專(zhuān)利名稱(chēng)：延遲庫(kù)生成方法和延遲庫(kù)生成裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于生成含有定時(shí)限制值(timing constraintvalue)和延遲值的延遲庫(kù)(delay library)的方法和裝置，其用于校驗(yàn)半導(dǎo)體集成電路的操作定時(shí)。
背景技術(shù)：
采用一種延遲庫(kù)校驗(yàn)半導(dǎo)體集成電路的操作定時(shí)，所述延遲庫(kù)包含有關(guān)其構(gòu)成半導(dǎo)體集成電路的每個(gè)邏輯電路(邏輯單元)的電路特征的信息，例如定時(shí)限制值、延遲值等。通過(guò)用稱(chēng)為“特征工具”的裝置提取每個(gè)單元的特征，生成延遲庫(kù)。具體地，根據(jù)表示每個(gè)單元中的晶體管的連接的網(wǎng)表、表示輸入信號(hào)轉(zhuǎn)變的測(cè)試矢量(testvector)等，由模擬器(simulator)來(lái)模擬每個(gè)單元的操作。然后，從模擬結(jié)果中提取特征例如延遲值等，以生成延遲庫(kù)(例如，“synspec reference manual”，Excellent Design Inc，1997年4月(作者未知))。
例如，通過(guò)重復(fù)設(shè)置定時(shí)限制值和模擬的預(yù)測(cè)值并收斂定時(shí)限制值、同時(shí)根據(jù)模擬結(jié)果來(lái)改變預(yù)測(cè)值來(lái)獲得定時(shí)限制值，諸如不能由模擬周期獲得的觸發(fā)器電路的準(zhǔn)備時(shí)間。更具體地，采用對(duì)分搜索(binary search)方法，確定預(yù)測(cè)值是否大于待獲取的定時(shí)限制值。然后，將用于定時(shí)限制值的搜索范圍的任何一半確定為新的搜索范圍，并且再次為新的搜索范圍設(shè)定預(yù)測(cè)值。重復(fù)所述模擬和判定，由此相對(duì)有效地獲取定時(shí)限制值(例如，日本未審專(zhuān)利公開(kāi)No.7-43407)。
這里，在包含上述對(duì)分搜索處理的模擬中，考慮信號(hào)布線產(chǎn)生的延遲時(shí)間。特別是近年來(lái)，隨著器件變得越來(lái)越小，單元中含有的晶體管的延遲時(shí)間也減少。另一方面，因?yàn)椴季€之間的距離減少且布線寬度減少，所以布線之間的電容和布線電阻就增加。結(jié)果，布線引起的延遲時(shí)間就會(huì)增加。因此，在整個(gè)單元的工作期間產(chǎn)生的延遲時(shí)間之中，高精度地估測(cè)出由布線引起的延遲時(shí)間就很重要?；诖?，例如，在存在非均勻傳輸線的情況下，其二維剖面形狀(即，特征阻抗)根據(jù)傳輸線上的位置而改變，就將傳輸線分為多段，且將每段模擬為均勻的傳輸線。級(jí)聯(lián)并大致分析模擬的傳輸線段(例如，CQ出版有限公司，2003年4月，《設(shè)計(jì)波雜志》，第141-146頁(yè)，Hideki ASAI和Takayuki WATANABE人的“用于高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)的模擬電路模擬介紹，第5部分，用于布線模擬的參數(shù)提取方法(1)”。
對(duì)于每個(gè)單元，上述定時(shí)限制值不是一個(gè)固定值，而是根據(jù)不同操作條件而改變的一個(gè)值。例如，在觸發(fā)器電路的情況下，準(zhǔn)備時(shí)間根據(jù)數(shù)據(jù)信號(hào)和時(shí)鐘信號(hào)波形的邊緣斜率(gradients of edges)(電壓的變化率)而改變。即，可以將定時(shí)限制值表示為操作條件的函數(shù)。在延遲庫(kù)中存儲(chǔ)定時(shí)限制值(候選值)，其對(duì)應(yīng)于操作條件的多個(gè)值(在多種操作條件下，多個(gè)操作條件值的組合)。當(dāng)校驗(yàn)半導(dǎo)體集成電路的操作定時(shí)，就通過(guò)內(nèi)插來(lái)獲得最佳的定時(shí)限制值。隨著在延遲庫(kù)中存儲(chǔ)的定時(shí)限制值的數(shù)量增加，通過(guò)內(nèi)插獲得的定時(shí)限制值的精度也提高。當(dāng)生成延遲庫(kù)時(shí)，就對(duì)每個(gè)操作條件值或?qū)τ诓僮鳁l件值的每種組合進(jìn)行上述模擬和對(duì)分搜索。
然而，為了獲得定時(shí)限制值，上述傳統(tǒng)方法需要一個(gè)長(zhǎng)時(shí)間。
在采用對(duì)分搜索方法來(lái)獲得定時(shí)限制值的情況下，通常難于預(yù)測(cè)含有定時(shí)限制值的范圍。因此，就必須提供足夠?qū)挾确秶鳛樗阉鞣秶某跏贾怠＝Y(jié)果，在預(yù)測(cè)值收斂之前，就需要一個(gè)長(zhǎng)時(shí)間。特別地，假設(shè)搜索范圍的初始值為10ns并且待獲得的定時(shí)限制值精度的范圍為0.01ns，因?yàn)閷?duì)于每個(gè)模擬周期，搜索范圍減半，因此就需要10個(gè)模擬周期。通過(guò)減少搜索范圍的初始值(即，使初始搜索范圍變窄)，就能夠減少模擬周期的數(shù)量。然而，如果待獲得的定時(shí)限制值不包含在所述搜索范圍之內(nèi)，那么就必須重新設(shè)置搜索范圍并再次進(jìn)行對(duì)分搜索。結(jié)果，就需要相當(dāng)長(zhǎng)的時(shí)間。因此，難于預(yù)測(cè)定時(shí)限制值，例如，對(duì)于設(shè)置搜索范圍的初始值，具有大約0.5ns精度的范圍。
為了正確估測(cè)由非均勻傳輸線引起的布線延遲、在將模擬的傳輸線劃分為多段且每段模擬為均勻傳輸線的情況下，獲得的定時(shí)限制值的精度就隨著段的增加而提高。然而，計(jì)算量也增加，并且因此，用于一個(gè)模擬周期所需的時(shí)間也增加。結(jié)果，用于獲得定時(shí)限制值所需的時(shí)間也增加。
當(dāng)根據(jù)操作條件例如輸入信號(hào)波形邊緣斜率等獲得較高分辨率的定時(shí)限制值時(shí)，模擬周期量就會(huì)增加。因此，上述問(wèn)題就會(huì)變得更加引人注目。

發(fā)明內(nèi)容
考慮到上述問(wèn)題，本發(fā)明的目的在于在一個(gè)短時(shí)間周期之內(nèi)有效地生成高精度的延遲庫(kù)。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明，在采用電路操作模擬和對(duì)分搜索方法來(lái)獲得邏輯電路的定時(shí)限制值的處理中，首先以低于目標(biāo)精度的精度獲得定時(shí)限制值，以致將對(duì)分搜索方法的搜索范圍的初始值設(shè)定為小(即，將對(duì)分搜索方法的初始搜索范圍設(shè)定為狹窄)。因此，減少了模擬周期的數(shù)量。結(jié)果，在一個(gè)短時(shí)間周期內(nèi)就有效地生成了高精度的延遲庫(kù)。
具體地，例如，采用根據(jù)在邏輯電路中包含的元件的延遲值計(jì)算的定時(shí)限制值，即通過(guò)靜態(tài)分析計(jì)算的定時(shí)限制值，作為在對(duì)分搜索處理中的定時(shí)限制值的初始值。由于這種定時(shí)限制值具有一定程度的精度，因此就容易地將搜索范圍的初始值設(shè)定為小(即，易于將初始搜索范圍設(shè)定為狹窄)。
