一種用于單層電容的測試夾具的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及電容器技術領域，具體為一種用于單層電容的測試夾具。
【背景技術】
[0002]單層電容的上下兩面為平面金電極。單層電容在制作完成后，需進行參數(shù)測試、高溫老化、老化后參數(shù)測試等跟蹤測試，并要求在測試老化中不能在兩個金電極表面留下壓點痕跡。
[0003]此外芯片電容的尺寸較小，單獨對單個單層電容測試費時費力，相對效率較低，不適合于批量生產(chǎn)以及生產(chǎn)效率的提高，所以在批量生產(chǎn)測試中需盡量減少手工直接操作，目前的生產(chǎn)中測試、老化及高低溫測試等環(huán)節(jié)分別采用不同的夾具進行測試，在測試環(huán)節(jié)中需要更換夾具，過多的對電容相對夾具的取放操作也容易造成對電容造成損壞。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]針對上述問題，本實用新型提供了一種用于單層電容的測試夾具，有效的解決了現(xiàn)有的夾具會對電容電極造成損傷和測試效率較低等問題，實現(xiàn)了對單層電容的無損測試及老化，簡化了對單層電容在測試及老化環(huán)節(jié)的取放操作，提高了生產(chǎn)效率的提高，降低了設備成本。
[0005]本實用新型的具體技術方案如下:一種用于單層電容的測試夾具，包括兩個相互平行設置的電極板，其特征在于:所述電極板之間分別對應設置有探針，所述探針上下配合夾持單層電容，所述探針的探針端頭的平面觸點面積大于單層電容的電極面積。
[0006]進一步的，所述電極板分別包括基座，所述基座上分別對應設置有探針安裝孔，所述探針對應安裝在所述探針安裝孔中，其中一個所述基座上設置有彈性探針，所述彈性探針的探針端頭高于所述基座的平面設置，構成電極凸點；安裝在另一個所述基座上的探針的探針端頭低于所述基座的平面設置，在所述基座的平面上構成與所述電極凸點相對應的電極凹槽，所述電極凹槽能夠容納所述單層電容，所述電極凸點與所述電極凹槽配合夾持所述單層電容。
[0007]進一步的，所述電極凹槽的上部倒角設置倒角。
[0008]進一步的，所述探針的探針端頭的平面觸點為圓形。
[0009]進一步的，兩個所述基座相互接觸的表面的四角上分別對應設置有定位梢和定位梢孔，所述定位梢和所述定位梢孔配合對所述基座定位，使得所述電極凸點與所述電極凹槽相對應。
[0010]進一步的，所述基座的外表面上分別安裝有PCB電路板，每個所述探針的引出端分別焊接在所述PCB電路板上，所述PCB電路板的一側分別設置與所述PCB電路板的導線焊接連接的多路插頭。
[0011]進一步的，所述探針的引出端分別通過所述PCB電路板的兩條導線連接所述多路插頭的兩個插針焊點，每個所述探針連接所述多路插頭的兩個插針，使得所述電極板之間構成四線連接模式。
[0012]進一步的，所述PCB電路板的外側還分別設置有保護蓋。
[0013]進一步的，所述PCB電路板上還設置有高低電平編碼器。
[0014]進一步的，所述基座上設置有螺絲鎖緊裝置。
[0015]本實用新型的用于單層電容的測試夾具通過兩個探針配合夾持單層電容，先將單層電容放入夾具的下電極板的各個凹槽中，再將上電極板通過定位梢對位后壓在下電極板上，這時每個電容的上下兩面電極都分別接觸了上下兩個探針的電極表面，探針探頭的平面觸點面積大于單層電容的電極面積，探針端頭壓觸單層電容電極時不會在電容電極表面形成壓痕或損傷，通過由彈性探針構成的電極凸點的設置使得，探針端頭以一定壓力壓觸單層電容的電極，通過在基座上的電極凹槽的設置方便單層電容的放置和定位，使得單層電容下電極表面壓觸在電極凹槽底部的探針端頭的測試電極平面上，電極凹槽和電極凸點相配合使得測試過程單層電容元件可靠地夾持在兩個探針之間平面端頭之間，夾持可靠，基座上可同時設置多對探針對單層電容進行測試，大大提高了測試效率；定位梢和定位梢孔的設置實現(xiàn)了兩個電極板能夠相對定位，確保上電極板的每個探針平面準確地壓在下電極板中所裝單層電容的上電極表面上，每個探針引出端通過PCB電路板上的兩條導線連接多路插頭的相應兩個插針，使得連接每個探針都連接到上下電極板的對外插頭的相應兩個插針上，使上下電極對外形成4線連接模式，實現(xiàn)對單層電容的4線測試模式，通過4線測試模式可以精確的測試單層電容的各項參數(shù)；單層電容一次放入夾具便可完成測試及老化所需的所有操作程序，大大簡化了對單層電容在測試及老化環(huán)節(jié)的取放操作。
【附圖說明】
[0016]圖1為本實用新型的用于單層電容的測試夾具裝配時的立體結構示意圖；
[0017]圖2為本實用新型的用于單層電容的測試夾具裝配時的主視結構示意圖；
[0018]圖3為本實用新型的用于單層電容的測試夾具裝配時的右視結構示意圖；
[0019]圖4為本實用新型的用于單層電容的測試夾具的立體結構示意圖；
[0020]圖5為本實用新型的用于單層電容的測試夾具的主視結構示意圖；
[0021]圖6為本實用新型的用于單層電容的測試夾具的右視結構示意圖；
[0022]圖7為本實用新型的用于單層電容的測試夾具的下基座的主視剖視結構示意圖；
[0023]圖8為圖7的A處的放大結構示意圖。
【具體實施方式】
[0024]以下結合附圖和實施例對本實用新型作進一步詳細的說明。
[0025]見圖1、圖2、圖3、圖4、圖5、圖6、圖7、圖8，本實用新型的一種用于單層電容的測試夾具，包括兩個相互平行設置的上電極板1、下電極板2，上電極板1、下電極板2之間分別對應設置有探針，探針上下配合夾持單層電容，探針的探針端頭的平面觸點面積大于單層電容的電極面積。
[0026]上電極板1、下電極板2分別包括上基座3、下基座4，上基座3、下基座4上分別對應設置有探針安裝孔5，探針對應安裝在探針安裝孔5中，上基座3上設置有彈性探針6，彈性探針6的探針端頭高于上基座3的平面設置，構成電極凸點8 ;安裝在下基座4上的探針7的探針端頭低于下基座4的平面設置，在下基座4的平面上構成與電極凸點相對應的電極凹槽，電極凹槽能夠容納單層電容，電極凸點與電極凹槽配合夾持單層電容。
[0027]見