專利名稱：一種伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及伺服驅(qū)動(dòng)器領(lǐng)域，尤其涉及一種伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
伺服驅(qū)動(dòng)器屬于伺服系統(tǒng)的一部分，是用來(lái)控制伺服電機(jī)的一種控制器，其作用類似于變頻器作用于普通交流馬達(dá)。伺服驅(qū)動(dòng)器一般可以采用位置、速度和力矩三種控制方式，主要應(yīng)用于高精度的定位系統(tǒng)。隨著伺服系統(tǒng)的大規(guī)模應(yīng)用，對(duì)伺服驅(qū)動(dòng)器的可靠性和穩(wěn)定性要求也越來(lái)越高。為了保證伺服驅(qū)動(dòng)器的可靠與穩(wěn)定，達(dá)到滿意的合格率，避免在使用早期發(fā)生故障，需要對(duì)出產(chǎn)前的每一個(gè)伺服驅(qū)動(dòng)器都進(jìn)行老化測(cè)試，以使有問題的伺服驅(qū)動(dòng)器在出廠前暴露出問題，防止其流入市場(chǎng)。老化測(cè)試是指讓被測(cè)品進(jìn)行超負(fù)荷工作而使其缺陷在短時(shí)間內(nèi)出現(xiàn)，避免在使用早期發(fā)生故障。對(duì)伺服驅(qū)動(dòng)器的老化測(cè)試需要對(duì)待測(cè)的伺服驅(qū)動(dòng)器施加一定的環(huán)境應(yīng)力， 讓伺服驅(qū)動(dòng)器在這種環(huán)境下上電持續(xù)工作一段時(shí)間，檢測(cè)其是否出現(xiàn)故障。目前的伺服驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行老化測(cè)試的方法主要有兩種一種方法是以被測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器控制伺服電機(jī)以一定速度空載運(yùn)行進(jìn)行老化測(cè)試(如圖1所示)。另一種是被測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器帶負(fù)載運(yùn)行進(jìn)行老化測(cè)試(如圖2所示)，其負(fù)載可以是變頻器帶動(dòng)的電機(jī)，或用機(jī)械裝置。但是，上述兩種老化測(cè)試方法都存在明顯的缺陷第一種方法由于是空載，無(wú)法達(dá)到被測(cè)品的高負(fù)荷運(yùn)行，老化測(cè)試效果并不明顯。第二種方法雖然帶有負(fù)載，但負(fù)載也需要成本，特別是在進(jìn)行大規(guī)模的老化測(cè)試時(shí)，需要配備大量的負(fù)載，造成成本的增加。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例所要解決的技術(shù)問題在于，提供一種伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法及系統(tǒng)，對(duì)待測(cè)的伺服驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行帶負(fù)載的老化測(cè)試，且不需要為其配備專門的負(fù)載，以節(jié)約成本。為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法，包括
將待測(cè)的第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器分別與第一、第二伺服電機(jī)連接，所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)連接；
第一伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第一伺服電機(jī)，所述第二伺服電機(jī)作為所述第一伺服電機(jī)的負(fù)載；
檢測(cè)所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器在預(yù)置的測(cè)試時(shí)長(zhǎng)內(nèi)是否出現(xiàn)故障；若未出現(xiàn)故障，則判定第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器合格；若出現(xiàn)故障，則判定所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器不合格。其中，所述將待測(cè)的第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器分別與第一、第二伺服電機(jī)連接，所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)連接，包括
將待測(cè)的第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器分別與第一、第二伺服電機(jī)連接，且將第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器置于高溫環(huán)境內(nèi)；
將所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)通過輪軸連接，使所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)同步。其中，所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第一伺服電機(jī)，所述第二伺服電機(jī)作為所述第一伺服電機(jī)的負(fù)載，包括
第一伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第一伺服電機(jī)，第一伺服電機(jī)帶動(dòng)作為其負(fù)載的第二伺服電機(jī)同步轉(zhuǎn)動(dòng)；
第二伺服驅(qū)動(dòng)器處于上電狀態(tài)，收集所述第二伺服電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)產(chǎn)生的電量，并循環(huán)利用。其中，所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第一伺服電機(jī)，所述第二伺服電機(jī)作為所述第一伺服電機(jī)的負(fù)載之后，檢測(cè)所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器在預(yù)置的測(cè)試時(shí)長(zhǎng)內(nèi)是否出現(xiàn)故障之前，還包括
第二伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第二伺服電機(jī)，所述第一伺服電機(jī)作為所述第二伺服電機(jī)的負(fù)載。其中，所述第二伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第二伺服電機(jī)，所述第一伺服電機(jī)作為所述第二伺服電機(jī)的負(fù)載包括
第二伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第二伺服電機(jī)，第二伺服電機(jī)帶動(dòng)作為其負(fù)載的第一伺服電機(jī)同步轉(zhuǎn)動(dòng)；
