電子設備的測試方法、測試裝置、測試工裝和測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種電子設備的測試方法、測試裝置、測試工裝和測試系統(tǒng)。該測試方法包括：在電子設備執(zhí)行測試命令后，采集電子設備的圖像，以得到對比圖像；提取對比圖像的信息；比較提取到的信息和預存的標準信息，其中，標準信息包括電子設備執(zhí)行測試命令后的正確執(zhí)行結果；以及根據(jù)比較結果輸出電子設備執(zhí)行測試命令的結果。通過本發(fā)明，能夠實現(xiàn)電子設備的自動化測試，提高了電子設備測試效率。
【專利說明】電子設備的測試方法、測試裝置、測試工裝和測試系統(tǒng)
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及測試領域，具體而言，涉及一種電子設備的電子設備的測試方法、測試裝置、測試工裝和測試系統(tǒng)。
【背景技術】
[0002]目前，對電子設備進行測試時，在電子設備執(zhí)行測試的控制命令后，通常需要測試員去查看測試結果，例如在測試顯示器時，需要測試員去查看顯示器執(zhí)行控制命令后的顯示信息，例如在測試控制主板時，需要測試員去查主板負載動作。
[0003]這種人工測試的方法測試周期長、測試效率低，導致開發(fā)進度非常的漫長，并且測試可靠性差，測試質量無法保證，經常會由于測試員的測試技術或測試狀態(tài)的影響，而出現(xiàn)測試錯誤。
[0004]針對相關技術中電子設備測試效率低的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

【發(fā)明內容】

[0005]本發(fā)明的主要目的在于提供一種電子設備的電子設備的測試方法、測試裝置、測試工裝和測試系統(tǒng)，以解決電子設備測試效率低的問題。
[0006]為了實現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種電子設備的測試方法。
[0007]根據(jù)本發(fā)明的電子設備的測試方法包括:在電子設備執(zhí)行測試命令后，采集電子設備的圖像，以得到對比圖像；提取對比圖像的信息；比較提取到的信息和預存的標準信息，其中，標準信息包括電子設備執(zhí)行測試命令時的正確執(zhí)行結果；以及根據(jù)比較結果輸出電子設備執(zhí)行測試命令的結果。
[0008]進一步地，當電子設備為顯示器時，在采集電子設備的圖像之前，該方法還包括:控制顯示器的背光源處于長亮的狀態(tài)。
[0009]進一步地，提取對比圖像的有效信息包括:對對比圖像通過閾值化函數(shù)進行閾值化，其中，閾值化結果為1的像素點為對比圖像中第一部分的像素點，閾值化結果為ο的像素點為對比圖像中第二部分的像素點，第一部分為顯示器的背光區(qū)域對應的圖像部分，第二部分為對比圖像中除第一部分之外的部分；讀取對比圖像各像素點的像素值，將第二部分中所有像素點的像素值替換為ο ;對像素替換后的對比圖像進行顆粒濾波和填充處理；通過邊緣檢測處理顆粒濾波和填充處理后的對比圖像，以得到第一部分在對比圖像中的坐標范圍；以及對坐標范圍內的圖像進行圖像處理，以得到對比圖像的有效信息。
[0010]進一步地，電子設備為控制主板時，控制主板的信號輸出端連接有顯示單元，采集電子設備的圖像包括:采集顯示單元的圖像。
[0011]進一步地，顯示單元為發(fā)光二極管。
[0012]為了實現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種電子設備的測試裝置。
[0013]根據(jù)本發(fā)明的電子設備的測試裝置包括:采集模塊，用于在電子設備執(zhí)行測試命令后，通過攝像裝置采集電子設備的圖像，以得到對比圖像；提取模塊，用于提取對比圖像的信息；比較模塊，用于比較提取到的信息和預存的標準信息，其中，標準信息包括電子設備執(zhí)行測試命令時的正確執(zhí)行結果；以及確定模塊，用于根據(jù)比較結果確定電子設備執(zhí)行測試命令的結果。
