一種小時(shí)延缺陷演繹模擬器實(shí)現(xiàn)方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種小時(shí)延缺陷演繹模擬器實(shí)現(xiàn)方法?，F(xiàn)有方法所需內(nèi)存較大、編程難度高、硬件要求高。本發(fā)明方法包括波形表示方法、故障模擬策略、演繹模擬方法。波形表示方法基于整型數(shù)據(jù)拼接的二進(jìn)制位序列；故障模擬策略針對(duì)不同位置的故障，采用不同的模擬策略；演繹模擬方法建立在敏感路徑標(biāo)記基礎(chǔ)上，通過(guò)敏感路徑的標(biāo)記，排除了故障效應(yīng)重匯聚。本發(fā)明方法考慮了冒險(xiǎn)可測(cè)，可有效提供小時(shí)延缺陷的精確模擬，加快小時(shí)延缺陷模擬速度、減小測(cè)試代價(jià)。
【專利說(shuō)明】
一種小時(shí)延缺陷演繹模擬器實(shí)現(xiàn)方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明屬于集成電路技術(shù)領(lǐng)域，涉及數(shù)字集成電路的小時(shí)延故障缺陷模擬技術(shù)，具體是一種小時(shí)延缺陷演繹模擬器實(shí)現(xiàn)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]小時(shí)延缺陷是指電路中具有小于系統(tǒng)時(shí)鐘周期的延遲缺陷，在測(cè)試中這些缺陷可能會(huì)通過(guò)短路徑逃脫測(cè)試，但在以后執(zhí)行某特定的功能操作時(shí)又可能會(huì)通過(guò)較長(zhǎng)路徑傳播出來(lái)，從而影響芯片的可靠性。故障模擬器是集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證和測(cè)試的必要工具。不同于固定型故障或跳變時(shí)延故障，小時(shí)延缺陷的故障模擬需要記錄具體波形，因而其所需的存儲(chǔ)開(kāi)銷大、故障模擬過(guò)程復(fù)雜。此外，由于集成電路的大規(guī)模和高復(fù)雜度的迅速發(fā)展，小時(shí)延缺陷測(cè)試所需的測(cè)試向量數(shù)越來(lái)越多，致使小時(shí)延缺陷模擬成本越來(lái)越高。因此，高效的小時(shí)延缺陷模擬器在降低小時(shí)延缺陷模擬成本、減少測(cè)試代價(jià)、提高測(cè)試質(zhì)量上變得非常重要。
[0003]串行故障模擬是最簡(jiǎn)單的故障模擬技術(shù)。串行故障模擬技術(shù)首先進(jìn)行無(wú)故障電路演算，保存電路節(jié)點(diǎn)狀態(tài)和輸出結(jié)果，然后依次注入目標(biāo)故障，模擬故障電路。針對(duì)每個(gè)故障重復(fù)這個(gè)過(guò)程，一次模擬一個(gè)故障。此方法實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單，可模擬任何引入模型的故障。然而，面對(duì)如今的超大規(guī)模集成電路來(lái)說(shuō)，串行故障模擬方法會(huì)由于消耗大量的CPU時(shí)間而變得不切實(shí)際。
[0004]并行故障模擬技術(shù)利用計(jì)算機(jī)中的位并行思想，將好電路以及多個(gè)故障電路同時(shí)模擬。如機(jī)器字長(zhǎng)為N，采用并行故障模擬則可以一次模擬N-1個(gè)故障，其中預(yù)留一位用來(lái)標(biāo)識(shí)好電路。然而，并行模擬并不能準(zhǔn)確模擬電路中信號(hào)的上升和下降延時(shí)。只有假定所有門(mén)都具有一樣的傳播延時(shí)，并行故障模擬才是最有效的。