第一伺服驅(qū)動(dòng)器處于上電狀態(tài)，收集所述第一伺服電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)產(chǎn)生的電量，并循環(huán)利用。相應(yīng)的，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試系統(tǒng)，包括
裝配模塊，用于將待測(cè)的第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器分別與第一、第二伺服電機(jī)連接，所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)連接；
控制模塊，用于控制第一或第二伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)其對(duì)應(yīng)的伺服電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)，另一伺服電機(jī)作為轉(zhuǎn)動(dòng)的伺服電機(jī)的負(fù)載；
檢測(cè)模塊，用于檢測(cè)所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器在測(cè)試時(shí)長(zhǎng)內(nèi)是否出現(xiàn)故障；若未出現(xiàn)故障，則判定所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器合格；若出現(xiàn)故障，則判定所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器不合格。其中，所述裝配模塊包括
裝配臺(tái)，用于將待測(cè)的第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器分別與第一、第二伺服電機(jī)連接，并將所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)通過輪軸連接，使所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)同
止
少；
高溫箱，用于放置所述第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器，為所述第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器提供高溫測(cè)試環(huán)境。其中，所述控制模塊包括
計(jì)時(shí)單元，用于預(yù)置對(duì)伺服驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行老化測(cè)試的測(cè)試時(shí)長(zhǎng)并計(jì)時(shí)； 控制單元，用于在測(cè)試時(shí)長(zhǎng)的前半段控制第一伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)第一伺服電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)，使第一伺服電機(jī)帶動(dòng)第二伺服電機(jī)同步轉(zhuǎn)動(dòng)，且控制第二伺服驅(qū)動(dòng)器處于上電狀態(tài)；在測(cè)試時(shí)長(zhǎng)的后半段控制第二伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)第二伺服電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)，使第二伺服電機(jī)帶動(dòng)第一伺服電機(jī)同步轉(zhuǎn)動(dòng)，且控制第一伺服驅(qū)動(dòng)器處于上電狀態(tài)。其中，所述伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試系統(tǒng)還包括
能量回饋模塊，用于收集所述第一伺服電機(jī)或第二伺服電機(jī)作為負(fù)載時(shí)轉(zhuǎn)動(dòng)產(chǎn)生的電量，并循環(huán)利用為所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器和第二伺服驅(qū)動(dòng)器的電源的補(bǔ)充。其中，所述檢測(cè)模塊包括
檢測(cè)單元，用于檢測(cè)所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器在其測(cè)試時(shí)長(zhǎng)內(nèi)是否出現(xiàn)故障；若未出現(xiàn)故障，則判定所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器合格；若出現(xiàn)故障，則判定所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器不合格； 人機(jī)接口，用于輸出所述檢測(cè)單元的檢測(cè)結(jié)果。本發(fā)明實(shí)施例提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法及系統(tǒng)，被測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器的負(fù)載由另一伺服驅(qū)動(dòng)器帶動(dòng)電機(jī)產(chǎn)生，兩臺(tái)伺服驅(qū)動(dòng)器在測(cè)試中互為負(fù)載，因而在測(cè)試過程中不必再為被測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器配備專門的負(fù)載。進(jìn)一步的，本發(fā)明實(shí)施例提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法及系統(tǒng)，在對(duì)一組(兩臺(tái))伺服驅(qū)動(dòng)器完成老化測(cè)試后才需要安裝新的待測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器，相比現(xiàn)有技術(shù)中每測(cè)試完一臺(tái)伺服驅(qū)動(dòng)器就需要安裝新的待測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器，本實(shí)施提供的方法及系統(tǒng)減少了測(cè)試過程中裝卸待測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器的次數(shù)，測(cè)試效率更高。進(jìn)一步的，本發(fā)明實(shí)施例提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法及系統(tǒng)中，作為負(fù)載的伺服電機(jī)可以輸出電量，起到發(fā)電機(jī)的作用，而本發(fā)明實(shí)施例提供的方法及系統(tǒng)可以收集伺服電機(jī)輸出的電量并循環(huán)利用，節(jié)約能源。