[0014]進一步地，電子設備為顯示器時，顯示器的背光源處于長亮的狀態(tài)，其中，提取模塊包括:閾值子模塊，用于對對比圖像通過閾值化函數(shù)進行閾值化，其中，閾值化結果為1的像素點為對比圖像中第一部分的像素點，閾值化結果為0的像素點為對比圖像中第二部分的像素點，第一部分為顯示器的背光區(qū)域對應的圖像部分，第二部分為對比圖像中除第一部分之外的部分；替換子模塊，用于讀取對比圖像各像素點的像素值，將第二部分中所有像素點的像素值替換為ο ;濾波填充子模塊，用于對像素替換后的對比圖像進行顆粒濾波和填充處理；檢測子模塊，用于通過邊緣檢測處理顆粒濾波和填充處理后的對比圖像，以得到第一部分在對比圖像中的坐標范圍；以及提取子模塊，用于對坐標范圍內的圖像進行圖像處理，以得到對比圖像的有效信息。
[0015]進一步地，電子設備為控制主板時，控制主板的信號輸出端連接有顯示單元，采集模塊用于通過攝像裝置采集顯示單元的圖像。
[0016]為了實現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種電子設備的測試工裝。
[0017]根據(jù)本發(fā)明的電子設備的測試工裝包括:攝像裝置，用于在電子設備執(zhí)行測試命令后，采集電子設備的圖像，以得到對比圖像；處理裝置，與攝像裝置相連接，用于提取對比圖像中的信息，并根據(jù)提取到的信息和預存的標準信息確定電子設備執(zhí)行測試命令的結果，其中，標準信息包括電子設備執(zhí)行測試命令時的正確執(zhí)行結果；以及顯示裝置，與處理裝置相連接，用于輸出電子設備執(zhí)行測試命令的結果。
[0018]為了實現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種電子設備的測試系統(tǒng)。
[0019]根據(jù)本發(fā)明的電子設備的測試系統(tǒng)包括:控制裝置，用于生成測試命令；電子設備，與控制裝置相連接；以及本發(fā)明提供的測試工裝。
[0020]進一步地，電子設備為控制主板，控制主板的信號輸出端連接有顯示單元。
[0021]進一步地，顯示單元為發(fā)光二極管。
[0022]進一步地，顯示單元包括多個顏色和/或形狀不同的二極管。
[0023]進一步地，電子設備為顯示器。
[0024]通過本發(fā)明，采用包括以下步驟的電子設備測試方法:電子設備執(zhí)行測試命令后，采集電子設備的圖像，以得到對比圖像；提取對比圖像的信息；比較提取到的信息和預存的標準信息，其中，標準信息包括電子設備執(zhí)行測試命令時的正確執(zhí)行結果；以及根據(jù)比較結果輸出電子設備執(zhí)行測試命令的結果，利用電子設備執(zhí)行不同命令后具有不同外觀的特性，通過采集并處理電子設備執(zhí)行測試命令時的圖像，將處理后得到的信息與正確的執(zhí)行結果信息相比較，能夠自動輸出對電子設備的執(zhí)行結果，從而實現(xiàn)電子設備的自動化測試，解決了電子設備測試效率低的問題，達到了提高電子設備測試效率的效果。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0025]構成本申請的一部分的附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構成對本發(fā)明的不當限定。在附圖中:
[0026]圖1是根據(jù)本發(fā)明第一實施例的電子設備的測試系統(tǒng)的框圖；[0027]圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的電子設備的測試工裝的原理框圖；
[0028]圖3是根據(jù)本發(fā)明第二實施例的電子設備的測試系統(tǒng)的框圖；
