專利名稱：顯示驅(qū)動器和測試該顯示驅(qū)動器的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及顯示驅(qū)動器和測試該顯示驅(qū)動器的方法。
背景技術(shù)：
近年來，在顯示面板驅(qū)動器(顯示驅(qū)動器)中已經(jīng)要求諸如小幅度輸入操作和高 頻率數(shù)據(jù)傳輸這樣的功能。根據(jù)此，由于顯示驅(qū)動器的數(shù)據(jù)輸入缺陷或者數(shù)據(jù)傳輸缺陷在 客戶面板中出現(xiàn)諸如顯示缺陷這樣的各種問題。為了解決這些問題，已經(jīng)執(zhí)行操作測試以 檢查數(shù)據(jù)是否被正確地輸入到顯示驅(qū)動器。然而，在沒有包括測試電路的顯示驅(qū)動器中，基 于灰階電壓需要執(zhí)行操作測試，灰階電壓是來自于顯示驅(qū)動器的輸出的結(jié)果。更加具體地， 對于當顯示驅(qū)動器的輸入數(shù)據(jù)(灰階數(shù)據(jù))是六位時64個灰階，和當輸入數(shù)據(jù)是八位時 256個灰階的灰階電壓來說需要精確地執(zhí)行操作測試。為了執(zhí)行多灰階和多輸出顯示驅(qū)動 器的操作測試，需要大尺寸的昂貴的測試器。因此，已經(jīng)強烈需要能夠使用不昂貴的測試器 高速地檢測數(shù)據(jù)輸入缺陷等等的技術(shù)。圖8示出在日本未經(jīng)審查的專利申請公開No. 10-240194中公布的顯示驅(qū)動器的 測試電路。圖8中所示的電路包括存儲器電路111、121、131 ；運算電路112、122、132 ；驅(qū)動 電路113、123、133 ；控制電路140 ；地址電路150 ；正邏輯與電路(AND電路)151 ；以及負邏 輯與電路(OR電路)152。存儲器電路111、121、131具有相同的電路構(gòu)造。存儲器電路根據(jù) 從地址電路150提供的信號順序地存儲從灰階數(shù)據(jù)輸入端子101輸入的灰階數(shù)據(jù)。存儲器 電路中的每一個通過地址電路150根據(jù)從控制電路140提供的控制信號同時地輸出被存儲 在其中的灰階數(shù)據(jù)。運算電路112、122、132具有相同的電路構(gòu)造。從存儲器電路111、存儲 器電路121、以及存儲器電路131輸出的信號分別被輸入到運算電路112、122、132的每一 個。此外，從控制電路140輸出的控制信號被輸入到運算電路中的每一個。每一個運算電 路執(zhí)行事先被設(shè)定的運算并且輸出運算結(jié)果。驅(qū)動器電路113、123、133具有相同的電路構(gòu) 造。從運算電路112、122、132輸出的信號分別被輸入到驅(qū)動電路113、123、133。驅(qū)動電路 中的每一個輸出被放大到適合驅(qū)動液晶裝置的電壓或者電流的信號。如圖8中所示，來自于驅(qū)動電路113、123、以及133的輸出信號被輸入到正邏輯與 電路151。正邏輯與電路151將正邏輯的邏輯與運算的結(jié)果輸出到輸出端子105。同時，來 自于驅(qū)動電路113、123、以及133的輸出信號被輸入到負邏輯與電路152。負邏輯與電路 152將負邏輯的邏輯與運算的結(jié)果輸出到輸出端子106。通過在測試模式下觀察輸出端子 105和106的電壓，能夠判斷基于灰階數(shù)據(jù)(鎖存的數(shù)據(jù))的輸出結(jié)果是否正確。圖9示出用于描述本發(fā)明的包括測試輸出端子的顯示驅(qū)動器的框圖。圖9中所示 的電路包括移位寄存器312、灰階數(shù)據(jù)輸入電路313、灰階數(shù)據(jù)寄存器314、灰階數(shù)據(jù)鎖存電
3路315、測試電路316、電平移位器317、灰階電壓選擇器318、以及輸出放大器319。為了方 便起見，時鐘輸入301、起始脈沖輸302、起始脈沖輸出303、灰階數(shù)據(jù)輸入304、鎖存脈沖輸 入305、測試輸入306、測試輸出307、基準電源輸入308、灰階電壓輸出309、高電勢側(cè)電源 310、以及低電勢側(cè)電源311均示出端子名稱和信號名稱。此外，圖9中所示的電路示出其 中灰階數(shù)據(jù)輸入信號304是六位(64個灰階)的情況。在本示例中，通過六級寄存器來形成移位寄存器312。起始脈沖輸入信號302和時 鐘輸入信號301被提供給移位寄存器312。通過與時鐘輸入信號301同步地順序?qū)ζ鹗济} 沖輸入信號302進行移位來形成移位脈沖信號。此外，在圖9中所示的示例中，顯示驅(qū)動器包括六個灰階數(shù)據(jù)寄存器314。六位灰 階數(shù)據(jù)輸入信號304通過灰階數(shù)據(jù)輸入電路313被并行地提供給每個灰階數(shù)據(jù)寄存器314。 基于從移位寄存器312提供的移位脈沖信號順序地選擇灰階數(shù)據(jù)寄存器314，使得存儲灰 階數(shù)據(jù)。在完成將灰階數(shù)據(jù)輸入到灰階數(shù)據(jù)寄存器314之后，鎖存脈沖輸入信號305被輸 入到灰階數(shù)據(jù)鎖存電路315。因此，灰階數(shù)據(jù)鎖存電路315同時地鎖存(同步地輸出)被保 持在灰階數(shù)據(jù)寄存器314中的每一個中的灰階數(shù)據(jù)。通過灰階數(shù)據(jù)鎖存電路315鎖存的灰 階數(shù)據(jù)被輸入到測試電路316。在測試電路316中，通過測試輸入信號306切換正常操作模 式和測試模式。