為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1是現(xiàn)有的對(duì)伺服驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行老化測(cè)試的示意圖； 圖2是現(xiàn)有的另一種對(duì)伺服驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行老化測(cè)試的示意圖3為本發(fā)明提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法第一實(shí)施例流程示意圖； 圖4為本發(fā)明提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法第二實(shí)施例流程示意圖； 圖5為本發(fā)明提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法第三實(shí)施例流程示意圖； 圖6為本發(fā)明提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試系統(tǒng)第一實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖； 圖7為本發(fā)明提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試系統(tǒng)第二實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖； 圖8為對(duì)兩個(gè)伺服驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行同步測(cè)試的示意圖； 圖9為對(duì)兩個(gè)伺服驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行異步測(cè)試的示意圖； 圖10為同時(shí)對(duì)多組伺服驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行老化測(cè)試的示意圖。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明實(shí)施例所要解決的技術(shù)問題在于，提供一種伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法及系統(tǒng)，對(duì)待測(cè)的伺服驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行帶負(fù)載的老化測(cè)試，又不需要為其配備專門的負(fù)載，以節(jié)約成
6本。下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。參見圖3，為本發(fā)明提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法第一實(shí)施例流程示意圖，該方法如圖3所示
步驟S100，將待測(cè)的第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器分別與第一、第二伺服電機(jī)連接，所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)通過輪軸進(jìn)行機(jī)械連接實(shí)現(xiàn)同步轉(zhuǎn)動(dòng)。步驟S101，第一伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)并控制所述第一伺服電機(jī)，所述第二伺服電機(jī)作為所述第一伺服電機(jī)的負(fù)載。此步驟不僅是對(duì)第一伺服驅(qū)動(dòng)器的老化測(cè)試，也是對(duì)第二伺服驅(qū)動(dòng)器的老化測(cè)試。步驟S102，檢測(cè)所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器在預(yù)置的測(cè)試時(shí)長(zhǎng)內(nèi)是否出現(xiàn)故障；若未出現(xiàn)故障，則執(zhí)行步驟S103 ；若出現(xiàn)故障，則執(zhí)行步驟S104。步驟S103，判定所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器合格。步驟S104，判定所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器不合格。本發(fā)明實(shí)施例提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法，被測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器的負(fù)載由另一待測(cè)的伺服驅(qū)動(dòng)器帶動(dòng)電機(jī)產(chǎn)生，因而在測(cè)試過程中不必再為被測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器配備專門的負(fù)載，以節(jié)約成本。參見圖4，為本發(fā)明提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法第二實(shí)施例流程示意圖，該方法如圖4所示
步驟S200，將待測(cè)的第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器分別與第一、第二伺服電機(jī)連接，所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)連接。步驟S201，第一伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第一伺服電機(jī)，所述第二伺服電機(jī)作為所述第一伺服電機(jī)的負(fù)載，且第二伺服驅(qū)動(dòng)器處于上電狀態(tài)。在此過程中，不僅是對(duì)第一伺服驅(qū)動(dòng)器的老化測(cè)試，同時(shí)也是對(duì)第二伺服驅(qū)動(dòng)器的老化測(cè)試。步驟S202，第二伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第二伺服電機(jī)，所述第一伺服電機(jī)作為所述第二伺服電機(jī)的負(fù)載，且第一伺服驅(qū)動(dòng)器處于上電狀態(tài)。在此過程中，不僅是對(duì)第二伺服驅(qū)動(dòng)器的老化測(cè)試，同時(shí)也是對(duì)第一伺服驅(qū)動(dòng)器的老化測(cè)試。步驟S203，檢測(cè)所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器在預(yù)置的測(cè)試時(shí)長(zhǎng)內(nèi)是否出現(xiàn)故障；若未出現(xiàn)故障，則判定所述對(duì)應(yīng)的伺服驅(qū)動(dòng)器合格；若出現(xiàn)故障，則判定對(duì)應(yīng)的伺服驅(qū)動(dòng)器不合格。本發(fā)明實(shí)施例提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法，被測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器的負(fù)載由另一伺服驅(qū)動(dòng)器帶動(dòng)電機(jī)產(chǎn)生，兩臺(tái)伺服驅(qū)動(dòng)器在測(cè)試中互為負(fù)載，因而在測(cè)試過程中不必再為被測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器配備專門的負(fù)載。進(jìn)一步的，本發(fā)明實(shí)施例提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法，在對(duì)一組(兩臺(tái))伺服驅(qū)動(dòng)器完成老化測(cè)試后才需要安裝新的待測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器，相比現(xiàn)有技術(shù)中每測(cè)試完一臺(tái)伺服驅(qū)動(dòng)器就需要安裝新的待測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器，本實(shí)施提供的方法減少了測(cè)試過程中裝卸伺服驅(qū)動(dòng)器的次數(shù)，測(cè)試效率更高。