在對(duì)于多個(gè)相同類(lèi)型的邏輯電路或其包含公共電路元件的多個(gè)邏輯電路獲得定時(shí)限制值的情況下，采用對(duì)于任何一個(gè)邏輯電路所獲得的定時(shí)限制值作為在對(duì)分搜索處理中的定時(shí)限制值的初始值，用于獲得其它邏輯電路的定時(shí)限制值。同樣地，利用這種結(jié)構(gòu)，就易于將搜索范圍的初始值設(shè)定為小數(shù)值(即，易于將初始搜索范圍設(shè)定為狹窄)。
對(duì)于簡(jiǎn)化的電路模型獲得具有一定程度的精度的定時(shí)限制值，并采用獲得的定時(shí)限制值作為在用于詳細(xì)電路模型而獲得定時(shí)限制值的處理中的初始值。同樣地，利用這種結(jié)構(gòu)，就易于將搜索范圍的初始值設(shè)定為小(即，易于將初始搜索范圍設(shè)定為狹窄)。
在根據(jù)輸入信號(hào)的變化率獲得多個(gè)定時(shí)限制值的情況下，例如，首先獲得對(duì)應(yīng)于預(yù)定變化率的定時(shí)限制值，并且采用通過(guò)利用獲得的定時(shí)限制值內(nèi)插或外插計(jì)算的值，作為在獲得對(duì)應(yīng)于不同變化率的定時(shí)限制值的處理中的初始值。同樣利用這種結(jié)構(gòu)，就易于將搜索范圍的初始值設(shè)定為小(即，易于將初始搜索范圍設(shè)定為狹窄)。
例如，就能夠以對(duì)應(yīng)于(相關(guān)于)待獲得的定時(shí)限制值或延遲時(shí)間的信號(hào)傳輸路徑的不同精度，進(jìn)行上述模擬，由此進(jìn)一步減少用于生成延遲庫(kù)所需的時(shí)間。


圖1是示出了實(shí)施例1的延遲庫(kù)生成裝置的結(jié)構(gòu)的方框圖。
圖2是示出了D觸發(fā)器電路結(jié)構(gòu)的電路圖。
圖3是示出了D觸發(fā)器電路的一部分的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的電路圖。
圖4是示出了D觸發(fā)器電路的另一部分的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的電路圖。
圖5圖示說(shuō)明了D觸發(fā)器電路的準(zhǔn)備時(shí)間。
圖6是示出了D觸發(fā)器電路的準(zhǔn)備時(shí)間的時(shí)序圖。
圖7圖示說(shuō)明了D觸發(fā)器電路的維持時(shí)間。
圖8是示出了D觸發(fā)器電路的維持時(shí)間的時(shí)序圖。
圖9是說(shuō)明實(shí)施例1的延遲庫(kù)生成裝置的操作的流程圖。
圖10是說(shuō)明實(shí)施例1的延遲庫(kù)生成裝置的詳細(xì)操作的流程圖。
圖11是說(shuō)明實(shí)施例2的延遲庫(kù)生成裝置的操作的流程圖。
圖12是說(shuō)明實(shí)施例3的延遲庫(kù)生成裝置的操作的流程圖。
圖13示出了非均勻傳輸線的模擬實(shí)例。
圖14是圖示說(shuō)明準(zhǔn)備時(shí)間和數(shù)據(jù)信號(hào)和時(shí)鐘信號(hào)的波形邊緣的斜率之間的關(guān)系的圖。
圖15是說(shuō)明實(shí)施例4的延遲庫(kù)生成裝置的操作的流程圖。
圖16是說(shuō)明根據(jù)實(shí)施例4的第一繪制的準(zhǔn)備時(shí)間的圖。
圖17是示出了用于掃描測(cè)試的觸發(fā)器電路結(jié)構(gòu)的電路圖。
圖18是示出了用于掃描測(cè)試的觸發(fā)器電路的一部分詳細(xì)結(jié)構(gòu)的電路圖。
圖19是示出了用于掃描測(cè)試的觸發(fā)器電路的另一部分詳細(xì)結(jié)構(gòu)的電路圖。
圖20是示出實(shí)施例5的延遲庫(kù)生成裝置結(jié)構(gòu)的方框圖。
圖21是說(shuō)明實(shí)施例5的延遲庫(kù)生成裝置的操作的流程圖。
具體實(shí)施例方式
以下，參照附圖來(lái)詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施例。具體地，例如，將說(shuō)明在觸發(fā)器電路中的用于獲得定時(shí)限制值諸如準(zhǔn)備時(shí)間、維持時(shí)間等的延遲庫(kù)生成裝置的實(shí)例。
(實(shí)施例1)參照?qǐng)D1，實(shí)施例1的延遲庫(kù)生成裝置1包括模擬器101，用于模擬電路操作，諸如SPICE(Simulation Program with IntegratedCircuit Emphasis)等；以及特征工具102，用于根據(jù)模擬結(jié)果來(lái)提取特征值。具體地，特征工具102包括模擬器控制部分103、延遲特征提取/模擬結(jié)果判定部分104和定時(shí)限制值搜索控制部分105。
模擬器控制部分103將模擬所需的數(shù)據(jù)輸入到模擬器101，以便命令執(zhí)行模擬。例如，模擬所需的數(shù)據(jù)包括(1)網(wǎng)表，包含晶體管的電路連接信息、每個(gè)單元的寄生電阻和寄生電容，所述網(wǎng)表將包含在進(jìn)行模擬的延遲庫(kù)中；(2)用于模擬器101的模型參數(shù)；(3)模擬執(zhí)行條件，包含電源電壓和溫度、模擬的時(shí)間步驟、用作考慮到輸入信號(hào)波形的變形來(lái)計(jì)算延遲的輸入信號(hào)波形的邊緣斜率、用作考慮到輸出負(fù)載電容中的變化來(lái)計(jì)算延遲的電容值，等等；以及(4)測(cè)試矢量，其表示信號(hào)輸入到輸入端子的電平的轉(zhuǎn)變和根據(jù)所述電平轉(zhuǎn)變確定的從輸出端子輸出的信號(hào)電平的期望值。
如果待獲得的特征值是可以從模擬結(jié)果中直接提取而不用進(jìn)行對(duì)分搜索例如延遲特征的值，那么延遲特征提取/模擬結(jié)果判定部分104就輸出自身提取的值，作為延遲庫(kù)。如果特征值是其需要對(duì)分搜索的值，例如定時(shí)限制值，那么延遲特征提取/模擬結(jié)果判定部分104就確定所述定時(shí)限制值的預(yù)測(cè)值是否大于實(shí)際的定時(shí)限制值并將判定結(jié)果輸出到定時(shí)限制值搜索控制部分105。
定時(shí)限制值搜索控制部分105根據(jù)對(duì)分搜索方法控制對(duì)于定時(shí)限制值的搜索處理。具體地，定時(shí)限制值搜索控制部分105控制搜索處理，由此將定時(shí)限制值的搜索范圍劃分為兩個(gè)部分，并且根據(jù)通過(guò)延遲特征提取/模擬結(jié)果判定部分104獲得的判定結(jié)果，選擇出所述兩個(gè)部分的任何一個(gè)作為新的搜索范圍。選擇新的搜索范圍中的一個(gè)值(通常為中間值)作為新的預(yù)測(cè)值，并且重復(fù)以上設(shè)置處理和由模擬器101的模擬。以下將進(jìn)行說(shuō)明，通過(guò)靜態(tài)分析來(lái)確定定時(shí)限制值的搜索范圍的初始值。
現(xiàn)在，說(shuō)明上述的延遲庫(kù)生成裝置的操作實(shí)例，其中獲得了圖2中所示的D觸發(fā)器電路201的準(zhǔn)備時(shí)間和維持時(shí)間，它們是D觸發(fā)器電路201的定時(shí)限制值。
