專利名稱：轉(zhuǎn)接裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種轉(zhuǎn)接技術(shù)，更詳而言之，涉及一種可提供邏輯分析儀(Logic Analyzer;LA)及除錯卡(debug card)同時與待測 外部設(shè)備互連(Pedpherd Component Interconnect, PCI)總線電性連 接并獲取其信號的轉(zhuǎn)接裝置。
背景技術(shù)：
近年來，國內(nèi)的電子業(yè)蓬勃發(fā)展，為了使得電子產(chǎn)品的可靠度提 升，必須不斷地思考更好的測試方法，從而電子產(chǎn)品有更高的質(zhì)量。 然而，服務(wù)器與個人電腦占了整個電子產(chǎn)品的大宗，為了使服務(wù)器與 個人電腦的功能更強(qiáng)大， 一般而言，主機(jī)板都有多個擴(kuò)充用的插槽， 以方便使用者隨心所欲的插接一些功能性的適配卡，藉以增強(qiáng)服務(wù)器 與個人電腦的功能。舉例來說，外部設(shè)備互連接口為電腦系統(tǒng)中用來作為擴(kuò)充周邊元 件的連接接口，由于PCI接口的總線傳輸速度較傳統(tǒng)ISA接口的總線 快，因此，目前已廣泛應(yīng)用于主機(jī)板的外接擴(kuò)充接口。 PCI插槽的規(guī)格 具有120腳位，其中電源(PWR)及接地(GND)占有50個腳位，其余 70腳位則用于信號傳輸。由于PCI適配卡屬于電腦系統(tǒng)周邊的重要配 備，在研發(fā)或量產(chǎn)階段，都必須在電腦主機(jī)上作反復(fù)的信號測試，以 確保其產(chǎn)品質(zhì)量。傳統(tǒng)上，用于電腦測試的適配卡測試系統(tǒng)(例如為邏輯分析儀) 需直接連接于電腦機(jī)殼內(nèi)的電腦主機(jī)板上以抓取PCI總線上的信號進(jìn) 行分析，不僅操作不便且費(fèi)時。故于現(xiàn)有技術(shù)中， 一般是額外提供有 一排線二端焊設(shè)有符合PCI規(guī)格的連接件所組成的PCI轉(zhuǎn)接卡，該P(yáng)CI 轉(zhuǎn)接卡的一端通過由PCI轉(zhuǎn)接卡引出多條導(dǎo)線并將其分別焊接至插置 于PC工插槽的PCI適配卡上對應(yīng)的金手指(作為信號輸出端子)，另一 端則為一例如與上述各該導(dǎo)線電性連接的連接端口 ，以供電性連接至遠(yuǎn)程的邏輯分析儀，從而供其抓取pci總線上的信號進(jìn)行測試。但是，上述現(xiàn)有技術(shù)卻隱含有許多缺陷首先，因PCI轉(zhuǎn)接卡與 PCI插槽的PCI適配卡的連接是采用導(dǎo)線對應(yīng)焊接的方式，因PCI插槽 的腳位眾多，故所需導(dǎo)線數(shù)量眾多，導(dǎo)致整個焊接作業(yè)十分繁復(fù)，且 每一次測試時需要對測試的功能引腳進(jìn)行軟件配置，若進(jìn)行多次測試， 不僅容易發(fā)生焊接順序的不一致，而且對需要測試的功能引腳進(jìn)行反復(fù)軟件配置亦可能產(chǎn)生錯誤；更甚的是，于該現(xiàn)有技術(shù)中，于由該pci插槽只能引出一組測試線路，即于測試過程中只能提供一測試裝置例如邏輯分析儀電性連接至該pci插槽，而不能同時令其它測試裝置(例 如Port 80/84的調(diào)試卡)亦電性連接至該P(yáng)CI插槽，嚴(yán)重限制其應(yīng)用， 不能很好地充分利用各測試裝置進(jìn)行該P(yáng)CI插槽的測試。因此，如何提供一種可供多個測試裝置同時電性連接的轉(zhuǎn)接裝置， 藉以克服現(xiàn)有轉(zhuǎn)接設(shè)計中因只能提供一組連接線路導(dǎo)致測試不便且效 果受影響的弊端，遂成為目前亟待解決的問題。實用新型內(nèi)容鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，本實用新型的主要目的在于提供一種 轉(zhuǎn)接裝置，可提供邏輯分析儀(Logic Analyzer ;LA)及除錯卡(debug card)同時與待測PCI總線電性連接并獲取其信號。本實用新型的另一目的在于提供一結(jié)構(gòu)簡單的轉(zhuǎn)接裝置。 為達(dá)到上述以及其它目的，本實用新型即提供一種轉(zhuǎn)接裝置，應(yīng) 用于夕卜咅P設(shè)備互連(Pedpherd Component Interconnect, PCI)總線 的信號測試作業(yè)中，以提供邏輯分析儀(Logic Analyzer;LA)以及除 錯卡(debug card)同時通過該轉(zhuǎn)接裝置獲取該P(yáng)CI總線的信號，其 中該待測PCI總線上裝設(shè)有一具有多個信號輸出端子的PCI適配卡， 該轉(zhuǎn)接裝置包括多個信號輸入端子，分別與該P(yáng)CI適配卡的多個信 號輸出端子對應(yīng)電性連接；以及多個信號輸出端，分別與所述信號輸 入端子的其中一端子對應(yīng)電性連接，其中，每一信號輸出端中包括供 電性連接該邏輯分析儀的信號輸出端子以及供電性連接該除錯卡的信 號輸出端子。