專利名稱：I/o端口測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試裝置，特別涉及一種用于測試電子設(shè)備1/0 (input/output，輸入 輸出)端口的測試裝置。
背景技術(shù)：
一般來說，電子產(chǎn)品通常都具有若干個(gè)與外界通訊的i/o端口，每一I/0端口都具有各自 的功能，在產(chǎn)品出貨前，制造商都會對這些i/o端口進(jìn)行必要的功能測試。
如圖1所示，為一個(gè)網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控設(shè)備的局部電路示意圖，其包括十二個(gè)I/0端口1'-12'，其 中，1/0端口1'-4'為串行通訊端口，用于連接串行通訊標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備如RS485/422串行端口設(shè) 備；1/0端口5'為一電源電壓端口，用于提供電壓源；1/0端口6'為漏水檢測端口，用于連接 漏水檢測裝置，以檢測所述網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控設(shè)備是否漏水；1/0端口7'為直流電源偵測端口，用于 檢測直流電壓源；1/0端口8'為接地端口； 1/0端口9'、 IO'為繼電器端口； 1/0端口11'、 12'為數(shù)據(jù)端口，可用于控制外部裝置。如果要測試上述I/0端口1'-12'的功能是否良好，需 要分別借助多種外部測試設(shè)備如漏水檢測器等才能完成，費(fèi)時(shí)費(fèi)力，很不方便。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種I/0端口測試裝置，用以同時(shí)測試電子產(chǎn)品的多個(gè)I/0端□。
一種I/0端口測試裝置，用于測試一電子產(chǎn)品的多個(gè)I/0端口，其包括一第一繼電器、一 第二繼電器、 一第一電阻、 一第二電阻、若干串行通信發(fā)射插接口、若干串行通信接收插接 口、 一直流電壓插接口、 一漏水檢測插接口及兩個(gè)數(shù)據(jù)插接口，所述串行通信發(fā)射插接口與 所述串行通信接收插接口對應(yīng)相連，所述直流電壓插接口連接所述第一繼電器及第二繼電器 的內(nèi)部開關(guān)后分別連接所述第一電阻及第二電阻再連接到所述漏水檢測插接口上，所述兩個(gè) 數(shù)據(jù)插接口分別連接于所述第一繼電器及第二繼電器的內(nèi)部線圈。
相較于現(xiàn)有技術(shù)，將所述I/0端口測試裝置插接到待測電子產(chǎn)品的I/0端口后，所述串行 通信發(fā)射插接口與串行通信接收插接口對應(yīng)相連使其與待測電子產(chǎn)品內(nèi)部的串行通訊端口收 發(fā)器構(gòu)成循環(huán)回路，可測得所述待測電子產(chǎn)品的串行通信端口是否良好；所述待測電子產(chǎn)品 通過所述數(shù)據(jù)插接口對所述第一繼電器及第二繼電器進(jìn)行控制，并利用所述第一 電阻及第二 電阻對線路干濕狀態(tài)進(jìn)行模擬，可測得所述待測電子產(chǎn)品的漏水檢測端口及數(shù)據(jù)端口是否良好，十分方便、快捷。


下面參考附圖結(jié)合具體實(shí)施方式
對本發(fā)明作進(jìn)一步的說明。
圖1為現(xiàn)有的一種網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控設(shè)備的局部電路示意圖。
圖2為本發(fā)明一種I/0端口測試裝置的較佳實(shí)施方式與圖1中網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控設(shè)備的對應(yīng)電路示意圖。
具體實(shí)施例方式
請參考圖2，本發(fā)明I/0端口測試裝置100用于測試一電子設(shè)備(如一網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控設(shè)備)的 1/0端口，其包括一I/0端口連接器110、 一第一繼電器L1、 一第二繼電器L2、 一第一電阻R1 及一第二電阻R2，所述1/0端口連接器110、第一繼電器L1、第二繼電器L2、第一電阻R1及第 二電阻R2設(shè)于一電路板(未示出)上，所述I/0端口連接器110與所述電子設(shè)備的I/0端口相 匹配，并可直接插接到所述電子設(shè)備的1/0端口上。