首先，簡(jiǎn)要說(shuō)明D觸發(fā)器電路201的結(jié)構(gòu)、準(zhǔn)備時(shí)間和維持時(shí)間。例如，D觸發(fā)器電路201具有圖3和4中所示的結(jié)構(gòu)。圖3示出了一種電路，所述電路產(chǎn)生時(shí)鐘信號(hào)PCK和基于在時(shí)鐘輸入端子處輸入的時(shí)鐘信號(hào)CK的反相時(shí)鐘信號(hào)NCK。所述電路包括兩個(gè)反相器202和203。圖4示出了在數(shù)據(jù)輸入端子和用于輸出信號(hào)Q和NQ的輸出端子之間的一種電路結(jié)構(gòu)，其中將數(shù)據(jù)信號(hào)D輸入到所述數(shù)據(jù)輸入端子。此電路結(jié)構(gòu)包括傳輸門(mén)204-207和反相器208。在圖3中，“tck”圖示出了從時(shí)鐘輸入端子到傳輸門(mén)204和206的延遲時(shí)間。在圖4中，“t1”和“t2”分別圖示出了從數(shù)據(jù)輸入端子到傳輸門(mén)204和傳輸門(mén)206的延遲時(shí)間。
圖5圖示說(shuō)明了延遲時(shí)間t2和tck與準(zhǔn)備時(shí)間ts之間的關(guān)系。圖5示出了準(zhǔn)備時(shí)間等于延遲時(shí)間t2和延遲時(shí)間tck之間的差值。圖6是只滿足準(zhǔn)備時(shí)間的實(shí)例的時(shí)序圖。在時(shí)鐘信號(hào)CK的上升緣接收數(shù)據(jù)信號(hào)D的信號(hào)狀態(tài)的情況下，除非在從L(低)電平到H(高)電平的時(shí)鐘信號(hào)CK的信號(hào)轉(zhuǎn)變到達(dá)傳輸門(mén)204和206之前、通過(guò)數(shù)據(jù)輸入端子已經(jīng)輸入并到達(dá)傳輸門(mén)206的信號(hào)電平進(jìn)入穩(wěn)定狀態(tài)，否則就不可能接收正確的信號(hào)值。因此，通過(guò)從延遲時(shí)間t2(從數(shù)據(jù)輸入端子到傳輸門(mén)206)中提取延遲時(shí)間tck(從時(shí)鐘輸入端子到傳輸門(mén)204和206)而獲得的時(shí)間就是D觸發(fā)器電路201的準(zhǔn)備時(shí)間ts。
圖7圖示說(shuō)明了延遲時(shí)間t1和tck以及維持時(shí)間th之間的關(guān)系。維持時(shí)間th等于延遲時(shí)間t1和延遲時(shí)間tck之間的差值。圖8是只滿足維持時(shí)間th的實(shí)例的時(shí)序圖。在時(shí)鐘信號(hào)CK的上升緣接收數(shù)據(jù)信號(hào)D的信號(hào)狀態(tài)的情況下，除非在從L(低)電平到H(高)電平的時(shí)鐘信號(hào)CK的信號(hào)轉(zhuǎn)變到達(dá)傳輸門(mén)204和206之前、已經(jīng)到達(dá)傳輸門(mén)204的信號(hào)電平進(jìn)入穩(wěn)定狀態(tài)，否則就不可能接收正確的信號(hào)值。因此，通過(guò)從延遲時(shí)間tck(從時(shí)鐘輸入端子到傳輸門(mén)204和206)中減去延遲時(shí)間t1(從數(shù)據(jù)輸入端子到傳輸門(mén)204)而獲得的時(shí)間就是D觸發(fā)器電路201的維持時(shí)間th。
通過(guò)靜態(tài)分析，就很快獲得了減去延遲時(shí)間t1、t2和tck而獲得的準(zhǔn)備時(shí)間ts和維持時(shí)間th。在由此獲得的時(shí)間(準(zhǔn)備時(shí)間ts等)中，不考慮由信號(hào)布線、串?dāng)_等導(dǎo)致的延遲，并且因此，與其中考慮這種因素的動(dòng)態(tài)分析相比時(shí)，這些時(shí)間的精度就低。然而，由這些因素產(chǎn)生的誤差就非常小，并且因此，對(duì)于在對(duì)分搜索處理中降低搜索范圍的初始值(即，使初始搜索范圍變窄)，上述延遲時(shí)間就具有足夠的精度。具體地，在10ns或更小范圍內(nèi)、更優(yōu)選地在大約0.5ns范圍內(nèi)，就易于獲得延遲時(shí)間。
以下，參照?qǐng)D9和10具體地說(shuō)明用于計(jì)算上述準(zhǔn)備時(shí)間而進(jìn)行的延遲庫(kù)生成裝置的操作。
(S101)首先，如上所述，通過(guò)靜態(tài)分析來(lái)計(jì)算準(zhǔn)備時(shí)間。
(S102)然后，設(shè)置搜索范圍的初始值(最小值a，最大值b)，以致上述準(zhǔn)備時(shí)間是中間值?？梢詫⒋怂阉鞣秶O(shè)置為考慮到由靜態(tài)分析產(chǎn)生的誤差而確定的值，例如0.5ns。
(S103)采用對(duì)分搜索、根據(jù)搜索范圍的初始值來(lái)獲得正確的準(zhǔn)備時(shí)間α。具體地，進(jìn)行圖10中所示的處理。
(S201)確定搜索范圍是否等于或小于所需的最小分辨率t(|a-b|＜t)。
(S202)如果搜索范圍等于或小于S201中的最小分辨率t，就收斂搜索范圍的最小值a或最大值b并設(shè)置為準(zhǔn)備時(shí)間α，并結(jié)束處理。
(S203)如果搜索范圍不等于或小于S201中的最小分辨率t，就將搜索范圍的中間值((a+b)/2)設(shè)置為預(yù)測(cè)值M。
(S204)模擬當(dāng)在僅滿足預(yù)測(cè)值M的定時(shí)下輸入數(shù)據(jù)信號(hào)和時(shí)鐘信號(hào)時(shí)進(jìn)行的觸發(fā)器電路的操作。這種模擬是高精度的模擬，其中考慮了由信號(hào)線、串?dāng)_等引起的延遲。
(S205)作為上述模擬的結(jié)果，確定是否已經(jīng)適合地閉鎖數(shù)據(jù)信號(hào)并且是否已經(jīng)改變了輸出信號(hào)的電平。如果沒(méi)有改變輸出信號(hào)的電平，那么就不滿足實(shí)際的準(zhǔn)備時(shí)間α，即，實(shí)際的準(zhǔn)備時(shí)間α就比預(yù)測(cè)值M更長(zhǎng)(α＞M)。如果已經(jīng)改變了輸出信號(hào)的電平，那么就滿足實(shí)際的準(zhǔn)備時(shí)間α，即，實(shí)際的準(zhǔn)備時(shí)間α等于或短于預(yù)測(cè)值M(α≤M)。
(S206，S207)如果在S205中已經(jīng)改變了輸出信號(hào)的電平，那么就將搜索范圍的最小值和預(yù)測(cè)值M分別設(shè)置為下一個(gè)模擬周期的搜索范圍的最小值和最大值。如果在S205中沒(méi)有改變輸出信號(hào)的電平，那么就將搜索范圍的預(yù)測(cè)值M和最大值b分別設(shè)置為下一個(gè)模擬周期的搜索范圍的最小值和最大值。此后，重復(fù)從步驟S201開(kāi)始的上述處理。利用上述步驟，在進(jìn)行模擬的每個(gè)時(shí)間周期內(nèi)減半搜索范圍。最終，準(zhǔn)備時(shí)間α就收斂于等于或低于所需的最小分辨率t。
盡管以上已經(jīng)說(shuō)明了獲得準(zhǔn)備時(shí)間的實(shí)例，但所述操作同樣與獲得另一種定時(shí)限制值諸如維持時(shí)間等的實(shí)例完全相同。
如上所述，采用通過(guò)靜態(tài)分析計(jì)算的定時(shí)限制值作為初始值來(lái)進(jìn)行對(duì)分搜索，由此將用于獲得正確的定時(shí)限制值所需的時(shí)間減少到一個(gè)短時(shí)間。