在正常操作模式下，通過測試電路316將由灰階數(shù)據(jù)鎖存電路315鎖存的 灰階數(shù)據(jù)提供給電平移位器317，并且由電平移位器317適當?shù)匾莆浑妷弘娖健Ｔ趫?zhí)行電平 移位之后，灰階電壓選擇器318基于灰階數(shù)據(jù)選擇性地輸出從基準電源輸入端子308提供 的多個基準電壓Vl至Vn (η是2或者更大的自然數(shù))中的任何一個。然后，輸出放大器319 放大通過灰階電壓選擇器318選擇的基準電壓，并且將被放大的電壓輸出到灰階電壓輸出 端子309。在本示例中，六個輸出放大器319放大灰階電壓選擇器318的對應(yīng)的輸出信號 (基準電壓)，并且將被放大的信號輸出到灰階電壓輸出端子309。另一方面，在測試模式下，例如，執(zhí)行與圖8中所示的相類似的操作測試。總之，觀 察被輸入到測試電路316的灰階數(shù)據(jù)的電壓。更加具體地，觀察從測試輸出端子307輸出的 電壓。從而，通過觀察從測試輸出端子307輸出的電壓，能夠判斷從灰階數(shù)據(jù)鎖存電路315 輸出的灰階數(shù)據(jù)是否正確。如上所述，在圖8和圖9中所示的電路中，外部輸出并且觀察作為操作測試的結(jié)果 的電壓值。因此，需要提供測試輸出端子，并且需要添加觀察電路以觀察測試結(jié)果(操作測 試的結(jié)果；故障檢測的結(jié)果)。簡言之，根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)，增加了電路尺寸。此外，在圖8和圖 9中所示的電路中，僅在操作測試中觀察到已經(jīng)出現(xiàn)缺陷。因此，即使當在多個部件中存在 缺陷時，不能夠識別已經(jīng)出現(xiàn)缺陷。此外，不能夠指定有缺陷的部件。圖10示出在日本未經(jīng)審查的專利申請公開No. 2006-227168中公布的顯示驅(qū)動器 200。顯示驅(qū)動器200包括保持電路210，該保持電路210保持并且輸出顯示數(shù)據(jù)(灰階數(shù) 據(jù))；電平接口 230，該電平接口 230調(diào)節(jié)保持電路210的輸出電平；D/A轉(zhuǎn)換器220，該D/ A轉(zhuǎn)換器220D/A轉(zhuǎn)換從電平接口 230輸出的顯示數(shù)據(jù)；緩沖器240，該緩沖器240基于D/A 轉(zhuǎn)換器220的輸出電壓輸出灰階電壓；以及輸出選擇器250，該輸出選擇器250選擇灰階電 壓(模擬信號)和顯示數(shù)據(jù)(數(shù)字信號)并且將所選擇的輸出到驅(qū)動電壓輸出端子OUT。當掃描使能信號SCANEN被設(shè)定為非激活狀態(tài)時，保持電路210保持與時鐘信號
4是2或者更大的自然數(shù))中的每一個的η 位顯示數(shù)據(jù)。保持電路210從對應(yīng)的輸出端子LQl至LQn輸出用于每一位的被保持在其中 的η位顯示數(shù)據(jù)。從保持電路210輸出的η位顯示數(shù)據(jù)通過電平接口 230被輸入到D/A轉(zhuǎn) 換器220。D/A轉(zhuǎn)換器220通過緩沖器240將根據(jù)顯示數(shù)據(jù)的灰階電壓輸出到輸出選擇器 250的輸入端子INl。另一方面，當掃描使能信號SCANEN被設(shè)定為激活狀態(tài)時，保持電路210從一位寬 輸出端子LQn串行輸出被保持在其中的η位顯示數(shù)據(jù)。例如，串行輸出意指與時鐘信號同 步地從一位寬輸出端子LQn輸出第η位數(shù)據(jù)，然后從輸出端子LQn輸出第(η_1)位數(shù)據(jù)，并 且其后順序地輸出數(shù)據(jù)直到第一位數(shù)據(jù)。通過此串行輸出而輸出的一系列的第η至第一位 數(shù)據(jù)被稱為串行輸出數(shù)據(jù)。從輸出端子LQn輸出的串行輸出數(shù)據(jù)通過電平接口 230被輸入 到輸出選擇器250的輸入端子ΙΝ2。在正常操作模式下，輸出選擇器250選擇并且輸出被輸入到輸入端子mi的灰階 電壓。此外，掃描使能信號SCANEN被設(shè)定為非激活狀態(tài)。這時，輸出選擇器250將灰階電 壓輸出到驅(qū)動電壓輸出端子V0UT。另一方面，在測試模式下，輸出選擇器250選擇并且輸 出被輸入到輸入端子IN2的顯示數(shù)據(jù)。此外，掃描使能信號SCANEN被設(shè)定為激活狀態(tài)。這 時，輸出選擇器250將基于串行輸出數(shù)據(jù)的電壓順序地輸出到驅(qū)動電壓輸出端子V0UT。通 過外部提供的觀察電路比較先前設(shè)定的顯示數(shù)據(jù)的測試圖案和此串行輸出數(shù)據(jù)，以便判斷 兩個數(shù)據(jù)是否匹配。因此，能夠執(zhí)行操作測試以檢查顯示驅(qū)動器200是否根據(jù)設(shè)計執(zhí)行操 作等等。在日本未經(jīng)審查的專利申請公開No. 2006-227168中公布的電路中，需要在測試 模式下以串行的方式且以高電壓輸出灰階數(shù)據(jù)。因此，要求復(fù)雜的時序控制和數(shù)據(jù)處理。這 造成較長的判斷時間(較長的操作測試)。特別地，當顯示數(shù)據(jù)(灰階數(shù)據(jù))的位寬增加時 此問題嚴重。此外，在操作測試中，以與在日本未經(jīng)審查的專利申請公開No. 10-240194中 公布的相類似的方式，外部輸出并且觀察作為操作測試的結(jié)果的電壓值。