據(jù)系統(tǒng)當(dāng)前所處的狀態(tài)，決定修調(diào)值的傳輸內(nèi)容，具 體為：
[0086] 當(dāng)在正常工作條件下，時(shí)鐘發(fā)生模塊的修調(diào)值由修調(diào)值載入單元提供，在頻率測 試模式下，時(shí)鐘發(fā)生模塊的修調(diào)值由修調(diào)值可變單元提供。
[0087] 修調(diào)值載入單元，包含修調(diào)值存儲(chǔ)子單元及修調(diào)值讀出邏輯（在正常的帶修調(diào)功 能的集成電路中都會(huì)存在），其輸入接收來自燒錄控制模塊的信號(hào)，完成相應(yīng)修調(diào)值的寫 入，其輸出即修調(diào)值，一般直接連接到時(shí)鐘發(fā)生模塊，在本實(shí)用新型中其輸出連接到修調(diào)值 合成單元，僅在正常工作條件下，修調(diào)值才可W傳輸?shù)綍r(shí)鐘發(fā)生模塊，在頻率測試模式下， 時(shí)鐘發(fā)生模塊的修調(diào)值將從修調(diào)值可變單元獲取。
[008引修調(diào)值可變單元負(fù)責(zé)篩選適當(dāng)?shù)念l率修調(diào)值，其輸入端接收來自頻率比較模塊產(chǎn) 生的頻率修調(diào)控制信號(hào)，包含頻率偏大，頻率偏小及頻率通過等控制信號(hào)，輸出相應(yīng)的測試 頻率修調(diào)值，連接至修調(diào)值合成單元，通過修調(diào)值合成單元傳送至?xí)r鐘發(fā)生模塊，并在接收 到頻率通過控制信號(hào)后將當(dāng)前的修調(diào)值鎖定并發(fā)送給燒錄控制模塊，確保最終選定的修調(diào) 值能夠使振蕩頻率落在目標(biāo)修調(diào)精度范圍內(nèi)。根據(jù)修調(diào)值計(jì)算方式的不同此模塊可W有不 同的設(shè)計(jì)，例如：
[0089] 當(dāng)修調(diào)值選擇采用窮舉算法時(shí)，此模塊可W設(shè)計(jì)成一個(gè)N-bit的計(jì)數(shù)器；
[0090] 當(dāng)修調(diào)值選擇采用逐次逼近算法時(shí)，此模塊可W設(shè)計(jì)成一個(gè)RS觸發(fā)器陣列；
[0091] 當(dāng)修調(diào)值選擇采用查表計(jì)算算法時(shí)，此模塊可W設(shè)計(jì)成一個(gè)加法器；
[0092] 具體算法選擇可根據(jù)實(shí)際振蕩器修調(diào)設(shè)定方式及目標(biāo)頻率大小做相應(yīng)選擇。
[0093] 首先，如圖5所示，W修調(diào)值選擇采用窮舉算法（適用性廣）為例進(jìn)行如下說明：
[0094] 使用窮舉法篩選修調(diào)值，顧名思義，測試將遍歷所有修調(diào)值組合形成的頻率，從中 篩選符合目標(biāo)頻率范圍的修調(diào)值。本實(shí)用新型中使用窮舉法篩選修調(diào)值時(shí)，修調(diào)值可變單 元實(shí)質(zhì)為一個(gè)M-bit的計(jì)數(shù)器，其中M取值與修調(diào)值的位數(shù)相等即可。
[0095] M-bit的計(jì)數(shù)器的復(fù)位端接通用復(fù)位控制信號(hào)，時(shí)鐘端接收頻率修調(diào)控制信號(hào)，其 輸出即頻率修調(diào)值，接至頻率修調(diào)值合成單元，如果當(dāng)前頻率修調(diào)值下的測試頻率不符合 目標(biāo)頻率范圍，將形成一次有效計(jì)數(shù)；如果當(dāng)前頻率修調(diào)值下的測試頻率符合目標(biāo)頻率范 圍，將結(jié)束計(jì)數(shù)，頻率修調(diào)值保持。