[0005]演繹模擬技術(shù)只對(duì)無(wú)故障電路進(jìn)行模擬。故障電路的傳播情況將在無(wú)故障電路模擬時(shí)通過(guò)結(jié)合電路的結(jié)構(gòu)演算出來(lái)。這樣，帶有演算過(guò)程的單次模擬就可以處理完所有的故障。一般演繹模擬適用于門(mén)級(jí)模擬。演繹過(guò)程從電路的輸入端到輸出端按層次逐級(jí)演算。對(duì)每個(gè)信號(hào)線i生成一個(gè)故障列表L111表示當(dāng)前無(wú)故障模擬和故障電路中i值不同的所有的故障集合。根據(jù)門(mén)類型和對(duì)應(yīng)的輸入值，演繹模擬方法按照定義好的規(guī)則來(lái)計(jì)算輸出信號(hào)線的故障列表。當(dāng)滿足演繹條件時(shí)，演繹模擬速度是極快的。
[0006]并發(fā)故障模擬以最為有效的方式將事件驅(qū)動(dòng)方法應(yīng)用到電路的故障模擬中，能處理各種電路模型、故障模型和信號(hào)狀態(tài)。該方法基本思路與演繹故障模擬方法相似，對(duì)于每個(gè)測(cè)試向量只需進(jìn)行一遍模擬就可以模擬完所有故障，只是它們的故障表內(nèi)容有所不同。演繹模擬的故障列表只針對(duì)信號(hào)線，列出的是會(huì)影響到這個(gè)信號(hào)線的故障，故障只是用名稱和位置來(lái)進(jìn)行標(biāo)志。而在并發(fā)模擬中，其故障列表針對(duì)的為門(mén)，影響到這個(gè)門(mén)的輸入的全部故障都包含在列表中，因此并發(fā)故障模擬中故障列表更長(zhǎng)，故障表示的信息更豐富，包括故障的名稱、位置以及門(mén)的輸入和輸出值。并發(fā)故障模擬基于對(duì)單個(gè)元器件的求值，它的主要缺點(diǎn)是模擬所需的內(nèi)存太大，且無(wú)法事先精確知道模擬中所需的內(nèi)存容量，給編程帶來(lái)一定的難度。當(dāng)模擬大規(guī)模電路時(shí)，對(duì)硬件要求也非常高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明的目的是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供了一種小時(shí)延缺陷演繹模擬器實(shí)現(xiàn)方法，實(shí)現(xiàn)了演繹模擬方法和傳統(tǒng)串行模擬方法在小時(shí)延缺陷模擬中的有效結(jié)合，有效提供小時(shí)延缺陷的精確模擬，加快小時(shí)延缺陷模擬速度。
[0008]本發(fā)明方法包括:波形表示方法、故障模擬策略、演繹模擬方法。
[0009]所述的波形表示方法基于整型數(shù)據(jù)拼接的二進(jìn)制位序列，具體方法是:
[0010]模擬器建立在基于單位時(shí)延模型的基礎(chǔ)上，將每個(gè)門(mén)延時(shí)的大小量化為單位時(shí)延的倍數(shù)，采用整型數(shù)據(jù)即機(jī)器字長(zhǎng)來(lái)存儲(chǔ)量化后的二進(jìn)制位序列波形，對(duì)于每個(gè)門(mén)s的時(shí)延模擬，用2個(gè)數(shù)據(jù)表示波形:整數(shù)數(shù)據(jù)EAT(S)記錄最早達(dá)到狀態(tài)，二進(jìn)制位串Bitmap(s)記錄t = 一⑴時(shí)的初始狀態(tài)和EAT(S)到最終穩(wěn)定態(tài)之間的波形；由于機(jī)器字長(zhǎng)能表示的波形長(zhǎng)度有限，采用有符號(hào)-無(wú)符號(hào)整數(shù)拼接技術(shù)來(lái)解決更長(zhǎng)的波形表示問(wèn)題，即將多個(gè)整型數(shù)拼接在一起，第一個(gè)整型數(shù)采用有符號(hào)整數(shù)，符號(hào)位存放初始狀態(tài)，其余字采用無(wú)符號(hào)整數(shù)。
