專利名稱：自動自測試系統(tǒng)的制作方法
相關(guān)申請的相互對照本申請的主題公布在申請者共同未決的美國臨時專利申請第60/020115，于1996年6月20日提出，并從該日要求優(yōu)先權(quán)。
背景技術(shù)：
本發(fā)明涉及在工業(yè)控制系統(tǒng)，如核電廠中普通的自動自測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括采用多傳感器、多通道冗余監(jiān)視控制電路的安全控制系統(tǒng)的自動自測試。
為了確?？煽窟\(yùn)行，工業(yè)控制系統(tǒng)，包括過程控制系統(tǒng)，經(jīng)常包含冗余監(jiān)控通道。通常用多個傳感器檢測一個參數(shù)，并通過獨(dú)立的處理通道處理多個傳感器的輸出，以便于每個通道都提供一個輸出到組合的邏輯陣列，該邏輯陣列再提供一個代表不同處理通道的輸出。盡管“設(shè)計上”的冗余確保了更高級別的運(yùn)行可靠性，但不同的冗余通道及其相關(guān)的邏輯本身又是潛在的故障源。
在核電工業(yè)中，通常使用多級冗余以確保一個特定的測量是有效的。在核電廠中，獨(dú)立的關(guān)閉系統(tǒng)與安全運(yùn)行系統(tǒng)專用于監(jiān)控工廠運(yùn)行和估計各種與安全相關(guān)的參數(shù)。當(dāng)一個或多個參數(shù)指示存在一個不安全條件時，關(guān)閉系統(tǒng)與/或安全運(yùn)行系統(tǒng)可以自動采取適當(dāng)?shù)难a(bǔ)救行動。這些安全控制系統(tǒng)，如所知的工廠保護(hù)系統(tǒng)，可靠地運(yùn)行是絕對必要的，因而，所有測量與檢測參數(shù)為有效的，這也是絕對必要的。
從核工廠保護(hù)系統(tǒng)的角度看，通常要測量多個與工廠運(yùn)行相關(guān)的參數(shù)，這些參數(shù)包括，比如溫度、壓力、流速、功率密度、中子流量、液位等。工廠保護(hù)系統(tǒng)的其它功能包括監(jiān)視各種元件，如閥門、泵、發(fā)動機(jī)、控制裝置和發(fā)電機(jī)的狀態(tài)。
另外，工廠保護(hù)系統(tǒng)，在一定的條件下，可以啟動反應(yīng)堆的自動關(guān)閉，即快速、受控、安全地關(guān)閉反應(yīng)堆。如在加壓的普通水反應(yīng)堆中，經(jīng)常通過將減速控制桿降低到反應(yīng)堆的堆芯使反應(yīng)堆變?yōu)榇闻R界來完成其關(guān)閉。
使用冗余傳感器及相關(guān)的處理電路(即通道)的慣例是眾所周知的。典型地，可能用三個或四個相同的傳感器監(jiān)視任一給定的工廠參數(shù)或元件狀態(tài)，每個傳感器都將其測得的值輸出到獨(dú)立的處理通道。盡管使用多個傳感器和通道使得一個參數(shù)的測量值為有效的概率增大了，但增加的硬件也使得冗余通道中發(fā)生通道內(nèi)故障的概率增大，通道內(nèi)故障會產(chǎn)生與其它通道相沖突的輸出。
通道內(nèi)故障的問題已被解決了，這是通過比較所有冗余通道的輸出，并提供一個基于任意推選算法的輸出。例如，用簡單的組合邏輯裝置，如“與”門和“或”門，實(shí)現(xiàn)推選算法。在四選二邏輯方案中，四個獨(dú)立的傳感器通道中二個或更多個的值一致，符合邏輯才產(chǎn)生一個指示特定條件的輸出。
發(fā)明概要本發(fā)明的一個目的在于為參數(shù)檢測和處理電路提供一個改進(jìn)的自動自測試系統(tǒng)。
本發(fā)明的另一個目的在于為參數(shù)檢測電路提供一個改進(jìn)的自動自測試系統(tǒng)和方法，以便于提供更高的可靠性。
