實(shí)現(xiàn)頻率修調(diào)集成化控制的系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實(shí)用新型設(shè)及頻率修調(diào)技術(shù)領(lǐng)域，尤其設(shè)及時(shí)鐘頻率修調(diào)技術(shù)領(lǐng)域，具體是指 一種實(shí)現(xiàn)頻率修調(diào)集成化控制的系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002] 集成電路設(shè)計(jì)中一般會(huì)集成內(nèi)部時(shí)鐘發(fā)生器，但由于工藝波動(dòng)影響，實(shí)際生產(chǎn)的 頻率會(huì)在一定范圍內(nèi)波動(dòng)，為滿足實(shí)際應(yīng)用中時(shí)鐘精度要求，會(huì)考慮對(duì)頻率做修調(diào)，頻率修 調(diào)一般依靠測試儀完成。
[0003] 測試主要包含W下步驟；初始頻率采集，確定頻率修調(diào)值，修調(diào)值寫入電路。其中， 初始頻率采集由測試儀完成，得到初始頻率后，測試儀通過軟件運(yùn)算，選擇合適的修調(diào)值， 最后通過測試儀將修調(diào)值寫入管巧，從而完成頻率修調(diào)。
[0004] 而一般頻率采集需要測試儀中頻率測試模塊（TMU)來實(shí)現(xiàn)，一個(gè)TMU在同一時(shí)間 內(nèi)僅負(fù)責(zé)一個(gè)管巧頻率采集。
[0005] 另外不同管巧的頻率修調(diào)值一般會(huì)存在差異，即修調(diào)值寫入過程中，測試儀需要 根據(jù)當(dāng)前頻率測試結(jié)果，選擇合適的修調(diào)值寫入。
[0006] 隨著集成電路設(shè)計(jì)尺寸的不斷縮小，單個(gè)晶圓（wafer)管巧數(shù)也不斷增加，為縮 短測試時(shí)間，節(jié)省測試成本，目前集成電路測試一般會(huì)選擇多管巧同測。
[0007] 但是在處理多管巧同測頻率項(xiàng)目時(shí)，如測試卡板上僅有一個(gè)TMU，則頻率測僅能試 按單管巧方式輪流測試，降低了測試效率；如要依靠TMU實(shí)現(xiàn)真正意義多管巧同測，需增加 測試卡板上TMU數(shù)量，但測試卡板成本成倍提高。
[000引在獲取初始頻率后，測試儀再經(jīng)過軟件運(yùn)算處理，選擇合適的頻率修調(diào)值，配合下 一步修調(diào)值寫入的測試過程。即修調(diào)過程中，需要軟件參與修調(diào)值選擇，增加了測試程序的 復(fù)雜程度。修調(diào)值寫入過程中，在多管巧測試時(shí)，需要將不同的修調(diào)值寫入各個(gè)管巧，在一 定程度上也增加了測試程序的復(fù)雜程度。
[0009] 綜上，當(dāng)前測試儀在處理頻率修調(diào)測試方面存在W下問題：
[0010] 1、頻率測試依賴于TMU，在多管巧測試時(shí)，面臨測試效率低（僅一個(gè)TMU)或測試成 本高（集成多個(gè)TMU)的問題。
[0011] 2、頻率修調(diào)值選擇依靠軟件介入處理，增加了測試程序設(shè)計(jì)的復(fù)雜程度。
[0012] 3、頻率修調(diào)值寫入在多管巧測試過程中會(huì)增加測試程序設(shè)計(jì)的復(fù)雜程度。 【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0013] 本實(shí)用新型的目的是克服了上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，提供了一種將復(fù)雜的軟件頻率 修調(diào)過程轉(zhuǎn)換為普通的模塊功能測試，在基本不增加集成電路成本的前提下簡化頻率修調(diào) 測試過程，且便于實(shí)現(xiàn)多管巧同時(shí)修調(diào)的實(shí)現(xiàn)頻率修調(diào)集成化控制的系統(tǒng)。
