專利名稱：用于確定可自動移動設(shè)備的位置的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于確定可自動移動設(shè)備，特別是可自動移動的地面灰塵收集設(shè)備的位置的方法，該設(shè)備優(yōu)選具有電動的移動輪，其中，該設(shè)備具有由光學發(fā)射和接收單元組成的障礙識別裝置，其中，從設(shè)備的預(yù)先計算出的假定第一位置出發(fā)進一步計算大量可能的位置和定向(質(zhì)點)并在設(shè)備相應(yīng)地移動后根據(jù)此時占據(jù)的第二位置借助光學單元的測量結(jié)果將此前產(chǎn)生的質(zhì)點之一按照預(yù)先規(guī)定的考慮概率的選擇算法假定為設(shè)備的新位置。
背景技術(shù)：
所述類型的方法公知，例如像與用于清潔地面的可自動移動的吸塵和/或清潔設(shè)備相關(guān)，此外在其它設(shè)計中例如與可自動移動的運輸設(shè)備或割草機相關(guān)。這種類型的設(shè)備優(yōu)選具有距離傳感器，以便例如避免與處于移動路線中的物體或類似物的碰撞。這些傳感器優(yōu)選非接觸式地工作，進一步優(yōu)選作為光或超聲波傳感器工作。為此還公知這種設(shè)備具有用于周圍距離測量的裝置，尤其是例如以光學三角測量系統(tǒng)的形式構(gòu)成，該系統(tǒng)設(shè)置在環(huán)繞垂直軸旋轉(zhuǎn)的平臺或類似物的部件上。借助這種系統(tǒng)可以根據(jù)反射達到距離測量的目的，這種距離測量用于空間定向，進一步特別是在自動工作的過程中用于障礙識別以及進一步優(yōu)選用于繪制所要駛過的空間的地圖并因此相應(yīng)用于制作地圖。與此相關(guān)的內(nèi)容例如參見DE102008014912A1。根據(jù)距離測量檢測的空間界限，需要時在考慮空間內(nèi)可能的障礙情況下，優(yōu)選以周圍的地圖，特別是由多個房間組成的住宅的形式儲存，進一步優(yōu)選儲存在該設(shè)備的非易失存儲器內(nèi)，從而在清潔或運輸過程的進程中為定向可以調(diào)用該地圖。此外，與此相關(guān)公知借助這樣儲存的地圖根據(jù)進一步儲存的算法測定該設(shè)備的有利移動策略，進一步也包括識別優(yōu)選處于設(shè)備的移動路線中并由傳感器檢測到的物體。為此必須盡可能精確測定與例如像家具或墻壁界限等物體的距離值。此外公知用于即時定位與地圖構(gòu)建的方法，特別是以概念SLAM公知。與此相關(guān)的內(nèi)容參閱IEEE院士 Hugh Durrant-Whyte和Tim Bailey 2006年6月發(fā)表在uRobotics&Automation Magazine, IEEE，，雜志上的科技文章“Simultaneous Lokalisationand Mapping(SLAM) ”的第I部分。SLAM在這種情況下講述通過不存在地圖的環(huán)境進行運動的機器人的問題。機器人形成其自我運動和其周圍內(nèi)特性的相對觀察。SLAM的目標是構(gòu)建周圍和路線的地圖，該地圖可以通過機器人或可自動移動設(shè)備制作和利用。為找到實際位置，在這種情況下檢查大量可能的設(shè)備位置和定向。可能的設(shè)備位置和/或定向在SLAM中稱為質(zhì)點，其中，每個這些質(zhì)點可供可能的設(shè)備位置和/或定向使用。可能的位置在這種情況下表現(xiàn)為具有高加權(quán)的質(zhì)點。不可能的質(zhì)點因此獲得低加權(quán)并幾乎甚至根本不可能對定位做出貢獻。