參見圖5，為本發(fā)明提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法第三實(shí)施例流程示意圖，在本實(shí)施例中，將更為詳細(xì)的描述該伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法的具體流程。在實(shí)施本發(fā)明實(shí)施例提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法前，需要設(shè)定對(duì)伺服驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行老化測(cè)試的時(shí)長(zhǎng)，在本實(shí)施例中假設(shè)該老化測(cè)試時(shí)長(zhǎng)為2t。該方法如圖5所示
步驟S300，將待測(cè)的第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器分別與第一、第二伺服電機(jī)連接，所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)連接。更為具體的，第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器分別與第一、第二伺服電機(jī)連接后，第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器可以分別對(duì)第一、第二伺服電機(jī)進(jìn)行驅(qū)動(dòng)和控制。第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)通過輪軸連接，使兩臺(tái)伺服電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)同步。進(jìn)一步的，可以將第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器置于高溫環(huán)境或者模擬工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)的溫度環(huán)境內(nèi)，以達(dá)到更好的老化測(cè)試效果。步驟S301，在老化測(cè)試時(shí)長(zhǎng)2t的前半段，時(shí)長(zhǎng)t內(nèi)，第一伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第一伺服電機(jī)。此時(shí)第二伺服驅(qū)動(dòng)器并不驅(qū)動(dòng)第二伺服電機(jī)，第二伺服電機(jī)僅作為第一伺服電機(jī)的負(fù)載。進(jìn)一步的，在此過程中第二伺服驅(qū)動(dòng)器處于上電狀態(tài)，只是不驅(qū)動(dòng)第二伺服電機(jī)。 對(duì)第二伺服驅(qū)動(dòng)器上電也是對(duì)第二伺服驅(qū)動(dòng)器的老化測(cè)試過程，類似于電腦測(cè)試中的燒機(jī)。步驟S302，收集所述第二伺服電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)產(chǎn)生的電量，并循環(huán)利用。更為具體的，在老化測(cè)試時(shí)長(zhǎng)2t的前半段，時(shí)長(zhǎng)t內(nèi)，第二伺服電機(jī)被第一伺服電機(jī)帶動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，成為發(fā)電機(jī)，可以對(duì)外輸出電量，在本步驟中將第二伺服電機(jī)輸出電量收集，通過變壓調(diào)幅后循環(huán)利用。本步驟為優(yōu)選步驟，在實(shí)際應(yīng)用中可以省略。步驟S303，在老化測(cè)試時(shí)長(zhǎng)2t的后半段，時(shí)長(zhǎng)為t的時(shí)間段內(nèi)，測(cè)試方式與步驟 S301中老化測(cè)試時(shí)長(zhǎng)2t的前半段的測(cè)試方式類似，只是測(cè)試對(duì)象互換。具體為，第二伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第二伺服電機(jī)。此時(shí)第一伺服驅(qū)動(dòng)器并不驅(qū)動(dòng)第一伺服電機(jī)旋轉(zhuǎn)，第一伺服電機(jī)作為第二伺服電機(jī)的負(fù)載。進(jìn)一步的，在此過程中第一伺服驅(qū)動(dòng)器也處于上電狀態(tài)，只是不驅(qū)動(dòng)第一伺服電機(jī)。對(duì)第一伺服驅(qū)動(dòng)器上電也是對(duì)第一伺服驅(qū)動(dòng)器的老化測(cè)試過程。步驟S304，與步驟S302類似，在老化測(cè)試時(shí)長(zhǎng)2t的后半段，時(shí)長(zhǎng)為t的時(shí)間段內(nèi)， 第一伺服電機(jī)被第二伺服電機(jī)帶動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，成為發(fā)電機(jī)，可以對(duì)外輸出電量，在本步驟中將第一伺服電機(jī)輸出電量收集，通過變壓調(diào)幅后循環(huán)利用。本步驟為優(yōu)選步驟，在實(shí)際應(yīng)用中可以省略。步驟S305，檢測(cè)所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器和第二伺服驅(qū)動(dòng)器在整個(gè)預(yù)置的測(cè)試時(shí)長(zhǎng) 2t內(nèi)是否出現(xiàn)故障；若未出現(xiàn)故障，則判定第一伺服驅(qū)動(dòng)器和第二伺服驅(qū)動(dòng)器合格；若第一伺服驅(qū)動(dòng)器和/或第二伺服驅(qū)動(dòng)器出現(xiàn)故障，則判定對(duì)應(yīng)的伺服驅(qū)動(dòng)器不合格。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解的是，本實(shí)施例提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法既可以將兩個(gè)伺服驅(qū)動(dòng)器同步測(cè)試，也可以異步測(cè)試。為描述方便，現(xiàn)假設(shè)有6臺(tái)待測(cè)試的伺服驅(qū)動(dòng)器，命名為1飛號(hào)伺服驅(qū)動(dòng)器，其測(cè)試流程可以如圖8所示，兩個(gè)伺服驅(qū)動(dòng)器同步測(cè)試；也可以如圖9所示進(jìn)行異步測(cè)試。