[0029]圖4是根據(jù)本發(fā)明第三實施例的電子設備的測試系統(tǒng)的框圖；
[0030]圖5是根據(jù)本發(fā)明實施例的電子設備的測試方法的流程圖；
[0031]圖6是根據(jù)本發(fā)明實施例的圖像有效信息提取的流程圖；以及
[0032]圖7是根據(jù)本發(fā)明實施例的電子設備的測試裝置的框圖。
【具體實施方式】
[0033]需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。下面將參考附圖并結合實施例來詳細說明本發(fā)明。
[0034]圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的電子設備的測試系統(tǒng)的框圖，如圖1所示，該測試系統(tǒng)包括控制裝置10、電子設備20和測試工裝30。
[0035]在該測試系統(tǒng)中，通過控制裝置10和測試工裝30完成對電子設備20的測試，其中，控制裝置10用于產生測試電子設備20的測試命令，可將控制裝置10設置為測試電子設備20的上位機，測試人員在該上位機中設置好相應的測試文件，控制裝置10根據(jù)測試文件生成測試命令。
[0036]電子設備20在接收到測試命令后，執(zhí)行測試命令，其中，電子設備20執(zhí)行測試命令時，執(zhí)行結果不同對應的外觀狀態(tài)不同，并且這種外觀狀態(tài)能夠通過拍攝的圖像進行反映。
[0037]測試工裝30采集電子設備20執(zhí)行測試命令時的圖像，并且按照預設的圖像處理算法進行圖像處理，提取出有效的信息，與電子設備20執(zhí)行該測試命令后的正確執(zhí)行結果進行比較，從而得到測試該電子設備20的測試結果。
[0038]采用該實施例提供的電子設備的測試系統(tǒng)，在測試人員編寫好測試文件后，控制裝置10自動將測試命令下發(fā)至電子設備20，電子設備20執(zhí)行測試命令時，無需測試人員查看執(zhí)行結果，系統(tǒng)中的測試工裝30自動采集圖像獲取電子設備的變化，通過將采集到的變化與正確的執(zhí)行結果相比較，自動輸出對電子設備的執(zhí)行結果，從而實現(xiàn)電子設備的自動化測試，提高了電子設備的測試效率。
[0039]圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的電子設備的測試工裝的原理框圖，該實施例所提供的測試工裝可應用于圖1所示的測試系統(tǒng)中，如圖2所示，該測試工裝包括攝像裝置32、處理裝置34和顯示裝置36。
[0040]該實施例中的電子設備作為被測對象，與圖1所示實施例中的被測對象具有相同的特性，也即，電子設備執(zhí)行測試命令具有不同的執(zhí)行結果時，攝像裝置32能夠采集到不同的對比圖像。
[0041]在電子設備執(zhí)行測試命令后，攝像裝置32實時采集電子設備的圖像，以得到對比圖像，將采集到的對比圖像傳輸給處理裝置34處理。
[0042]處理裝置34與攝像裝置32相連接，在接收到對比圖像后，進行圖像處理，從圖像中獲取到電子設備執(zhí)行測試命令的結果，也即提取出對比圖像中的有效信息，并比對提取到的有效信息和預存的標準信息，當提取到的有效信息和預存的標準信息一致時，說明電子設備在執(zhí)行該測試命令時，執(zhí)行結果正確，該測試命令所對應的功能正常，反之，當提取到的有效信息和預存的標準信息不一致時，說明電子設備在執(zhí)行該測試命令時，執(zhí)行結果錯誤，該測試命令對應的電子設備功能異常，從而根據(jù)提取到的信息和預設的標準信息得到了電子設備執(zhí)行測試命令的結果，其中，該處的標準信息包括電子設備執(zhí)行測試命令時的正確執(zhí)行結果。
[0043]顯示裝置36與處理裝置34相連接，在處理裝置34確定測試結果后，顯示裝置36輸出電子設備執(zhí)行測試命令的結果，方便測試人員查看。