如果設(shè)備運動，那么下面質(zhì)點就環(huán)繞可能的位置和定向發(fā)生“散射”?！吧⑸洹痹谶@種情況下意味著，最后一代中的質(zhì)點接著產(chǎn)生其它質(zhì)點，這些質(zhì)點然后可供設(shè)備的新位置使用。在質(zhì)點的散射后，將這些質(zhì)點與光學單元的測量結(jié)果相比較并相應(yīng)加權(quán)。質(zhì)點散射在這種情況下通常限制在固定數(shù)量例如一千上。質(zhì)點然后以最可能的實際位置依據(jù)高斯分布散射。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于所公開的現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明的目的在于，對所述類型的方法做進一步的改進。該目的首先和基本上通過權(quán)利要求I的主題得以實現(xiàn)，其中規(guī)定，為所計算出的質(zhì)點云的最大延伸配備坐標系的第一軸并由此出發(fā)檢測質(zhì)點在另一個、即第二坐標軸方向上的偏差，進一步將質(zhì)點全部投影到第一坐標軸內(nèi)并為這樣檢測的質(zhì)點分布配備分布曲線，其中，分布曲線的最大值評估為設(shè)備實際位置的近似值。根據(jù)所建議的解決方案，設(shè)備所占據(jù)位置的定位特別是在利用SLAM方法的情況下得到改進。從現(xiàn)有技術(shù)中公知為每個散射過程重新計算高斯分布。質(zhì)點散射越多，計算開支(高斯計算)相應(yīng)增加。特別是在這種情況下產(chǎn)生大量的高斯計算，這些計算由于所含有的指數(shù)函數(shù)而計算量很大。這一點會導(dǎo)致必須使用大功率的微處理器。為從質(zhì)點中選取定位位置而將所有散射質(zhì)點取平均值證明不夠精確，因為例如在查找范圍非常大的情況下和所有散射質(zhì)點產(chǎn)生的平均值的方差大時，會產(chǎn)生方向不精確的位置。如果進一步例如空間內(nèi)存在障礙，那么會出現(xiàn)產(chǎn)生的平均值處于障礙的范圍內(nèi)，因為質(zhì)點可以環(huán)繞該障礙散射。在利用選擇最高加權(quán)質(zhì)點情況下的定位也不精確，因為在這種情況下所測定的精確度會由此受到不利影響，即具有類似高概率的多個質(zhì)點通過一個例如幾厘米的范圍散射并在這種情況下僅選取具有最高概率的質(zhì)點。用于評判實際定位精確度的重要信息提供實際質(zhì)點散射的觀察。如果從所有散射的質(zhì)點中計算方差，那么根據(jù)所建議的方法從中得出實際的定位精確度或設(shè)備所要確定位置的可靠性。利用方差的估值，以便進一步獲取有關(guān)定位精確度的其它有價值的信息。利用所建議的方法因此分析所有散射質(zhì)點的方差，以便由此改進SLAM定位。如果方差非常小，相應(yīng)所有質(zhì)點幾乎處于一個位置上，那么利用每個質(zhì)點就已經(jīng)相當好地反映出位置的精確度。如果方差并因此相應(yīng)所計算的質(zhì)點云的最大延伸相反非常大，那么實際的定位精確度與上述情況相比確切地說并不精確并因此更不可知。特別是在這里解析地使用所建議的方法。優(yōu)選對質(zhì)點云在不同的方向上的最大延伸進行估值，優(yōu)選在兩個彼此垂直定向的方向上進行，這一點優(yōu)選根據(jù)對質(zhì)點云的坐標系配備進行。如果在這種情況下質(zhì)點方差在一個方向上(例如在一個坐標軸的方向上)變窄(比較小的質(zhì)點云延伸)，那么依據(jù)該方法就得出關(guān)于所述坐標軸方向相當好的定位。