一種多功能按鍵測(cè)試機(jī)及測(cè)試方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種多功能按鍵測(cè)試機(jī)及測(cè)試方法，包括機(jī)架，所述機(jī)架上設(shè)置有多個(gè)并排設(shè)置的工位座，所述工位座上設(shè)置有一個(gè)或多個(gè)鍵盤(pán)工位，所述機(jī)架上設(shè)置有可在X軸、Y軸和Z軸移動(dòng)的檢測(cè)架，所述檢測(cè)架上設(shè)置有對(duì)應(yīng)所述鍵盤(pán)工位的一個(gè)或多個(gè)壓力傳感器，所述壓力傳感器連接到數(shù)據(jù)采集卡，所述數(shù)據(jù)采集卡連接上位處理器，本發(fā)明增加了多個(gè)工位座，在檢測(cè)其中一個(gè)的同時(shí)，其他可以進(jìn)行裝卸，提高了檢測(cè)效率，并且本發(fā)明通過(guò)上位處理器存儲(chǔ)的多種鍵盤(pán)參數(shù)，可以快捷的進(jìn)行多種鍵盤(pán)的檢測(cè)，并且自動(dòng)檢測(cè)鍵盤(pán)的手感及導(dǎo)通功能，檢測(cè)結(jié)果精準(zhǔn)并且效率高。
【專利說(shuō)明】
一種多功能按鍵測(cè)試機(jī)及測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及一種多功能按鍵測(cè)試機(jī)及測(cè)試方法，屬于電子設(shè)備測(cè)試領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]電子裝置都具有可供使用者操作的按鍵，按鍵的好壞直接影響了使用者對(duì)電子裝置的功能操控，因此，對(duì)按鍵進(jìn)行測(cè)試為產(chǎn)品出廠前的必要流程。傳統(tǒng)的按鍵測(cè)試程序，是由一測(cè)試者以手指去按該鍵盤(pán)上的每一按鍵。如果能夠正確地分辨該測(cè)試者所按的每一按鍵，并據(jù)以執(zhí)行相對(duì)應(yīng)的運(yùn)作，就表示該待測(cè)按鍵是正常的，否則，就表示該待測(cè)按鍵是不良品。然而待檢測(cè)的按鍵或鍵盤(pán)數(shù)量龐大，如果測(cè)試工程師僅靠手動(dòng)按鍵來(lái)執(zhí)行所有測(cè)試，不僅測(cè)試速度慢，效率低，還有可能造成測(cè)試的遺漏。
[0003]更重要的是，按鍵的各項(xiàng)性能皆有預(yù)設(shè)的數(shù)值規(guī)范，例如按鍵的支撐力范圍、按鍵對(duì)按壓力道的靈敏度或是按鍵的回彈力范圍，皆需要符合制造商所預(yù)設(shè)的數(shù)值規(guī)范，以提供使用者良好的使用經(jīng)驗(yàn)。然而人工測(cè)試，僅能依據(jù)測(cè)試工程師的「手感」經(jīng)驗(yàn)，以判斷按鍵的各項(xiàng)性能，無(wú)法量化復(fù)制，造成按鍵測(cè)試進(jìn)度緩慢，不符經(jīng)濟(jì)效益。而且測(cè)試工程師的主觀判定，并無(wú)法準(zhǔn)確的檢測(cè)出按鍵的性能是否精準(zhǔn)的落在預(yù)設(shè)的數(shù)值規(guī)范，造成每一按鍵所展現(xiàn)的性能有所不同，進(jìn)而使每一使用者的使用者經(jīng)驗(yàn)，皆有所差異。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是:為克服上述問(wèn)題，提供一種多功能按鍵測(cè)試機(jī)及測(cè)試方法。
[0005]本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是:
[0006]—種多功能按鍵測(cè)試機(jī)，包括機(jī)架，所述機(jī)架上設(shè)置有多個(gè)并排設(shè)置的工位座，所述工位座上設(shè)置有一個(gè)或多個(gè)鍵盤(pán)工位，所述機(jī)架上設(shè)置有可在X軸、Y軸和Z軸移動(dòng)的檢測(cè)架，所述檢測(cè)架上設(shè)置有對(duì)應(yīng)所述鍵盤(pán)工位的一個(gè)或多個(gè)壓力傳感器，所述壓力傳感器連接到數(shù)據(jù)采集卡，所述數(shù)據(jù)采集卡連接上位處理器。