[0044]采用該實施例提供的電子設備的測試裝置，在電子設備執(zhí)行測試命令后，攝像裝置32采集電子設備的照片，獲取電子設備在執(zhí)行測試命令中的變化，處理裝置34將采集到的變化與正確的執(zhí)行結果相比較，確定測試結果，并通過顯示裝置36輸出對電子設備的測試結果，從而在測試電子設備時，無需測試人員查看測試情況和記錄測試結果，實現(xiàn)了電子設備的自動化測試，提高了電子設備的測試效率。
[0045]圖3是根據(jù)本發(fā)明第二實施例的電子設備的測試系統(tǒng)的框圖，該實施例中的電子設備為顯示器，如圖3所示，該測試系統(tǒng)包括控制裝置10、顯示器20a和測試工裝30，其中，測試工裝30包括攝像裝置32、處理裝置34和顯示裝置36。
[0046]該測試系統(tǒng)在測試顯示器20a時，首先短接被測試顯示器20a的背光源控制器信號，使顯示器的背光源處于長亮的狀態(tài)，通過該步驟，能夠在圖像處理之前起到濾波的作用，并且能夠對被測的對比圖像進行定位。
[0047]處理裝置34設置為上位機，利用Labview開發(fā)平臺開發(fā)，包括有用戶參數(shù)調整界面，測試員根據(jù)被測試的顯示器的周圍環(huán)境，調整光源參數(shù)或圖像參數(shù)來達到工作環(huán)境下較適合的測試環(huán)境。優(yōu)選地，將測試工裝30的物距變化范圍設為3CM?10CM，并采用自動標定的方法來實現(xiàn)對物距變化的自動測量，具體地，首先選取顯示器的背光源亮的區(qū)域，并設定該區(qū)域為需關注區(qū)域，然后將該需關注區(qū)域的長、寬尺寸，以及在圖像上的坐標位置記錄下來，最后使用尺寸標定的方法，將物距變化范圍可為3CM?10CM圖像的關注區(qū)域統(tǒng)一設定為預設固定大小的區(qū)域，當該預設固定的區(qū)域尺寸較大時，使用軟件插值方法對圖片進行處理，使圖片的像素增加，有益于圖像處理。
[0048]測試員將INI測試文件存儲在控制裝置30中，控制裝置30解析測試文件得到測試命令,將測試命令傳輸給顯示器20a，顯示器20a執(zhí)行該測試命令。在顯示器20a執(zhí)行測試命令后，攝像裝置30自動采集顯示器20a的變化，處理裝置34對采集到的對比圖像進行圖像處理，通過軟件提取對比圖像的有效信息，然后將提取到的圖像有效信息與預存的標準信信息進行對比，兩者一致則記錄為正常，否則記錄為異常，優(yōu)選地，顯示裝置36使用了曲線來顯示參數(shù)變化過程，能夠方便測試人員直觀的了解測試過程，只需查看曲線便可知測試結果，進而判斷顯示器20a是否合格。
[0049]采用該實施例提供的顯示器測試系統(tǒng)，測試員只需在測試完之后查看測試的記錄結果即可，從而提高顯示器的測試效率。
[0050]圖4是根據(jù)本發(fā)明第三實施例的電子設備的測試系統(tǒng)的框圖，該實施例中的電子設備為控制主板，如圖4所示，該測試系統(tǒng)包括控制裝置10、控制主板20b、與控制主板20b的信號輸出端相連接的發(fā)光二極管單元40、測試工裝30，其中，測試工裝30包括攝像裝置32、處理裝置34和顯示裝置36。
[0051]該實施例中的被測電子設備為控制主板20b，為了使得控制主板20b在執(zhí)行不同的控制命令后表現(xiàn)出不同的外觀，在控制主板20b的各個信號輸出端連接各個發(fā)光二極管，例如，在測試控制主板20b的負載控制端輸出的信號是否正確時，在控制主板20b的各個負載控制端連接發(fā)光二極管，在測試控制主板20b時，將控制主板20b的負載控制端并聯(lián)圓形紅色LED發(fā)光二極管，通過二極管的亮滅表示負載的接通與關斷，在電源端并聯(lián)綠色的長方形LED發(fā)光二極管，通過電源端的二極管起標定作用，利用二級管的顏色和形狀來區(qū)分其連接的端口，易于處理裝置34提取有效信息。