本發(fā)明實(shí)施例提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法，被測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器的負(fù)載由另一伺服驅(qū)動(dòng)器帶動(dòng)電機(jī)產(chǎn)生，兩臺(tái)伺服驅(qū)動(dòng)器在測(cè)試中互為負(fù)載，因而在測(cè)試過程中不必再為被測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器配備專門的負(fù)載。進(jìn)一步的，本發(fā)明實(shí)施例提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法，在對(duì)一組(兩臺(tái))伺服驅(qū)動(dòng)器完成老化測(cè)試后才需要安裝新的待測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器，相比現(xiàn)有技術(shù)中每測(cè)試完一臺(tái)伺服驅(qū)動(dòng)器就需要安裝新的待測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器，本實(shí)施提供的方法減少了待測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器裝卸的次數(shù)，測(cè)試效率更高。進(jìn)一步的，本發(fā)明實(shí)施例提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法中，作為負(fù)載的伺服電機(jī)起到了發(fā)電機(jī)的作用，而本發(fā)明實(shí)施例提供的方法可以收集伺服電機(jī)產(chǎn)生的電量并循環(huán)利用，節(jié)約能源。參見圖6，為本發(fā)明提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試系統(tǒng)第一實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖，本實(shí)施例提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試系統(tǒng)可以實(shí)施本發(fā)明伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法第一、第二實(shí)施例中提供的流程。該系統(tǒng)如圖6所示，包括
裝配模塊1，用于將待測(cè)的第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器分別與第一、第二伺服電機(jī)連接，所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)連接?？刂颇K2，用于控制第一或第二伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)其對(duì)應(yīng)的伺服電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)，另一伺服電機(jī)作為轉(zhuǎn)動(dòng)的伺服電機(jī)的負(fù)載。檢測(cè)模塊3，用于檢測(cè)所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器在其測(cè)試時(shí)長(zhǎng)內(nèi)是否出現(xiàn)故障；若未出現(xiàn)故障，則判定所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器合格；若出現(xiàn)故障，則判定所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器不合格。本發(fā)明實(shí)施例提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試系統(tǒng)，被測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器的負(fù)載由另一待測(cè)的伺服驅(qū)動(dòng)器帶動(dòng)電機(jī)產(chǎn)生，因而在測(cè)試過程中不必再為被測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器配備專門的負(fù)載，以節(jié)約成本。參見圖7，為本發(fā)明提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試系統(tǒng)第二實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖，如圖所示，該系統(tǒng)包括
裝配模塊，用于將待測(cè)的第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器分別與第一、第二伺服電機(jī)連接，所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)連接。更為具體的，該裝配模塊包括裝配臺(tái)11和高溫箱12 裝配臺(tái)11，用于將待測(cè)的第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器分別與第一、第二伺服電機(jī)連接，并將所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)通過輪軸連接。更為具體的，第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器分別與第一、第二伺服電機(jī)連接后，第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器可以分別對(duì)第一、第二伺服電機(jī)進(jìn)行控制。第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)通過輪軸連接，使所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)同步，使兩臺(tái)伺服電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)同步。高溫箱12，用于放置所述第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器，為所述第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器提供高溫工作環(huán)境，以達(dá)到更好的老化測(cè)試的效果。高溫箱根據(jù)大小的不同，可以一次性放置一定數(shù)量的伺服驅(qū)動(dòng)器?？刂颇K2，用于控制第一或第二伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)其對(duì)應(yīng)的伺服電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)，另一伺服電機(jī)作為轉(zhuǎn)動(dòng)的伺服電機(jī)的負(fù)載。更為具體的，該控制模塊2包括計(jì)時(shí)單元21和控制單元22