[0007]優(yōu)選地，所述多個(gè)工位座一側(cè)的機(jī)架上設(shè)置有X軸軌道，所述X軸軌道上設(shè)置有可移動(dòng)的X軸基座，所述X軸基座上設(shè)置有Z軸軌道，所述Z軸軌道上可移動(dòng)的設(shè)置有Z軸基座，所述Z軸基座上設(shè)置有Y軸軌道，所述Y軸軌道上可移動(dòng)的設(shè)置所述檢測(cè)架。
[0008]優(yōu)選地，所述X軸基座、Z軸基座和檢測(cè)架通過(guò)電機(jī)驅(qū)動(dòng)，所述電機(jī)和壓力傳感器與設(shè)置在所述機(jī)架內(nèi)的PLC控制器連接。
[0009]優(yōu)選地，所述鍵盤(pán)工位為C型工位，所述C型工位包括兩個(gè)端部和中間的直型段，所述兩個(gè)端部上在兩側(cè)分別設(shè)置有卡固條和卡固槽。
[0010]優(yōu)選地，所述機(jī)架上還設(shè)置有與所述上位處理器連接的控制鍵盤(pán)或顯示器。
[0011]優(yōu)選地，所述機(jī)架下設(shè)置有可伸縮的腳撐，所述機(jī)架下還設(shè)置有多個(gè)滾輪。
[0012]—種應(yīng)用以上所述的多功能按鍵測(cè)試機(jī)的按鍵測(cè)試方法，包括以下步驟:
[0013](I)先將需要檢測(cè)的鍵盤(pán)裝載到所述多個(gè)工位座上，然后將所述檢測(cè)架移動(dòng)到其中一個(gè)工位座上；
[0014](2)所述壓力傳感器在下壓和上升的過(guò)程中輸出信號(hào)給所述數(shù)據(jù)采集卡，所述數(shù)據(jù)采集卡進(jìn)行數(shù)據(jù)采集然后傳送給所述上位處理器；
[0015](3)所述上位處理器將采集到的數(shù)據(jù)生成壓力曲線，并進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，判定按鍵的手感是否合格。
[0016]優(yōu)選地，所述步驟(3)具體為壓力檢測(cè)步驟:所述上位處理器將采集到的數(shù)據(jù)生成壓力曲線，根據(jù)鍵盤(pán)型號(hào)設(shè)定去程和回程的波峰和波谷的參數(shù)，當(dāng)采集生成的壓力曲線達(dá)到設(shè)定的參數(shù)時(shí)，即為鍵盤(pán)手感合格，達(dá)不到設(shè)定的參數(shù)時(shí)，即為鍵盤(pán)手感不合格。
[0017]優(yōu)選地，還包括功能檢測(cè)步驟:在所述壓力傳感器下壓時(shí)，利用所述壓力傳感器的自重導(dǎo)通鍵盤(pán)的按鍵，來(lái)判定鍵盤(pán)的按鍵功能是否合格。
[0018]優(yōu)選地，將所述壓力檢測(cè)步驟和功能檢測(cè)步驟的結(jié)果相結(jié)合，綜合判斷鍵盤(pán)是否符合標(biāo)準(zhǔn)。
[0019]本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明增加了多個(gè)工位座，在檢測(cè)其中一個(gè)的同時(shí)，其他可以進(jìn)行裝卸，提高了檢測(cè)效率，并且本發(fā)明通過(guò)上位處理器存儲(chǔ)的多種鍵盤(pán)參數(shù)，可以快捷的進(jìn)行多種鍵盤(pán)的檢測(cè)，并且自動(dòng)檢測(cè)鍵盤(pán)的手感及導(dǎo)通功能，檢測(cè)結(jié)果精準(zhǔn)并且效率高。
【附圖說(shuō)明】
[0020]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步說(shuō)明。
[0021 ]圖1是本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的主視圖；
[0022]圖2是本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的立體圖；
[0023]圖3是本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的側(cè)視圖；
[0024]圖4是本發(fā)明所述鍵盤(pán)工位的一個(gè)實(shí)施例的主視圖。
[0025]圖中標(biāo)記:1-機(jī)架，2-檢測(cè)架，3-工位座，4-鍵盤(pán)工位，5-X軸軌道，6_Z軸軌道，7_Y軸軌道，8-壓力傳感器，41-端部，42-直型段，43-卡固槽，44-卡固條。