[0096] 舉例說明對于中屯、頻率為4M，測量精度要求1%，修調(diào)位共5-bit，目標(biāo)修調(diào)范圍 為±10 %的頻率修調(diào)測試時(shí)，承接上文，可設(shè)計(jì)A = 100, A上限=110, A下限=90,修調(diào) 值可變模塊設(shè)計(jì)成一個(gè)5-bit計(jì)數(shù)器，當(dāng)計(jì)數(shù)值大于110或小于90時(shí)，每次判斷后，計(jì)數(shù)器 將形成一次有效計(jì)數(shù)，當(dāng)頻率隨修調(diào)值變化落在大于90或小于110的范圍時(shí)，計(jì)數(shù)器將停 止計(jì)數(shù)，修調(diào)值維持。實(shí)際測試過程中，可W做25 = 32次頻率測試，測試時(shí)間25us*32 = SOOuso
[0097] 其次，如圖6所示，W修調(diào)值選擇采用逐次逼近算法為例進(jìn)行如下說明：
[009引對于一個(gè)N-bit校正位的振蕩器，采用逐次逼近算法，僅需做N次頻率修調(diào)即可W 找到最佳修調(diào)值。采用逐次逼近算法實(shí)現(xiàn)頻率修調(diào)，其振蕩器修調(diào)設(shè)計(jì)也必須相應(yīng)為逐次 逼近式修調(diào)設(shè)計(jì)，如；對于一個(gè)帶化i t逐次逼近型修調(diào)控制的振蕩器，每個(gè)b i t對應(yīng)的可控 制頻率權(quán)重是獨(dú)立且不同的，此形式的振蕩器適合使用逐次逼近算法尋找最佳修調(diào)值。
【具體實(shí)施方式】 [0099] 可W通過RS觸發(fā)陣列實(shí)現(xiàn)，如圖6中虛線框出部分，其中：
[0100] RS陣列位選擇子單元，實(shí)現(xiàn)對RS陣列中每一位單獨(dú)使能，在每次頻率測量完成 后，選擇RS陣列中的一個(gè)bit可控。選擇的順序是按頻率調(diào)整權(quán)重由大到小的序列進(jìn)行。
[0101] RS陣列控制子單元：負(fù)責(zé)提供RS初始狀態(tài)（一般選擇使頻率實(shí)現(xiàn)最小或最大輸 出的狀態(tài)），W及根據(jù)當(dāng)前頻率測試結(jié)果，選擇合適的校正值。
[0102] RS陣列；根據(jù)RS陣列控制子單元的信號(hào)實(shí)現(xiàn)相應(yīng)修調(diào)值的變化。
[0103] Stepl ;RS陣列的初始狀態(tài)應(yīng)該是將待校正頻率設(shè)置到極限值（最大或最小均 可）；
[0104] St巧2 ;根據(jù)頻率比較模塊輸出的信號(hào)，包含頻率偏大，頻率偏小或頻率通過（合 適）等信息，決定第一個(gè)校正位（由RS陣列位選擇子單元實(shí)現(xiàn)選擇）的設(shè)置（第一個(gè)校正 位時(shí)頻率校正權(quán)重最大的校正位），具體設(shè)置由RS陣列控制子單元實(shí)現(xiàn)；
[01化]若頻率測試結(jié)果偏大，則RS陣列控制子單元負(fù)責(zé)對第一個(gè)修調(diào)位進(jìn)行下調(diào)頻率 的設(shè)置；
[0106] 若頻率測試結(jié)果偏小，則RS陣列控制子單元負(fù)責(zé)對第一個(gè)修調(diào)位進(jìn)行上調(diào)頻率 的設(shè)置；
[0107] 若頻率測試結(jié)果合適，則RS陣列控制子單元負(fù)責(zé)對第一個(gè)修調(diào)位進(jìn)行頻率維持 的設(shè)置；
[0108] Step3 ;將經(jīng)過RS陣列的修調(diào)值載入，做頻率測試。
[0109] 重復(fù)step2和St巧3,經(jīng)過化1次頻率測量后，將得到最終的修調(diào)值。
[0110] 舉例說明：
[0111] W上文提到對于一個(gè)帶化it逐次逼近型修調(diào)控制的振蕩器，每個(gè)bit對應(yīng)的 可控制頻率權(quán)重是獨(dú)立且不同的，具體權(quán)重如下表所示，其目標(biāo)頻率為4M，頻率調(diào)整目標(biāo) 4M + 5%。
[0112]