[0011]所述的故障模擬策略針對(duì)不同位置的故障，采用不同的模擬策略，對(duì)故障影響扇出重匯聚的故障，采用傳統(tǒng)二進(jìn)制位序列波形串行模擬，其他的故障則采用演繹故障模擬方法;具體是:
[0012]對(duì)電路節(jié)點(diǎn)進(jìn)行扇出重匯聚標(biāo)記，扇出重匯聚節(jié)點(diǎn)上的故障效應(yīng)有可能通過(guò)重匯聚后彼此影響；
[0013]對(duì)電路的輸入敏感線進(jìn)行標(biāo)記，一個(gè)門(mén)的輸入線為敏感輸入線當(dāng)且僅當(dāng)改變?cè)撦斎氲娜≈岛螅瑢⒏淖冊(cè)撻T(mén)的輸出，即該輸入線上存在故障時(shí)，其故障效應(yīng)可以傳播到該門(mén)的輸出；
[0014]處理重匯聚源時(shí)，當(dāng)重匯聚點(diǎn)扇出的多條敏感路徑重匯聚時(shí)進(jìn)行串行模擬，即對(duì)門(mén)進(jìn)行波形模擬時(shí)，當(dāng)輸入線為兩個(gè)以上的故障影響線時(shí)才進(jìn)行串行模擬，否則進(jìn)行演繹模擬。多條是指一條以上。
[0015]所述的演繹模擬方法建立在敏感路徑標(biāo)記基礎(chǔ)上，通過(guò)敏感路徑的標(biāo)記，排除了故障效應(yīng)重匯聚，演繹模擬故障列表處理中不存在傳統(tǒng)演繹方法的“與”操作，針對(duì)不同邏輯門(mén)的處理方法如下:
[0016]輸入a為O時(shí)，NOT門(mén)輸出端c的故障列表為L(zhǎng)a U c ；
[0017]輸入a為I時(shí)，NOT門(mén)輸出端c的故障列表為L(zhǎng)a U c;
[0018]輸入a為0，輸入b為O時(shí)，AND門(mén)輸出端c的故障列表為c;
[0019]輸入a為O，輸入b為I時(shí)，AND門(mén)輸出端c的故障列表為L(zhǎng)aU c;
[0020]輸入a為I，輸入b為O時(shí)，AND門(mén)輸出端c的故障列表為L(zhǎng)b U c ；
[0021]輸入a為I，輸入b為I時(shí)，AND門(mén)輸出端c的故障列表為[La U Lb ] U c;
[0022]輸入a為0，輸入b為O時(shí)，OR門(mén)輸出端c的故障列表為[La U Lb] Uc;
[0023]輸入a為O，輸入b為I時(shí)，OR門(mén)輸出端c的故障列表為L(zhǎng)bU c;
[0024]輸入a為I，輸入b為O時(shí)，0R門(mén)輸出端c的故障列表為L(zhǎng)aUC;
[0025]輸入a為I，輸入b為I時(shí)，0R門(mén)輸出端c的故障列表為c;
[0026]其中Li表不信號(hào)線i上的故障列表，c表不信號(hào)線c上被激活的時(shí)延缺陷，多輸入門(mén)和其它類型門(mén)，傳播規(guī)則通過(guò)該規(guī)則擴(kuò)展得到。