具體地，其中搜索范圍的初始值為X(ns)且最小分辨率(resolution)為0.01ns，所需的模擬周期的數(shù)量為以下表達(dá)式中的n的最小數(shù)量X×(1/2)n≤0.01因此，當(dāng)X＝0.5ns時(shí)，n＝6。假設(shè)靜態(tài)分析所需的時(shí)間等于一個(gè)模擬周期，那么就可以在總共為7個(gè)模擬周期的時(shí)間內(nèi)獲得正確的定時(shí)限制值。即，與未進(jìn)行靜態(tài)分析的上述預(yù)測(cè)且如上所述搜索范圍的初始值為10ns(所需的模擬周期的數(shù)量為10)的情況相比，所需的時(shí)間就減少了30％。
(實(shí)施例2)當(dāng)存在相同類(lèi)型的多個(gè)單元或含有公共電路元件的多個(gè)單元時(shí)，這些單元的定時(shí)限制值在多數(shù)情況下基本相等。在這種情況下，通過(guò)與實(shí)施例1中所述的相同處理，獲得任何單元的正確的定時(shí)限制值，并且然后，根據(jù)獲得的定時(shí)限制值，設(shè)置其它單元的搜索范圍的初始值，由此減少模擬周期的數(shù)量，并且在短時(shí)間周期內(nèi)獲得定時(shí)限制值。
如圖11中所示，除了定時(shí)限制值搜索控制部分105的操作不同之外，進(jìn)行上述處理的延遲庫(kù)生成裝置實(shí)質(zhì)上具有與實(shí)施例1(圖1)中所述的相同結(jié)構(gòu)。
(S301-S303)通過(guò)與實(shí)施例1(圖9)的步驟S101-S103的相同處理，獲得了第一單元(典型單元)的正確的定時(shí)限制值。
(S304)作為在含有第一單元的組中的另一個(gè)單元，設(shè)置搜索范圍的初始值，以使第一單元的定時(shí)限制值為所述搜索范圍的中間值。如果各單元的相似性高，因?yàn)榈谝粏卧亩〞r(shí)限制值是正確的值，所以就可以將搜索范圍設(shè)置為相對(duì)窄的范圍，例如0.5ns。
(S305)根據(jù)搜索范圍的初始值采用如步驟S303中的對(duì)分搜索來(lái)獲得正確的定時(shí)限制值。
(S306)確定在相同組中的所有單元是否已經(jīng)獲得了定時(shí)限制值。如果沒(méi)有，那么就重復(fù)步驟S304和S305的處理，直到獲得所有單元的定時(shí)限制值。
如上所述，采用對(duì)一個(gè)單元所獲得的正確的定時(shí)限制值，以便獲得另一個(gè)單元的定時(shí)限制值，由此就易于設(shè)置搜索范圍的初始值，以使搜索范圍變得更窄。因此，就將用于獲得所有單元的定時(shí)限制值所需的時(shí)間減少為一個(gè)短時(shí)間周期。
具體地，假設(shè)對(duì)于第一單元的模擬周期的數(shù)量與在實(shí)施例1中確定的數(shù)量相同，即，7(包括靜態(tài)分析的一個(gè)周期)，并且對(duì)于其它單元，搜索范圍的初始值為0.5ns且最小分辨率為0.01ns，那么對(duì)于每個(gè)單元所需的模擬周期數(shù)量就為6。而所有單元的數(shù)量為N，那么總的模擬周期的數(shù)量就為7+(N-1)×6＝6×N+1例如，當(dāng)N＝10時(shí)，總的模擬周期數(shù)量就為61。
如果對(duì)于其它單元不采用典型單元的定時(shí)限制值且搜索范圍的初始值為10ns，那么在每個(gè)單元上就進(jìn)行10個(gè)模擬周期。即，總共進(jìn)行100個(gè)模擬周期(10×10＝100)。與這種情況相比較，在上述實(shí)施例2的實(shí)例中，所需的時(shí)間就減少了39％。
應(yīng)當(dāng)注意，不必采用如實(shí)施例1的用于對(duì)第一單元設(shè)置搜索范圍的初始值的靜態(tài)分析。在這種情況下，假設(shè)在第一單元上進(jìn)行1 0個(gè)模擬周期(其中搜索范圍的初始值為10ns)，那么總的模擬周期數(shù)量就為10+(N-1)×6＝6×N+4因此，當(dāng)N＝10時(shí)，總的模擬周期數(shù)就為64。與這種情況相比較，在上述實(shí)施例2的實(shí)例中，所需的時(shí)間就減少了36％。
(實(shí)施例3)根據(jù)電路模型產(chǎn)生電路操作的模擬中給出的數(shù)據(jù)(邏輯電路信息，例如網(wǎng)表等)。當(dāng)電路模型變得更加詳細(xì)時(shí)，從電路模型中獲得的結(jié)果的精度就會(huì)變得更高，而且模擬所需的時(shí)間就會(huì)變得更長(zhǎng)?？紤]到此，在實(shí)施例3中，根據(jù)簡(jiǎn)化的電路模型的邏輯電路信息通過(guò)模擬和對(duì)分搜索來(lái)獲得定時(shí)限制值，并且然后根據(jù)獲得的定時(shí)限制值來(lái)重新設(shè)置搜索范圍的初始值，以便根據(jù)詳細(xì)電路模型的邏輯電路信息來(lái)進(jìn)行模擬和對(duì)分搜索，由此快速獲得所需精度的定時(shí)限制值。
除了定時(shí)限制值搜索控制部分105進(jìn)行以下結(jié)合圖12中所述的操作之外，進(jìn)行上述處理的延遲庫(kù)生成裝置具有基本上相當(dāng)于實(shí)施例1(圖1)的一種結(jié)構(gòu)。
(S401)首先，根據(jù)簡(jiǎn)化的電路模型來(lái)生成網(wǎng)表。具體地，如圖13中所示，例如，在一個(gè)單元中采用逐漸改變它的寬度且由縱向位置的函數(shù)表示它的阻抗的信號(hào)布線(非均勻的傳輸線)301的情況下，用信號(hào)布線301為信號(hào)布線302的假設(shè)來(lái)模擬所述單元，以生成網(wǎng)表(netlist)，信號(hào)布線302具有恒定寬度和在整個(gè)長(zhǎng)度或預(yù)定的縱向范圍上的恒定的阻抗Z00。根據(jù)上述簡(jiǎn)化的電路模型的模擬精度并不高，但可以接受，只要定時(shí)限制值精確，以致在步驟S406(此后說(shuō)明)中對(duì)正確的定時(shí)限制值搜索期間，足夠地減少了模擬周期的數(shù)量，即，可以獲得設(shè)置搜索范圍的初始值為小(即，將初始搜索范圍設(shè)置為窄)例如0.5ns的這種精度的定時(shí)限制值。預(yù)先在步驟S401和步驟S404(此后說(shuō)明)中生成網(wǎng)表，以致在這些步驟中簡(jiǎn)單地讀取網(wǎng)表。
(S402)為了獲得用于上述簡(jiǎn)化的電路模型的定時(shí)限制值，設(shè)置搜索范圍的初始值。這種搜索范圍必須根據(jù)經(jīng)驗(yàn)設(shè)置為足夠大(例如，大約10ns)，以致在搜索范圍中一定包含定時(shí)限制值。
(S403)根據(jù)如實(shí)施例1(圖9)的步驟S103中的搜索范圍的上述初始值、采用對(duì)分搜索來(lái)獲得定時(shí)限制值。應(yīng)當(dāng)注意，因?yàn)槿缟纤龅夭捎煤?jiǎn)化的電路模型，所以更快地進(jìn)行步驟S402中的模擬。
(S404)根據(jù)比信號(hào)布線302更加詳細(xì)的電路模型來(lái)生成網(wǎng)表。具體地，例如，利用非均勻傳輸線的信號(hào)布線301是圖13的信號(hào)布線303的假設(shè)來(lái)模擬一個(gè)單元，通過(guò)將分別具有恒定阻抗Z01-Z05的布線部分303a-303e級(jí)聯(lián)來(lái)產(chǎn)生信號(hào)布線303。采用這種模擬就生成一個(gè)網(wǎng)表。可以根據(jù)由在步驟S406(此后說(shuō)明)中獲得的定時(shí)限制值所需的精度來(lái)設(shè)置劃分到布線部分303a-303e中的程度。