本實(shí)施方式中所述電子設(shè)備以圖l所述的網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控設(shè)備為例說明，其中，所述網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控設(shè)備的I/0端口1' -4'連接一串行通訊端口收發(fā)器如一RS485/422收發(fā)器20;所述I/0端口5'通 過一第三繼電器L3的內(nèi)部開關(guān)連接一直流電源Vcc， 一第一開關(guān)裝置30連接于所述第三繼電 器L3的內(nèi)部線圈，用于控制第三繼電器L3中內(nèi)部開關(guān)的通斷；所述I/0端口6'連接一第三電阻R3后接地，還連接到一數(shù)模轉(zhuǎn)換器40的一信號輸入端Vinl;所述I/0端口7'連接一第四電阻R4與一第五電阻R5組成的串聯(lián)電路后接地，所述第四電阻R4與第五電阻R5之間的節(jié)點(diǎn)連接到所述數(shù)模轉(zhuǎn)換器40的另一信號輸入端Vin2;所述I/0端口8'接地；所述I/0端口9'、 10'分 別連接于一第四繼電器L4的內(nèi)部開關(guān)的兩端， 一第二開關(guān)裝置50連接于所述第四繼電器L4的內(nèi)部線圈，用于控制所述第四繼電器L4中內(nèi)部開關(guān)的通斷；所述I/0端口11'、 12'連接一數(shù) 據(jù)端口60，用于控制外部設(shè)備。
所述I/0端口測試裝置100上的I/0端口連接器110對應(yīng)包括十二個(gè)插接口，分別為串行通 信發(fā)射插接口l-2、串行通信接收插接口3-4、直流電壓插接口5、漏水檢測插接口6、直流電源偵測插接口7、接地插接口8、第一繼電器插接口9、第二繼電器插接口10及數(shù)據(jù)插接口 11-12。所述插接口1與3相連，所述插接口2與4相連；所述插接口5與10相連，所述插接口5 還通過所述第一繼電器L1的內(nèi)部開關(guān)連接所述第一電阻R1后連接至所述插接口6，所述插接口5還通過所述第二繼電器L2的內(nèi)部開關(guān)連接所述第二電阻R2后連接至所述插接口6;所述插接口7與9相連；所述插接口11連接于所述第一繼電器L1的內(nèi)部線圈，用于控制第一繼電器 Ll中內(nèi)部開關(guān)的通斷；所述插接口12連接于所述第二繼電器L2的內(nèi)部線圈，用于控制第二繼電器L2中內(nèi)部開關(guān)的通斷。
當(dāng)測試所述網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控設(shè)備的I/0端口1' -12'時(shí)，將所述網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控設(shè)備的I/0端口1' -12'對 應(yīng)插接到所述I/0端口測試裝置100的I/0端口連接器110的插接口1-12上。首先，所述網(wǎng)絡(luò)監(jiān) 控設(shè)備內(nèi)部處理器(未示出)向所述RS485/422收發(fā)器20發(fā)出一指令信號，所述RS485/422收 發(fā)器20接收到所述指令信號后發(fā)出一測試信號給所述I/0端口1'及3'，所述測試信號通過所 述插接口l、 3及2、 4與所述I/0端口2'及4'構(gòu)成的循環(huán)回路返回到所述RS485/422收發(fā)器20， 如果所述RS485/422收發(fā)器20接收到所述測試信號，則表明所述I/0端口 1'-4'功能良好，所 述網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控設(shè)備的顯示器(未示出)將顯示"passed"，如果所述RS485/422收發(fā)器20接收 不到所述測試信號，則表明所述I/0端口l'-4'功能不良，所述網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控設(shè)備的顯示器將顯示 "Failed";當(dāng)所述I/0端口l'-4'測試通過后，所述處理器將發(fā)出一控制信號給所述第一開 關(guān)裝置30使其控制所述第三繼電器L3中的內(nèi)部開關(guān)導(dǎo)通，此時(shí)所述直流電源Vcc連接到所述 1/0端口5'上，同時(shí)所述處理器發(fā)出一控制信號給所述第二開關(guān)裝置50使其控制所述第四繼 電器L4中的內(nèi)部開關(guān)導(dǎo)通，此時(shí)所述直流電源Vcc依次通過所述I/0端口5'、插接口5、插接 口IO、 1/0端口10'、 1/0端口9'、插接口9、插接口7連接到所述I/0端口7'上，如果所述處理 器通過所述數(shù)模轉(zhuǎn)換器40測到所述I/0端口7'上的電壓，則表明所述I/0端口5' 、 7'、 9'及 10'功能良好，所述顯示器將顯示"passed"，如果所述處理器通過所述數(shù)模轉(zhuǎn)換器40未測 到所述I/0端口7'上的電壓，則表明所述I/0端口5' 、 7'、 9'及10'中一個(gè)或多個(gè)端口功能不 良，所述顯示器將顯示"Failed";當(dāng)所述I/0端口5' 、 7'、 9'及10'也測試通過后，所述 處理器將發(fā)出一控制信號給所述數(shù)據(jù)端口60使其控制所述第一繼電器L1中內(nèi)部開關(guān)導(dǎo)通，所 述第一電阻R1用于模擬漏水檢測線干燥時(shí)的狀態(tài)，具體參數(shù)根據(jù)實(shí)際要求確定，如果所述處 理器通過所述數(shù)模轉(zhuǎn)換器40測得的數(shù)據(jù)符合漏水檢測線干燥狀態(tài)下的要求時(shí)，所述顯示器將 