【具體實(shí)施方式】
[0026]現(xiàn)在結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。這些附圖均為簡(jiǎn)化的示意圖，僅以示意方式說(shuō)明本發(fā)明的基本結(jié)構(gòu)，因此其僅顯示與本發(fā)明有關(guān)的構(gòu)成。
[0027]實(shí)施例1
[0028]如圖1所示的本發(fā)明所述一種多功能按鍵測(cè)試機(jī)，包括機(jī)架I，所述機(jī)架I采用金屬材料制成，常規(guī)優(yōu)選采用鋁合金，但不限定，還可根據(jù)需要采用其他材料，所述機(jī)架I上設(shè)置有多個(gè)并排設(shè)置的工位座3，所述工位座3的個(gè)數(shù)可根據(jù)需要進(jìn)行設(shè)置，本實(shí)施例中所述工位座3優(yōu)選的設(shè)置2個(gè)，一個(gè)進(jìn)行檢測(cè)，一個(gè)進(jìn)行裝卸，交替循環(huán)作業(yè)。所述工位座3上設(shè)置有一個(gè)或多個(gè)鍵盤(pán)工位4，所述機(jī)架I上設(shè)置有可在X軸、Y軸和Z軸移動(dòng)的檢測(cè)架2，所述檢測(cè)架2在X軸、Y軸和Z軸移動(dòng)可選擇現(xiàn)有的軌道移動(dòng)、絲桿、機(jī)械手或者懸浮，具體根據(jù)需要進(jìn)行選擇，所述檢測(cè)架2上設(shè)置有對(duì)應(yīng)所述鍵盤(pán)工位4的一個(gè)或多個(gè)壓力傳感器8，設(shè)置幾個(gè)所述鍵盤(pán)工位4，則對(duì)應(yīng)設(shè)置幾個(gè)壓力傳感器8，并且壓力傳感器8位于鍵盤(pán)工位4的上方，在所述檢測(cè)架2下壓的過(guò)程中輸出鍵盤(pán)工位4上鍵盤(pán)的壓力數(shù)據(jù)，所述壓力傳感器8連接到數(shù)據(jù)采集卡，所述數(shù)據(jù)采集卡采集壓力傳感器8上傳出的數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)采集卡最終將所有數(shù)據(jù)上傳給上位處理器，由所述上位處理器進(jìn)行處理判斷。
[0029]在優(yōu)選的實(shí)施方式中，如圖2和圖3所示，所述多個(gè)工位座3—側(cè)的機(jī)架I上設(shè)置有X軸軌道5，所述X軸軌道5上設(shè)置有可移動(dòng)的X軸基座，所述X軸基座上設(shè)置有Z軸軌道6，所述Z軸軌道6上可移動(dòng)的設(shè)置有Z軸基座，所述Z軸基座上設(shè)置有Y軸軌道7，所述Y軸軌道7上可移動(dòng)的設(shè)置所述檢測(cè)架2，本實(shí)施例具體優(yōu)選的采用X軸軌道5、Y軸軌道7和Z軸軌道6來(lái)實(shí)現(xiàn)檢測(cè)架2的三維移動(dòng)，因?yàn)槠湟卓刂?，并且控制精?zhǔn)，成本低，但不限于軌道，還可根據(jù)需要選擇其他。
[0030]在優(yōu)選的實(shí)施方式中，所述X軸基座、Z軸基座和檢測(cè)架2通過(guò)電機(jī)驅(qū)動(dòng)，所述電機(jī)和壓力傳感器8與設(shè)置在所述機(jī)架I內(nèi)的PLC控制器連接，所述PLC控制器控制檢測(cè)架2在三維的移動(dòng)。
[0031]所述鍵盤(pán)工位4為C型工位，如圖4所示，所述C型工位包括兩個(gè)端部41和中間的直型段42，所述兩個(gè)端部41上在兩側(cè)分別設(shè)置有卡固條44和卡固槽43，前后的C型工位通過(guò)卡固條44和卡固槽43防止之前的相互晃動(dòng)，保證多個(gè)C型工位上的鍵盤(pán)位于同一直線上，這樣就可以進(jìn)行高效率的依次檢測(cè)。
[0032]在優(yōu)選的實(shí)施方式中，所述機(jī)架I上還設(shè)置有與所述上位處理器連接的顯示器，用于將檢測(cè)結(jié)果直接呈現(xiàn)給使用者，提高效率。
[0033]在優(yōu)選的實(shí)施方式中，所述機(jī)架I上還設(shè)置有與所述上位處理器連接的控制鍵盤(pán)，方便使用者進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)操作。