(S405)再次設(shè)置搜索范圍的初始值，以使在步驟S403中獲得的定時(shí)限制值為中間值?？梢詫⒋怂阉鞣秶O(shè)置為根據(jù)定時(shí)限制值的精度而確定的范圍，例如，0.5ns。
(S406)根據(jù)如步驟S403中的上述搜索范圍的初始值采用對(duì)分搜索來(lái)獲得定時(shí)限制值。在此情況下，根據(jù)如上所述的詳細(xì)電路模型來(lái)進(jìn)行模擬。因此，就會(huì)獲得具有高精度的定時(shí)限制值。盡管由于電路模型的高度詳細(xì)，一個(gè)模擬周期所需的時(shí)間比在步驟S403中所需的時(shí)間更長(zhǎng)，但因?yàn)槿缟纤龅貙⑺阉鞣秶某跏贾翟O(shè)置為小(即，將初始搜索范圍設(shè)置為窄)，所以就減少了模擬周期的數(shù)量。結(jié)果，總的處理時(shí)間就變得短。
采用如上所述的不同細(xì)節(jié)的電路模型、通過(guò)兩個(gè)步驟獲得定時(shí)限制值，由此如下所述地減少了處理時(shí)間。
例如，其中根據(jù)詳細(xì)電路模型的10個(gè)模擬周期所需的時(shí)間(10是當(dāng)搜索范圍的初始值為10ns且最小分辨率為0.01ns時(shí)所需的模擬周期的數(shù)量)為T(mén)(s)，根據(jù)簡(jiǎn)化的電路模型模擬所需的時(shí)間就為α×T(s)(α＜1)，第一步驟的定時(shí)限制值的精度是這樣以致用于獲得第二步驟的定時(shí)限制值而設(shè)置的搜索范圍的初始值為0.5ns，并且用于獲得第二步驟的定時(shí)限制值而設(shè)置的最小分辨率就為0.01ns，因?yàn)槿鐚?shí)施例1中模擬周期的數(shù)量為6，所以用于獲得第二步驟的定時(shí)限制值所需的時(shí)間就為0.6×T(s)。因此，所需的總時(shí)間就為α×T+0.6×T(s)。
在α＝0.2例如所需的總時(shí)間為0.8×T的情況下，與具有詳細(xì)電路模型的搜索范圍的初始值為10ns的情況相比，其就縮短了20％。
應(yīng)當(dāng)注意，簡(jiǎn)化的電路模型的實(shí)例不限于上述結(jié)構(gòu)。根據(jù)本發(fā)明，可以采用布線之間的電容大致為布線和地之間的電容的實(shí)例，忽略所有電阻元件和電容元件或低于預(yù)定值的電阻元件和電容元件的實(shí)例，等等。
(實(shí)施例4)現(xiàn)在，說(shuō)明延遲庫(kù)生成裝置的實(shí)例，其中在獲得對(duì)應(yīng)于各種操作條件的定時(shí)限制值的處理中易于減少所需的時(shí)間。例如，如圖14中示意性所示，觸發(fā)器電路的準(zhǔn)備時(shí)間根據(jù)數(shù)據(jù)信號(hào)和時(shí)鐘信號(hào)的波形的邊緣斜率(電壓的變化率)而變化。因此，必須計(jì)算出對(duì)應(yīng)于各種信號(hào)波形的邊緣斜率的準(zhǔn)備時(shí)間，并在延遲庫(kù)中存儲(chǔ)計(jì)算的準(zhǔn)備時(shí)間。這就意味著通過(guò)減少用于獲得各個(gè)準(zhǔn)備時(shí)間所需的時(shí)間來(lái)顯著減少用于生成延遲庫(kù)所需的總時(shí)間。
除了定時(shí)限制值搜索控制部分105進(jìn)行以下說(shuō)明的結(jié)合圖15的操作之外，實(shí)施例4的延遲庫(kù)生成裝置具有基本上相當(dāng)于實(shí)施例1(圖1)的結(jié)構(gòu)。
(S501-S503)首先，如圖16中所示，與實(shí)施例1一樣，在4種執(zhí)行條件之下獲得準(zhǔn)備時(shí)間，根據(jù)時(shí)鐘信號(hào)波形的邊緣斜率的最小值a和最大值b與數(shù)據(jù)信號(hào)波形的邊緣斜率的最小值c和最大值d的組合來(lái)確定所述4種執(zhí)行條件。
(S504)對(duì)于時(shí)鐘信號(hào)波形的邊緣斜率的值與數(shù)據(jù)信號(hào)波形的邊緣斜率的值的其它組合、通過(guò)線性內(nèi)插來(lái)獲得準(zhǔn)備時(shí)間，由此獲得的準(zhǔn)備時(shí)間包括誤差，但通常大致為實(shí)際的準(zhǔn)備時(shí)間。
(S505)設(shè)置搜索范圍的初始值，以使通過(guò)線性內(nèi)插獲得的準(zhǔn)備時(shí)間為中間值。因?yàn)樯鲜鰷?zhǔn)備時(shí)間接近實(shí)際的準(zhǔn)備時(shí)間，所以將這種搜索范圍設(shè)置為相對(duì)窄的范圍，例如，0.5ns。
(S506)根據(jù)如步驟S503中的搜索范圍的上述初始值、采用對(duì)分搜索來(lái)獲得定時(shí)限制值。
采用從對(duì)于一些時(shí)鐘信號(hào)波形和數(shù)據(jù)輸入信號(hào)波形的邊緣斜率精確計(jì)算的準(zhǔn)備時(shí)間中通過(guò)內(nèi)插獲得的值，由此就易于將搜索范圍的初始值設(shè)置為小(即，就易于將初始搜索范圍設(shè)置為窄)。因此，就顯著減少了用于獲得各種時(shí)鐘信號(hào)波形和數(shù)據(jù)輸入信號(hào)波形的邊緣斜率的定時(shí)限制值所需的時(shí)間。
具體地，假設(shè)通過(guò)步驟S501-S503獲得的4個(gè)準(zhǔn)備時(shí)間的模擬周期的數(shù)量與實(shí)施例1中確定的數(shù)量相同，即，4×7(包括靜態(tài)分析的一個(gè)周期)，并且作為對(duì)于通過(guò)步驟S505和S506獲得的準(zhǔn)備時(shí)間，搜索范圍的初始值為0.5ns且最小分辨率為0.01ns，每個(gè)單元必須的模擬周期的數(shù)量就為6。而待獲得的所有準(zhǔn)備時(shí)間的數(shù)量為N，則總的模擬周期的數(shù)量為4×7+(N-4)×6＝6×N+4例如，當(dāng)N＝20時(shí)，總的模擬周期的數(shù)量就為124。
如果未執(zhí)行通過(guò)內(nèi)插的上述預(yù)測(cè)且對(duì)于所有準(zhǔn)備時(shí)間的搜索范圍的初始值為10ns，那么在每個(gè)準(zhǔn)備時(shí)間中就執(zhí)行10個(gè)模擬周期。即，總共執(zhí)行200個(gè)模擬周期(20×10＝200)。與這種情況相比較，在實(shí)施例4的實(shí)例中，所需的時(shí)間就減少了38％。
應(yīng)當(dāng)注意，不必如實(shí)施例1采用靜態(tài)分析來(lái)設(shè)置用于第一4個(gè)準(zhǔn)備時(shí)間的搜索范圍的初始值。在此情況下，假設(shè)在第一4個(gè)準(zhǔn)備時(shí)間的每一個(gè)上執(zhí)行10個(gè)模擬周期(其中搜索范圍的初始值為10ns)，那么總的模擬周期的數(shù)量為4×10+(N-4)×6＝6×N+16因此，當(dāng)N＝20時(shí)，總的模擬周期的數(shù)量就為136。與這種情況相比較，在實(shí)施例4的實(shí)例中，所需的時(shí)間就減少了32％。
