信號測試引腳設(shè)置在所述電路板上，且二者相對設(shè)置。
3.如權(quán)利要求2所述的MXM接口測試連接卡，其特征在于所述電路板與所述金手指相連的兩端分別設(shè)有一凸部，用于為金手指在MXM插槽上的插拔提供便利，并保護該金手指。
4.如權(quán)利要求1所述的MXM接口測試連接卡，其特征在于所述MXM接口測試連接卡包括一濾波單元，所述濾波單元連接該信號連接引腳及信號測試引腳，用于將MXM插槽信號中的直流成分濾除，并傳送給該信號測試引腳。
5.如權(quán)利要求4所述的MXM接口測試連接卡，其特征在于所述濾波單元為一組數(shù)量與信號連接引腳數(shù)量相應(yīng)的電容，每一電容的兩端分別連接至相應(yīng)的信號連接引腳及信號測試引腳。
6.一種測試系統(tǒng)，用于測試MXM插槽的性能，所述MXM插槽內(nèi)設(shè)置一組信號傳輸引腳， 其特征在于所述測試系統(tǒng)包括如權(quán)利要求1-6中任一項所述的MXM接口測試連接卡及測試設(shè)備，所述測試設(shè)備與所述信號測試引腳相連，用于對每一信號測試引腳的信號進行測試，以判斷與每一信號測試引腳相應(yīng)的信號傳輸引腳性能。
7.如權(quán)利要求6所述的測試系統(tǒng)，其特征在于所述測試系統(tǒng)包括至少一連接件，所述連接件的一端固定至該測試設(shè)備上，另一端連接至相應(yīng)的信號測試引腳，以連接所述測試設(shè)備及MXM接口測試連接卡。
8.如權(quán)利要求7所述的測試系統(tǒng)，其特征在于該連接件為SMA型連接器。
全文摘要
一種MXM接口測試連接卡及具有該MXM接口測試連接卡的測試系統(tǒng)，該MXM接口測試連接卡用于連接待測試的MXM插槽，所述MXM插槽內(nèi)設(shè)置一組信號傳輸引腳，所述MXM接口測試連接卡包括金手指及一組信號測試引腳，所述金手指包括若干信號連接引腳，所述金手指插接于該MXM插槽內(nèi)，且所述信號連接引腳分別與相應(yīng)的信號傳輸引腳相連，所述信號測試引腳分別與相應(yīng)的信號連接引腳電連接，通過對每一信號測試引腳的信號進行測試，以判斷與每一信號測試引腳相應(yīng)的信號傳輸引腳性能。
文檔編號G06F11/267GK102411528SQ201010289190
公開日2012年4月11日 申請日期2010年9月21日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月21日
發(fā)明者李發(fā)存, 楊波, 王太誠, 馬友諒 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司