本實用新型的轉(zhuǎn)接裝置復(fù)包括分別電性連接每一信號輸出端其中一信號輸出端子的二集線單元，且各該集線單元包括具有多個信號輸 出端子且信號特性相同的輸出連接端口 。本實用新型的轉(zhuǎn)接裝置主要是通過多個信號輸入端子分別與該 PCI適配卡的多個信號輸出端子對應(yīng)電性連接；以及多個信號輸出端， 每一信號輸出端分別與所述信號輸入端子中的一端子對應(yīng)電性連接， 其中，每一信號輸出端中包括一對信號輸入端子，其中一信號輸入端 子是供邏輯分析儀電性連接，另一信號輸入端子則是供除錯卡電性連接。相比于現(xiàn)有技術(shù)中PCI轉(zhuǎn)接卡僅能提供單一測試裝置與待測PCI 總線電性連接，可提供更多的轉(zhuǎn)接功能，且相應(yīng)提高測試效果；此外， 該轉(zhuǎn)接裝置的結(jié)構(gòu)簡單，節(jié)省電子零件以及制造成本。


圖1為顯示本實用新型的轉(zhuǎn)接裝置一實施例的基本架構(gòu)示意圖。 元件標(biāo)號的簡單說明1 轉(zhuǎn)接裝置10 信號輸入端子12 信號輸出端120、 122信號輸出端子14 集線單元16 輸出連接端口20 外部設(shè)備互連(PCI)總線21 外部設(shè)備互連(PCI)適配卡 210 信號輸出端子30 邏輯分析儀31 除錯卡具體實施方式
以下通過特定的具體實例說明本實用新型的實施方式，本領(lǐng)域技 術(shù)人員可由本說明書所揭示的內(nèi)容輕易地了解本實用新型的其它優(yōu)點 與功效。本實用新型亦可通過其它不同的具體實例加以施行或應(yīng)用， 本說明書中的各項細(xì)節(jié)亦可基于不同觀點與應(yīng)用，在不背離本實用新型的精神下進(jìn)行各種修飾與變更。請參閱圖1，其是顯示本實用新型的轉(zhuǎn)接裝置一實施例的基本架構(gòu)示意圖。本實用新型的轉(zhuǎn)接裝置1應(yīng)用于外部設(shè)備互連(Pedpherd Component Interconnect, PCI)總線20的信號測試作業(yè)中，以提供 邏輯分析儀(Logic Analyzer;LA) 30以及除錯卡(debug card) 31 同時通過該轉(zhuǎn)接裝置1獲取該P(yáng)CI總線20的信號，其中該待測PCI總 線20上裝設(shè)有一具有多個信號輸出端子210的PCI適配卡21。于本實 施例中，該邏輯分析儀(Logic Analyzer;LA)是用以抓取PCI總線20 上的信號并進(jìn)行分析；該除錯卡(debug card) 31是例如一 Port 80 或Port 84適配卡，用以于測試過程中顯示所測PC工總線20上接腳的 狀態(tài)，以供判斷該引腳是否為正常。由于該邏輯分析儀及該除錯卡31 的結(jié)構(gòu)與作用原理俱為現(xiàn)有技術(shù)，故不再為文贅述。應(yīng)注意的是，為了簡化附圖并使本實用新型的特征更為清楚易懂， 本實施例中是顯示本實用新型的轉(zhuǎn)接裝置應(yīng)用于具有一個PCI總線20 的電子裝置中，但電子裝置中可有其它元件或者更多的PCI總線20， 且各元件及PCI總線20的設(shè)置位置亦可視實際實施狀況進(jìn)行調(diào)整，而 非局限于本實施例中所示的。于本實施例中，本實用新型的轉(zhuǎn)接裝置1可包括多個信號輸入 端子10、電性連接該多個信號輸入端子10的多個信號輸出端12、以 及電性連接該多個信號輸出端12的二集線單元14。該多個信號輸入端子10分別與該P(yáng)CI適配卡21的多個信號輸出 端子210對應(yīng)電性連接。于本實施例中，該P(yáng)CI適配卡21的多個信號 輸出端子210具體指金手指(finger),但非以此為限。同時，該多個 信號輸入端子10是可例如通過導(dǎo)線(未圖標(biāo))焊接至所述信號輸出端 子210上而實現(xiàn)電性連接的。該多個信號輸出端12分別與所述信號輸入端子10的其中一端子 對應(yīng)電性連接，其中，每一信號輸出端12中包括供電性連接該邏輯分 析儀30的信號輸出端子120，以及供電性連接該除錯卡31的信號輸出 端子122。亦即，每一信號輸出端12包括一對信號輸出端子120及122。