高密度金手指探針式對準(zhǔn)測試治具的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型屬于檢測裝置技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種高密度金手指探針式對準(zhǔn)測試治具。
【背景技術(shù)】
[0002]電路板PCB、柔性電路板FPC的端部通常設(shè)有導(dǎo)電電極即金手指，用來與其他電子產(chǎn)品或其他部件相連通，以實現(xiàn)電性導(dǎo)通，為了避免金手指的連接不良，通常都需要對金手指的電路板進(jìn)行電性測試，通常的測試方式是在電路板PCB或柔性電路板FPC上設(shè)置測試點，將錫膏印刷與測試點表面，通過自動化測試裝置，以獲取相關(guān)的電性參數(shù)。
[0003]目前有一種金手指電測治具，當(dāng)需要檢測帶有金手指端子的產(chǎn)品時，將產(chǎn)品沿底板一端的空隙插入，將插入的待檢測的金手指壓緊貼合到底板上表面設(shè)置的金手指區(qū)內(nèi)，實現(xiàn)對金手指的導(dǎo)通性檢測，對每一個金手指的測試，都需要將金手指由縫隙處插入，且特別是一些蜂窩狀金手指，蜂窩狀金手指四周之間的間距都非常小，蜂窩金手指與蜂窩金手指對位要控制四個方向，前后左右，對位位置要求很高，對位不易控制，容易造成誤測。
[0004]故，需要一種新的技術(shù)方案以解決上述問題。
【實用新型內(nèi)容】
[0005]實用新型目的:針對上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題和不足，本實用新型的目的是提供一種高密度金手指探針式對準(zhǔn)測試治具，特別適用于檢測蜂窩狀金手指的電性參數(shù)。
[0006]技術(shù)方案:本實用新型公開了一種高密度金手指探針式對準(zhǔn)測試治具，一端用于對接待測金手指，另一端用于對接外部測試裝置的金手指，該對準(zhǔn)測試治具包括與外部測試裝置的金手指電連接且與待測金手指形成電連接的探針和用于安裝探針的安裝座；所述安裝座為中空、兩端敞口結(jié)構(gòu)，所述安裝座內(nèi)還設(shè)有與探針一體成型的對位導(dǎo)套孔。
[0007]作為本實用新型的進(jìn)一步優(yōu)化，本實用新型所述的安裝座內(nèi)還設(shè)有固定探針的固定位，所述若干固定位呈蜂窩狀結(jié)構(gòu)分布。
[0008]作為本實用新型的進(jìn)一步優(yōu)化，本實用新型位于不同水平線上的固定位與固定位之間錯開設(shè)置。
[0009]作為本實用新型的進(jìn)一步優(yōu)化，本實用新型所述的固定位包括呈高腳杯型結(jié)構(gòu)的固定位和主體呈八面體結(jié)構(gòu)的固定位，所述主體呈八面體結(jié)構(gòu)的固定位的豎直面上的兩端分別設(shè)有短端腳、長端腳，所述呈八面體結(jié)構(gòu)的固定位的長端腳設(shè)置于兩個高腳杯型結(jié)構(gòu)的固定位之間。
[0010]作為本實用新型的進(jìn)一步優(yōu)化，本實用新型所述的呈八面體結(jié)構(gòu)的固定位的長端腳長度與呈高腳杯型結(jié)構(gòu)的固定位的頭部長度相同。
[0011]作為本實用新型的進(jìn)一步優(yōu)化，本實用新型的待測金手指的外型特性位置設(shè)有對位針腳。待測金手指通過對位針腳與對位導(dǎo)套孔配合進(jìn)行定位固定。
[0012]有益效果:本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點:本實用新型通過采用測試治具內(nèi)置的探針，減小接觸點面積，增大待測金手指與外部檢測裝置的金手指之間的對位偏移的公差，從而對對位要求也就相應(yīng)降低了，同時在測試治具安裝座內(nèi)加入與探針一體成型的對位導(dǎo)套孔，該對位導(dǎo)套孔與金手指外型特性位置的定位針腳相配合定位，極大的改善了外部測試裝置的金手指與待測金手指的對位精度.避免由于對位不準(zhǔn)引起的誤測情況的發(fā)生，大大增加了金手指電性參數(shù)檢測的可靠性和準(zhǔn)確性，本實用新型結(jié)構(gòu)簡單，容易實現(xiàn)，具有良好的經(jīng)濟(jì)效益。
【附圖說明】
[0013]圖1為本實用新型的截面結(jié)構(gòu)示意圖；
[0014]圖2為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0015]圖3為待測金手指、外部測試裝置的金手指與本實用新型的對接示意圖；
[0016]A-外部測試裝置的金手指、B-待測金手指、1-探針、2—安裝座、2-1呈高腳杯型結(jié)構(gòu)的固定位、2-2主體呈八面體結(jié)構(gòu)的固定位。
【具體實施方式】
[0017]以下結(jié)合具體的實施例對本實用新型進(jìn)行詳細(xì)說明，但同時說明本實用新型的保護(hù)范圍并不局限于本實施例的具體范圍，基于本實用新型中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護(hù)的范圍。
[0018]需要說明的是，在本實用新型的描述中，除非另有說明，“多個”的含義是兩個或兩個以上；術(shù)語“上”、“下”、“左”、“右”、“內(nèi)”、“外”、“前端”、“后端”、“頭部”、“尾部”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系，僅是為了便于描述本實用新型和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作，因此不能理解為對本實用新型的限制。此外，術(shù)語“第一”、“第二”、“第三”等僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性。