[0052]處理裝置34設置為上位機，軟件利用Labview開發(fā)平臺開發(fā)，包括有用戶參數(shù)調整界面，測試員根據(jù)被測試的控制主板的周圍環(huán)境，調整光源參數(shù)或圖像參數(shù)來達到工作環(huán)境下較適合的測試環(huán)境。在控制主板20b的測試中，以電源燈(也即電源端連接的發(fā)光二極管)為原點，將預設大小的區(qū)域標定為需關注區(qū)域，只要保證被測試的控制主板20b包括在該預設區(qū)域內即可，然后將該需關注區(qū)域的長、寬尺寸，以及在圖像上的坐標位置記錄下來，最后使用尺寸標定的方法，將物距變化范圍可為3CM?10CM圖像的關注區(qū)域統(tǒng)一設定為預設固定大小的區(qū)域，從而被測試控制主板20b的位置范圍就可以被確定?？刂浦靼?0b的每個負載控制端并聯(lián)的發(fā)光二極管相對電源燈為也有自己的位置坐標，通過每個負載控制端并聯(lián)的發(fā)光二極管的位置坐標可以確定每個對應的負載，通過提取圖像中的有效信息，獲取二極管的顏色，得到每個負載控制端并聯(lián)的發(fā)光二極管的亮滅可確定對應的負載是否得電。
[0053]測試員將INI測試文件存儲在控制裝置30中，控制裝置30解析測試文件得到測試命令,將測試命令傳輸給控制主板20b，控制主板20b執(zhí)行該測試命令。在控制主板20b執(zhí)行測試命令后，攝像裝置30自動采集與控制主板20b連接的各個發(fā)光二極管的變化，處理裝置34對采集到的對比圖像進行圖像處理，通過軟件提取對比圖像中發(fā)光二極管的亮滅信息，得到信號輸出端輸出的信號情況，然后將得到的信息與預存的標準信信息進行對t匕，兩者一致則記錄為正常，否則記錄為異常，優(yōu)選地，顯示裝置36使用了曲線來顯示參數(shù)變化過程，能夠方便測試人員直觀的了解測試過程，只需查看曲線便可知測試結果，進而判斷控制主板20b是否合格。
[0054]采用該實施例提供的控制主板的測試工裝，測試員只需在測試完之后查看測試的記錄結果即可，從而提高測試效率。
[0055]圖5是根據(jù)本發(fā)明實施例的電子設備的測試方法的流程圖，如圖5所示，該方法包括如下的步驟S102至步驟S108:
[0056]該實施例中的被測電子設備具有以下特性:電子設備在執(zhí)行控制命令具有不同的執(zhí)行結果時，表現(xiàn)出不同的外觀狀態(tài)，也即，通過攝像裝置拍攝電子設備，能夠記錄到電子設備不同的執(zhí)行結果。
[0057]步驟S102:在電子設備執(zhí)行測試命令后，采集電子設備的圖像，以得到對比圖像。
[0058]步驟S104:提取對比圖像的信息，在該步驟中，通過預定的圖像處理算法，對對比圖像進行處理，得到能夠表征電子設備執(zhí)行結果變化的部分圖像，并且從圖像中獲取到變
化信息。
[0059]步驟S106:比較提取到的信息和預存的標準信息，其中，標準信息包括電子設備執(zhí)行測試命令時的正確執(zhí)行結果。
[0060]步驟S108:根據(jù)比較結果輸出電子設備執(zhí)行測試命令的結果。[0061]采用該實施例提供的電子設備測試方法，通過圖像識別技術來獲取電子設備執(zhí)行測試命令后的執(zhí)行結果，將獲取到的執(zhí)行結果與標準信息對比得到測試結果，實現(xiàn)了電子設備的測試過程的自動化，無需人工查看命令執(zhí)行結果，從而提高電子設備的測試效率。
[0062]優(yōu)選地，在步驟S104中，提取圖像有效信息，采用如圖6所示的流程實現(xiàn)信息提取過程，具體地，獲取到對比圖像之后，首先對圖像進行閥值化，然后依次完成填充小孔、擴充邊緣、微小粒子過濾、尋找底邊、測量相對水平傾斜角度、比較、映射、寫入、糾正歪斜圖像、根據(jù)邊沿檢測得到有效圖像的坐標點、根據(jù)坐標點濾除不需要的圖像，建立相對坐標原點、根據(jù)坐標原點建立坐標系、建立OCR庫提取圖像中的數(shù)字信或者通過邊沿檢測、計算位置提取到非數(shù)字圖像信息，最后將圖像的有效信息與INI文件對應的預期結果進行對比，記錄對比結果。