本發(fā)明還有一個目的在于為參數(shù)檢測電路提供一個改進(jìn)的自動自測試系統(tǒng)和方法，其中所有的必要電路在例行測試期間仍然運(yùn)行。
本發(fā)明還有一個目的在于提供一種方案，用此方案，為了有效地運(yùn)行，參數(shù)檢測電路的各種邏輯狀態(tài)可以被有效地評估。
由于這些及其它的目的，本發(fā)明提供一種自動自測試系統(tǒng)，它非常適用于工業(yè)控制系統(tǒng)，包括核電廠，在這些系統(tǒng)中必須確保高可靠地運(yùn)行，而且運(yùn)行故障必須被快速地識別出來。
在一個參數(shù)由多個獨(dú)立處理通道檢測的系統(tǒng)中，每個通道帶有并行的冗余子通道，每個子通道可以順序地插入處理通道以執(zhí)行正常的處理，或者從處理通道中分離出來以執(zhí)行測試。然后，從信號處理通道中分離出來的子通道必須經(jīng)過程控測試處理器的運(yùn)行測試，在測試時，該程控測試處理器為受測子通道提供一個預(yù)設(shè)的測試信號，同時檢測其輸出，以此識別異常條件。測試處理器按順序循環(huán)地測試每個子通道。另外，每個處理通道的有限次的已知為好的邏輯狀態(tài)被轉(zhuǎn)化為十進(jìn)制的值，然后通過測試處理器與一組已知為好(known-good)的值比較；如果十進(jìn)制的值與已知為好的值是不一致的，就表示可能為故障條件。
在本發(fā)明的優(yōu)選形式中，一個參數(shù)必須經(jīng)過多個傳感器及傳感器專用的處理通道的檢測。每個傳感器直接或間接地提供一個數(shù)字值給比較器，比較器將被測值與預(yù)設(shè)值比較，然后送至符合邏輯，由它評估此比較器的輸出與其它處理通道的比較器的輸出，然后給出一個指示正常/故障條件的輸出。每個傳感器處理通道包含兩個子通道，當(dāng)分離出來的子通道接受測試處理器的離線檢測時，子通道可以與處理通道相連或切換到處理通道。測試是通過為正在測試的子通道提供一個數(shù)字值，并檢測其輸出，以判定該受測子通道的功能是否正確。測試連續(xù)地進(jìn)行，直到檢測到一個特定子通道的故障指示才停止，然后將該子通道隔離并產(chǎn)生一個適當(dāng)?shù)膱缶甘尽?br> 另外，具有二進(jìn)制1或0值的系統(tǒng)各個節(jié)點(diǎn)被賦予唯一的以2為底的二進(jìn)制位值。系統(tǒng)的組合邏輯狀態(tài)是通過算術(shù)運(yùn)算，將二進(jìn)制的1值的位值相加，得到相應(yīng)的十進(jìn)制值，然后將其與對應(yīng)于系統(tǒng)的有限的已知為好的邏輯狀態(tài)組的十進(jìn)制值相比較。如果十進(jìn)制值不是所有已知為好的的邏輯狀態(tài)的十進(jìn)制值的集合中的成員，則表明有故障條件。
本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)還在于提供了一個自動自測試系統(tǒng)，用于驗(yàn)證信號通道的處理功能，及參數(shù)檢測系統(tǒng)，特別是采用多個并行冗余處理通道的參數(shù)檢測系統(tǒng)中的各個邏輯狀態(tài)的正確性。
本發(fā)明的其它目的和可應(yīng)用的進(jìn)一步范圍，從下面與附圖結(jié)合的詳細(xì)描述，將會很清楚，附圖中，類似的部分以類似的參考字符表示。
附圖簡述

圖1為用于測量一個指定參數(shù)的多個信號處理通道的方框圖。
圖2為按照本發(fā)明的圖1中一個信號通道的方框圖。
圖3為指示圖2中方框圖的測試順序的簡化流程圖。
圖4為表示圖2中系統(tǒng)的各個邏輯狀態(tài)的表。