相反一個坐標軸方向上的大延伸提供在該方向上確定位置時存在更高不精確度的信息。至少在超過預(yù)先規(guī)定的方差閾值情況下，依據(jù)方法才進行進一步的分析。進一步優(yōu)選這種分析在兩個坐標軸每次新的位置確定時進行。在這種情況下，沿一個坐標軸設(shè)置的質(zhì)點全部投影到與該坐標軸垂直分布的另一坐標軸內(nèi)，特別是質(zhì)點加權(quán)方面的數(shù)值。據(jù)此產(chǎn)生一維的質(zhì)點分布，為該質(zhì)點分布根據(jù)一維示出的質(zhì)點分布配備分布曲線，特別是高斯曲線，進一步用于改進定位精確度。在這種情況下所測定的最大值，特別是所測定的階躍最大值(“峰值”)優(yōu)選依據(jù)質(zhì)點分布的概率特性判定為設(shè)備實際位置的非常好的近似值。該判定內(nèi)優(yōu)選同時包括每個質(zhì)點所測定的每個概率值，從而質(zhì)點具有較高加權(quán)的質(zhì)點與具有較低加權(quán)的質(zhì)點相比相應(yīng)在一維質(zhì)點分布的圖示中反映出來。所測定的峰值位置(分布曲線的最大值或階躍的最大值)在這種情況下可與平均值位置明顯不同。即便在質(zhì)點比較大的散射時，也能夠根據(jù)所建議的方法確定設(shè)備在兩個質(zhì)點之間范圍內(nèi)的位置。相應(yīng)通過所建議的方法，與所公開的現(xiàn)有技術(shù)相比可總體上減少質(zhì)點散射，這樣以具有優(yōu)點的方式加速算法并可使用與現(xiàn)有技術(shù)相比功率更小并因此成本更加低廉的電子裝置。下面也結(jié)合


按照其與權(quán)利要求I的主題或其它權(quán)利要求特征的優(yōu)選對應(yīng)說明本發(fā)明的其它特征。但這些特征也可以按照與權(quán)利要求I或各自的其它權(quán)利要求的單個特征的對應(yīng)或各自獨立地具有重要意義。 所設(shè)置的和上述從現(xiàn)有技術(shù)中公開的用于障礙識別的周圍距離傳感器發(fā)射測量光束。這種測量光束測定到測量光束在最近的障礙物(例如墻壁或家具)上的入射部位的距離。作為測量方法在這種情況下優(yōu)選使用光飛行時間法(ToF, time offlight)。與此相關(guān)也可以使用相位相關(guān)法(PKS)。進一步優(yōu)選考慮三角測量法。測量光束可以設(shè)計為線(光束的擴散角非常小，小于50mrad，這一點優(yōu)選典型地導(dǎo)致l_22mm范圍內(nèi)的光束直徑)或作為擴張的光束。在這種情況下，優(yōu)選使用發(fā)散2-4mrad的光束，其在3m的距離時達到20-30mm的直徑。傳感器的接收范圍以相同的方式優(yōu)選作為發(fā)散的接收波瓣構(gòu)成，其中，為補償公差其發(fā)散大于發(fā)射光束的發(fā)散(例如2倍)。用于測量與物體的距離的非接觸式工作的傳感器裝備至少一個產(chǎn)生測量光束的光源。光源發(fā)射可見或不可見波長范圍內(nèi)的光，例如650nm范圍內(nèi)的紅光或532nm范圍內(nèi)的綠光。優(yōu)選700nm以上波長紅外線范圍內(nèi)的光,進一步優(yōu)選例如785nm、850nm或980nm波長的輻射源(激光二極管或LED)。光源可以是燈或LED，但優(yōu)選具有激光二極管。進一步優(yōu)選傳感器裝備至少一個光學接收元件，該元件至少在發(fā)射元件所選擇的波長范圍內(nèi)靈敏，進一步優(yōu)選例如至少作為光電二極管、光電阻、CCD芯片或CMOS芯片構(gòu)成。