[0014] 為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型的實(shí)現(xiàn)頻率修調(diào)集成化控制的系統(tǒng)具有如下構(gòu) 成：
[0015] 該實(shí)現(xiàn)頻率修調(diào)集成化控制的系統(tǒng)，其主要特點(diǎn)是，所述的系統(tǒng)包括頻率修調(diào)集 成電路，所述的頻率修調(diào)集成電路包括依次連接的頻率發(fā)生模塊、頻率測試模塊、頻率比較 模塊和頻率修調(diào)值控制模塊，其中；
[0016] 所述的頻率測試模塊，用W采集所述的頻率發(fā)生模塊輸出的頻率，并將相應(yīng)的頻 率計(jì)量結(jié)果輸出至所述的頻率比較模塊；
[0017] 所述的頻率比較模塊，用W對(duì)所述的頻率計(jì)量結(jié)果和頻率計(jì)量理論值進(jìn)行比較分 析，并將相應(yīng)的頻率修調(diào)控制信號(hào)輸出至所述的頻率修調(diào)值控制模塊；
[001引所述的頻率修調(diào)值控制模塊，用W根據(jù)所述的頻率修調(diào)控制信號(hào)輸出相應(yīng)的頻率 修調(diào)值至所述的頻率發(fā)生模塊。
[0019] 進(jìn)一步地，所述的系統(tǒng)還包括測試儀，所述的頻率測試模塊為計(jì)數(shù)器，所述的頻率 發(fā)生模塊的輸出端與所述的頻率測試模塊的輸入端連接，所述的頻率測試模塊的輸出端與 所述的頻率比較模塊連接，所述的測試儀的基準(zhǔn)時(shí)鐘輸出端與所述的頻率測試模塊的使能 端連接。
[0020] 進(jìn)一步地，所述的頻率比較模塊包括頻率上限檢測單元，頻率下限檢測單元和頻 率檢測結(jié)果生成單元，其中：
[0021] 所述的頻率測試模塊的輸出端與所述的頻率上限檢測單元的輸入端連接，所述的 頻率上限檢測單元的輸出端與所述的頻率檢測結(jié)果生成單元的第一輸入端連接；
[0022] 所述的頻率測試模塊的輸出端與所述的頻率下線檢測單元的輸入端連接，所述的 頻率下限檢測單元的輸出端與所述的頻率檢測結(jié)果生成單元的第二輸入端連接；
[0023] 所述的頻率檢測結(jié)果生成單元的輸出端與所述的頻率修調(diào)值控制模塊連接；
[0024] 所述的頻率上限檢測單元，用W將所述的頻率計(jì)量結(jié)果和頻率上限理論值進(jìn)行比 較，并將相應(yīng)的上限比較結(jié)果發(fā)送至所述的頻率檢測結(jié)果生成單元；
[0025] 所述的頻率下限檢測單元，用W將所述的頻率計(jì)量結(jié)果和頻率下限理論值進(jìn)行比 較，并將相應(yīng)的下限比較結(jié)果發(fā)送至所述的頻率檢測結(jié)果生成單元；
[0026] 所述的頻率檢測結(jié)果生成單元，用W根據(jù)所述的上限比較結(jié)果和所述的下限比較 結(jié)果生成相應(yīng)的頻率修調(diào)控制信號(hào)，并將該頻率修調(diào)控制信號(hào)發(fā)送至所述的頻率修調(diào)值控 制模塊。
[0027] 進(jìn)一步地，所述的頻率修調(diào)值控制模塊包括修調(diào)值可變單元和修調(diào)值合成單元， 其中：
[002引所述的修調(diào)值可變單元的輸入端與所述的頻率比較模塊連接，所述的修調(diào)值可變 單元的輸出端與所述的修調(diào)值合成單元的輸入端連接，所述的修調(diào)值合成單元的輸出端與 所述的頻率發(fā)生模塊連接；
[0029] 所述的修調(diào)值可變單元，用W根據(jù)所述的頻率修調(diào)控制信號(hào)輸出相應(yīng)的頻率修調(diào) 值至所述的修調(diào)值合成單元；
[0030] 所述的修調(diào)值合成單元，用W根據(jù)系統(tǒng)當(dāng)前所處的狀態(tài)判斷是否輸出所述的修調(diào) 值可變單元發(fā)送的頻率修調(diào)值至所述的頻率發(fā)生模塊。