[0063]在圖5所示的實施例中，當被測的電子設備為顯示器時，在采集顯示器的圖像之前，該方法還包括:控制顯示器的背光源處于長亮的狀態(tài)，通過該步驟，能夠在圖像處理之前起到濾波的作用，并且能夠對被測的對比圖像進行定位。
[0064]優(yōu)選地，提取對比圖像的有效信息包括以下的步驟:
[0065]步驟1:對對比圖像通過閾值化函數(shù)進行閾值化，其中，閾值化結果為1的像素點為對比圖像中第一部分的像素點，閾值化結果為0的像素點為對比圖像中第二部分的像素點，第一部分為顯示器的背光區(qū)域對應的圖像部分，第二部分為對比圖像中除第一部分之外的部分，通過該步驟將背光區(qū)域和其它部分分離開來，這樣背光區(qū)域閾值化后像素值為1，而其它區(qū)域像素值為0。
[0066]步驟2:讀取對比圖像各像素點的像素值，將第二部分中所有像素點的像素值替換為0，通過該步驟讀取整幅彩色圖像的像素信息，讀取進行過閾值化后的圖像的像素信息，如果閾值化后的圖像的像素值為0，則利用比較函數(shù)和映射函數(shù)將彩色圖中相應的像素值也置為0。
[0067]步驟3:對像素替換后的對比圖像進行顆粒濾波和填充處理，可以得到一個連續(xù)的背光區(qū)域。該區(qū)域就是顯示器的背光區(qū)域。
[0068]步驟4:通過邊緣檢測處理顆粒濾波和填充處理后的對比圖像，以得到第一部分在對比圖像中的坐標范圍，將顯示器的背光區(qū)域的長，寬尺寸和該區(qū)域在圖像上的坐標記錄下來，就唯一確定了一幅圖片的顯示器的背光區(qū)域。
[0069]步驟5:對坐標范圍內的圖像進行圖像處理，以得到對比圖像的有效信息。
[0070]采用該優(yōu)選實施方法，確定對比圖像中對應的顯示器背光區(qū)域的部分圖像，使得攝像頭相對被測電子設備的物距發(fā)生變化時也能夠獲取對比圖像中的有效信息。
[0071]在圖5所示的實施例中，當被測的電子設備為控制主板時，控制主板的信號輸出端連接顯示單元，步驟S102包括:采集顯示單元的圖像，其中，信號輸出端輸出不同的控制信號時，顯示單元具有不同的顯示狀態(tài)，優(yōu)選地，顯示單元為LED發(fā)光二極管,采集到LED發(fā)光二極管的圖像后，根據(jù)圖像中LED發(fā)光二極管的顏色得到有效信息，包括LED發(fā)光二極管的位置及其狀態(tài)。
[0072]圖7是根據(jù)本發(fā)明實施例的電子設備的測試裝置的框圖，如圖7所示，該測試裝置包括存儲模塊31、采集模塊33、提取模塊35、比較模塊37和確定模塊39。
[0073]該實施例中的被測電子設備具有以下特性:電子設備執(zhí)行控制命令具有不同的測試結果時，具有不同的外觀狀態(tài)，也即，通過攝像裝置拍攝電子設備時，能夠記錄到電子設備不同的執(zhí)行結果。
[0074]存儲模塊31用于存儲與測試文件相對應的測試結果標準信息，其中，該標準信息包括電子設備執(zhí)行測試文件之后正確的執(zhí)行結果。
[0075]采集模塊33在電子設備執(zhí)行測試命令后，通過攝像裝置采集電子設備的圖像，以得到對比圖像，其中，由于電子設備具有上述特性，電子設備執(zhí)行控制命令后的結果不同時，采集模塊33采集到的對比圖像不同。
[0076]提取模塊35提取對比圖像的信息，根據(jù)預設的圖像處理算法將對比圖像進行圖像處理，以提取對比圖像中的有用信息，比較模塊37將該有用信息與預設的映射規(guī)則進行映射，其中，預設的映射規(guī)則包括圖像信息和執(zhí)行結果的一一對應關系，并比較映射后的信息和存儲模塊30中存儲的標準信息，得到二者一致或不一致的結果，確定模塊39輸出電子設備執(zhí)行測試命令的結果，具體地，當映射后的信息和標準信息相一致時，表示電子設備在執(zhí)行該測試命令時執(zhí)行結果正確，反之，則表示電子設備在執(zhí)行該測試命令時執(zhí)行結果錯誤，優(yōu)選地，將該執(zhí)行結果存儲于存儲模塊30中，以使測試員能夠在測試文件執(zhí)行后查看測試結果。