因此，需要提供測 試輸出端子，并且還需要添加觀察測試結(jié)果(操作測試的結(jié)果；故障檢測的結(jié)果)的觀察電 路。簡言之，根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)，增加了電路尺寸。另外，在日本未經(jīng)審查的專利申請公開No. 2006-178029中公布的電路中，通過測 量顯示驅(qū)動器的輸出端子的電流值來執(zhí)行操作測試。然而，根據(jù)此現(xiàn)有技術(shù)，測量作為基于 輸入數(shù)據(jù)(灰階數(shù)據(jù))執(zhí)行運算處理的結(jié)果(輸出信號)的電流值。因此，當輸入數(shù)據(jù)具 有位寬時，不能夠指定其中出現(xiàn)缺陷的位線。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明人已經(jīng)發(fā)現(xiàn)了問題，即在現(xiàn)有技術(shù)公開的顯示驅(qū)動器中，在檢測故障中增 加了電路尺寸。本發(fā)明的一個示例性方面是顯示驅(qū)動器，該顯示驅(qū)動器包括灰階數(shù)據(jù)寄存器 (例如，本發(fā)明的第一示例性實施例中的灰階數(shù)據(jù)寄存器14)，該灰階數(shù)據(jù)寄存器存儲具有 位寬的灰階數(shù)據(jù)；和灰階電壓信號生成器(例如，本發(fā)明的第一示例性實施例中的灰階電 壓選擇器18)，該灰階電壓信號生成器生成具有根據(jù)被存儲在灰階數(shù)據(jù)寄存器中的灰階數(shù) 據(jù)的電壓的灰階電壓信號并且輸出所生成的灰階電壓信號，顯示驅(qū)動器進一步包括測試電路，該測試電路被設(shè)置在灰階數(shù)據(jù)寄存器和灰階電壓信號生成器之間，該測試電路在測試 模式下通過公共節(jié)點至少連接被設(shè)置在灰階數(shù)據(jù)寄存器和灰階電壓信號生成器之間的位 線當中的多條位線，從而基于在公共節(jié)點中流動的電流的值來執(zhí)行故障檢測。根據(jù)如上所述的電路構(gòu)造，可以容易地執(zhí)行故障檢測，同時抑制電路尺寸的增加。本發(fā)明的另一示例性方面是測試顯示驅(qū)動器的方法，該顯示驅(qū)動器基于灰階數(shù)據(jù) 生成根據(jù)具有位寬的灰階數(shù)據(jù)的灰階電壓信號并且輸出所生成的灰階電壓信號，該方法包 括至少連接灰階數(shù)據(jù)在其中流動的位線當中的多條位線，通過公共節(jié)點連接所述多條位 線，并且在將用于測試的灰階數(shù)據(jù)輸入到顯示驅(qū)動器之后，檢測根據(jù)用于測試的灰階數(shù)據(jù) 的電流值是否在公共節(jié)點中流動，從而檢測故障。根據(jù)上述方法，可以容易地執(zhí)行故障檢測，同時抑制電路尺寸的增加。根據(jù)本發(fā)明，可以提供一種顯示驅(qū)動器，該顯示驅(qū)動器使得能夠容易地執(zhí)行故障 檢測，同時抑制電路尺寸的增加。


結(jié)合附圖，根據(jù)某些示例性實施例的以下描述，以上和其它示例性方面、優(yōu)點和特 征將更加明顯，其中圖1是示出根據(jù)本發(fā)明的第一示例性實施例的顯示驅(qū)動器的電路圖；圖2是示出根據(jù)本發(fā)明的第一示例性實施例的顯示驅(qū)動器的電路圖；圖3是示出根據(jù)本發(fā)明的第一示例性實施例的顯示驅(qū)動器的測試操作的圖；圖4是示出根據(jù)本發(fā)明的第一示例性實施例的顯示驅(qū)動器的測試操作的圖；圖5是示出根據(jù)本發(fā)明的第一示例性實施例的顯示驅(qū)動器的測試操作的圖；圖6是示出根據(jù)本發(fā)明的第一示例性實施例的顯示驅(qū)動器的測試操作的時序圖；圖7是根據(jù)本發(fā)明的第二示例性實施例的顯示驅(qū)動器的電路圖；圖8是根據(jù)日本未經(jīng)審查的專利申請公開No. 10-240194的顯示驅(qū)動器的電路 圖；圖9是根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的顯示驅(qū)動器的電路圖；以及圖10是根據(jù)日本未經(jīng)審查的專利申請公開No. 2006-227168的顯示驅(qū)動器的電路圖。
具體實施例方式在下文中，將會參考附圖詳細地描述應(yīng)用本發(fā)明的具體示例性實施例。附圖中，通 過相同的附圖標記來表示相同的組件，并且為了清晰起見將會適當?shù)厥÷灾貜?fù)的描述。[第一示例性實施例]將會參考附圖描述本發(fā)明的第一示例性實施例。圖1是根據(jù)本發(fā)明的第一示例性 實施例的顯示驅(qū)動器的框圖。圖1中所示的電路包括移位寄存器12、灰階數(shù)據(jù)輸入電路13、灰階數(shù)據(jù)寄存器14、 灰階數(shù)據(jù)鎖存電路15、測試電路16、電平移位器17、灰階電壓選擇器(灰階電壓信號生成 器)18、以及輸出放大器19。為了方便起見，時鐘輸入1、起始脈沖輸入2、起始脈沖輸出3、 灰階數(shù)據(jù)輸入4、鎖存脈沖輸入5、測試輸入6、基準電源輸入8、灰階電壓輸出9、高電勢側(cè)電源10、以及低電勢側(cè)電源11，每一個均示出端子名稱和信號名稱。圖1中所示的電路示出其中灰階數(shù)據(jù)輸入信號4是六位(64個灰階)的情況。