[0034]在優(yōu)選的實(shí)施方式中，所述機(jī)架I下設(shè)置有可伸縮的腳撐，所述機(jī)架I下還設(shè)置有多個(gè)滾輪，當(dāng)需要移動(dòng)時(shí)使用滾輪進(jìn)行移動(dòng)，當(dāng)需要固定時(shí)，將腳撐向下拉伸固定，則將搜書(shū)機(jī)架I固定住，方便實(shí)用。
[0035]實(shí)施例2
[0036]—種應(yīng)用以上所述的多功能按鍵測(cè)試機(jī)的按鍵測(cè)試方法，包括以下步驟:
[0037](I)先將需要檢測(cè)的鍵盤(pán)裝載到所述多個(gè)工位座3上，然后將所述檢測(cè)架2在Χ、Υ移動(dòng)到其中一個(gè)工位座3的上方，然后通過(guò)Z軸方向的運(yùn)動(dòng)進(jìn)行下壓，此時(shí)檢測(cè)架2上的壓力傳感器8會(huì)接觸鍵盤(pán)按鍵；
[0038](2)所述壓力傳感器8在下壓接觸到按鍵和上升脫離按鍵的過(guò)程中輸出信號(hào)給所述數(shù)據(jù)采集卡，所述數(shù)據(jù)采集卡進(jìn)行數(shù)據(jù)采集然后傳送給所述上位處理器；
[0039](3)所述上位處理器將采集到的數(shù)據(jù)，根據(jù)下壓和上升過(guò)程中受力的不同生成壓力曲線，并進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，判定按鍵的手感是否合格。
[0040]在優(yōu)選的實(shí)施方式中，所述步驟(3)具體為壓力檢測(cè)步驟:所述上位處理器將采集到的數(shù)據(jù)，根據(jù)下壓和上升過(guò)程中受力的不同生成壓力曲線，在結(jié)合鍵盤(pán)型號(hào)設(shè)定去程和回程的波峰和波谷的參數(shù)，所述上位處理器中可存儲(chǔ)有各種信號(hào)的鍵盤(pán)參數(shù)，當(dāng)需要檢測(cè)一種鍵盤(pán)時(shí)，將其參數(shù)調(diào)出即可，因此本發(fā)明可以方便的用于檢測(cè)各種信號(hào)鍵盤(pán)，不需要在針對(duì)性的調(diào)整，當(dāng)采集生成的壓力曲線達(dá)到設(shè)定的參數(shù)時(shí)，即為鍵盤(pán)手感合格，達(dá)不到設(shè)定的參數(shù)時(shí)，即為鍵盤(pán)手感不合格。
[0041]在優(yōu)選的實(shí)施方式中，還包括功能檢測(cè)步驟:在所述壓力傳感器8下壓時(shí)，利用所述壓力傳感器8的自重導(dǎo)通鍵盤(pán)的按鍵，鍵盤(pán)在檢測(cè)的時(shí)候進(jìn)行通電，通過(guò)控制器判斷鍵盤(pán)是否導(dǎo)通，來(lái)判定鍵盤(pán)的按鍵功能是否合格。
[0042]在優(yōu)選的實(shí)施方式中，將所述壓力檢測(cè)步驟和功能檢測(cè)步驟的結(jié)果相結(jié)合，綜合判斷鍵盤(pán)是否符合標(biāo)準(zhǔn)，兩項(xiàng)檢測(cè)指標(biāo)都符合即為優(yōu)等品，其中一項(xiàng)指標(biāo)不合格時(shí)，則為次等品，兩項(xiàng)指標(biāo)都不符合，則為殘次品。
[0043]以上述依據(jù)本發(fā)明的理想實(shí)施例為啟示，通過(guò)上述的說(shuō)明內(nèi)容，相關(guān)工作人員完全可以在不偏離本項(xiàng)發(fā)明技術(shù)思想的范圍內(nèi)，進(jìn)行多樣的變更以及修改。本項(xiàng)發(fā)明的技術(shù)性范圍并不局限于說(shuō)明書(shū)上的內(nèi)容，必須要根據(jù)權(quán)利要求范圍來(lái)確定其技術(shù)性范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種多功能按鍵測(cè)試機(jī)，其特征在于，包括機(jī)架，所述機(jī)架上設(shè)置有多個(gè)并排設(shè)置的工位座，所述工位座上設(shè)置有一個(gè)或多個(gè)鍵盤(pán)工位，所述機(jī)架上設(shè)置有可在X軸、Y軸和Z軸移動(dòng)的檢測(cè)架，所述檢測(cè)架上設(shè)置有對(duì)應(yīng)所述鍵盤(pán)工位的一個(gè)或多個(gè)壓力傳感器，所述壓力傳感器連接到數(shù)據(jù)采集卡，所述數(shù)據(jù)采集卡連接上位處理器。