實施例
[0019]如圖1和圖2所示，本實施例的一種高密度金手指探針式對準(zhǔn)測試治具，一端用于對接待測金手指B，另一端用于對接外部測試裝置的金手指A，該對準(zhǔn)測試治具包括與外部測試裝置的金手指A電連接且能與待測金手指B形成電連接的探針I(yè)和用于安裝探針的安裝座2 ;所述安裝座2為中空、兩端敞口結(jié)構(gòu)，安裝座內(nèi)還設(shè)有與探針一體成型的對位導(dǎo)套孔，安裝座內(nèi)還設(shè)有固定探針的固定位，若干固定位呈蜂窩狀結(jié)構(gòu)分布，且位于不同水平線上的固定位與固定位之間錯開設(shè)置，該固定位結(jié)構(gòu)分布可根據(jù)實際待測金手指B結(jié)構(gòu)進(jìn)行位置更改。
[0020]本實施例的固定位包括呈高腳杯型結(jié)構(gòu)的固定位2-1和主體呈八面體結(jié)構(gòu)的固定位2-2，所述主體呈八面體結(jié)構(gòu)的固定位2-2的豎直面上的兩端分別設(shè)有短端腳、長端腳，主體呈八面體結(jié)構(gòu)的固定位2-2的長端腳設(shè)置于兩個高腳杯型結(jié)構(gòu)的固定位2-1之間，主體呈八面體結(jié)構(gòu)的固定位2-2的長端腳長度與高腳杯型結(jié)構(gòu)的固定位2-1的頭部長度相同。
[0021]本實施例的待測金手指外型特性位置裝有對位針腳。
[0022]本實施例的對位導(dǎo)套孔和待測金手指外型特性位置的對位針腳實現(xiàn)高精度對準(zhǔn)。
[0023]如圖3所示，本實施例通過采用測試治具內(nèi)置的探針，減小接觸點面積，增大待測金手指與外部檢測裝置的金手指之間的對位偏移的公差，從而對對位要求也就相應(yīng)降低了，同時在測試治具安裝座內(nèi)加入與探針一體成型的對位導(dǎo)套孔，該對位導(dǎo)套孔與金手指外型特性位置的定位針腳相配合定位，極大的改善了外部測試裝置的金手指與待測金手指的對位精度.避免由于對位不準(zhǔn)引起的誤測情況的發(fā)生，大大增加了金手指電性參數(shù)檢測的可靠性和準(zhǔn)確性，本實用新型結(jié)構(gòu)簡單，容易實現(xiàn)，具有良好的經(jīng)濟(jì)效益。
[0024]本實用新型的實施例是為了示例和描述起見而給出的，而并不是無遺漏的或者將本實用新型限于所公開的形式。很多修改和變化對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言是顯而易見的。選擇和描述實施例是為了更好說明本實用新型的原理和實際應(yīng)用，并且使本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員能夠理解本實用新型從而設(shè)計適于特定用途的帶有各種修改的各種實施例。
【主權(quán)項】
1.一種高密度金手指探針式對準(zhǔn)測試治具，一端用于對接待測金手指，另一端用于對接外部測試裝置的金手指，其特征在于:包括與外部測試裝置的金手指電連接且與待測金手指形成電連接的探針和用于安裝探針的安裝座；所述安裝座為中空、兩端敞口結(jié)構(gòu)，所述安裝座內(nèi)還設(shè)有與探針一體成型的對位導(dǎo)套孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高密度金手指探針式對準(zhǔn)測試治具，其特征在于:所述安裝座內(nèi)還設(shè)有固定探針的固定位，該固定位呈蜂窩狀結(jié)構(gòu)分布。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種高密度金手指探針式對準(zhǔn)測試治具，其特征在于:位于不同水平線上的固定位與固定位之間錯開設(shè)置。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種高密度金手指探針式對準(zhǔn)測試治具，其特征在于:所述固定位包括呈高腳杯型結(jié)構(gòu)的固定位和主體呈八面體結(jié)構(gòu)的固定位，所述主體呈八面體結(jié)構(gòu)的固定位的豎直面上的兩端分別設(shè)有短端腳、長端腳，所述呈八面體結(jié)構(gòu)的固定位的長端腳設(shè)置于兩個高腳杯型結(jié)構(gòu)的固定位之間。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種高密度金手指探針式對準(zhǔn)測試治具，其特征在于:所述呈八面體結(jié)構(gòu)的固定位的長端腳長度與呈高腳杯型結(jié)構(gòu)的固定位的頭部長度相同。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高密度金手指探針式對準(zhǔn)測試治具，其特征在于:所述待測金手指外型特性位置裝有對位針腳。
【專利摘要】本實用新型公開了一種高密度金手指探針式對準(zhǔn)測試治具，一端用于對接待測金手指，另一端用于對接外部測試裝置的金手指，該對準(zhǔn)測試治具包括與外部測試裝置的金手指電連接且與待測金手指形成電連接的探針和用于安裝探針的安裝座；所述安裝座為中空、兩端敞口結(jié)構(gòu)，所述安裝座內(nèi)還設(shè)有與探針一體成型的對位導(dǎo)套孔，本實用新型改善了外部測試裝置的金手指與待測金手指的對位精度.增加了金手指電性參數(shù)檢測的可靠性和準(zhǔn)確性。
【IPC分類】G01R1-04, G01R31-00
【公開號】CN204389616
【申請?zhí)枴緾N201520072323
【發(fā)明人】黃柏翰, 藍(lán)國凡, 邱金啟
【申請人】昆山意力電路世界有限公司
【公開日】2015年6月10日
【申請日】2015年2月2日