優(yōu)選實(shí)施方案的描述本發(fā)明的自動自測試系統(tǒng)用于圖1所示的一類信號處理拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，在圖中以參考符號100表示。如圖所示，信號處理拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)由4個代表性的獨(dú)立的信號處理通道100A,100B,100C,100D來定義，它們之間由下述的方式相互連接。如圖1左側(cè)所示，處理通道100A包含一個傳感器102A；一個模/數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換器104A；一個雙穩(wěn)定比較器106A；一個符合邏輯單元108A；一個關(guān)閉-初始邏輯單元110A，和一個關(guān)閉-啟動邏輯單元112A。雙穩(wěn)定比較器106A輸出信號B,C和D到其它信號處理通道的符合邏輯單元108B,108C,108D，同時符合邏輯單元108A從其它信號處理通道的雙穩(wěn)定比較器106B,106C,106D接受信號B,C和D。
傳感器102A是用來測量參數(shù)，如溫度、壓力、流量、電壓、電流、位移、位置等。傳感器102A的輸出可能必須經(jīng)過某種信號調(diào)節(jié)(如放大，換算，濾波等)，然后送到A/D轉(zhuǎn)換器104A轉(zhuǎn)換為多比特的數(shù)字值。如果傳感器102A直接提供的是數(shù)字輸出，即如果在光束編碼器和線性位移編碼器情況下，數(shù)字輸出可以直接從傳感器102到雙穩(wěn)定比較器106A，見圖1信號處理通道100A左側(cè)虛線所示。
當(dāng)傳感器102A為模擬型的，A/D轉(zhuǎn)換器104A把從傳感器102A來的模擬信號值轉(zhuǎn)換為數(shù)字式表示的信號，然后送至雙穩(wěn)定比較器106A。在雙穩(wěn)定比較器106A中，被測值與存儲器中存儲的預(yù)設(shè)的給定值比較。給定值可能是固定或靜態(tài)值，也可能是在特定的暫態(tài)條件下(如，在啟動條件下)變化的浮點(diǎn)值或變化值。當(dāng)雙穩(wěn)定比較器106A判定一個參數(shù)超限(或不在容許范圍內(nèi))時，就產(chǎn)生一個關(guān)閉-指示信號，該信號直接輸出到符合邏輯單元108A，另外，還作為關(guān)閉指示信號B,C和D輸出到其它三個信號處理通道100B,100C和100D的符合單元108B,108C和108D。任一通道的雙穩(wěn)定比較器與其它通道的符合邏輯單元之間的互連最好用光纖。每個雙穩(wěn)定比較器的電輸出由電-光耦合器轉(zhuǎn)換，經(jīng)光纖傳輸?shù)狡渌线壿媶卧?，在符合邏輯單元該信號又由?電耦合器轉(zhuǎn)換為電值。因此，每個信號處理通道的符合邏輯單元將接收它的雙穩(wěn)定比較器的輸出和分別從其它三個信號處理通道的雙穩(wěn)定比較器來的關(guān)閉-指示信號。因此，每個符合邏輯單元接收所有雙穩(wěn)定比較器的輸出。
雙穩(wěn)定比較器有兩個穩(wěn)定運(yùn)行狀態(tài)，即第一態(tài)，在此狀態(tài)檢測值沒有超過給定值，和第二態(tài)，在此狀態(tài)檢測值超過給定值。
符合邏輯單元108A，在適當(dāng)?shù)臈l件下輸出一個信號到關(guān)閉-初始邏輯110A，然后關(guān)閉-初始邏輯單元110A輸出一個信號到關(guān)閉啟動邏輯112A，以實(shí)現(xiàn)所請求的“關(guān)閉”。在核電廠控制系統(tǒng)的情況下，“關(guān)閉”可以初始化一組程序，用于將核反應(yīng)堆有效而安全地關(guān)閉。