[0077]采用該實施例提供的電子設備測試裝置，通過圖像識別技術來獲取電子設備執(zhí)行測試命令時的執(zhí)行結果，將獲取到的執(zhí)行結果與標準信息對比得到測試結果，實現(xiàn)了電子設備的測試過程的自動化，無需人工查看命令執(zhí)行結果，從而提高電子設備的測試效率。
[0078]優(yōu)選地，電子設備為顯示器時，測試的關注區(qū)域是顯示器的背光區(qū)域，顯示器的背光源處于長亮的狀態(tài)，其中，提取模塊包括::閾值子模塊，用于對對比圖像通過閾值化函數(shù)進行閾值化，其中，閾值化結果為1的像素點為對比圖像中第一部分的像素點，閾值化結果為0的像素點為對比圖像中第二部分的像素點，第一部分為顯示器的背光區(qū)域對應的圖像部分，第二部分為對比圖像中除第一部分之外的部分；替換子模塊，用于讀取對比圖像各像素點的像素值，將第二部分中所有像素點的像素值替換為0 ;濾波填充子模塊，用于對像素替換后的對比圖像進行顆粒濾波和填充處理；檢測子模塊，用于通過邊緣檢測處理顆粒濾波和填充處理后的對比圖像，以得到第一部分在對比圖像中的坐標范圍；以及提取子模塊，用于對坐標范圍內的圖像進行圖像處理，以得到對比圖像的有效信息。
[0079]采用該優(yōu)選實施例。在提取有效信息時先確定對比圖像中顯示器背光區(qū)域對應的圖像，能夠排除攝像頭所采集的圖像信息中的不相關部分，只保留測試所關注的區(qū)域，即顯示器的背光區(qū)域。并且使得攝像頭在一定的物距范圍內(3~10cm)，所取得的有效信息均是且僅是對比圖像中顯示器背光區(qū)域的圖像。
[0080]優(yōu)選地，當電子設備為控制主板時，為了對控制主板信號輸出進行檢測，控制主板的信號輸出端連接有顯示單元，采集模塊31用于通過攝像裝置采集顯示單元的圖像，其中，信號輸出端輸出不同的控制信號時，顯示單元具有不同的顯示狀態(tài)。
[0081]從以上的描述中，可以看出，本發(fā)明實現(xiàn)了如下技術效果:通過圖像識別技術來獲取電子設備執(zhí)行測試命令時的執(zhí)行結果，將獲取到的執(zhí)行結果與標準信息對比得到測試結果，實現(xiàn)了電子設備的測試過程的自動化，無需人工查看命令執(zhí)行結果，從而提高電子設備的測試效率。
[0082]上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對于本領域的技術人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內。
【權利要求】
1.一種電子設備的測試方法,其特征在于,包括: 在電子設備執(zhí)行測試命令后，采集所述電子設備的圖像，以得到對比圖像； 提取所述對比圖像的信息； 比較提取到的信息和預存的標準信息，其中，所述標準信息包括所述電子設備執(zhí)行所述測試命令后的正確執(zhí)行結果；以及 根據(jù)比較結果輸出所述電子設備執(zhí)行所述測試命令的結果。
2.根據(jù)權利要求1所述的電子設備的測試方法，其特征在于，當所述電子設備為顯示器時，在采集所述電子設備的圖像之前，所述方法還包括: 控制所述顯示器的背光源處于長亮的狀態(tài)。
3.根據(jù)權利要求2所述的電子設備的測試方法，其特征在于，提取所述對比圖像的有效信息包括: 對所述對比圖像通過閾值化函數(shù)進行閾值化，其中，閾值化結果為I的像素點為所述對比圖像中第一部分的像素點，閾值化結果為O的像素點為所述對比圖像中第二部分的像素點，所述第一部分為所述顯示器的背光區(qū)域對應的圖像部分， 所述第二部分為所述對比圖像中除所述第一部分之外的部分； 讀取所述對比圖像各像素點的像素值，將所述第二部分中所有像素點的像素值替換為O ； 對像素替換后的所述對比圖像進行顆粒濾波和填充處理； 通過邊緣檢測處理顆粒濾波和填充處理后的所述對比圖像，以得到所述第一部分在所述對比圖像中的坐標范圍；以及 對所述坐標范圍內的圖像進行圖像處理，以得到所述對比圖像的有效信息。