在上述實(shí)例中，根據(jù)兩個(gè)參數(shù)來(lái)確定待獲得的定時(shí)限制值，即，時(shí)鐘信號(hào)波形的邊緣斜率和數(shù)據(jù)信號(hào)波形的邊緣斜率，但本發(fā)明并不限于此。根據(jù)本發(fā)明，例如，而且在短時(shí)間周期之內(nèi)就可以獲得根據(jù)一個(gè)參數(shù)或根據(jù)三個(gè)或更多參數(shù)確定的定時(shí)限制值。此外，內(nèi)插不限于線性內(nèi)插，而可以是具有二次方曲線的內(nèi)插。可選擇地，可以采用外插來(lái)代替內(nèi)插。
(實(shí)施例5)在以下說(shuō)明的實(shí)施例5的實(shí)例中，在輸入端子和輸出端子之間的信號(hào)傳輸路徑(弧形)之中模擬精度不同，以致減少了模擬所需的時(shí)間，并且因此，就減少了用于獲得延遲時(shí)間、定時(shí)限制值等所需的時(shí)間。
例如，設(shè)計(jì)用于掃描測(cè)試的觸發(fā)器電路401，在掃描鏈中采用所述觸發(fā)器電路401，用于監(jiān)測(cè)半導(dǎo)體集成電路，以致例如，如圖17中所示地輸入并輸出信號(hào)。具體地，觸發(fā)器電路401包括圖18中所示的內(nèi)部時(shí)鐘產(chǎn)生電路401a和圖19中所示的數(shù)據(jù)保持電路401b。即，設(shè)計(jì)觸發(fā)器電路401，以致除了公共采用的D觸發(fā)器電路的輸入信號(hào)之外，輸入掃描測(cè)試啟動(dòng)信號(hào)NT和掃描測(cè)試數(shù)據(jù)輸入信號(hào)DT。當(dāng)掃描測(cè)試啟動(dòng)信號(hào)NT處于L電平時(shí)，數(shù)據(jù)信號(hào)D就變成有效，以致觸發(fā)器電路401執(zhí)行如公共采用的D觸發(fā)器電路的操作。當(dāng)掃描測(cè)試啟動(dòng)信號(hào)NT處于H電平時(shí)，掃描測(cè)試數(shù)據(jù)輸入信號(hào)DT就變成有效，以致觸發(fā)器電路401就維持掃描測(cè)試數(shù)據(jù)輸入信號(hào)DT。
在具有上述結(jié)構(gòu)的觸發(fā)器電路401中，至于與數(shù)據(jù)信號(hào)D相關(guān)的弧形(與常規(guī)操作模式相關(guān)的弧形)，為了提高操作速度并降低芯片面積，通常就將延遲余值設(shè)置為小。因此，就必須執(zhí)行精確的模擬，以便校驗(yàn)操作定時(shí)。因此，在延遲庫(kù)中，就必須獲得高精度的數(shù)據(jù)信號(hào)D的輸入端子和輸出信號(hào)Q和NQ的輸出端子之間的延遲時(shí)間、定時(shí)限制值諸如數(shù)據(jù)信號(hào)D和時(shí)鐘信號(hào)CK的準(zhǔn)備時(shí)間等。另一方面，至于與測(cè)試模式相關(guān)的弧形，甚至在掃描測(cè)試數(shù)據(jù)輸入信號(hào)DT的輸入端子和輸出信號(hào)Q和NQ的輸出端子之間的延遲時(shí)間精度、定時(shí)限制值諸如掃描測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)D和時(shí)鐘信號(hào)CK的準(zhǔn)備時(shí)間等相對(duì)低時(shí)的一些情況下，也不會(huì)產(chǎn)生問(wèn)題。這是因?yàn)榕c測(cè)試模式相關(guān)的弧形的延遲特征只用于測(cè)試模式的定時(shí)校驗(yàn)而不用于常規(guī)操作模式的定時(shí)校驗(yàn)，并且此時(shí)，通常在測(cè)試模式下，將操作頻率設(shè)置為低頻。因此，在許多情況下，在定時(shí)中具有足夠余量，并且可以容易地提供足夠的延遲余量。結(jié)果，能夠補(bǔ)償?shù)湍M精度導(dǎo)致的誤差。
參照?qǐng)D20，實(shí)施例5的延遲庫(kù)生成裝置包括用于模擬電路操作的模擬器501和用于根據(jù)模擬結(jié)果來(lái)提取特征值的特征工具502。更具體地，特征工具502包括模擬器控制部分503和用于從模擬結(jié)果中提取延遲特征的延遲特征提取部分504。
除了根據(jù)待進(jìn)行模擬的弧形來(lái)改變模擬精度之外，模擬器501和模擬器控制部分503具有與實(shí)施例1(圖1)的模擬器101和模擬器控制部分103的類(lèi)似的結(jié)構(gòu)。
此后，將參照?qǐng)D21來(lái)說(shuō)明用于計(jì)算延遲時(shí)間的實(shí)施例5的延遲庫(kù)生成裝置的操作。
(S601)首先，輸入精度確定信息，用于識(shí)別需要高精度模擬的弧形和根據(jù)弧形是否與常規(guī)操作模式或測(cè)試模式相關(guān)來(lái)接受相對(duì)低精度的弧形。應(yīng)當(dāng)注意，精度水平不限于兩個(gè)級(jí)別，而可以是三個(gè)或更多個(gè)級(jí)別。
(S602)然后，根據(jù)精度確定信息，設(shè)置用于計(jì)算對(duì)應(yīng)于各個(gè)弧形的延遲時(shí)間的模擬條件。具體地，例如，根據(jù)精度確定信息來(lái)設(shè)置模擬等的時(shí)間步驟(時(shí)間間隔)。
(S603)根據(jù)上述設(shè)置來(lái)執(zhí)行模擬，以計(jì)算各個(gè)延遲時(shí)間。當(dāng)模擬的時(shí)間步驟數(shù)量小時(shí)，模擬結(jié)果就快速收斂，并且因此，減少了模擬所需的時(shí)間。
(S604)在通過(guò)模擬獲得的延遲時(shí)間中，將延遲余量根據(jù)模擬精度加到通過(guò)低精度模擬獲得的延遲時(shí)間中。例如，至于與測(cè)試模式相關(guān)的弧形，如上所述，在許多情況下，在定時(shí)中就有足夠的余量，并且因此就可以容易地添加延遲余量而不會(huì)在電路操作中產(chǎn)生任何麻煩。因此，就容易防止由模擬低精度產(chǎn)生的誤差效果。
如上所述，根據(jù)所述弧形就部分地降低了模擬精度，以致易于減少用于獲得定時(shí)限制值和延遲時(shí)間所需的時(shí)間。
具體地，對(duì)于在高精度計(jì)算延遲時(shí)間時(shí)所需的一個(gè)單元的模擬時(shí)間為T(mén)(s)，可以以相對(duì)低的精度模擬的弧形與整個(gè)弧形的比例為α，并且在減少精度時(shí)所需的模擬時(shí)間為β×T，那么模擬所需的總時(shí)間為(α×β×T)+(1-α)×T(s)在α＝0.5和β＝0.5的情況下(模擬時(shí)間減半為弧形的1/2)，模擬時(shí)間的減少比例為1-{(0.5×0.5×T)+(1-0.5)×T}/T＝0.25即，模擬時(shí)間減少25％。
在實(shí)施例5的上述實(shí)例中，延遲庫(kù)生成裝置獲得延遲時(shí)間，但本發(fā)明并不限于此。例如，甚至在其中采用對(duì)分搜索來(lái)獲得定時(shí)限制值的實(shí)施例1-4的延遲庫(kù)生成裝置中，通過(guò)根據(jù)每個(gè)弧形所需的精度而設(shè)置模擬條件，進(jìn)一步減少所需的時(shí)間。
在實(shí)施例5的上述實(shí)例中，根據(jù)所述弧形來(lái)改變模擬自身的精度。代替此或除此之外，在根據(jù)輸入信號(hào)波形的邊緣斜率和輸出負(fù)載電容的組合來(lái)獲得延遲時(shí)間的情況下、或者在根據(jù)觸發(fā)器電路中的數(shù)據(jù)信號(hào)和時(shí)鐘信號(hào)的輸入信號(hào)波形的邊緣斜率的組合來(lái)獲得定時(shí)限制值的情況下，就根據(jù)所述弧形來(lái)改變這種組合的數(shù)量，由此減少模擬周期數(shù)量。