光學接收器可以作為用于檢測個別地輸入的光信號的單個接收元件或作為用于瞬間或順序檢測多個輸入的光信號的多光電兀件陣列或多光電兀件行構(gòu)成。與此相關(guān)亦公知擴展的傳感器，例如線狀或平面的PSD元件?？梢愿鶕?jù)選擇為光源以及光敏元件配設(shè)光學元件(優(yōu)選用于構(gòu)成發(fā)射光束/發(fā)射光錐或接收光束/接收光錐)，下面無需詳細描述。光學元件可以是透鏡(會聚透鏡、發(fā)散透鏡，也設(shè)計為菲涅耳透鏡，非球面的、球面的)、光闌(圓形、縫隙狀、任意造型，設(shè)計為本身的部件或與傳感器的外殼一體化)、棱鏡、反射鏡(平面、凹面、凸面、任意形狀)、光導(dǎo)或還有任意形狀的元件。光學元件也指光程中的保護盤或覆蓋盤，用于光學裝置的機械保護。優(yōu)選為光源和/或光敏元件配設(shè)濾光器，它們對預(yù)定的波長盡可能好地通過，但卻讓其它波長盡可能少地通過。濾光器可以設(shè)計為分立元件或與其它光學元件(例如透鏡的染色或涂層、保護窗等)一體化。此外可以是染色、涂層、真空鍍膜等。如果使用反射鏡，那么優(yōu)選是表面反射鏡，因為這種反射鏡具有較低的光損失。在這種情況下，進一步將反射鏡設(shè)計為壓力注塑件并將本身的反光面設(shè)計為具有反射層的表面涂層。在這里使用金屬層，例如銀、金或銅，進一步優(yōu)選鋁。在使用鋁的情況下，進一步優(yōu)選設(shè)有防腐層作為其它涂層(鈍化)。在優(yōu)選的設(shè)計中，在所建議的區(qū)域內(nèi)部確定高停留概率和低停留概率的區(qū)域，其中，優(yōu)選在高停留概率的區(qū)域內(nèi)計算比低停留概率的區(qū)域內(nèi)更多的質(zhì)點。相應(yīng)優(yōu)選在可能性最大的設(shè)備位置的地點上產(chǎn)生比進一步優(yōu)選在邊緣區(qū)域內(nèi)更高的質(zhì)點密度。特別是在分布的這些邊緣區(qū)域內(nèi)，進一步優(yōu)選也預(yù)先規(guī)定質(zhì)點(低停留概率)，以便可以考慮定位時的移動過程(例如由于驅(qū)動輪打滑)設(shè)備的較大偏差。所建議的方法優(yōu)選在這種情況下使用，即按照所進行的質(zhì)點分布(優(yōu)選在取決于移動路線、移動方向和移動距離的情況下)將質(zhì)點云或每個所設(shè)置的單個質(zhì)點與借助傳感器所測定的設(shè)備新位置上的實際距離值進行比較。通過距離測量產(chǎn)生的周圍圖像或所測定的距離值基本逐步投影到每個單個質(zhì)點上，這些質(zhì)點借助與距離數(shù)據(jù)一致的數(shù)量加權(quán)。借助首先測定的方差(質(zhì)點云沿坐標軸的延伸)在進一步優(yōu)選的設(shè)計中在與坐標軸的偏差方面預(yù)先規(guī)定極限，超過此極限的質(zhì)點不再納入評估范圍。相應(yīng)地借助方差優(yōu)選確定閾值，因此進一步優(yōu)選僅對優(yōu)選處于方差內(nèi)部的質(zhì)點在必要時在考慮恒定因素的情況下進一步進行檢查。借助其余的質(zhì)點將所分析的質(zhì)點分布優(yōu)選用于形成其余質(zhì)點的加權(quán)概率值，其中，對分布曲線中靠近階躍最大值(“峰值”)的質(zhì)點比質(zhì)點分布的一維圖示中附近沒有階躍最大值的質(zhì)點更強地納入分析。在進一步優(yōu)選的設(shè)計中，附加地在定向角方面評估質(zhì)點。為設(shè)備的定向角優(yōu)選進行模擬觀察。可選的是，每個質(zhì)點的定向角也可以作為附加的數(shù)值進入共同的一維質(zhì)點分 布內(nèi)。