此 種電路構(gòu)造僅示出示例性實施例的一個示例，并且可以在不脫離本發(fā)明的精神的情況下進 行各種方式的修改。例如，盡管第一示例性實施例示出其中灰階數(shù)據(jù)輸入信號4是六位的 情況，但是本發(fā)明可以應(yīng)用于具有不同的位寬的電路構(gòu)造。此外，盡管第一示例性實施例示 出其中六個灰階數(shù)據(jù)寄存器14被包括的情況，但是本發(fā)明可以應(yīng)用于其中提供不同數(shù)目 的灰階數(shù)據(jù)寄存器14的其它電路構(gòu)造。在本示例中，通過六級寄存器來形成移位寄存器12。此外，通過六個灰階數(shù)據(jù)寄存 器至14-6來形成灰階數(shù)據(jù)寄存器14。另外，通過輸出放大器19-1至19-6來形成輸 出放大器19。移位寄存器12中的六級寄存器被區(qū)分為移位寄存器12-1至12-6。此外，連 接至輸出放大器19的輸出端子的六個灰階電壓輸出端子9還被區(qū)分為灰階電壓輸出端子 9-1 至 9-6。時鐘輸入端子1被連接至移位寄存器12-1至12-6的輸入端子中的每一個。此 外，移位寄存器12-1至12-6被串聯(lián)地連接在起始脈沖輸入端子2和起始脈沖輸出端子3 之間，使得形成移位寄存器。六位寬灰階數(shù)據(jù)輸入端子4被連接至灰階數(shù)據(jù)輸入電路13的 六位寬輸入端子?；译A數(shù)據(jù)輸入電路13的六位寬輸出端子被連接至灰階數(shù)據(jù)寄存器14-1 至14-6的六位寬輸入端子中的每一個。移位寄存器12-1至12-6的輸出端子分別被連接 至對應(yīng)的灰階數(shù)據(jù)寄存器14-1至14-6的其他輸入端子?；译A數(shù)據(jù)寄存器14-1至14-6中的每一個的六位寬輸出端子通過灰階數(shù)據(jù)鎖存電 路15、測試電路16、以及電平移位器17被連接至灰階電壓選擇器18的輸入端子(36位寬 =6位X6)。鎖存脈沖輸入端子5被連接至灰階數(shù)據(jù)鎖存電路15的其他輸入端子。測試 輸入端子6被連接至測試電路16的其他輸入端子。Vl至Vn (η是2或者更大的自然數(shù)) 的基準電源輸入端子8被連接至灰階電壓選擇器18的其他輸入端子。在灰階電壓選擇器 18中，與灰階數(shù)據(jù)寄存器14-1至14-6相對應(yīng)的六個輸出端子被連接至對應(yīng)的輸出放大器 19-1至19-6的輸入端子。輸出放大器19-1至19-6的輸出端子被連接至對應(yīng)的灰階電壓 輸出端子9-1至9-6。起始脈沖輸入信號2和時鐘輸入信號1被提供給移位寄存器12。移位寄存器12 通過與時鐘輸入信號1同步地順序?qū)ζ鹗济}沖輸入信號2進行移位來形成移位脈沖信號。此外，六位灰階數(shù)據(jù)輸入信號4通過灰階數(shù)據(jù)輸入電路13被提供給灰階數(shù)據(jù)寄存 器14-1至14-6中的每一個。基于從移位寄存器12提供的移位脈沖信號選擇灰階數(shù)據(jù)寄存 器^-丨至^乂中的任何一個。然后，灰階數(shù)據(jù)被存儲在被選擇的灰階數(shù)據(jù)寄存器中。這 樣，基于移位脈沖信號選擇性地切換存儲灰階數(shù)據(jù)的灰階數(shù)據(jù)寄存器14-1至14-6。在完成將灰階數(shù)據(jù)輸入到灰階數(shù)據(jù)寄存器14-1至14-6之后，鎖存脈沖輸入信號 5被輸入到灰階數(shù)據(jù)鎖存電路15中。因此，灰階數(shù)據(jù)鎖存電路15同時地鎖存(同步地輸 出)被保持在灰階數(shù)據(jù)寄存器14-1至14-6中的灰階數(shù)據(jù)。從灰階數(shù)據(jù)鎖存電路15輸出 的灰階數(shù)據(jù)被輸入到測試電路16。注意的是，在測試電路16中，基于測試輸入信號6選擇 性地切換正常操作模式和測試模式。在正常操作模式下，從灰階數(shù)據(jù)鎖存電路15輸出的灰階數(shù)據(jù)的電壓電平通過測 試電路16由電平移位器17適當?shù)匾莆?。灰階電壓選擇器18基于在執(zhí)行電平移位之后的灰階數(shù)據(jù)，選擇性地輸出從基準電源輸入端子8提供的多個基準電壓Vl至Vn (η是2或者 更大的自然數(shù))中的一個。然后，輸出放大器19放大通過灰階電壓選擇器18選擇的基準 電壓并且將被放大的基準電壓輸出到灰階電壓輸出端子9。在本示例中，六個輸出放大器 19-1至19-6放大由灰階電壓選擇器18選擇的對應(yīng)的基準電壓并且將被放大的電壓輸出到 灰階電壓輸出端子9。盡管在圖1中高電勢側(cè)電源端子10和低電勢側(cè)電源端子11被連接 至灰階數(shù)據(jù)鎖存電路15，但是它們被連接至所有其它電路的電源?，F(xiàn)在，圖2示出根據(jù)本發(fā)明的第一示例性實施例的測試電路16的電路構(gòu)造。在圖 2中所示的示例中，從灰階數(shù)據(jù)寄存器14-1 (未示出)輸出的六位寬灰階數(shù)據(jù)的每一位線被 稱為A1、B1、C1、D1、E1、F1。類似地，從灰階數(shù)據(jù)寄存器14_2 (未示出)輸出的六位寬灰階 數(shù)據(jù)的每一位線被稱為A2、B2、C2、D2、E2、F2。從灰階數(shù)據(jù)寄存器14_3 (未示出)輸出的 六位寬灰階數(shù)據(jù)的每一位線被稱為A3、B3、C3、D3、E3、F3。從灰階數(shù)據(jù)寄存器14_4(未示 出)輸出的六位寬灰階數(shù)據(jù)的每一位線被稱為A4、B4、C4、D4、E4、F4。