信號處理通道100B,100C和100D以類似于信號處理通道100A的方式配置。信號處理通道100A至100D在物理上是相互分隔的，如圖1中每個處理通道之間用豎直虛線表示隔開。每個信號處理通道中的雙穩(wěn)定比較器與其它信號處理通道的符合邏輯單元之間的信號通訊最好用前面提到的光纜以保證通道間電測量的隔離。
在正常運(yùn)行情況下，傳感器102A至102D監(jiān)視被測變量，并產(chǎn)生一個輸出到各自的A/D轉(zhuǎn)換器，每個A/D轉(zhuǎn)換器的數(shù)字輸出再送到各自的雙穩(wěn)定比較器。只要被測參數(shù)的數(shù)字值不超過它的給定值，“關(guān)閉”信號就不會由比較器輸出到它的符合邏輯單元，也不會到其它信號處理提到的符合邏輯單元。
反過來，如果被測值超過了它的給定值，至少有一個雙穩(wěn)定比較器會輸出一個“關(guān)閉-指示信號”到它的符合邏輯單元和其它信號處理提到的符合邏輯單元。如果一個符合邏輯單元的四個輸入的任意兩個表示了關(guān)閉-指示信號，那么符合邏輯單元就會輸出一個關(guān)閉-命令信號到它的關(guān)閉-啟動邏輯。因此，任意一個關(guān)閉-啟動邏輯單元112A至112D的輸出出現(xiàn)信號，就表明四個通道中至少兩個被測參數(shù)超過了它的給定值。
按照本發(fā)明，信號處理通道必須經(jīng)過通道內(nèi)測試，如圖2中表示的信號處理通道100A。我們知道，圖2所示的信號處理通道100A代表了信號處理通道100B,100C和100D的相似配置。
如圖2所示，處理通道從A/D轉(zhuǎn)換器104A出來后，分叉進(jìn)入兩個并行通道，包括第一雙穩(wěn)定比較器106A1和第二雙穩(wěn)定比較器106A2。從A/D轉(zhuǎn)換器104A來的多比特數(shù)據(jù)通道可以連接或不連接第一雙穩(wěn)定比較器106A1和第二雙穩(wěn)定比較器106A2中的一個。每個雙穩(wěn)定比較器106A1和106A2輸出到上述圖1中的其它信號處理通道的符合邏輯單元。
一個程控測試處理器TP包含一個多比特數(shù)據(jù)輸出，它能夠選擇性地連接從A/D轉(zhuǎn)換器104A到雙穩(wěn)定比較器106A1或雙穩(wěn)定比較器106A2的數(shù)據(jù)通道。如虛線所示，測試處理器TP控制數(shù)據(jù)開關(guān)DSW或功能相同的元件，使其允許測試處理器TP向兩個雙穩(wěn)定比較器106A1或106A2中的一個或另一個發(fā)送一個測試字，同時雙穩(wěn)定比較器中的另一個接收A/D轉(zhuǎn)換器104A的輸出。另外，符合邏輯單元108A1和108A2的輸出也與測試處理器TP相連，并且，如果希望的話，雙穩(wěn)定比較器106A1和106A2的輸出也單獨(dú)與測試處理器TP相連(如圖中虛線所示)。
符合邏輯單元108A1和108A2的輸出與關(guān)閉-初始邏輯110A和關(guān)閉-啟動邏輯112A串行地連接在一起，如上述圖1中的關(guān)系。
在正常運(yùn)行中，子通道中的一個或另一個從信號處理通道中分離出來，而另一個通道實(shí)現(xiàn)上述的信號處理。在圖2情況下，假定由雙穩(wěn)定比較器106A1和符合邏輯單元108A1定義的子通道在信號處理通道100A中工作，而由雙穩(wěn)定比較器106A2和符合邏輯單元108A2定義的子通道在進(jìn)行測試。在這種情況下，測試處理器TP使A/D轉(zhuǎn)換器104A的多比特數(shù)據(jù)輸出不與雙穩(wěn)定比較器106A2的輸入相連。當(dāng)測試處理器TP，或者從內(nèi)部操作系統(tǒng)序列，與/或從監(jiān)督計算機(jī)(未在圖中示出)接收命令時，它就啟動測試序列，定時向雙穩(wěn)定比較器106A2發(fā)送一個任意的測試值，同時也監(jiān)視符合邏輯單元108A2的輸出。因而，與輸入到雙穩(wěn)定比較器106A2輸入端的任意測試值相對應(yīng)的符合邏輯單元108A2的被測輸出就表示了子通道的正常/故障狀態(tài)。如果希望的話，如從雙穩(wěn)定比較器106A2的輸出所示的虛線，測試處理器TP也可以除了檢測雙穩(wěn)定比較器108A1的輸出，還檢測雙穩(wěn)定比較器106A2的輸出。