事實證明此外具有優(yōu)點的是，質(zhì)點在偏差確定之前在設(shè)備的預(yù)定的運動方面被這樣地進行評估，使與預(yù)定的運動相應(yīng)的質(zhì)點得到更高的評估，例如計算上增加數(shù)量。相應(yīng)優(yōu)選作為對上述方法的補充，定位可以通過推測的設(shè)備運動得到改進，方法是這些信息納入每個單個質(zhì)點的加權(quán)并相應(yīng)用于分布曲線的圖示。例如，如果只需要設(shè)備在該位置轉(zhuǎn)動(例如轉(zhuǎn)向運動)，那么事實證明將轉(zhuǎn)動前設(shè)備最后確定位置地點處的質(zhì)點更強地納入加權(quán)值中是合適的。在這種情況下，進一步完全可以至少幾乎僅檢查角度方差。如果設(shè)備進一步例如主要直線移動，那么角度變化變小，因此相應(yīng)加強檢查沿坐標軸的方差。

下面借助僅示出實施例的附圖對本發(fā)明進行詳細說明。其中圖I示出地面灰塵收集設(shè)備形式的可自動移動設(shè)備的透視圖；圖2示出所計算出的具有沿第一和第二坐標軸分布設(shè)置的質(zhì)點的質(zhì)點云的示意圖；圖3示出坐標軸的質(zhì)點在第二坐標軸內(nèi)投影布置的示意圖；圖4示出儲存用于測定最大值的分布曲線情況下從圖3產(chǎn)生的一維質(zhì)點分布；圖5示出在確定取決于質(zhì)點方差情況下所選擇的閾值時質(zhì)點分布的另一示意圖。
具體實施例方式首先借助圖I示出和介紹以吸塵和/或清掃機形式，進一步以可自動移動的家用吸塵機器人形式的設(shè)備I。該設(shè)備具有底盤，該底盤的朝向所要清理的地面2的底面帶有電動的移動輪3以及優(yōu)選突伸出底盤底面下緣的、同樣電動的刷子。設(shè)備罩4扣合在底盤上，其中，設(shè)備具有圓形的俯視輪廓。在設(shè)備I作為吸塵和/或清掃機的設(shè)計方面例如參閱開頭列舉的 DE10242257A1。此外雖然沒有示出，但設(shè)備I作為對刷子的附加或選擇具有吸塵口。在這種情況下，設(shè)備I內(nèi)另外設(shè)置電動的抽風電動機。通過未示出的、可反復(fù)充電的蓄電池對設(shè)備I的各電動部件進行供電，例如，對移動輪3的電動機、刷子的電動裝置，必要時對抽風裝置和此外對于設(shè)備I內(nèi)用于其控制的其它電動裝置進行供電設(shè)備I此外具有形式為非接觸式工作的第一傳感器5的距離/障礙識別裝置A，其具有光線發(fā)射裝置和光線接收裝置。該傳感器5設(shè)置在設(shè)備I的設(shè)備罩4上面并可以環(huán)繞同時是設(shè)備I中心垂直軸線的垂直軸線d轉(zhuǎn)動。傳感器5優(yōu)選由三角測量系統(tǒng)組成，借助其可以實施周圍距離測量(360°地環(huán)繞軸線d，圖I中的箭頭r)。利用傳感器5首先達到障礙識別的目的，這一點根據(jù)在優(yōu)選水平掃描平面上(也就是在與地面2平行延伸的平面上)的旋轉(zhuǎn)掃描進行，從而設(shè)備I可以無碰撞在地面2上或在其周圍運動。此外如進一步優(yōu)選的那樣，通過傳感器5可以對周圍進行周圍距離測量，其中，在這種情況下所測定的與周圍的障礙物和墻壁的距離值優(yōu)選用于編制整個區(qū)域的地圖，該地圖存儲在設(shè)備I內(nèi)。為了自動定位，與同時進行的即時定位和地圖構(gòu)建相應(yīng)第使用一種SLAM方法。在這種情況下，在SLAM中從設(shè)備I的預(yù)先計算出的假定第一位置出發(fā)計算質(zhì)點6形式的大量可能的位置和定向并在設(shè)備相應(yīng)移動后，根據(jù)此時占據(jù)的第二位置，借助障礙識別裝置A的測量結(jié)果將此前產(chǎn)生的質(zhì)點6之一按照預(yù)定的考慮概率的選擇算法假定為設(shè)備I的新位置。