[0027]本發(fā)明中，基于整型數(shù)據(jù)拼接的二進(jìn)制序列波形表示方法實(shí)現(xiàn)了波形的精確表示，減少了波形存儲(chǔ)開(kāi)銷，并提升了處理速度;采用字拼接技術(shù)表示波形具有較多優(yōu)勢(shì):首先，波形表示長(zhǎng)度不受跳變次數(shù)影響，相比其它波形表示方法，其存儲(chǔ)開(kāi)銷更低;其次，二進(jìn)制位序列的右移(首字進(jìn)行有符號(hào)右移，其余前一字低位的移出位移入到下一字的高位)對(duì)應(yīng)了波形的延時(shí)表示，且本發(fā)明只需記錄部分波形，相比于以前的二進(jìn)制位完整表示方法，存儲(chǔ)開(kāi)銷更低，可行性更高;再次，在實(shí)際操作中，電路的基本門(mén)元件與門(mén)、或門(mén)、非門(mén)等在計(jì)算機(jī)指令中都有對(duì)應(yīng)的與、或、非等操作，使得高層的波形模擬像運(yùn)行在低層指令級(jí)一樣，提升了模擬速度。針對(duì)不同位置的故障，采用不同的模擬策略實(shí)現(xiàn)了演繹模擬方法和傳統(tǒng)串行模擬方法的有效結(jié)合，加快了模擬速度?；诿舾新窂綐?biāo)記的演繹模擬方法簡(jiǎn)化了傳統(tǒng)演繹模擬方法故障列表的計(jì)算，使得演繹模擬方法能有效應(yīng)用于小時(shí)延缺陷模擬。
【附圖說(shuō)明】
[0028]圖1為本發(fā)明二進(jìn)制位序列波形表示方法示例圖；
[0029]圖2為本發(fā)明演繹故障模擬中故障列表的傳播規(guī)則圖；
[0030]圖3為傳統(tǒng)演繹故障模擬中故障列表的傳播規(guī)則圖；
[0031 ]圖4為無(wú)故障波形模擬示例圖；
[0032]圖5為小時(shí)延缺陷串行模擬示例圖；
[0033]圖6為小時(shí)延缺陷演繹模擬示例圖。
【具體實(shí)施方式】
[0034]—種小時(shí)延缺陷演繹模擬器實(shí)現(xiàn)方法，包括:波形表示方法、故障模擬策略、演繹模擬方法。
[0035]波形表示方法基于整型數(shù)據(jù)拼接的二進(jìn)制位序列，具體方法是:
[0036]模擬器建立在基于單位時(shí)延模型的基礎(chǔ)上，將每個(gè)門(mén)延時(shí)的大小量化為單位時(shí)延的倍數(shù)，采用整型數(shù)據(jù)即機(jī)器字長(zhǎng)來(lái)存儲(chǔ)量化后的二進(jìn)制位序列波形，對(duì)于每個(gè)門(mén)s的時(shí)延模擬，用2個(gè)數(shù)據(jù)來(lái)表示波形:整數(shù)數(shù)據(jù)EAT(S)記錄最早達(dá)到狀態(tài)，二進(jìn)制位串Bitmap(s)記錄t= 一⑴時(shí)的初始狀態(tài)和EAT(S)到最終穩(wěn)定態(tài)之間的波形；由于機(jī)器字長(zhǎng)能表示的波形長(zhǎng)度有限，采用有符號(hào)-無(wú)符號(hào)整數(shù)拼接技術(shù)來(lái)解決更長(zhǎng)的波形表示問(wèn)題，即將多個(gè)整型數(shù)拼接在一起，第一個(gè)字采用有符號(hào)整數(shù)，符號(hào)位存放初始狀態(tài)，其余字采用無(wú)符號(hào)整數(shù)。如初始狀態(tài)為0，第二個(gè)向量信號(hào)最早到達(dá)時(shí)間為20，最終穩(wěn)定態(tài)為0，EAT(s)到最終穩(wěn)定態(tài)之間波形為100101的表示方法如圖1所示。
[0037]所述的故障模擬策略針對(duì)不同位置的故障，采用不同的模擬策略，對(duì)故障影響扇出重匯聚的故障，采用傳統(tǒng)二進(jìn)制位序列波形串行模擬，其他的故障則采用演繹故障模擬方法;具體是:
[0038]對(duì)電路節(jié)點(diǎn)進(jìn)行扇出重匯聚標(biāo)記，扇出重匯聚節(jié)點(diǎn)上的故障效應(yīng)有可能通過(guò)重匯聚后彼此影響；