在理論可能的范圍之內(nèi)，上述實(shí)施例中說(shuō)明的元件可以進(jìn)行各種組合。具體地，采用實(shí)施例1(圖9)中說(shuō)明的靜態(tài)分析，來(lái)獲得實(shí)施例2(圖11)中的各個(gè)單元的定時(shí)限制值，但可以通過(guò)根據(jù)在實(shí)施例3(圖12)中說(shuō)明的簡(jiǎn)化的電路模型的模擬來(lái)替代。此外，為了獲得將用于在實(shí)施例4(圖15)中說(shuō)明的內(nèi)插的第一4個(gè)準(zhǔn)備時(shí)間，可以采用已經(jīng)在實(shí)施例2和3中說(shuō)明的各個(gè)單元或簡(jiǎn)化的電路模型的定時(shí)限制值。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明，在短時(shí)間周期之內(nèi)就能夠有效地生成高精度的延遲庫(kù)。
權(quán)利要求
1.一種用于生成延遲庫(kù)的方法，所述延遲庫(kù)包含用作校驗(yàn)邏輯電路的操作定時(shí)的定時(shí)限制值，所述方法包括定時(shí)限制值獲取步驟，用比目標(biāo)精度更低的精度來(lái)獲取定時(shí)限制值；以及定時(shí)限制值搜索步驟，通過(guò)在預(yù)定操作條件之下重復(fù)操作模擬和根據(jù)所述操作模擬結(jié)果通過(guò)對(duì)分搜索的所述搜索范圍和所述定時(shí)限制值的重新設(shè)置，采用所述定時(shí)限制值和預(yù)定搜索范圍作為初始值來(lái)獲得收斂的定時(shí)限制值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的延遲庫(kù)生成方法，其中所述定時(shí)限制值獲取步驟包括定時(shí)限制值計(jì)算步驟，根據(jù)在所述邏輯電路中包含的元件的延遲值來(lái)計(jì)算出所述定時(shí)限制值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1的延遲庫(kù)生成方法，其中所述定時(shí)限制值獲取步驟包括第一定時(shí)限制值搜索步驟，通過(guò)在預(yù)定操作條件之下重復(fù)操作模擬和根據(jù)所述操作模擬結(jié)果通過(guò)對(duì)分搜索的所述搜索范圍和所述定時(shí)限制值的重新設(shè)置，采用所述定時(shí)限制值和預(yù)定搜索范圍作為初始值來(lái)獲得對(duì)于多個(gè)邏輯電路的至少一個(gè)的收斂的定時(shí)限制值。所述定時(shí)限制值搜索步驟包括第二定時(shí)限制值搜索步驟，通過(guò)在預(yù)定操作條件之下重復(fù)操作模擬和根據(jù)所述操作模擬結(jié)果通過(guò)對(duì)分搜索的所述搜索范圍和所述定時(shí)限制值的重新設(shè)置，采用在所述第一定時(shí)限制值搜索步驟中獲得的所述定時(shí)限制值和預(yù)定搜索范圍作為初始值來(lái)獲得對(duì)其他邏輯電路的收斂的定時(shí)限制值。
4.根據(jù)權(quán)利要求1的延遲庫(kù)生成方法，其中所述定時(shí)限制值獲取步驟包括第一定時(shí)限制值搜索步驟，通過(guò)在預(yù)定操作條件之下重復(fù)操作模擬和根據(jù)所述操作模擬結(jié)果通過(guò)對(duì)分搜索的所述搜索范圍和所述定時(shí)限制值的重新設(shè)置，采用所述定時(shí)限制值和預(yù)定搜索范圍作為初始值來(lái)獲得對(duì)于簡(jiǎn)化的電路模型的收斂的定時(shí)限制值；以及所述定時(shí)限制值搜索步驟包括第二定時(shí)限制值搜索步驟，通過(guò)在預(yù)定操作條件之下重復(fù)操作模擬和根據(jù)所述操作模擬結(jié)果通過(guò)對(duì)分搜索的所述搜索范圍和所述定時(shí)限制值的重新設(shè)置，采用在所述第一定時(shí)限制值搜索步驟中獲得的所述定時(shí)限制值和預(yù)定搜索范圍作為初始值來(lái)獲得對(duì)于比所述簡(jiǎn)化的電路模型更詳細(xì)的電路模型的收斂的定時(shí)限制值。
5.根據(jù)權(quán)利要求4的延遲庫(kù)生成方法，其中所述簡(jiǎn)化的電路模型是其中將非均勻傳輸線假定為均勻傳輸線的一種電路模型。
6.根據(jù)權(quán)利要求1的延遲庫(kù)生成方法，其中所述定時(shí)限制值獲取步驟包括內(nèi)插/外插步驟，根據(jù)對(duì)應(yīng)于所述邏輯電路的至少一種預(yù)定操作條件包括至少第一和第二值的情況下的至少第一和第二定時(shí)限制值，通過(guò)內(nèi)插或外插來(lái)計(jì)算出對(duì)應(yīng)于所述預(yù)定操作條件為第三值的情況的第三定時(shí)限制值；以及所述定時(shí)限制值搜索步驟包括在所述預(yù)定操作條件為所述第三值的條件之下通過(guò)重復(fù)操作模擬以及根據(jù)所述操作模擬結(jié)果通過(guò)對(duì)分搜索重新設(shè)置所述搜索范圍和所述定時(shí)限制值，采用所述第三定時(shí)限制值和預(yù)定搜索范圍作為初始值獲得收斂的第三定時(shí)限制值的步驟。
7.根據(jù)權(quán)利要求6的延遲庫(kù)生成方法，還包括內(nèi)插/外插定時(shí)限制值搜索步驟，通過(guò)重復(fù)操作模擬并根據(jù)所述操作模擬結(jié)果通過(guò)對(duì)分搜索重新設(shè)置所述搜索范圍和所述定時(shí)限制值，采用預(yù)定定時(shí)限制值和所述預(yù)定搜索范圍作為初始值來(lái)獲得收斂的第一或第二定時(shí)限制值。
8.根據(jù)權(quán)利要求6的延遲庫(kù)生成方法，其中所述預(yù)定操作條件是輸入到所述邏輯電路的輸入信號(hào)的變化率。
9.根據(jù)權(quán)利要求1的延遲庫(kù)生成方法，其中所述定時(shí)限制值搜索步驟包括模擬步驟，在其滿足所述初始定時(shí)限制值或所述重新設(shè)置定時(shí)限制值的操作條件之下執(zhí)行所述邏輯電路的操作模擬，以及搜索范圍/定時(shí)限制值重新設(shè)置步驟，根據(jù)所述操作模擬結(jié)果來(lái)判定所述定時(shí)限制值是否合適，以便通過(guò)對(duì)分搜索重新設(shè)置所述搜索范圍和所述定時(shí)限制值；以及重復(fù)所述模擬步驟和所述搜索范圍/定時(shí)限制值重新設(shè)置步驟，直至所述搜索范圍收斂于預(yù)定范圍之內(nèi)，由此獲得定時(shí)限制值。
10.根據(jù)權(quán)利要求9的延遲庫(kù)生成方法，其中所述模擬步驟包括設(shè)置模擬條件的步驟，以致用對(duì)應(yīng)于定時(shí)限制值的信號(hào)傳輸路徑的不同精度來(lái)執(zhí)行所述模擬。
11.一種用于生成延遲庫(kù)的方法，所述延遲庫(kù)包括用作校驗(yàn)邏輯電路的操作定時(shí)的定時(shí)限制值或延遲值，所述方法包括模擬條件設(shè)置步驟，設(shè)置模擬條件以致用對(duì)應(yīng)于定時(shí)限制值或延遲值的信號(hào)傳輸路徑的不同精度來(lái)執(zhí)行所述模擬；模擬步驟，在所述模擬條件之下執(zhí)行電路操作的模擬；以及特征值計(jì)算步驟，根據(jù)所述模擬結(jié)果來(lái)計(jì)算出定時(shí)限制值或延遲值。
