技術編號：10079391
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。單層電容的上下兩面為平面金電極。單層電容在制作完成后，需進行參數測試、高溫老化、老化后參數測試等跟蹤測試，并要求在測試老化中不能在兩個金電極表面留下壓點痕跡。此外芯片電容的尺寸較小，單獨對單個單層電容測試費時費力，相對效率較低，不適合于批量生產以及生產效率的提高，所以在批量生產測試中需盡量減少手工直接操作，目前的生產中測試、老化及高低溫測試等環(huán)節(jié)分別采用不同的夾具進行測試，在測試環(huán)節(jié)中需要更換夾具，過多的對電容相對夾具的取放操作也容易造成對電容造成損壞。實...
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