[0039]對(duì)電路的輸入敏感線進(jìn)行標(biāo)記，一個(gè)門(mén)的輸入線為敏感輸入線當(dāng)且僅當(dāng)改變?cè)撦斎氲娜≈岛螅瑢⒏淖冊(cè)撻T(mén)的輸出，即該輸入線上存在故障時(shí)，其故障效應(yīng)可以傳播到該門(mén)的輸出，由于在小時(shí)延測(cè)試中，向量對(duì)(VI，V2)中的Vl向量用來(lái)穩(wěn)定電路初始狀態(tài)，V2向量用來(lái)激發(fā)和傳播故障，因此，在敏感輸入路徑追蹤時(shí)，我們只需在向量V2下進(jìn)行；
[0040]處理重匯聚源時(shí)，與傳統(tǒng)方法只要遇到重匯聚點(diǎn)就進(jìn)行串行模擬的策略不同的是，本申請(qǐng)只有當(dāng)重匯聚點(diǎn)扇出的多條敏感路徑重匯聚時(shí)進(jìn)行串行模擬，即對(duì)門(mén)進(jìn)行波形模擬時(shí)，當(dāng)輸入線為兩個(gè)以上的故障影響線時(shí)才進(jìn)行串行模擬，否則進(jìn)行演繹模擬。
[0041 ]所述的演繹模擬方法建立在敏感路徑標(biāo)記基礎(chǔ)上，通過(guò)敏感路徑的標(biāo)記，排除了故障效應(yīng)重匯聚，演繹模擬故障列表處理中不存在傳統(tǒng)演繹方法的“與”操作，針對(duì)不同邏輯門(mén)的處理方法如圖2所示，其中Li表示信號(hào)線i上的故障列表，c表示信號(hào)線c上被激活的時(shí)延缺陷，多輸入門(mén)和其它類型門(mén)，傳播規(guī)則通過(guò)該規(guī)則擴(kuò)展得到。圖3為傳統(tǒng)固定型故障演繹模擬時(shí)對(duì)應(yīng)的傳播規(guī)則，其中U表;^信號(hào)線i上的故障列表，c i表;^信號(hào)線c上被激活的s-a-Ο和s-a-Ι故障。與傳統(tǒng)演繹模擬方法相比，本發(fā)明的演繹模擬方法在處理邏輯門(mén)時(shí)故障列表的處理更為簡(jiǎn)單。
[0042]無(wú)故障波形模擬:
[0043]圖4給出了一個(gè)二輸入或門(mén)的無(wú)故障波形模擬示例。輸入線a上的二進(jìn)制序列1B表示a在向量￥1下的初始值為I，在V2向量下的最早到達(dá)時(shí)間EAT(a) = 13跳變?yōu)镺。同理，輸入線b在向量￥1下的初始值為O，在V2向量下的最早到達(dá)時(shí)間EAT (b) = 14跳變?yōu)镮。該門(mén)的輸出端c的波形計(jì)算如下:EAT(C)為輸入線中最小的EAT(i)值加上該門(mén)的傳播延時(shí)2。由于為I，因而c的二進(jìn)制序列Bitmap(c)為Bitmap(a)0R右移EAT(b)和EAT(a)差值的二進(jìn)制序列Bitmap(b)。為了便于計(jì)算，二進(jìn)制序列的空白低位填充為最終穩(wěn)態(tài)值。
[0044]故障電路波形模擬:
[0045]本申請(qǐng)采用了單故障模型，考慮了冒險(xiǎn)激活故障條件，采用波形中的最后一個(gè)跳變一一關(guān)鍵跳變來(lái)判斷故障的激活。針對(duì)不同位置的故障，采用不同的模擬策略:對(duì)故障影響扇出重匯聚的故障，采用傳統(tǒng)串行模擬，其他的故障則采用基于敏感路徑標(biāo)記的演繹故障模擬方法。
[0046]串行故障模擬:
[0047]對(duì)于扇出效應(yīng)重匯聚的故障，串行模擬按如下法則處理。
[0048]法則1:分別用二進(jìn)制序列GL和FL處理受故障影響的信號(hào)線S，其中GL記錄無(wú)故障電路波形，F(xiàn)L記錄故障的傳播效應(yīng)。