按照本發(fā)明的一個方面，雙穩(wěn)定比較器106A2和符合邏輯單元108A2之間處理通道的集成，和符合邏輯單元108A2與關(guān)閉-初始邏輯單元110A之間處理通道的集成是固定的(即不斷開的)，因?yàn)樵跍y試時符合邏輯單元108A2瞬時的“故障”輸出，按照上述的四選二的推選系統(tǒng)，將不會引起偽關(guān)閉-初始信號。
由測試處理器TP提供給雙穩(wěn)定比較器106A2的測試值可以是單個的，也可以是不同值的序列，意欲訓(xùn)練受測子通道。在優(yōu)選實(shí)施方案中，測試處理器提供一個單個的數(shù)字值，該值是從存儲的代表參數(shù)的期望“正?！敝档姆创a中得出的值。更確切地說，被測參數(shù)的正常值或期望的“正常”值，在二進(jìn)制格式中，是取補(bǔ)(即，反相)，然后該反碼用作由測試處理器TP送到雙穩(wěn)定比較器106A2的測試值。因而，當(dāng)參數(shù)的已知值或期望值為FE 5C 13 07(十六進(jìn)制)，測試處理器TP就用此值的反碼，即01 A3 EC F8作為送到雙穩(wěn)定比較器106A2的詢問值。
一旦測試處理器TP為一個子通道的測試得出結(jié)論后，另一個子通道就可以測試了。測試處理器TP將A/D轉(zhuǎn)換器104A的輸出與一個子通道中的雙穩(wěn)定比較器的輸入端相連，而與另一個子通道中的雙穩(wěn)定比較器分離，并開始測試現(xiàn)在被分離出來的測試通道。測試順序在測試處理器TP與/或監(jiān)督計算機(jī)內(nèi)(未在圖中示出)的操作系統(tǒng)控制下，一個通道一個通道地循環(huán)重復(fù)。
如圖3中流程圖所示，圖1所示的四個信號處理通道的前后關(guān)系，按照圖2中的改進(jìn)來修改后，8個子通道就可以在監(jiān)督計算機(jī)決定的調(diào)度下順序測試。在圖3中，變量M代表子通道的個數(shù)(Mmax=2)，變量N代表信號處理通道的個數(shù)(Nmax=4)。如果一個子通道測試沒有通過，該子通道就會被隔離，并產(chǎn)生適當(dāng)?shù)膱缶蚱渌崾?，以啟動補(bǔ)救或修理動作。
采用組合的連續(xù)邏輯和操作系統(tǒng)驅(qū)動的處理器等的數(shù)字系統(tǒng)，例如圖1和2所示的系統(tǒng)，具有有限個邏輯狀態(tài)，它們是各種輸入的函數(shù)。因此，系統(tǒng)中每個可以假定為二進(jìn)制1值或二進(jìn)制0值的節(jié)點(diǎn)代表系統(tǒng)的一個特定邏輯狀態(tài)的一個元件。一般來說，唯一的邏輯狀態(tài)可以表示成列表或圖的格式(即，類似于真值表或卡諾圖)，其中表的每一排表示唯一的選定比特寬度的二進(jìn)制楨，這對應(yīng)于系統(tǒng)唯一的已知為好的邏輯狀態(tài)。如圖4中的矩陣所示，每排和每列的位置為系統(tǒng)的一個選定節(jié)點(diǎn)提供一個二進(jìn)制值，整排表示了一個四通道系統(tǒng)的已知為好的邏輯狀態(tài)，其中每個通道的配置如圖2所示。當(dāng)系統(tǒng)大小增大時，代表邏輯狀態(tài)的二進(jìn)制楨集合的比較。