[0031] 其中，所述的修調(diào)值可變單元為計(jì)數(shù)器、RS觸發(fā)器陣列或加法器，所述的頻率修調(diào) 控制信號(hào)為頻率偏小控制信號(hào)、頻率偏大控制信號(hào)或頻率通過控制信號(hào)。
[0032] 更進(jìn)一步地，所述的頻率修調(diào)值控制模塊還包括修調(diào)值載入單元，所述的頻率修 調(diào)集成電路還包括燒錄控制模塊，其中：
[0033] 所述的修調(diào)值載入單元的輸入端與所述的燒錄控制模塊的輸出端連接，所述的修 調(diào)值載入單元的輸出端與所述的修調(diào)值合成單元的輸入端連接，所述的燒錄控制模塊的輸 入端與所述的修調(diào)值可變單元的輸出端連接
[0034] 所述的修調(diào)值可變單元判斷所述的頻率修調(diào)控制信號(hào)是否為頻率通過控制信號(hào)， 如果是則將當(dāng)前的頻率修調(diào)值鎖定并發(fā)送至所述的燒錄控制模塊，否則根據(jù)所述的頻率修 調(diào)控制信號(hào)輸出相應(yīng)的頻率修調(diào)值至所述的修調(diào)值合成單元；
[0035] 所述的燒錄控制模塊，用W在接收到所述的修調(diào)值可變單元發(fā)送的頻率修調(diào)值 后，將該頻率修調(diào)值燒錄至所述的修調(diào)值載入單元。
[0036] 更進(jìn)一步地，所述的修調(diào)值合成單元用W根據(jù)系統(tǒng)當(dāng)前所處的狀態(tài)判斷是否輸出 所述的修調(diào)值可變單元發(fā)送的頻率修調(diào)值，具體為：
[0037] 所述的修調(diào)值合成單元判斷所述的系統(tǒng)是否處于頻率修調(diào)狀態(tài)，如果是，則輸出 所述的修調(diào)值可變單元發(fā)送的頻率修調(diào)值至所述的頻率發(fā)生模塊，否則讀取所述的修調(diào)值 載入單元的頻率修調(diào)值，并將該頻率修調(diào)值發(fā)送至所述的頻率發(fā)生模塊。
[003引更進(jìn)一步地，所述的修調(diào)值載入單元還包括修調(diào)值存儲(chǔ)子單元，所述的修調(diào)值存 儲(chǔ)子單元與所述的燒錄控制模塊的輸出端連接，用W存儲(chǔ)所述的燒錄控制模塊燒錄的頻率 修調(diào)值。
[0039] 更進(jìn)一步地，所述的燒錄控制模塊讀取所述的修調(diào)值存儲(chǔ)子單元存儲(chǔ)的頻率修調(diào) 值，并與所述的修調(diào)值可變單元發(fā)送的頻率修調(diào)值進(jìn)行比較判斷燒錄是否成功。
[0040] 采用了本實(shí)用新型的實(shí)現(xiàn)頻率修調(diào)集成化控制的系統(tǒng)，通過內(nèi)置頻率測試及頻率 比較模塊，實(shí)現(xiàn)頻率內(nèi)測試及判斷，通過內(nèi)置修調(diào)值控制電路來來實(shí)現(xiàn)內(nèi)部改變頻率修調(diào) 值，通過內(nèi)置燒錄控制模塊實(shí)現(xiàn)修調(diào)值的內(nèi)部寫入及校驗(yàn)，在基本不影響電路成本的前提 下，將頻率測試模塊及頻率判斷模塊集成到電路內(nèi)部，頻率采集和頻率判斷均由硬件完成， 測試儀僅需要負(fù)責(zé)信號(hào)的輸入及比對(duì)，頻率測試不依賴于測試儀的頻率測試模塊，實(shí)質(zhì)將 頻率測試轉(zhuǎn)化為普通的功能測試，提高單管巧和多管巧同測做頻率修調(diào)時(shí)的測試效率及可 靠性，更加便捷高效，且結(jié)構(gòu)簡單，易于實(shí)現(xiàn)，具有更廣泛的應(yīng)用范圍。
【附圖說明】
[0041] 圖1為本實(shí)用新型的實(shí)現(xiàn)頻率修調(diào)集成化控制的系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。
[0042] 圖2為本實(shí)用新型的實(shí)現(xiàn)頻率修調(diào)集成化控制的系統(tǒng)的頻