該二集線單元14分別電性連接每一信號輸出端12其中一信號輸 出端子(例如信號輸出端子120)，藉以形成具有多個信號輸出端子且信號特性相同的二輸出連接端口 16，其中每一個輸出連接端口 16均具 有與該P(yáng)CI適配卡21的多個信號輸出端子210對應(yīng)的信號連接，由此， 該二輸出連接端口 16可分別與該邏輯分析儀30以及該除錯卡31電性 連接，以供該該邏輯分析儀30及除錯卡31在同一時間對該P(yáng)CI總線 20的各接腳的信號執(zhí)行測試作業(yè)。值得注意的是，因該P(yáng)CI總線20 的信號測試作業(yè)為一般的公知技術(shù)，故在此不予以贅述。綜上所述，本實用新型的轉(zhuǎn)接裝置是通過多個信號輸入端子分別 與該P(yáng)CI適配卡的多個信號輸出端子對應(yīng)電性連接；以及多個信號輸 出端，分別與所述信號輸入端的其中一端子對應(yīng)電性連接，其中該多 個信號輸出端包括供電性連接該邏輯分析儀的信號輸出端子以及供電 性連接該除錯卡的信號輸出端子，從而可提供邏輯分析儀及除錯卡同 時與待測PCI總線電性連接并進(jìn)行信號測試。相比于現(xiàn)有技術(shù)中PCI 轉(zhuǎn)接卡僅能提供單一測試裝置與待測PCI總線電性連接的單純轉(zhuǎn)接功 能，本實用新型可提供更多的轉(zhuǎn)接功能；此外，本實用新型的轉(zhuǎn)接裝 置可提供至少二或更多的測試單元同時電性連接，相比于現(xiàn)有技術(shù)中 的PCI轉(zhuǎn)接卡電性連接不同的測試裝置，而需不停地進(jìn)行連接點的反 復(fù)插拔，操作非常繁瑣且不便，且易造成連接點的損壞；再者，該轉(zhuǎn) 接裝置的結(jié)構(gòu)簡單，節(jié)省電子零件以及制造成本。上述實施例僅例示性說明本實用新型的原理及其功效，而非用于 限制本實用新型。任何本領(lǐng)域技術(shù)人員均可在不違背本實用新型的精 神及范疇下，對上述實施例進(jìn)行修飾與改變。因此，本實用新型的權(quán) 利保護(hù)范圍，應(yīng)以權(quán)利要求書的范圍為依據(jù)。
權(quán)利要求1.一種轉(zhuǎn)接裝置，應(yīng)用于外部設(shè)備互連(Pedpherd ComponentInterconnect，PCI)總線裝設(shè)有PCI適配卡的信號測試作業(yè)中，以供邏輯分析儀(Logic Analyzer，LA)以及除錯卡(debug card)同時獲取該P(yáng)CI總線的信號，其中該P(yáng)CI適配卡具有多個信號輸出端子，其特征在于，該轉(zhuǎn)接裝置包括多個信號輸入端子，分別與該P(yáng)CI適配卡的多個信號輸出端子對應(yīng)電性連接；以及多個信號輸出端，分別與所述信號輸入端子的其中一端子對應(yīng)電性連接，其中，每一信號輸出端中包括供電性連接該邏輯分析儀的信號輸出端子以及供電性連接該除錯卡的信號輸出端子。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的轉(zhuǎn)接裝置，其特征在于復(fù)包括分別電 性連接每一信號輸出端其中一信號輸出端子的二集線單元。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的轉(zhuǎn)接裝置，其特征在于各該集線單元 包括具有多個信號輸出端子且信號特性相同的輸出連接端口。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的轉(zhuǎn)接裝置，其特征在于該P(yáng)CI適配卡 的信號輸出端子是指金手指(finger)。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的轉(zhuǎn)接裝置，其特征在于該除錯卡為Port 80卡及Port 84卡的其中之一。
專利摘要本實用新型公開了一種轉(zhuǎn)接裝置，應(yīng)用于外部設(shè)備互連(PedpherdComponent Interconnect，PCI)總線裝設(shè)有PCI適配卡的信號測試作業(yè)中，該P(yáng)CI適配卡具有多個信號輸出端子，該轉(zhuǎn)接裝置則包括多個信號輸入端子及分別與所述信號輸入端子其中一端子對應(yīng)電性連接的多個信號輸出端，所述信號輸入端分別與該P(yáng)CI適配卡的多個信號輸出端子電性連接，每一信號輸出端包括供電性連接該邏輯分析儀的信號輸出端子及供電性連接該除錯卡的信號輸出端子，從而使該邏輯分析儀及除錯卡可同時讀取該P(yáng)CI總線的信號。
文檔編號G06F11/25GK201096807SQ200720183020
公開日2008年8月6日 申請日期2007年10月12日 優(yōu)先權(quán)日2007年10月12日
發(fā)明者劉士豪, 煒 陸 申請人:英業(yè)達(dá)股份有限公司