從灰階數(shù)據(jù)寄存器 14-5(未示出)輸出的六位寬灰階數(shù)據(jù)的每一位線被稱為A5、B5、C5、D5、E5、F5。從灰階數(shù) 據(jù)寄存器14-6 (未示出)輸出的六位寬灰階數(shù)據(jù)的每一位線被稱為46、86丄6、06工646。 這些總共的36條位線通過測試電路16和電平移位器17被連接至灰階數(shù)據(jù)選擇器18 (未 示出)的輸入端子。測試電路16包括與36條位線相對應(yīng)的開關(guān)元件。在圖2中所示的示例中，測試 電路16包括與36條位線相對應(yīng)的36個開關(guān)元件。每個開關(guān)元件的一個端子被連接至對 應(yīng)的位線。具有一個被連接至位線Al的端子的開關(guān)元件被稱為SA1。具有一個被連接至位 線Bl的端子的開關(guān)元件被稱為SBl。類似地，通過將“S”添加到被連接至每個開關(guān)元件的 一個端子的每條位線的前部來命名開關(guān)元件。開關(guān)元件SAl至SA6的另一端子通過第一公共節(jié)點被相互連接在一起。開關(guān)元件 SBl至SB6的另一端子通過第二公共節(jié)點被相互連接在一起。開關(guān)元件SCl至SC6的另一 端子通過第三公共節(jié)點被相互連接在一起。開關(guān)元件SDl至SD6的另一端子通過第四公共 節(jié)點被相互連接在一起。開關(guān)元件SEl至SE6的另一端子通過第五公共節(jié)點被相互連接在 一起。開關(guān)元件SFl至SF6的另一端子通過第六公共節(jié)點被相互連接在一起。簡言之，測 試電路16包括對于每具有每個灰階數(shù)據(jù)的相同位序的各位線來說不同的公共節(jié)點(第一 至第六公共節(jié)點)。此外，通過測試輸入信號6切換這36個開關(guān)元件的連接狀態(tài)(導(dǎo)通/斷開)。例 如，當測試輸入信號6是低電平時，每個開關(guān)元件被斷開。在這樣的情況下，測試電路16示 出正常操作模式的操作。簡言之，在正常操作模式下，測試電路16將從灰階數(shù)據(jù)鎖存電路 15輸出的灰階數(shù)據(jù)直接地輸出到電平移位器17。另一方面，當測試輸入信號6是高電平時，每個開關(guān)元件被導(dǎo)通。在這樣的情況 下，測試電路16示出測試模式的操作。更加具體地，位線A1-A6被相互連接在一起。位線 B1-B6被相互連接在一起。位線C1-C6被相互連接在一起。位線D1-D6被相互連接在一起。 位線E1-E6被相互連接在一起。位線F1-F6被相互連接在一起。此外，通過灰階數(shù)據(jù)輸入 信號4控制具有從灰階數(shù)據(jù)寄存器14-1至14-6 (未示出)輸出的每個灰階數(shù)據(jù)的相同位 序的位線彼此具有相同的電勢。簡言之，控制位線Al至A6具有相同的電勢。同樣地，位線 B 1至B6具有相同的電勢，位線C 1至C6具有相同的電勢，位線Dl至D6具有相同的電勢，
8位線El至E6具有相同的電勢，并且位線F 1至F6具有相同的電勢。注意，在測試模式下， 如上所述，具有每個灰階數(shù)據(jù)的相同位序的位線被相互連接在一起。當沒有位線包括缺陷(正常工作)時，這意指當正確地傳輸灰階數(shù)據(jù)時，被連接在 一起的位線的電勢示出相同的值。因此，在正常工作中，在位線之間不存在電勢差，并且電 流沒有流動。另一方面，當位線中的任何一個包括缺陷時，這意指當沒有正確地傳輸灰階數(shù) 據(jù)時，具有缺陷的位線的電勢具有不同的值。簡言之，僅具有缺陷的位線具有不同于被連接 在一起的位線的電勢?？傊?，當位線中的任何一個包括缺陷時，在被連接在一起的位線之間 產(chǎn)生了電勢差，并且電流流動。注意，通過測量被設(shè)置在測試電路16的前級中的灰階數(shù)據(jù) 鎖存電路15的高電勢側(cè)電源10或者低電勢側(cè)電源11能夠檢查此電流值。通過采用此電路構(gòu)造，通過使用用于測量電源電流的不昂貴的測試器，能夠容易 地觀察灰階數(shù)據(jù)的傳輸缺陷。此外，在本發(fā)明的第一示例性實施例中，不同于現(xiàn)有技術(shù)，不 觀察輸出信號的電壓值。因此，不需要新添加用于檢測故障的電路(觀察測試結(jié)果的觀察 電路)。此外，不需要提供用于實現(xiàn)它的測試輸出端子。圖3至圖5示出根據(jù)本發(fā)明的第一示例性實施例的顯示驅(qū)動器的測試操作的具體 示例。圖3至圖5都示出測試模式下的操作。圖3示出當正確地傳輸灰階數(shù)據(jù)時操作的示 例。圖4示出當在灰階數(shù)據(jù)的一條位線中出現(xiàn)缺陷時操作的示例。圖5示出在灰階數(shù)據(jù)的 兩條位線中出現(xiàn)缺陷時操作的示例。此外，圖3至圖5中所示的示例都僅示出測試電路16 和灰階數(shù)據(jù)鎖存電路15的電路構(gòu)造。此外，在圖3至圖5中所示的示例中，僅示出從灰階 數(shù)據(jù)寄存器14-2 (未示出)輸出的灰階數(shù)據(jù)(A2、B2、C2、D2、E2、F2)和從灰階數(shù)據(jù)寄存器 14-3 (未示出)輸出的灰階數(shù)據(jù)(A3、B3、C3、D3、E3、F3)之間的連接關(guān)系。如上所述，圖3至圖5都示出測試模式下的操作。因此，在測試電路16中位線A2 和A3被連接在一起。位線B2、B3被連接在一起。位線C2、C3被連接在一起。