按照本發(fā)明的一個特征，如圖4所示，每個節(jié)點(diǎn)或者所選的節(jié)點(diǎn)都賦予一個二進(jìn)制位值(如20,21,22,23,24,25,26,27和28)，對應(yīng)于傳統(tǒng)的以2為底的二進(jìn)制系統(tǒng)。在圖4的表中，最高有效位位于表的左側(cè)。按照本發(fā)明，各個二進(jìn)制狀態(tài)(0或1)按照它們的以10為底的數(shù)字值(0,2,4,8,16,32,64,128和264)求和，見圖最右列。因此，對于圖4的表中任意一排，各個二進(jìn)制0或1值的以2為底的位值，如果將它們的十進(jìn)制等效值相加，就表示一個唯一的以10為底的十進(jìn)制值。測試處理器TP，作為它測試順序的一部分，計算檢測的二進(jìn)制邏輯狀態(tài)的以10為底的十進(jìn)制等效值，然后與已知為好的值的表中的十進(jìn)制值比較。如果找到一個相匹配的，此邏輯狀態(tài)為有效狀態(tài)；相反，如果沒找到匹配的，就表示可能有故障。采用十進(jìn)制等效值可以有效地檢測出不是已知為好的邏輯狀態(tài)的系統(tǒng)的一個邏輯狀態(tài)。
盡管圖4的安排運(yùn)用了以2為底的計數(shù)系統(tǒng)和以10為底的計數(shù)系統(tǒng)之間的算術(shù)變換，其它非十進(jìn)制的變換方案也屬本發(fā)明的范圍，即二進(jìn)制到八進(jìn)制，或二進(jìn)制到十六進(jìn)制。
本發(fā)明的可取之處在于提供一種自動自測試系統(tǒng)，用于驗(yàn)證信號通道處理功能和參數(shù)檢測系統(tǒng)，特別是采用多個并行冗余處理通道的參數(shù)檢測系統(tǒng)中的各個邏輯狀態(tài)的正確性。
對于那些本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，對本發(fā)明示例的自動自測試系統(tǒng)的各種改動和修改都是可能的，只要不偏離在所附權(quán)利要求及其合法等同物所述的本發(fā)明的精神和范圍即可。
權(quán)利要求
1.一個自動自測試系統(tǒng)包括用于檢測一個被測量的參數(shù)，并提供一個代表被檢測參數(shù)的輸出的裝置；一個第一處理通道和一個第二處理通道，它們可以選擇性地連接到上述首先提及裝置的輸出端，用于處理其輸出；程序控制的裝置，它用于選擇性地將上述第一和第二處理通道中的一個連接到首先提到的裝置的輸出，以處理它的輸出，也用于將一個測試信號提供給上述第一和第二處理通道中的另一個，并檢測上述第一和第二處理通道中的另一個的輸出，來測試其功能，然后還用于將上述第一和第二處理通道中的另一個與首先提到的裝置的輸出連接，還用于將一個測試信號提供給上述第一和第二處理通道中先提到的一個，并測試其功能。
2.權(quán)利要求1中的自動自測試系統(tǒng)，其中所述首先提到的裝置包括一個用于測量參數(shù)的傳感器；一個A/D轉(zhuǎn)換器，它與該傳感器的輸出相連，用于產(chǎn)生一個代表被測量參數(shù)的數(shù)字輸出。
3.權(quán)利要求1中的自動自測試系統(tǒng)，其中該程控裝置循環(huán)地測試上述第一和第二處理通道的功能。
4.權(quán)利要求1中的自動自測試系統(tǒng)，其中該程控裝置為所說處理通道的所選節(jié)點(diǎn)賦予一個唯一的二進(jìn)制位值，該節(jié)點(diǎn)具有二進(jìn)制1或0值，程控裝置將節(jié)點(diǎn)的十進(jìn)制等效值相加，得到該節(jié)點(diǎn)邏輯狀態(tài)唯一的十進(jìn)制值。