[0049]法則2:用波形區(qū)間[LST(s)，+⑴]記錄沒(méi)有受故障影響的信號(hào)線S。因?yàn)樵谧罱K穩(wěn)態(tài)LST (s)時(shí)刻之前發(fā)生的一切跳變都不會(huì)影響電路T。時(shí)刻的輸出值。
[0050]圖5為串行模擬示例。這里僅考慮信號(hào)線a上的故障檢測(cè)，其中GL(a)= 10001111B，依照冒險(xiǎn)激活故障條件，慢上升時(shí)延故障f被激活。根據(jù)法則I，信號(hào)線a受故障f影響，因此采用FL(a)來(lái)記錄故障效應(yīng)。由于最后關(guān)鍵跳變發(fā)生在時(shí)刻3，因此FL(a)賦值為00001111B，表示EAT(a)+3+x時(shí)刻發(fā)生了慢上升跳變故障。信號(hào)線b沒(méi)有受故障f影響，根據(jù)法則2，GL’(b)賦值為L(zhǎng)ST(b)后的穩(wěn)定值11111111B。輸出線c的結(jié)果按圖5中的方法進(jìn)行計(jì)算，F(xiàn)L(C) =GL ’(b)>> 1&&FL(a)。串行模擬繼續(xù)往前推進(jìn)，直到抵達(dá)故障主宰線、扇出自由點(diǎn)或Ρ0/ΡΡ0。故障的傳播效應(yīng)可通過(guò)EAT (s)和FL (s)得到。若c為輸出端，系統(tǒng)時(shí)鐘周期T。= 30，則故障f的可檢測(cè)區(qū)間計(jì)算為[30-27,30]，意味著若f的大小大于3個(gè)單位時(shí)延，在輸出端c將被檢測(cè)到。
[0051]圖6為小時(shí)延缺陷演繹模擬示例。其中每個(gè)輸入線s的無(wú)故障波形用GL(s)表示，門(mén)上的數(shù)值i/j分別表示該門(mén)的上跳傳播延時(shí)和下跳傳播延時(shí)。敏感路徑追蹤結(jié)果如圖所示，敏感輸入標(biāo)記為粗線。由于故障傳播只能發(fā)生在敏感路徑，因此在演繹模擬時(shí)我們只需考慮敏感路徑上的故障表處理，非敏感輸入上的故障列表視為空。參照?qǐng)D2演算規(guī)則，各節(jié)點(diǎn)上的故障列表分別為(Li表示信號(hào)線i上的故障列表，F(xiàn)1、Ri分別表示節(jié)點(diǎn)i上的上跳變和下跳變時(shí)延缺陷):
[0052]La= [Ra],Lb = [ φ ]，因此Ld= [La U Lb U Fd] = [Ra,Fd];同理:
[0053]Lc= [Re] ,Lci = [ Φ ] ,Lf= [LdUFf] = [Ra,Fd,Ff]；
[0054]Le= [Lc U Le] = [Re,Re]；
[0055]LdI = [ φ ] ,Lg= [Le UFg] = [Re,Re,Fg]；
[0056]Lh = [Lf U Lg U Fh] = [Ra, Fd, Ff, Re, Re, Fg, Fh]；
[0057]各故障點(diǎn)的可測(cè)區(qū)間=IV(故障激活時(shí)間+敏化通路長(zhǎng)度)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種小時(shí)延缺陷演繹模擬器實(shí)現(xiàn)方法，包括:波形表不方法、故障模擬策略、演繹模擬方法;其特征在于: 所述的波形表示方法基于整型數(shù)據(jù)拼接的二進(jìn)制位序列； 所述的故障模擬策略針對(duì)不同位置的故障，采用不同的模擬策略； 所述的演繹模擬方法建立在敏感路徑標(biāo)記基礎(chǔ)上，通過(guò)敏感路徑的標(biāo)記，排除了故障效應(yīng)重匯聚。2.