位線D2、D3 被連接在一起。位線E2、E3被連接在一起。位線F2、F3被連接在一起。此外，在正常狀態(tài) 下，控制具有從灰階數(shù)據(jù)寄存器14-1至14-6輸出的每個灰階數(shù)據(jù)的相同位序的位線具有 相同的電勢。在圖3中所示的示例中，高電平電壓被提供給位線A2、A3。低電平電壓被提 供給位線B2、B3。高電平電壓被提供給位線C2、C3。低電平電壓被提供給位線D2、D3。高 電平電壓被提供給位線E2、E3。低電平電壓被提供給位線F2、F3。現(xiàn)在，從灰階數(shù)據(jù)鎖存電路15輸出每個灰階數(shù)據(jù)。簡言之，具有高電壓電平的位 線被連接至高電勢側(cè)電源端子10。此外，具有低電壓電平的位線被連接至低電勢側(cè)電源端 子11。首先將會描述正常工作。在這樣的情況下，如圖3中所示，被連接在一起的位線的 電勢具有相同的值。簡言之，在被連接在一起的位線之間不存在生成的電勢差。因此，不存 在通過每條位線在高電勢側(cè)電源10或者低電勢側(cè)電源11中流動的異常電流。接下來，將會描述其中在位線D3中出現(xiàn)缺陷的情況。在這樣的情況下，如圖4中 所示，位線D3的電壓電平變高，這不同于原始電平。這時，在位線D2與D3之間存在生成的 電勢差。因此，如由圖4中的具有箭頭的實線示出的路徑所示，異常電流I通過位線D3和 D2從高電勢側(cè)電源10流到低電勢側(cè)電源11。簡言之，通過測量電源電流能夠觀察灰階數(shù) 據(jù)的傳輸缺陷。接下來，將會描述其中在位線A3中也出現(xiàn)缺陷的情況。在這樣的情況下，如圖5中
9所示，位線A3的電壓電平變低，這不同于原始電平。這時，在位線D2與D3之間，以及在位 線A2和A3之間存在生成的電勢差。因此，如由圖5中的具有箭頭的實線示出的路徑中所 示，異常電流I通過位線D3和D2從高電勢側(cè)電源10流到低電勢側(cè)電源11。類似地，異常 電流I通過位線A2和A3從高電勢側(cè)電源10流到低電勢側(cè)電源11?？傊?，異常電流1X2 從高電勢側(cè)電源10流到低電勢側(cè)電源11。根據(jù)上面的描述，能夠通過測量從高電勢側(cè)電源 10流到低電勢側(cè)電源11的異常電流而檢查有多少灰階數(shù)據(jù)的傳輸缺陷出現(xiàn)。圖6是示出根據(jù)本發(fā)明的第一示例性實施例的顯示驅(qū)動器的測試操作的時序圖。 此外，在圖6中，在根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的測試操作和根據(jù)本發(fā)明的第一示例性實施例的測試操 作之間進行比較?？傊?，圖6示出其中觀察根據(jù)圖9中所示的現(xiàn)有技術(shù)的測試輸出信號307 的電壓的情況和其中測量根據(jù)本發(fā)明的第一示例性實施例的電源電流(高電勢側(cè)電源10、 低電勢側(cè)電源11)的情況的時序圖。在圖6中所示的示例中，移位寄存器12與時鐘信號1的下降邊緣同步地檢測起始 脈沖輸入信號2并且輸出移位脈沖信號。然后，灰階數(shù)據(jù)寄存器14-1至14-6基于移位脈 沖信號存儲灰階數(shù)據(jù)輸入信號4。然后，從灰階數(shù)據(jù)鎖存電路15同時輸出被存儲在灰階數(shù) 據(jù)寄存器14-1至14-6中的灰階數(shù)據(jù)。盡管在圖6中所示的示例中已經(jīng)描述與時鐘信號1 的下降邊緣同步地操作電路的示例，但是它不限于此示例。例如，本發(fā)明還能夠被應(yīng)用于其 中與時鐘信號1的上升邊緣同步地操作電路的情況。在圖9中所示的現(xiàn)有技術(shù)中，通過檢測從測試輸出端子307輸出的信號的電壓電 平(高電平或者低電平)執(zhí)行測試操作。然而，即使當存在兩個有缺陷的部件時，也不能檢 測到它。同時，根據(jù)本發(fā)明的第一示例性實施例，通過測量在高電勢側(cè)電源10或者低電勢 側(cè)電源11中流動的電源電流的值來執(zhí)行操作測試。在正常工作中異常電流沒有流動。另 一方面，當數(shù)據(jù)傳輸是異常的時，測量根據(jù)具有缺陷的位線的數(shù)目的電流值。在圖6中所示 的示例中，當存在兩個有缺陷的部件時流動的異常電流是當存在一個有缺陷的部件時流動 的異常電流的兩倍。因此，通過測量從高電勢側(cè)電源10流到低電勢側(cè)電源11的異常電流， 能夠檢查有多少灰階數(shù)據(jù)的傳輸缺陷出現(xiàn)。盡管在本發(fā)明的第一示例性實施例中，已經(jīng)描述其中具有從灰階數(shù)據(jù)寄存器14-1 至14-6輸出的每個灰階數(shù)據(jù)的相同位序的位線具有相同的電勢的情況，但是它不限于本 示例。例如，在具有相同位序的位線當中，位線中的任何一個可以被設(shè)定為不同于其它位線 的電勢的電勢。因此，在正常工作中，電流I從高電勢側(cè)電源10流動到低電勢側(cè)電源11。 另一方面，當在具有不同電勢的位線中存在缺陷時，不同于電流I的電流流動。通過還對其 它位線執(zhí)行類似的處理，能夠指定出現(xiàn)缺陷的位線。[第二示例性實施例]圖7示出被包括在根據(jù)本發(fā)明的第二示例性實施例的顯示驅(qū)動器中的測試電路 16的電路構(gòu)造。在圖7中所示的電路中，被設(shè)置在測試電路16中的開關(guān)元件的連接關(guān)系不 同于圖7中所示的本發(fā)明的第一示例性實施例的連接關(guān)系。