技術(shù)編號(hào):6293333
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開(kāi)了一種電子設(shè)備的測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試工裝和測(cè)試系統(tǒng)。該測(cè)試方法包括在電子設(shè)備執(zhí)行測(cè)試命令后,采集電子設(shè)備的圖像,以得到對(duì)比圖像;提取對(duì)比圖像的信息;比較提取到的信息和預(yù)存的標(biāo)準(zhǔn)信息,其中,標(biāo)準(zhǔn)信息包括電子設(shè)備執(zhí)行測(cè)試命令后的正確執(zhí)行結(jié)果;以及根據(jù)比較結(jié)果輸出電子設(shè)備執(zhí)行測(cè)試命令的結(jié)果。通過(guò)本發(fā)明,能夠?qū)崿F(xiàn)電子設(shè)備的自動(dòng)化測(cè)試,提高了電子設(shè)備測(cè)試效率。專利說(shuō)明電子設(shè)備的測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試工裝和測(cè)試系統(tǒng)[0001]本發(fā)明涉及測(cè)試領(lǐng)域,具體而...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。