如權(quán)利要求1所述的一種小時(shí)延缺陷演繹模擬器實(shí)現(xiàn)方法，其特征在于所述的波形表不方法具體是: 模擬器建立在基于單位時(shí)延模型的基礎(chǔ)上，將每個(gè)門(mén)延時(shí)的大小量化為單位時(shí)延的倍數(shù)，采用整型數(shù)據(jù)即機(jī)器字長(zhǎng)來(lái)存儲(chǔ)量化后的二進(jìn)制位序列波形，對(duì)于每個(gè)門(mén)s的時(shí)延模擬，用2個(gè)數(shù)據(jù)表示波形:整數(shù)數(shù)據(jù)EAT(S)記錄最早達(dá)到狀態(tài)，二進(jìn)制位串Bitmap(s)記錄t=-①時(shí)的初始狀態(tài)和EAT( s)到最終穩(wěn)定態(tài)之間的波形;將多個(gè)整形數(shù)拼接在一起，第一個(gè)整形數(shù)采用有符號(hào)整數(shù)，符號(hào)位存放初始狀態(tài)，其余字采用無(wú)符號(hào)整數(shù)。3.如權(quán)利要求1所述的一種小時(shí)延缺陷演繹模擬器實(shí)現(xiàn)方法，其特征在于所述的故障模擬策略中對(duì)故障影響扇出重匯聚的故障，采用傳統(tǒng)二進(jìn)制位序列波形串行模擬，其他的故障則采用演繹故障模擬方法;具體是: 對(duì)電路節(jié)點(diǎn)進(jìn)行扇出重匯聚標(biāo)記;對(duì)電路的輸入敏感線進(jìn)行標(biāo)記，一個(gè)門(mén)的輸入線為敏感輸入線當(dāng)且僅當(dāng)改變?cè)撦斎氲娜≈岛螅瑢⒏淖冊(cè)撻T(mén)的輸出，即該輸入線上存在故障時(shí)，其故障效應(yīng)可以傳播到該門(mén)的輸出；處理重匯聚源時(shí)，當(dāng)重匯聚點(diǎn)扇出的多條敏感路徑重匯聚時(shí)進(jìn)行串行模擬，否則進(jìn)行演繹模擬。4.如權(quán)利要求1所述的一種小時(shí)延缺陷演繹模擬器實(shí)現(xiàn)方法，其特征在于所述的演繹模擬方法針對(duì)不同邏輯門(mén)的處理方法如下: 輸入a為O時(shí)，NOT門(mén)輸出端c的故障列表為L(zhǎng)a U c; 輸入a為I時(shí)，NOT門(mén)輸出端c的故障列表為L(zhǎng)a U c; 輸入a為O，輸入b為O時(shí)，AND門(mén)輸出端c的故障列表為c; 輸入a為0，輸入b為I時(shí)，AND門(mén)輸出端c的故障列表為L(zhǎng)aU c; 輸入a為I，輸入b為O時(shí)，AND門(mén)輸出端c的故障列表為L(zhǎng)b U c ； 輸入a為I，輸入b為I時(shí)，AND門(mén)輸出端c的故障列表為[LaU Lb] Uc; 輸入a為0，輸入b為O時(shí)，0R門(mén)輸出端c的故障列表為[LaU Lb] Uc; 輸入a為0，輸入b為I時(shí)，0R門(mén)輸出端c的故障列表為L(zhǎng)bU c; 輸入a為I，輸入b為O時(shí)，0R門(mén)輸出端c的故障列表為L(zhǎng)aU c; 輸入a為I，輸入b為I時(shí)，0R門(mén)輸出端c的故障列表為c; 其中Li表不信號(hào)線i上的故障列表，c表不信號(hào)線上被激活的時(shí)延缺陷，多輸入門(mén)和其它類型門(mén)，傳播規(guī)則通過(guò)該規(guī)則擴(kuò)展得到。
【文檔編號(hào)】G01R31/28GK106093746SQ201610377229
【公開(kāi)日】2016年11月9日
【申請(qǐng)日】2016年5月31日
【發(fā)明人】劉鐵橋, 王曉耘, 柳毅
【申請(qǐng)人】杭州電子科技大學(xué)