5.權(quán)利要求4中的自動自測試系統(tǒng)，其中該程控裝置將此十進(jìn)制值與一組已知為好的邏輯狀態(tài)的十進(jìn)制值比較，以判斷此十進(jìn)制值是否為一個已知為好的邏輯狀態(tài)的十進(jìn)制值。
6.一個自動自測試系統(tǒng)包括用于檢測一個被測量的參數(shù)，并提供一個代表被檢測參數(shù)的輸出的裝置；一個第一處理通道和一個第二處理通道，它們可以選擇性地連接到上述首先提及裝置的輸出端，用于處理其輸出；程序控制的裝置，它用于選擇性地將上述第一和第二處理通道中的一個連接到所說首先提到的裝置的數(shù)字輸出，以處理它的輸出，也用于將一個測試信號提供給上述第一和第二處理通道中的另一個，并檢測上述第一和第二處理通道中的另一個的輸出，來測試其功能，然后還用于將上述第一和第二處理通道中的另一個與所說首先提到的裝置的輸出連接，還用于將一個數(shù)字測試信號提供給上述第一和第二處理通道中先提到的一個，并測試其功能。
7.權(quán)利要求6中的自動自測試系統(tǒng)，其中所說首先提到的裝置包括一個用于測量參數(shù)的傳感器；一個A/D轉(zhuǎn)換器，它與該傳感器的輸出相連，用于產(chǎn)生一個代表被測量參數(shù)的數(shù)字輸出。
8.權(quán)利要求6中的自動自測試系統(tǒng)，其中該程控裝置循環(huán)地測試上述第一和第二處理通道的功能。
9.權(quán)利要求6中的自動自測試系統(tǒng)，其中該程控裝置為所說處理通道的所選節(jié)點(diǎn)賦予一個唯一的二進(jìn)制位值，該節(jié)點(diǎn)具有二進(jìn)制1或0值，程控裝置將節(jié)點(diǎn)的十進(jìn)制等效值相加，得到該節(jié)點(diǎn)邏輯狀態(tài)唯一的十進(jìn)制值。
10.權(quán)利要求9中的自動自測試系統(tǒng)，其中該程控裝置將此十進(jìn)制值與一組已知為好的邏輯狀態(tài)的十進(jìn)制值比較，以判斷此十進(jìn)制值是否為一個已知為好的邏輯狀態(tài)的十進(jìn)制值。
11.一個自動自測試系統(tǒng)包括一個用于檢測參數(shù)，并提供輸出的傳感器；一個A/D轉(zhuǎn)換器，它與該傳感器的輸出相連，用于產(chǎn)生一個代表被測量參數(shù)的數(shù)字輸出；一個第一處理通道和一個第二處理通道，它們可以選擇性地連接到上述A/D轉(zhuǎn)換器的數(shù)字輸出端，用于處理其輸出，此第一處理通道和一個第二處理通道都有一個比較器，用于將該A/D轉(zhuǎn)換器的數(shù)字輸出與預(yù)設(shè)的數(shù)字值比較；程序控制的裝置，它用于選擇性地將上述第一和第二處理通道中的一個連接到該A/D轉(zhuǎn)換器的數(shù)字輸出端，以處理它的輸出，也用于將一個數(shù)字測試信號提供給上述第一和第二處理通道中的另一個，并檢測上述第一和第二處理通道中的另一個的輸出，來測試其功能，然后還用于將上述第一和第二處理通道中的另一個與該A/D轉(zhuǎn)換器的輸出連接，還用于將一個數(shù)字測試信號提供給上述第一和第二處理通道中先提到的一個，并測試其功能。
12.權(quán)利要求11中的自動自測試系統(tǒng)，其中該程控裝置循環(huán)地測試上述第一和第二處理通道的功能。
13.一個自動自測試系統(tǒng)包括許多個用于測量一個參數(shù)的N條參數(shù)檢測通道，所述N條參數(shù)檢測通道中每一條通道都有一個用于在測量時檢測參數(shù)并提供數(shù)字輸出的裝置；這N條參數(shù)檢測通道中每一條通道都有M條子通道，每條子通道可以選擇地連接到該檢測裝置的輸出，用于處理其數(shù)字輸出；程控裝置，用于順序地將上述M條處理子通道的每一條與上述檢測裝置的輸出相連接，以處理其數(shù)字輸出，它還用于為上述M條子通道的另一條提供測試信號，并檢測上述M條子通道的另一條的輸出以測試其功能，它還用于順序地將上述M條處理子通道的另一條與上述檢測裝置的輸出相連接，它還用于為上述M條子通道的首先提到的那一條提供一個數(shù)字測試信號，以測試其功能，該程控裝置循環(huán)地測試上述N條處理通道的每一個的M條處理子通道的功能。