在這種情況下，優(yōu)選每個質(zhì)點6根據(jù)借助障礙識別裝置A所測定的實際距離值以及進一步優(yōu)選根據(jù)設(shè)備的預(yù)定的移動方向和/或移動距離和/或移動速度判定。例如與設(shè)備的預(yù)定的移動方向相應(yīng)的質(zhì)點6在這種情況下比不處于預(yù)定移動路線中的質(zhì)點得到更高的判定。質(zhì)點6的更高判定例如可以通過在計算上增加所設(shè)置的質(zhì)點6而達到?？傮w上產(chǎn)生的質(zhì)點云7此后首先根據(jù)帶有第一坐標軸χ和與其垂直定向的第二坐標軸I的坐標系K的設(shè)定在該質(zhì)點云的延伸方面進行分析。如圖2舉例所示，如果δχ方差相當小，優(yōu)選低于預(yù)先規(guī)定的閾值，那么從中得出存在關(guān)于X位置的相當好的定位。在這里進一步例如僅計算的平均值形成足夠設(shè)備近似精確的位置確定。如果相反存在大的方差，例如圖2中質(zhì)點云7在y方向上的延伸，那么這一點得出在該方向上與位置確定相關(guān)存在較高的不精確度(對照圖2中的方差δ y)。為測定設(shè)備最可能的、優(yōu)選精確的位置，在這種較大的方差時，一個方向上的質(zhì)點6(在該實施例中y方向上的質(zhì)點6)全部投影到另一坐標軸內(nèi)(在該實施例中投影到第一坐標軸χ內(nèi))，進一步優(yōu)選依據(jù)圖3的圖示基本投影到共同的y平面內(nèi)，用于一維質(zhì)點分布的進一步圖示。 必要時在考慮例如從移動路線中產(chǎn)生的判定加權(quán)情況下這樣檢測到的一維質(zhì)點分布依據(jù)圖4的圖示利用高斯分布曲線形式的分布曲線H儲存，其中，階躍的最大值P(峰值)判定為設(shè)備I實際位置的近似值。正如所看到的那樣，設(shè)備I由此測定的位置與一維質(zhì)點分布相關(guān)也處于兩個質(zhì)點6或一維投影到平面E內(nèi)的質(zhì)點之間。由此達到更好確定設(shè)備I位置的目的，特別是與僅通過計算得出平均值相比。正如在圖4中的實施例中那樣，最大位置P可與計算上所測定的平均值位置M明顯不同。圖4中標注的投影到平面E內(nèi)的質(zhì)點的高度b代表設(shè)備位置的概率。優(yōu)選為設(shè)備I按照角度的方向(參照圖2中的箭頭c)執(zhí)行相應(yīng)地使用相同方法的模擬分析。
為進一步減少用于確定設(shè)備I實際位置的計算開支，在該方法的進一步擴展中，借助方差(\和/或Sy)確定閾值，在該閾值的內(nèi)部進一步依據(jù)上述方法僅檢查質(zhì)點6。相應(yīng)在質(zhì)點云7的內(nèi)部相應(yīng)產(chǎn)生質(zhì)點云下部區(qū)域7'，超出該下部區(qū)域的質(zhì)點6不進一步納入判定中，以便這樣優(yōu)選借助然后可能更清晰出現(xiàn)的階躍最大值P達到進一步改進設(shè)備I位置確定的目的。所公開的所有特征(本身)對本發(fā)明均是實質(zhì)性的。因此所屬/附加的優(yōu)先權(quán)文件(在先申請副本)的公開內(nèi)容全部同時納入本申請的公開內(nèi)容，也出于此目的將這些文件的特征同時收入本申請的權(quán)利要求中。從屬權(quán)利要求在其選擇性的并列語句中表示現(xiàn)有技術(shù)獨立的有獨創(chuàng)性的進一步擴展，特別是為了在這些權(quán)利要求的基礎(chǔ)上進行分案申請。附圖標記列表1 設(shè)備2 地面3移動輪4設(shè)備罩5傳感器6 質(zhì)點7質(zhì)點云I'質(zhì)點云下部區(qū)域b 概率大小c 旋轉(zhuǎn)軸r 箭頭χ 第一坐標軸y 第二坐標軸A 障礙識別裝置E 平面H 分布曲線K 坐標系M 平均值P 最大值δ χ χ軸方差5y y 軸方差。