4.根據(jù)權利要求1所述的電子設備的測試方法，其特征在于，所述電子設備為控制主板時，所述控制主板的信號輸出端連接有顯示單元，采集所述電子設備的圖像包括: 采集所述顯示單元的圖像。
5.根據(jù)權利要求4所述的電子設備的測試方法，其特征在于，所述顯示單元為發(fā)光二極管。
6.一種電子設備的測試裝置，其特征在于，包括: 采集模塊，用于在電子設備執(zhí)行測試命令后，通過攝像裝置采集所述電子設備的圖像，以得到所述對比圖像； 提取模塊，用于提取所述對比圖像的信息； 比較模塊，用于比較提取到的信息和預存的標準信息，其中，所述標準信息包括所述電子設備執(zhí)行所述測試命令后的正確執(zhí)行結果；以及 確定模塊，用于根據(jù)比較結果確定所述電子設備執(zhí)行所述測試命令的結果。
7.根據(jù)權利要求6所述的電子設備的測試裝置，其特征在于，所述電子設備為顯示器時，所述顯示器的背光源處于長亮的狀態(tài)，其中，所述提取模塊包括: 閾值子模塊，用于對所述對比圖像通過閾值化函數(shù)進行閾值化，其中，閾值化結果為I的像素點為所述對比圖像中第一部分的像素點，閾值化結果為O的像素點為所述對比圖像中第二部分的像素點，所述第一部分為所述顯示器的背光區(qū)域對應的圖像部分，所述第二部分為所述對比圖像中除所述第一部分之外的部分；替換子模塊，用于讀取所述對比圖像各像素點的像素值，將所述第二部分中所有像素點的像素值替換為O ; 濾波填充子模塊，用于對像素替換后的所述對比圖像進行顆粒濾波和填充處理； 檢測子模塊，用于通過邊緣檢測處理顆粒濾波和填充處理后的所述對比圖像，以得到所述第一部分在所述對比圖像中的坐標范圍；以及 提取子模塊，用于對所述坐標范圍內的圖像進行圖像處理，以得到所述對比圖像的有效信息。
8.根據(jù)權利要求6所述的電子設備的測試裝置，其特征在于，所述電子設備為控制主板時，所述控制主板的信號輸出端連接有顯示單元，所述采集模塊用于通過所述攝像裝置采集所述顯示單元的圖像。
9.一種電子設備的測試工裝，其特征在于，包括: 攝像裝置，用于在電子設備執(zhí)行測試命令后，采集所述電子設備的圖像，以得到對比圖像； 處理裝置，與所述攝像裝置相連接，用于提取所述對比圖像中的信息，并根據(jù)提取到的信息和預存的標準信息確定所述電子設備執(zhí)行所述測試命令的結果， 其中，所述標準信息包括所述電子設備執(zhí)行所述測試命令后的正確執(zhí)行結果；以及 顯示裝置，與所述處理裝置相連接，用于輸出所述電子設備執(zhí)行所述測試命令的結果。
10.一種電子設備的測試系統(tǒng)，其特征在于，包括: 控制裝置，用于生成測試命令； 電子設備，與所述控制裝置相連接；以及 測試工裝，其中，所述測試工裝為權利要求9所述的測試工裝。
11.根據(jù)權利要求10所述的電子設備的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電子設備為控制主板，所述控制主板的信號輸出端連接有顯示單元。
12.根據(jù)權利要求11所述的電子設備的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述顯示單元為發(fā)光二極管。
13.根據(jù)權利要求12所述的電子設備的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述顯示單元包括多個顏色和/或形狀不同的二極管。
14.根據(jù)權利要求10所述的電子設備的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電子設備為顯示器。
【文檔編號】G05B23/02GK103631246SQ201210296440
【公開日】2014年3月12日 申請日期:2012年8月20日 優(yōu)先權日:2012年8月20日
【發(fā)明者】譚澤漢, 牛安, 彭志富 申請人:珠海格力電器股份有限公司