14.一種辨識一個邏輯網(wǎng)絡(luò)的邏輯狀態(tài)的方法，該邏輯網(wǎng)絡(luò)具有多個節(jié)點(diǎn)，節(jié)點(diǎn)具有二進(jìn)制1或0狀態(tài)，邏輯網(wǎng)絡(luò)的多個可能的唯一邏輯狀態(tài)的每一個都由一組對應(yīng)的二進(jìn)制節(jié)點(diǎn)值所定義，此方法包括以下步驟為每個節(jié)點(diǎn)賦予一個唯一的二進(jìn)制值；將每個節(jié)點(diǎn)的所賦予的二進(jìn)制位值所對應(yīng)的十進(jìn)制值相加；將相加后的邏輯狀態(tài)的十進(jìn)制值與一組定義邏輯網(wǎng)絡(luò)的多個唯一邏輯狀態(tài)的十進(jìn)制值相比較；當(dāng)相加后的十進(jìn)制值不是一組定義邏輯網(wǎng)絡(luò)的多個唯一邏輯狀態(tài)的十進(jìn)制值的一個成員時，辨識出一個非一致的邏輯狀態(tài)。
15.一種確定一個邏輯網(wǎng)絡(luò)的邏輯狀態(tài)的方法，該邏輯網(wǎng)絡(luò)具有多個節(jié)點(diǎn)，每個節(jié)點(diǎn)具有二進(jìn)制1或0狀態(tài)，多個可能的唯一邏輯狀態(tài)的每一個都由一組對應(yīng)的二進(jìn)制節(jié)點(diǎn)值所定義，此方法包括以下步驟為每個節(jié)點(diǎn)賦予一個唯一的二進(jìn)制值；將對應(yīng)于具有二進(jìn)制1狀態(tài)的每個節(jié)點(diǎn)的二進(jìn)制位值的非十進(jìn)制位值相加；將相加后的邏輯狀態(tài)的非十進(jìn)制值與一組限定邏輯網(wǎng)絡(luò)的多個可能的唯一邏輯狀態(tài)的非十進(jìn)制值相比較；當(dāng)相加后的非十進(jìn)制值不是一組限定邏輯網(wǎng)絡(luò)的多個可能的唯一邏輯狀態(tài)的非十進(jìn)制值的一個成員時，辨識出一個非一致的邏輯狀態(tài)。
全文摘要
一個自動自測試系統(tǒng)包括多個傳感器處理通道(100A－100D),每個通道有一個傳感器(102A－102D),用于直接或間接地為比較器(106A－106D)提供數(shù)字值,比較器(106A－106D)將被測值與預(yù)設(shè)值比較,然后提供給符合邏輯(108A－108D),符合邏輯(108A－108D)將此比較器的輸出與其它通道的比較器的輸出進(jìn)行評估,提供一個通過/故障條件的輸出指示。每個傳感器處理通道包括兩個子通道,當(dāng)被分離的子通道接受測試處理器的離線測試時,它們可以連入處理通道。在測試時為子通道提供一個數(shù)字值,并檢測其輸出,以判定被測試的子通道的功能是否正確,由此來完成測試。監(jiān)視系統(tǒng)的組合邏輯狀態(tài)并將其轉(zhuǎn)換為一個十進(jìn)制值,此值與對應(yīng)于系統(tǒng)的有限個已知為好的邏輯狀態(tài)的一組十進(jìn)制值比較。如果此十進(jìn)制值不是已知為好的邏輯狀態(tài)的一組十進(jìn)制值的成員,則表明有故障。
文檔編號G05B23/02GK1222239SQ97195639
公開日1999年7月7日 申請日期1997年6月6日 優(yōu)先權(quán)日1996年6月20日
發(fā)明者R·R·塞內(nèi)沙爾, S·J·維爾科斯茲 申請人:燃燒工程有限公司