計(jì)時(shí)單元21，用于預(yù)置對(duì)伺服驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行老化測(cè)試的測(cè)試時(shí)長(zhǎng)并計(jì)時(shí)。在本實(shí)施例中假設(shè)該老化測(cè)試時(shí)長(zhǎng)為2t?？刂茊卧?2，用于在老化測(cè)試時(shí)長(zhǎng)2t的前半段，時(shí)長(zhǎng)為t的時(shí)間段內(nèi)，控制第一伺
9服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)第一伺服電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)，使第一伺服電機(jī)帶動(dòng)第二伺服電機(jī)同步轉(zhuǎn)動(dòng)，且控制第二伺服驅(qū)動(dòng)器處于上電狀態(tài)；在老化測(cè)試時(shí)長(zhǎng)2t的后半段，時(shí)長(zhǎng)為t的時(shí)間段內(nèi)，控制第二伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)第二伺服電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)，使第二伺服電機(jī)帶動(dòng)第一伺服電機(jī)同步轉(zhuǎn)動(dòng)，且控制第一伺服驅(qū)動(dòng)器處于上電狀態(tài)。更為具體的，在老化測(cè)試時(shí)長(zhǎng)2t的前半段，控制單元22控制第一伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第一伺服電機(jī)。此時(shí)第二伺服驅(qū)動(dòng)器并不驅(qū)動(dòng)第二伺服電機(jī)旋轉(zhuǎn)，第二伺服電機(jī)作為第一伺服電機(jī)的負(fù)載。進(jìn)一步的，在此過程中控制單元22使第二伺服驅(qū)動(dòng)器處于上電狀態(tài)，只是不驅(qū)動(dòng)第二伺服電機(jī)。對(duì)第二伺服驅(qū)動(dòng)器上電也是對(duì)第二伺服驅(qū)動(dòng)器的老化測(cè)試過程，類似于電腦測(cè)試中的燒機(jī)。在下一個(gè)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)t內(nèi)(即老化測(cè)試時(shí)長(zhǎng)2t的后半段，時(shí)長(zhǎng)為t的時(shí)間段內(nèi))，控制單元22使第二伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第二伺服電機(jī)。此時(shí)第一伺服驅(qū)動(dòng)器并不驅(qū)動(dòng)第一伺服電機(jī)旋轉(zhuǎn)，第一伺服電機(jī)作為第二伺服電機(jī)的負(fù)載。類似的，在此過程中控制單元22 使第一伺服驅(qū)動(dòng)器也處于上電狀態(tài)。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解的，一臺(tái)待測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器實(shí)際上需要經(jīng)歷時(shí)長(zhǎng)為2t的老化測(cè)試。檢測(cè)模塊3，用于檢測(cè)所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器在其測(cè)試時(shí)長(zhǎng)內(nèi)是否出現(xiàn)故障；若未出現(xiàn)故障，則判定所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器合格；若出現(xiàn)故障，則判定所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器不合格。更為具體的，該檢測(cè)模塊3包括
檢測(cè)單元31，用于檢測(cè)所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器和/或第二伺服驅(qū)動(dòng)器在2t的測(cè)試時(shí)長(zhǎng)內(nèi)是否出現(xiàn)故障；若未出現(xiàn)故障，則判定所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器和第二伺服驅(qū)動(dòng)器合格；若出現(xiàn)故障，則判定對(duì)應(yīng)伺服驅(qū)動(dòng)器不合格。人機(jī)接口 32，用于輸出所述檢測(cè)單元31的檢測(cè)判定結(jié)果。進(jìn)一步的，本發(fā)明提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試系統(tǒng)還包括能量回饋模塊4，用于收集所述第一伺服電機(jī)或第二伺服電機(jī)作為負(fù)載時(shí)轉(zhuǎn)動(dòng)產(chǎn)生的電量，并循環(huán)利用為所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器和第二伺服驅(qū)動(dòng)器的電源的補(bǔ)充。更為具體的，在老化測(cè)試時(shí)長(zhǎng)2t的前1/2時(shí)間內(nèi)，第二伺服電機(jī)被第一伺服電機(jī)帶動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，成為發(fā)電機(jī)，可以對(duì)外輸出電量，能量回饋模塊4將第二伺服電機(jī)輸出電量收集，通過變壓調(diào)幅后循環(huán)利用。在老化測(cè)試時(shí)長(zhǎng)2t的后1/2時(shí)間內(nèi)的情況與此類似，第一伺服電機(jī)被第二伺服電機(jī)帶動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，成為發(fā)電機(jī)，可以對(duì)外輸出電量，能量回饋模塊4將第一伺服電機(jī)輸出電量收集，通過變壓調(diào)幅后循環(huán)利用。進(jìn)一步的，本發(fā)明各實(shí)施例提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法及系統(tǒng)可以同時(shí)對(duì)多組伺服驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行老化測(cè)試(如圖10所示)，而不是一次只能測(cè)試兩臺(tái)伺服驅(qū)動(dòng)器。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解的是，本實(shí)施例提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試系統(tǒng)既可以將兩個(gè)伺服驅(qū)動(dòng)器同步測(cè)試，也可以異步測(cè)試。為描述方便，現(xiàn)假設(shè)有6臺(tái)待測(cè)試的伺服驅(qū)動(dòng)器，命名為1飛號(hào)伺服驅(qū)動(dòng)器，其測(cè)試流程可以如圖8所示，兩個(gè)伺服驅(qū)動(dòng)器同步測(cè)試；也可以如圖9所示進(jìn)行異步測(cè)試。