一種帶有折彎針體的測(cè)試針的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及電路板測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種帶有折彎針體的測(cè)試針。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有技術(shù)下，在對(duì)一些傾斜設(shè)置的焊點(diǎn)位置進(jìn)行測(cè)試時(shí)，采用一般的直形測(cè)試針很難測(cè)試，且由于焊點(diǎn)較為光禿，因此必須對(duì)測(cè)試針套管及測(cè)試頭形狀進(jìn)行改進(jìn)，使得能夠充分與焊點(diǎn)接觸。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型提供了一種便于安裝，定位穩(wěn)定可靠，且不會(huì)造成異物殘留的測(cè)試針。
[0004]為達(dá)此目的，本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案:
[0005]一種帶有折彎針體的測(cè)試針，包括針體及彈性設(shè)置于所述針體一端的測(cè)試頭，所述測(cè)試頭的測(cè)試桿與所述針體的套管滑動(dòng)配合，所述針體的套管呈折彎設(shè)置，所述測(cè)試頭的測(cè)試端圓周均布有偶數(shù)個(gè)測(cè)試部，相鄰測(cè)試部之間形成V字形開(kāi)槽，所述V字形開(kāi)槽相互貫通。
[0006]其中，相鄰所述V字形開(kāi)槽的一相鄰面之間設(shè)置有交線，所述交線形成所述測(cè)試部的內(nèi)側(cè)棱。
[0007]其中，所述測(cè)試部設(shè)置為4個(gè)且兩兩相對(duì)設(shè)置。
[0008]其中，相對(duì)設(shè)置的測(cè)試部的內(nèi)側(cè)棱之間相互垂直。
[0009]本實(shí)用新型的有益效果:本實(shí)用新型包括針體及彈性設(shè)置于所述針體一端的測(cè)試頭，所述測(cè)試頭的測(cè)試桿與所述針體的套管滑動(dòng)配合，所述針體的套管呈折彎設(shè)置，所述測(cè)試頭的測(cè)試端圓周均布有偶數(shù)個(gè)測(cè)試部，相鄰測(cè)試部之間形成V字形開(kāi)槽，所述V字形開(kāi)槽相互貫通。此結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的測(cè)試針，利于助焊劑的排出，使助焊劑或其他異物不易殘留于測(cè)試體上，能夠確保測(cè)試針?lè)€(wěn)定地接觸于電路板上的測(cè)試點(diǎn)與零件腳，不易滑開(kāi)，此外折彎設(shè)置的套管，使得測(cè)試頭與測(cè)試針固定位呈一定夾角設(shè)置，進(jìn)而滿足傾斜焊點(diǎn)的測(cè)試。
【附圖說(shuō)明】
[0010]圖1是本實(shí)用新型一種帶有折彎針體的測(cè)試針的軸測(cè)圖。
[0011]圖2是圖1中測(cè)試針頭部的軸測(cè)圖。
【具體實(shí)施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖1至圖2所示并通過(guò)【具體實(shí)施方式】來(lái)進(jìn)一步說(shuō)明本實(shí)用新型的技術(shù)方案。
[0013]—種帶有折彎針體的測(cè)試針，包括針體及彈性設(shè)置于所述針體一端的測(cè)試頭，所述測(cè)試頭的測(cè)試桿2與所述針體的套管I滑動(dòng)配合，所述針體的套管I呈折彎設(shè)置，所述測(cè)試頭的測(cè)試端圓周均布有偶數(shù)個(gè)測(cè)試部21，相鄰測(cè)試部21之間形成V字形開(kāi)槽22，所述V字形開(kāi)槽22相互貫通。
[0014]進(jìn)一步優(yōu)選的，相鄰所述V字形開(kāi)槽22的一相鄰面之間設(shè)置有交線，所述交線形成所述測(cè)試部21的內(nèi)側(cè)棱23。
[0015]進(jìn)一步優(yōu)選的，所述測(cè)試部21設(shè)置為4個(gè)且兩兩相對(duì)設(shè)置。
[0016]進(jìn)一步優(yōu)選的，相對(duì)設(shè)置的測(cè)試部21的內(nèi)側(cè)棱23之間相互垂直。
[0017]采用上述結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的測(cè)試針，利于助焊劑的排出，使助焊劑或其他異物不易殘留于測(cè)試體上，能夠確保測(cè)試針?lè)€(wěn)定地接觸于電路板上的測(cè)試點(diǎn)與零件腳，不易滑開(kāi)，此外折彎設(shè)置的套管，使得測(cè)試頭與測(cè)試針固定位呈一定夾角設(shè)置，進(jìn)而滿足傾斜焊點(diǎn)的測(cè)試。
[0018]以上結(jié)合具體實(shí)施例描述了本實(shí)用新型的技術(shù)原理。這些描述只是為了解釋本實(shí)用新型的原理，而不能以任何方式解釋為對(duì)本實(shí)用新型保護(hù)范圍的限制?；诖颂幍慕忉?zhuān)绢I(lǐng)域的技術(shù)人員不需要付出創(chuàng)造性的勞動(dòng)即可聯(lián)想到本實(shí)用新型的其它【具體實(shí)施方式】，這些方式都將落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種帶有折彎針體的測(cè)試針，其特征在于，包括針體及彈性設(shè)置于所述針體一端的測(cè)試頭，所述測(cè)試頭的測(cè)試桿與所述針體的套管滑動(dòng)配合，所述針體的套管呈折彎設(shè)置，所述測(cè)試頭的測(cè)試端圓周均布有偶數(shù)個(gè)測(cè)試部，相鄰測(cè)試部之間形成V字形開(kāi)槽，所述V字形開(kāi)槽相互貫通。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種帶有折彎針體的測(cè)試針，其特征在于，相鄰所述V字形開(kāi)槽的一相鄰面之間設(shè)置有交線，所述交線形成所述測(cè)試部的內(nèi)側(cè)棱。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種帶有折彎針體的測(cè)試針，其特征在于，所述測(cè)試部設(shè)置為4個(gè)且兩兩相對(duì)設(shè)置。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種帶有折彎針體的測(cè)試針，其特征在于，相對(duì)設(shè)置的測(cè)試部的內(nèi)側(cè)棱之間相互垂直。
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種帶有折彎針體的測(cè)試針，包括針體及彈性設(shè)置于所述針體一端的測(cè)試頭，所述測(cè)試頭的測(cè)試桿與所述針體的套管滑動(dòng)配合，所述針體的套管呈折彎設(shè)置，所述測(cè)試頭的測(cè)試端圓周均布有偶數(shù)個(gè)測(cè)試部，相鄰測(cè)試部之間形成V字形開(kāi)槽，所述V字形開(kāi)槽相互貫通。此結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的測(cè)試針，利于助焊劑的排出，使助焊劑或其他異物不易殘留于測(cè)試體上，能夠確保測(cè)試針?lè)€(wěn)定地接觸于電路板上的測(cè)試點(diǎn)與零件腳，不易滑開(kāi)，此外折彎設(shè)置的套管，使得測(cè)試頭與測(cè)試針固定位呈一定夾角設(shè)置，進(jìn)而滿足傾斜焊點(diǎn)的測(cè)試。
【IPC分類(lèi)】G01R1/067
【公開(kāi)號(hào)】CN205374529
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201521041020
【發(fā)明人】鐘興彬
【申請(qǐng)人】深圳市新富城電子有限公司
【公開(kāi)日】2016年7月6日
【申請(qǐng)日】2015年12月14日