權(quán)利要求
1.一種用于確定可自動移動設(shè)備(I)，特別是可自動移動的地面灰塵收集設(shè)備的位置的方法，該設(shè)備優(yōu)選具有電動的移動輪(3)，其中，該設(shè)備(I)具有由光學發(fā)射和接收單元組成的障礙識別裝置(A)，其中，從該設(shè)備(I)的預(yù)先計算出的假定第一位置出發(fā)進一步計算出大量可能的位置和定向(質(zhì)點6)并在該設(shè)備(I)相應(yīng)地移動后根據(jù)此時占據(jù)的第二位置借助所述光學單元的測量結(jié)果將此前產(chǎn)生的質(zhì)點(6)之一按照預(yù)先規(guī)定的考慮概率的選擇算法假定為該設(shè)備(I)的新位置，其特征在于，對質(zhì)點(6)進行如下評估為所計算的質(zhì)點云⑵的最大延伸配備坐標系⑷的第一軸(x，y)并由此出發(fā)檢測質(zhì)點(6)在另一個、即第二坐標軸(y，x)方向上的偏差，然后將質(zhì)點(6)全部投影到第一坐標軸(x，y)內(nèi)并為這樣檢測的質(zhì)點分布配備分布曲線(H)，其中，分布曲線(H)的最大值(P)被評估為該設(shè)備(I)實際位置的近似值。
2.按權(quán)利要求I或特別是如下所述的方法，其特征在于，在與第一坐標軸U，y)的偏差方面預(yù)先規(guī)定極限，超過此極限的質(zhì)點(6)不再納入評估范圍。
3.按前述權(quán)利要求之一或多項或特別是如下所述的方法，其特征在于，在定向角方面對質(zhì)點(6)進行評估。
4.按前述權(quán)利要求之一或多項或特別是如下所述的方法，其特征在于，在確定偏差之前在設(shè)備(I)的預(yù)先規(guī)定的運動方面對質(zhì)點(6)這樣進行評估，使與預(yù)先規(guī)定的運動相應(yīng)的質(zhì)點(6)得到更高的評估，例如計算上增加數(shù)量。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于確定可自動移動設(shè)備的位置的方法，該設(shè)備優(yōu)選具有電動的移動輪，其中，設(shè)備具有障礙識別裝置，其中，從設(shè)備的預(yù)先計算出的假定第一位置出發(fā)進一步計算出大量可能的位置和定向(質(zhì)點6)并在設(shè)備相應(yīng)地移動后根據(jù)此時占據(jù)的第二位置借助光學單元的測量結(jié)果將此前產(chǎn)生的質(zhì)點之一按照預(yù)先規(guī)定的考慮概率的選擇算法假定為設(shè)備的新位置。本發(fā)明建議對質(zhì)點進行如下評估為所計算出的質(zhì)點云的最大延伸配備坐標系的第一軸并由此出發(fā)檢測質(zhì)點在另一個、即第二坐標軸方向上的偏差，然后將質(zhì)點全部投影到第一坐標軸內(nèi)并為這樣檢測的質(zhì)點分布配備分布曲線，其中，分布曲線的最大值被評估為該設(shè)備實際位置的近似值。
文檔編號G05D1/02GK102621554SQ20121008409
公開日2012年8月1日 申請日期2012年1月21日 優(yōu)先權(quán)日2011年1月21日
發(fā)明者A·索爾瓦爾德, M·瓦爾梅耶 申請人:德國福維克控股公司