本發(fā)明實(shí)施例提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試系統(tǒng)，被測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器的負(fù)載由另一伺服驅(qū)動(dòng)器帶動(dòng)電機(jī)產(chǎn)生，兩臺(tái)伺服驅(qū)動(dòng)器在測(cè)試中互為負(fù)載，因而在測(cè)試過程中不必再為被測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器配備專門的負(fù)載。進(jìn)一步的，本發(fā)明實(shí)施例提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試系統(tǒng)，在對(duì)一組(兩臺(tái))伺服驅(qū)動(dòng)器完成老化測(cè)試后才需要安裝新的待測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器，相比現(xiàn)有技術(shù)中每測(cè)試完一臺(tái)伺服驅(qū)動(dòng)器就需要安裝新的待測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器，本實(shí)施提供的系統(tǒng)減少了待測(cè)伺服驅(qū)動(dòng)器裝卸的次數(shù)，測(cè)試效率更高。進(jìn)一步的，本發(fā)明實(shí)施例提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試系統(tǒng)中，作為負(fù)載的伺服電機(jī)起到了發(fā)電機(jī)的作用，而本發(fā)明實(shí)施例提供的方法可以收集伺服電機(jī)產(chǎn)生的電量并循環(huán)利用，節(jié)約能源。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分流程，是可以通過計(jì)算機(jī)程序來(lái)指令相關(guān)的硬件來(lái)完成，所述的程序可存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時(shí)，可包括如上述各方法的實(shí)施例的流程。其中，所述的存儲(chǔ)介質(zhì)可為磁碟、光盤、只讀存儲(chǔ)記憶體(Read-Only Memory, ROM)或隨機(jī)存儲(chǔ)記憶體(Random Access Memory, RAM)等。以上所揭露的僅為本發(fā)明一種較佳實(shí)施例而已，當(dāng)然不能以此來(lái)限定本發(fā)明之權(quán)利范圍，因此依本發(fā)明權(quán)利要求所作的等同變化，仍屬本發(fā)明所涵蓋的范圍。
權(quán)利要求
1.一種伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法，其特征在于，包括將待測(cè)的第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器分別與第一、第二伺服電機(jī)連接，所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)連接；第一伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第一伺服電機(jī)，所述第二伺服電機(jī)作為所述第一伺服電機(jī)的負(fù)載；檢測(cè)所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器在預(yù)置的測(cè)試時(shí)長(zhǎng)內(nèi)是否出現(xiàn)故障；若未出現(xiàn)故障，則判定第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器合格；若出現(xiàn)故障，則判定所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器不合格。
2.如權(quán)利要求1所述的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法，其特征在于，所述將待測(cè)的第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器分別與第一、第二伺服電機(jī)連接，所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)連接，包括將待測(cè)的第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器分別與第一、第二伺服電機(jī)連接，且將第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器置于高溫環(huán)境內(nèi)；將所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)通過輪軸連接，使所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)同步。
3.如權(quán)利要求1所述的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法，其特征在于，所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第一伺服電機(jī)，所述第二伺服電機(jī)作為所述第一伺服電機(jī)的負(fù)載，包括第一伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第一伺服電機(jī)，第一伺服電機(jī)帶動(dòng)作為其負(fù)載的第二伺服電機(jī)同步轉(zhuǎn)動(dòng)；第二伺服驅(qū)動(dòng)器處于上電狀態(tài)，收集所述第二伺服電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)產(chǎn)生的電量，并循環(huán)利用。
4.如權(quán)利要求1所述的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法，其特征在于，所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第一伺服電機(jī)，所述第二伺服電機(jī)作為所述第一伺服電機(jī)的負(fù)載之后，檢測(cè)所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器在預(yù)置的測(cè)試時(shí)長(zhǎng)內(nèi)是否出現(xiàn)故障之前，還包括第二伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第二伺服電機(jī)，所述第一伺服電機(jī)作為所述第二伺服電機(jī)的負(fù)載。
5.如權(quán)利要求4所述的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法，其特征在于，所述第二伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第二伺服電機(jī)，所述第一伺服電機(jī)作為所述第二伺服電機(jī)的負(fù)載括第二伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第二伺服電機(jī)，第二伺服電機(jī)帶動(dòng)作為其負(fù)載的第一伺服電機(jī)同步轉(zhuǎn)動(dòng)；第一伺服驅(qū)動(dòng)器處于上電狀態(tài)，收集所述第一伺服電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)產(chǎn)生的電量，并循環(huán)利用。