顯示"passed"，如果所述處理器通過所述數(shù)模轉(zhuǎn)換器40測得的數(shù)據(jù)不符合漏水檢測線干燥 狀態(tài)下的要求時(shí)，所述顯示器將顯示"Failed";當(dāng)所述I/0端口6'符合漏水檢測線干燥狀 態(tài)下的要求后，所述處理器將發(fā)出一控制信號給所述數(shù)據(jù)端口60使其控制第一繼電器L1中內(nèi) 部開關(guān)開啟，并控制所述第二繼電器L2中內(nèi)部開關(guān)導(dǎo)通，所述第二電阻R2用于模擬漏水檢測 線潮濕時(shí)的狀態(tài)，具體參數(shù)根據(jù)實(shí)際要求確定，如果所述處理器通過所述數(shù)模轉(zhuǎn)換器40測得 的數(shù)據(jù)符合漏水檢測線潮濕狀態(tài)下的要求時(shí)，所述顯示器將顯示"passed"，此時(shí)表明所述 1/0端口6'功能良好，如果所述處理器通過所述數(shù)模轉(zhuǎn)換器40測得的數(shù)據(jù)不符合漏水檢測線 潮濕狀態(tài)下的要求時(shí)，所述顯示器將顯示"Failed"，表明所述I/0端口6'功能不良。在測 試漏水檢測線正常與否的同時(shí)，與所述數(shù)據(jù)端口60相連的I/0端口11' 、 12'也同時(shí)被相應(yīng)測試其可否正常工作，如果正常工作所述顯示器將顯示"passed"，表明所述I/0端口11'、 12'功能良好，反之顯示"Failed"，表明所述I/0端口 11'、 12'功能不良。由于所述I/0端 口8'接地， 一般情況不需對其進(jìn)行相應(yīng)的測試，故插接口8為未使用狀態(tài)。("passed"表 示測試通過，"Failed"表示測試未通過)
通過以上一系列的測試后，即可很快測得所述網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控設(shè)備的I/0端口1' -12'是否良好 ，而不需借助很多的測試設(shè)備來一一測試，很大程度上提高了測試速度，進(jìn)而提高了工作效 率，加快了產(chǎn)品的出貨速度，間接的節(jié)省了成本。
權(quán)利要求
1. 一種I/O端口測試裝置，用于測試一電子產(chǎn)品的多個(gè)I/O端口，其特征在于所述I/O端口測試裝置包括一第一繼電器、一第二繼電器、一第一電阻、一第二電阻、若干串行通信發(fā)射插接口、若干串行通信接收插接口、一直流電壓插接口、一漏水檢測插接口及兩個(gè)數(shù)據(jù)插接口，所述串行通信發(fā)射插接口與所述串行通信接收插接口對應(yīng)相連，所述直流電壓插接口連接所述第一繼電器及第二繼電器的內(nèi)部開關(guān)后分別連接所述第一電阻及第二電阻再連接到所述漏水檢測插接口上，所述兩個(gè)數(shù)據(jù)插接口分別連接于所述第一繼電器及第二繼電器的內(nèi)部線圈。
2.如權(quán)利要求l所述的l/0端口測試裝置，其特征在于所述串行通 信發(fā)射插接口、串行通信接收插接口、直流電壓插接口、漏水檢測插接口及數(shù)據(jù)插接口設(shè)置 于一連接器上，所述連接器、第一繼電器、第二繼電器、第一電阻及第二電阻設(shè)置于一電路 板上。
3.如權(quán)利要求l所述的l/0端口測試裝置，其特征在于所述l/0端口 測試裝置還包括一直流電源偵測插接口、 一第一繼電器插接口及一第二繼電器插接口，所述 直流電源偵測插接口與所述第一繼電器插接口相連，所述第二繼電器插接口與所述直流電壓 插接口相連。
4.如權(quán)利要求3所述的I/0端口測試裝置，其特征在于所述串行通信發(fā)射插接口、串行通信接收插接口、直流電壓插接口、漏水檢測插接口、直流電源偵測插 接口、第一繼電器插接口、第二繼電器插接口及數(shù)據(jù)插接口設(shè)置于一連接器上，所述連接器 、第一繼電器、第二繼電器、第一電阻及第二電阻設(shè)置于一電路板上。
5.如權(quán)利要求l所述的l/0端口測試裝置，其特征在于所述串行通 信發(fā)射插接口及所述串行通信接收插接口的數(shù)量均為兩個(gè)。
全文摘要
一種I/O端口測試裝置，用于測試一電子產(chǎn)品的多個(gè)I/O端口，其包括一第一繼電器、一第二繼電器、一第一電阻、一第二電阻、若干串行通信發(fā)射插接口、若干串行通信接收插接口、一直流電壓插接口、一漏水檢測插接口及兩個(gè)數(shù)據(jù)插接口，所述串行通信發(fā)射插接口與所述串行通信接收插接口對應(yīng)相連，所述直流電壓插接口連接所述第一繼電器及第二繼電器的內(nèi)部開關(guān)后分別連接所述第一電阻及第二電阻再連接到所述漏水檢測插接口上，所述兩個(gè)數(shù)據(jù)插接口分別連接于所述第一繼電器及第二繼電器的內(nèi)部線圈。所述I/O端口測試裝置可測試電子設(shè)備的I/O端口，十分方便。
文檔編號G06F11/267GK101206601SQ20061020133
公開日2008年6月25日 申請日期2006年12月19日 優(yōu)先權(quán)日2006年12月19日
發(fā)明者謝明志 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司