在圖7中所示的示例中，被設(shè)置在測試電路16中的36個開關(guān)元件中的每一個的 一個端子被連接至每個對應(yīng)的位線。開關(guān)元件SAl、SBl、SCl、SDl、SEl、SF 1的另一個端子 通過第一公共節(jié)點被相互連接在一起。開關(guān)元件SA2、SB2、SC2、SD2、SE2、SF2的另一個端 子通過第二公共節(jié)點被相互連接在一起。開關(guān)元件SA3、SB3、SC3、SD3、SE3、SF3的另一個端子通過第三公共節(jié)點被相互連接在一起。開關(guān)元件SA4、SB4、SC4、SD4、SE4、SF4的另一 個端子通過第四公共節(jié)點被相互連接在一起。開關(guān)元件SA5、SB5、SC5、SD5、SE5、SF5的另 一個端子通過第五公共節(jié)點被相互連接在一起。開關(guān)元件SA6、SB6、SC6、SD6、SE6、SF6的 另一個端子通過第六公共節(jié)點被相互連接在一起?？傊?，測試電路16包括對于每示出單個 灰階數(shù)據(jù)的多條位線來說不同的公共節(jié)點(第一至第六公共節(jié)點)。通過測試輸入信號6切換36個開關(guān)元件的連接狀態(tài)(導(dǎo)通/斷開)。例如，當測 試輸入信號6是低電平時，開關(guān)元件中的每一個的連接狀態(tài)被設(shè)為斷開。在這樣的情況下， 測試電路16示出正常操作模式的操作。簡言之，在正常操作模式下，測試電路16將從灰階 數(shù)據(jù)鎖存電路15輸出的灰階數(shù)據(jù)直接地輸出到電平移位器17。另一方面，當測試輸入信號6是高電平時，開關(guān)元件中的每一個的連接狀態(tài)為導(dǎo) 通。在這樣的情況下，測試電路16示出測試模式的操作。更加具體地，位線A1、B1、C1、D1、 E1、F1被相互連接在一起。位線A2、B2、C2、D2、E2、F2被相互連接在一起。位線A3、B3、C3、 D3、E3、F3被相互連接在一起。位線A4、B4、C4、D4、E4、F4被相互連接在一起。位線A5、B5、 C5、D5、E5、F5被相互連接在一起。位線A6、B6、C6、D6、E6、F6被相互連接在一起。此外，在 從灰階數(shù)據(jù)寄存器14-1至14-6(未示出)輸出的灰階數(shù)據(jù)當中，通過灰階數(shù)據(jù)輸入信號4 控制示出單個灰階數(shù)據(jù)的多條位線具有相同的電勢。具體地，例如，控制從灰階數(shù)據(jù)寄存器 14-1輸出的位線Al、Bi、Cl、Dl、El、Fl具有相同的電勢(例如，高電平)。類似地，控制位 線A2、B2、C2、D2、E2、F2具有相同的電勢，控制位線A3、B3、C3、D3、E3、F3具有相同的電勢， 控制位線A4、B4、C4、D4、E4、F4具有相同的電勢，控制位線A5、B5、C5、D5、E5、F5具有相同 的電勢，并且控制位線A6、B6、C6、D6、E6、F6具有相同的電勢。如上所述，在測試模式下，示 出單個灰階數(shù)據(jù)的多條位線被連接在一起。這時，當在所有的位線中沒有找到缺陷(正常工作)時，這意指當正確地傳輸灰階 數(shù)據(jù)時，示出單個灰階數(shù)據(jù)的多條位線具有相同的電勢。因此，在正常工作中，在位線之間 不產(chǎn)生電勢差，并且電流沒有流動。另一方面，當在位線中的任何一個中出現(xiàn)缺陷時，這意 指當沒有正確地傳輸灰階數(shù)據(jù)時，具有缺陷的位線的電勢示出不同的值。簡言之，在被相互 連接在一起的位線的電勢當中，僅具有缺陷的位線具有不同的值?？傊?，當在位線中的任何 一個中出現(xiàn)缺陷時，在缺陷出現(xiàn)的位線和被連接的其它位線之間產(chǎn)生電勢差，并且電流流 動。注意，通過測量被設(shè)置在測試電路16的前級中的灰階數(shù)據(jù)鎖存電路15的高電勢側(cè)電 源10或者低電勢側(cè)電源11能夠檢查此電流值。而且，同樣在第二示例性實施例中，如在第 一示例性實施例中的情況相似，可以檢查有多少灰階數(shù)據(jù)的傳輸缺陷出現(xiàn)。如上所述，而且在第二示例性實施例中，通過使用用于測量電源電流的不昂貴的 測試器能夠觀察灰階數(shù)據(jù)的傳輸缺陷。此外，能夠檢查有多少灰階數(shù)據(jù)的傳輸缺陷出現(xiàn)。此 外，在本發(fā)明的第二示例性實施例中，不同于現(xiàn)有技術(shù)，不觀察輸出信號的電壓值。因此，不 需要新添加用于檢測故障的電路(觀察測試結(jié)果的觀察電路)。此外，不需要設(shè)置用于實現(xiàn) 它的測試輸出端子。盡管在本發(fā)明的第二示例性實施例中已經(jīng)描述其中在從灰階數(shù)據(jù)寄存器14-1至 14-6輸出的灰階數(shù)據(jù)當中示出單個灰階數(shù)據(jù)的多條位線具有相同的電勢的情況，但是不限 于本示例。例如，還能夠設(shè)定示出單個灰階數(shù)據(jù)的多條位線當中的任何一條位線具有不同 于其它位線的電勢。因此，在正常工作中，電流I從高電勢側(cè)電源10流到低電勢側(cè)電源11。另一方面，當在具有不同電勢的位線中存在缺陷時，不同于電流I的電流流動。通過還為其 它位線執(zhí)行類似的處理，能夠指定出現(xiàn)缺陷的位線。注意，本發(fā)明不限于上述示例性實施例，但是在不脫離本發(fā)明的精神的情況下能 夠適當?shù)剡M行更改。