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種實(shí)現(xiàn)頻率修調(diào)集成化控制的系統(tǒng)，其特征在于，所述的系統(tǒng)包括頻率修調(diào)集成 電路，所述的頻率修調(diào)集成電路包括依次連接的頻率發(fā)生模塊、頻率測試模塊、頻率比較模 塊和頻率修調(diào)值控制模塊。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的實(shí)現(xiàn)頻率修調(diào)集成化控制的系統(tǒng)，其特征在于，所述的系統(tǒng) 還包括測試儀，所述的頻率發(fā)生模塊的輸出端與所述的頻率測試模塊的輸入端連接，所述 的頻率測試模塊的輸出端與所述的頻率比較模塊連接，所述的測試儀的基準(zhǔn)時(shí)鐘輸出端與 所述的頻率測試模塊的使能端連接。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的實(shí)現(xiàn)頻率修調(diào)集成化控制的系統(tǒng)，其特征在于，所述的頻率 比較模塊包括頻率上限檢測單元，頻率下限檢測單元和頻率檢測結(jié)果生成單元，其中： 所述的頻率測試模塊的輸出端與所述的頻率上限檢測單元的輸入端連接，所述的頻率 上限檢測單元的輸出端與所述的頻率檢測結(jié)果生成單元的第一輸入端連接； 所述的頻率測試模塊的輸出端與所述的頻率下線檢測單元的輸入端連接，所述的頻率 下限檢測單元的輸出端與所述的頻率檢測結(jié)果生成單元的第二輸入端連接； 所述的頻率檢測結(jié)果生成單元的輸出端與所述的頻率修調(diào)值控制模塊連接。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的實(shí)現(xiàn)頻率修調(diào)集成化控制的系統(tǒng)，其特征在于，所述的頻率 修調(diào)值控制模塊包括修調(diào)值可變單元和修調(diào)值合成單元，其中： 所述的修調(diào)值可變單元的輸入端與所述的頻率比較模塊連接，所述的修調(diào)值可變單元 的輸出端與所述的修調(diào)值合成單元的輸入端連接，所述的修調(diào)值合成單元的輸出端與所述 的頻率發(fā)生模塊連接。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的實(shí)現(xiàn)頻率修調(diào)集成化控制的系統(tǒng)，其特征在于，所述的頻率 修調(diào)值控制模塊還包括修調(diào)值載入單元，所述的頻率修調(diào)集成電路還包括燒錄控制模塊， 其中： 所述的修調(diào)值載入單元的輸入端與所述的燒錄控制模塊的輸出端連接，所述的修調(diào)值 載入單元的輸出端與所述的修調(diào)值合成單元的輸入端連接，所述的燒錄控制模塊的輸入端 與所述的修調(diào)值可變單元的輸出端連接。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的實(shí)現(xiàn)頻率修調(diào)集成化控制的系統(tǒng)，其特征在于，所述的修調(diào) 值載入單元還包括修調(diào)值存儲(chǔ)子單元，所述的修調(diào)值存儲(chǔ)子單元與所述的燒錄控制模塊的 輸出端連接。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種實(shí)現(xiàn)頻率修調(diào)集成化控制的系統(tǒng)，系統(tǒng)包括頻率修調(diào)集成電路，所述的頻率修調(diào)集成電路包括依次連接的頻率發(fā)生模塊、頻率測試模塊、頻率比較模塊和頻率修調(diào)值控制模塊。采用本實(shí)用新型的實(shí)現(xiàn)頻率修調(diào)集成化控制的系統(tǒng)，將頻率修調(diào)測試轉(zhuǎn)換為普通的功能測試的過程，極大的大大簡化了測試，提升了測試效率，且由于頻率判斷直接由電路內(nèi)置的硬件完成，測試可靠性也得到提升，使頻率修調(diào)更加便捷高效，且結(jié)構(gòu)簡單，易于實(shí)現(xiàn)，具有更廣泛的應(yīng)用范圍。
【IPC分類】G01R23-10
【公開號(hào)】CN204330884
【申請?zhí)枴緾N201420860186
【發(fā)明人】謝興華, 曹旺
【申請人】無錫華潤矽科微電子有限公司
【公開日】2015年5月13日
【申請日】2014年12月30日