6.一種伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括裝配模塊，用于將待測(cè)的第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器分別與第一、第二伺服電機(jī)連接，所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)連接；控制模塊，用于控制第一或第二伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)其對(duì)應(yīng)的伺服電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)，另一伺服電機(jī)作為轉(zhuǎn)動(dòng)的伺服電機(jī)的負(fù)載；檢測(cè)模塊，用于檢測(cè)所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器在測(cè)試時(shí)長(zhǎng)內(nèi)是否出現(xiàn)故障；若未出現(xiàn)故障，則判定所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器合格；若出現(xiàn)故障，則判定所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器不合格。
7.如權(quán)利要求6所述的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述裝配模塊包括裝配臺(tái)，用于將待測(cè)的第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器分別與第一、第二伺服電機(jī)連接，并將所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)通過輪軸連接，使所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)同止少；高溫箱，用于放置所述第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器，為所述第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器提供高溫測(cè)試環(huán)境。
8.如權(quán)利要求6所述的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述控制模塊包括 計(jì)時(shí)單元，用于預(yù)置對(duì)伺服驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行老化測(cè)試的測(cè)試時(shí)長(zhǎng)并計(jì)時(shí)；控制單元，用于在測(cè)試時(shí)長(zhǎng)的前半段控制第一伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)第一伺服電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)，使第一伺服電機(jī)帶動(dòng)第二伺服電機(jī)同步轉(zhuǎn)動(dòng)，且控制第二伺服驅(qū)動(dòng)器處于上電狀態(tài)；在測(cè)試時(shí)長(zhǎng)的后半段控制第二伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)第二伺服電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)，使第二伺服電機(jī)帶動(dòng)第一伺服電機(jī)同步轉(zhuǎn)動(dòng)，且控制第一伺服驅(qū)動(dòng)器處于上電狀態(tài)。
9.如權(quán)利要求6所述的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試系統(tǒng)還包括能量回饋模塊，用于收集所述第一伺服電機(jī)或第二伺服電機(jī)作為負(fù)載時(shí)轉(zhuǎn)動(dòng)產(chǎn)生的電量，并循環(huán)利用為所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器和第二伺服驅(qū)動(dòng)器的電源的補(bǔ)充。
10.如權(quán)利要求6所述的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述檢測(cè)模塊包括 檢測(cè)單元，用于檢測(cè)所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器在其測(cè)試時(shí)長(zhǎng)內(nèi)是否出現(xiàn)故障；若未出現(xiàn)故障，則判定所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器合格；若出現(xiàn)故障，則判定所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器或第二伺服驅(qū)動(dòng)器不合格； 人機(jī)接口，用于輸出所述檢測(cè)單元的檢測(cè)結(jié)果。
全文摘要
本發(fā)明實(shí)施例公開了一種伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法及系統(tǒng)，該方法包括將待測(cè)的第一、第二伺服驅(qū)動(dòng)器分別與第一、第二伺服電機(jī)連接，所述第一伺服電機(jī)與第二伺服電機(jī)連接；第一伺服驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述第一伺服電機(jī)，所述第二伺服電機(jī)作為所述第一伺服電機(jī)的負(fù)載；檢測(cè)所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器在預(yù)置的測(cè)試時(shí)長(zhǎng)內(nèi)是否出現(xiàn)故障；若未出現(xiàn)故障，則判定所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器合格；若出現(xiàn)故障，則判定所述第一伺服驅(qū)動(dòng)器不合格。本發(fā)明實(shí)施例所提供的伺服驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試方法及系統(tǒng)，對(duì)待測(cè)的伺服驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行帶負(fù)載的老化測(cè)試，且不需要為其配備專門的負(fù)載，以節(jié)約成本。
文檔編號(hào)G05B23/02GK102508484SQ201110341318
公開日2012年6月20日 申請(qǐng)日期2011年11月2日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月2日
發(fā)明者王精 申請(qǐng)人:深圳市合信自動(dòng)化技術(shù)有限公司