例如，本發(fā)明不限于上述顯示驅(qū)動器的電路構(gòu)造，但是如果需要可以存 在不具有輸出放大器19的電路構(gòu)造。或者，例如，可以存在具有邏輯運算電路的電路構(gòu)造。本領(lǐng)域的技術(shù)人員能夠根據(jù)需要組合第一和第二示例性實施例。雖然已經(jīng)按照若干示例性實施例描述了本發(fā)明，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員將理解本 發(fā)明可以在權(quán)利要求的精神和范圍內(nèi)進行各種修改的實踐，并且本發(fā)明并不限于上述的示 例。此外，權(quán)利要求的范圍不受到上述示例性實施例的限制。此外，應(yīng)當注意的是，申請人意在涵蓋所有權(quán)利要求要素的等同形式，即使在之后 的審查過程中進行過修改亦是如此。
權(quán)利要求
一種顯示驅(qū)動器，包括灰階數(shù)據(jù)寄存器，所述灰階數(shù)據(jù)寄存器存儲具有位寬的灰階數(shù)據(jù)；以及灰階電壓信號生成器，所述灰階電壓信號生成器生成灰階電壓信號并且輸出所生成的灰階電壓信號，所述灰階電壓信號具有根據(jù)被存儲在所述灰階數(shù)據(jù)寄存器中的所述灰階數(shù)據(jù)的電壓，所述顯示驅(qū)動器進一步包括測試電路，所述測試電路被設(shè)置在所述灰階數(shù)據(jù)寄存器和所述灰階電壓信號生成器之間，所述測試電路在測試模式下通過公共節(jié)點至少連接被設(shè)置在所述灰階數(shù)據(jù)寄存器和所述灰階電壓信號生成器之間的位線當中的多條位線，從而基于在所述公共節(jié)點中流動的電流的值來執(zhí)行故障檢測。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示驅(qū)動器，其中所述測試電路包括對于所述位線當中的每 具有每個灰階數(shù)據(jù)的相同位序的各位線來說不同的所述公共節(jié)點。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示驅(qū)動器，其中所述測試電路包括對于每示出單個灰階數(shù) 據(jù)的多條位線來說不同的所述公共節(jié)點。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示驅(qū)動器，其中所述測試電路包括開關(guān)元件，所述開關(guān)元 件在所述公共節(jié)點和對應(yīng)的位線之間，并且所述開關(guān)元件在所述測試模式下被導(dǎo)通并且在正常操作模式下被斷開。
5.一種測試顯示驅(qū)動器的方法，所述顯示驅(qū)動器根據(jù)具有位寬的灰階數(shù)據(jù)生成灰階電 壓信號并且輸出所生成的灰階電壓信號，所述方法包括至少連接所述灰階數(shù)據(jù)在其中流動的位線當中的多條位線，通過公共節(jié)點連接所述多 條位線；并且在將用于測試的灰階數(shù)據(jù)輸入到所述顯示驅(qū)動器之后，檢測根據(jù)所述用于測試的灰階 數(shù)據(jù)的電流值是否在所述公共節(jié)點中流動，從而檢測故障。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試顯示驅(qū)動器的方法，包括輸入所述灰階數(shù)據(jù)使得被連接 至所述公共節(jié)點的所述多條位線具有相同的電勢，從而基于在所述公共節(jié)點中流動的電流 的值來檢測所述多條位線中的故障。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試顯示驅(qū)動器的方法，包括輸入所述灰階數(shù)據(jù)使得被連接 至所述公共節(jié)點的所述多條位線中的任何一條具有不同的電勢，從而基于在所述公共節(jié)點 中流動的電流的值來檢測被設(shè)定具有所述不同的電勢的位線中的故障。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試顯示驅(qū)動器的方法，包括在測試模式下導(dǎo)通開關(guān)元件并 且在正常操作模式下斷開所述開關(guān)元件，所述開關(guān)元件的每一個被設(shè)置在所述公共節(jié)點和 對應(yīng)的位線之間。
全文摘要
本發(fā)明涉及顯示驅(qū)動器和測試該顯示驅(qū)動器的方法。該顯示驅(qū)動器包括灰階數(shù)據(jù)寄存器，該灰階數(shù)據(jù)寄存器存儲具有位寬的灰階數(shù)據(jù)；和灰階電壓信號生成器，該灰階電壓信號生成器生成灰階電壓信號并且輸出所生成的灰階電壓信號，該灰階電壓信號具有根據(jù)被存儲在灰階數(shù)據(jù)寄存器中的灰階數(shù)據(jù)的電壓，顯示驅(qū)動器進一步包括測試電路，該測試電路被設(shè)置在灰階數(shù)據(jù)寄存器和灰階電壓信號生成器之間，該測試電路在測試模式下通過公共節(jié)點至少連接被設(shè)置在灰階數(shù)據(jù)寄存器和灰階電壓信號生成器之間的位線當中的多條位線，從而基于在公共節(jié)點中流動的電流的值來執(zhí)行故障檢測。
文檔編號G09G3/00GK101901573SQ20101016786
公開日2010年12月1日 申請日期2010年4月22日 優(yōu)先權(quán)日2009年4月22日
發(fā)明者田付敏一 申請人:瑞薩電子株式會社