2.如權(quán)利要求1所述的多功能按鍵測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述多個(gè)工位座一側(cè)的機(jī)架上設(shè)置有X軸軌道，所述X軸軌道上設(shè)置有可移動(dòng)的X軸基座，所述X軸基座上設(shè)置有Z軸軌道，所述Z軸軌道上可移動(dòng)的設(shè)置有Z軸基座，所述Z軸基座上設(shè)置有Y軸軌道，所述Y軸軌道上可移動(dòng)的設(shè)置所述檢測(cè)架。3.如權(quán)利要求1或2所述的多功能按鍵測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述X軸基座、Z軸基座和檢測(cè)架通過(guò)電機(jī)驅(qū)動(dòng)，所述電機(jī)和壓力傳感器與設(shè)置在所述機(jī)架內(nèi)的PLC控制器連接。4.如權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的多功能按鍵測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述鍵盤(pán)工位為C型工位，所述C型工位包括兩個(gè)端部和中間的直型段，所述兩個(gè)端部上在兩側(cè)分別設(shè)置有卡固條和卡固槽。5.如權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的多功能按鍵測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述機(jī)架上還設(shè)置有與所述上位處理器連接的控制鍵盤(pán)或顯示器。6.如權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的多功能按鍵測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述機(jī)架下設(shè)置有可伸縮的腳撐，所述機(jī)架下還設(shè)置有多個(gè)滾輪。7.—種應(yīng)用權(quán)利要求1-6任一項(xiàng)所述的多功能按鍵測(cè)試機(jī)的按鍵測(cè)試方法，其特征在于，包括以下步驟: (1)先將需要檢測(cè)的鍵盤(pán)裝載到所述多個(gè)工位座上，然后將所述檢測(cè)架移動(dòng)到其中一個(gè)工位座上； (2)所述壓力傳感器在下壓和上升的過(guò)程中輸出信號(hào)給所述數(shù)據(jù)采集卡，所述數(shù)據(jù)采集卡進(jìn)行數(shù)據(jù)采集然后傳送給所述上位處理器； (3)所述上位處理器將采集到的數(shù)據(jù)生成壓力曲線，并進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，判定按鍵的手感是否合格。8.如權(quán)利要求7所述的按鍵測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟(3)具體為壓力檢測(cè)步驟:所述上位處理器將采集到的數(shù)據(jù)生成壓力曲線，根據(jù)鍵盤(pán)型號(hào)設(shè)定去程和回程的波峰和波谷的參數(shù)，當(dāng)采集生成的壓力曲線達(dá)到設(shè)定的參數(shù)時(shí)，即為鍵盤(pán)手感合格，達(dá)不到設(shè)定的參數(shù)時(shí)，即為鍵盤(pán)手感不合格。9.如權(quán)利要求8所述的按鍵測(cè)試方法，其特征在于，還包括功能檢測(cè)步驟:在所述壓力傳感器下壓時(shí)，利用所述壓力傳感器的自重導(dǎo)通鍵盤(pán)的按鍵，來(lái)判定鍵盤(pán)的按鍵功能是否合格。10.如權(quán)利要求9所述的按鍵測(cè)試方法，其特征在于，將所述壓力檢測(cè)步驟和功能檢測(cè)步驟的結(jié)果相結(jié)合，綜合判斷鍵盤(pán)是否符合標(biāo)準(zhǔn)。
【文檔編號(hào)】G01R31/327GK106019140SQ201610629009
【公開(kāi)日】2016年10月12日
【申請(qǐng)日】2016年8月3日
【發(fā)明人】韓惠方, 丁亞云
【申請(qǐng)人】蘇州安木自動(dòng)化設(shè)備有限公司