12.一種用于生成延遲庫(kù)的裝置，所述延遲庫(kù)包括用作校驗(yàn)邏輯電路的操作定時(shí)的定時(shí)限制值，所述裝置包括定時(shí)限制值獲取裝置，用于用比目標(biāo)精度更低的精度來(lái)獲取定時(shí)限制值；以及定時(shí)限制值搜索裝置，用于通過(guò)在預(yù)定操作條件之下重復(fù)操作模擬和根據(jù)所述操作模擬結(jié)果通過(guò)對(duì)分搜索的所述搜索范圍和所述定時(shí)限制值的重新設(shè)置，采用所述定時(shí)限制值和預(yù)定搜索范圍作為初始值來(lái)獲得收斂的定時(shí)限制值。
13.根據(jù)權(quán)利要求12的延遲庫(kù)生成裝置，其中所述定時(shí)限制值獲取裝置包括定時(shí)限制值計(jì)算裝置，用于根據(jù)在所述邏輯電路中包含的元件的延遲值來(lái)計(jì)算出所述定時(shí)限制值。
14.根據(jù)權(quán)利要求12的延遲庫(kù)生成裝置，其中所述定時(shí)限制值獲取裝置包括第一定時(shí)限制值搜索裝置，用于通過(guò)在預(yù)定操作條件之下重復(fù)操作模擬和根據(jù)所述操作模擬結(jié)果通過(guò)對(duì)分搜索的所述搜索范圍和所述定時(shí)限制值的重新設(shè)置，采用所述定時(shí)限制值和預(yù)定搜索范圍作為初始值來(lái)獲得對(duì)于多個(gè)邏輯電路的至少一個(gè)的收斂的定時(shí)限制值；以及所述定時(shí)限制值搜索裝置包括第二定時(shí)限制值搜索裝置，用于通過(guò)在預(yù)定操作條件之下重復(fù)操作模擬和根據(jù)所述操作模擬結(jié)果通過(guò)對(duì)分搜索的所述搜索范圍和所述定時(shí)限制值的重新設(shè)置，采用在所述第一定時(shí)限制值搜索裝置中獲得的所述定時(shí)限制值和預(yù)定搜索范圍作為初始值來(lái)獲得對(duì)其他邏輯電路的收斂的定時(shí)限制值。
15.根據(jù)權(quán)利要求12的延遲庫(kù)生成裝置，其中所述定時(shí)限制值獲取裝置包括第一定時(shí)限制值搜索裝置，用于通過(guò)在預(yù)定操作條件之下重復(fù)操作模擬和根據(jù)所述操作模擬結(jié)果通過(guò)對(duì)分搜索的所述搜索范圍和所述定時(shí)限制值的重新設(shè)置，采用所述定時(shí)限制值和預(yù)定搜索范圍作為初始值來(lái)獲得對(duì)于簡(jiǎn)化的電路模型的收斂的定時(shí)限制值；以及所述定時(shí)限制值搜索裝置包括第二定時(shí)限制值搜索裝置，用于通過(guò)在預(yù)定操作條件之下重復(fù)操作模擬和根據(jù)所述操作模擬結(jié)果通過(guò)對(duì)分搜索的所述搜索范圍和所述定時(shí)限制值的重新設(shè)置，采用在所述第一定時(shí)限制值搜索裝置中獲得的所述定時(shí)限制值和預(yù)定搜索范圍作為初始值來(lái)獲得對(duì)于比所述簡(jiǎn)化的電路模型更詳細(xì)的電路模型的收斂的定時(shí)限制值。
16.根據(jù)權(quán)利要求15的延遲庫(kù)生成裝置，其中所述簡(jiǎn)化的電路模型是其中將非均勻傳輸線假定為均勻傳輸線的一種電路模型。
17.根據(jù)權(quán)利要求12的延遲庫(kù)生成裝置，其中所述定時(shí)限制值獲取裝置包括內(nèi)插/外插裝置，用于根據(jù)對(duì)應(yīng)于所述邏輯電路的至少一種預(yù)定操作條件包括至少第一和第二值的情況下的至少第一和第二定時(shí)限制值，通過(guò)內(nèi)插或外插來(lái)計(jì)算出對(duì)應(yīng)于所述預(yù)定操作條件為第三值的情況的第三定時(shí)限制值；以及所述定時(shí)限制值搜索裝置在所述預(yù)定操作條件為所述第三值的條件之下通過(guò)重復(fù)操作模擬以及根據(jù)所述操作模擬結(jié)果通過(guò)對(duì)分搜索重新設(shè)置所述搜索范圍和所述定時(shí)限制值，采用所述第三定時(shí)限制值和預(yù)定搜索范圍作為初始值獲得收斂的第三定時(shí)限制值。
18.根據(jù)權(quán)利要求17的延遲庫(kù)生成裝置，還包括內(nèi)插/外插定時(shí)限制值搜索裝置，用于通過(guò)重復(fù)操作模擬并根據(jù)所述操作模擬結(jié)果通過(guò)對(duì)分搜索重新設(shè)置所述搜索范圍和所述定時(shí)限制值，采用預(yù)定定時(shí)限制值和所述預(yù)定搜索范圍作為初始值來(lái)獲得收斂的第一或第二定時(shí)限制值。
19.根據(jù)權(quán)利要求17的延遲庫(kù)生成裝置，其中所述預(yù)定操作條件是輸入到所述邏輯電路的輸入信號(hào)的變化率。
20.根據(jù)權(quán)利要求12的延遲庫(kù)生成裝置，其中所述定時(shí)限制值搜索裝置包括模擬裝置，用于在其滿足所述初始定時(shí)限制值或所述重新設(shè)置定時(shí)限制值的操作條件之下執(zhí)行所述邏輯電路的操作模擬，以及搜索范圍/定時(shí)限制值重新設(shè)置裝置，根據(jù)所述操作模擬結(jié)果來(lái)判定所述定時(shí)限制值是否合適，以便通過(guò)對(duì)分搜索重新設(shè)置所述搜索范圍和所述定時(shí)限制值；以及重復(fù)操作所述模擬裝置和所述搜索范圍/定時(shí)限制值重新設(shè)置裝置，直至所述搜索范圍收斂于預(yù)定范圍之內(nèi)，由此獲得定時(shí)限制值。
21.根據(jù)權(quán)利要求20的延遲庫(kù)生成裝置，其中所述模擬裝置設(shè)置模擬條件，以致用對(duì)應(yīng)于定時(shí)限制值的信號(hào)傳輸路徑的不同精度來(lái)執(zhí)行所述模擬。
22.一種用于生成延遲庫(kù)的裝置，所述延遲庫(kù)包括其用作檢驗(yàn)邏輯電路的操作定時(shí)的定時(shí)限制值或延遲值，所述裝置包括模擬條件設(shè)置裝置，用于設(shè)置模擬條件，以致用對(duì)應(yīng)于定時(shí)限制值或延遲值的信號(hào)傳輸路徑的不同精度來(lái)執(zhí)行所述模擬；模擬裝置，用于在所述模擬條件之下執(zhí)行電路操作的模擬；以及特征值計(jì)算裝置，用于根據(jù)所述模擬結(jié)果來(lái)計(jì)算出定時(shí)限制值或延遲值。
全文摘要
在短時(shí)間周期之內(nèi)有效生成高精度的延遲庫(kù)。最終，通過(guò)靜態(tài)分析來(lái)計(jì)算準(zhǔn)備時(shí)間，而不用考慮布線引起的延遲；設(shè)置用于下一個(gè)對(duì)分搜索周期的搜索范圍的初始值，以使準(zhǔn)備時(shí)間為搜索范圍的中間值(例如，設(shè)置0.5ns的范圍)；并且利用基于搜索范圍的初始值的對(duì)分搜索，獲取正確的準(zhǔn)備時(shí)間α。
文檔編號(hào)G06F17/50GK1637423SQ20041010284
公開(kāi)日2005年7月13日 申請(qǐng)日期2004年12月24日 優(yōu)先權(quán)日2003年12月26日
發(fā)明者當(dāng)房哲朗 申請(qǐng)人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社