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一種平移式計算機斷層掃描成像系統(tǒng)的制作方法

文檔序號:10652024閱讀:674來源:國知局
一種平移式計算機斷層掃描成像系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種基于L型探測器架構(gòu)平移式計算機斷層掃描成像系統(tǒng),包括射線發(fā)生裝置、L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置、平移式傳送裝置、控制與圖像處理系統(tǒng)和載物裝置;射線發(fā)生裝置用于朝L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置輻射檢測射線;射線發(fā)生裝置安裝于平移式傳送裝置上;載物裝置位于射線發(fā)生裝置與L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置之間;控制與圖像處理系統(tǒng)分別與L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置、射線發(fā)生裝置及載物裝置電連接;控制與圖像處理系統(tǒng)相應(yīng)控制射線發(fā)生裝置沿平移式傳送裝置運動及控制載物裝置自體旋轉(zhuǎn)。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單、易于實現(xiàn),CT成像快速,掃描時間短;能有效降低輻射劑量,減少患者所受輻射危害。
【專利說明】
一種平移式計算機斷層掃描成像系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及計算機斷層成像技術(shù)領(lǐng)域,具體來說涉及一種平移式計算機斷層掃描成像系統(tǒng),其具有L型探測器架構(gòu)。
【背景技術(shù)】
[0002]計算機斷層成像(CT)是一種通過對多個投影視角下的X射線投影數(shù)據(jù)進行采集從而得到物體內(nèi)部和外部結(jié)構(gòu)特征圖像的技術(shù)。被廣泛地用于醫(yī)療診斷、工業(yè)探傷、機場安檢及文物修復(fù)等領(lǐng)域。為獲得高精度CT圖像需要完備的投影數(shù)據(jù)。因此現(xiàn)有的計算機斷層掃描成像大多采用圓周扇束CT掃描、圓周錐束CT掃描,螺旋錐束CT掃描等掃描方式。這些掃描方式的優(yōu)勢是獲得的投影數(shù)據(jù)充分,但也存在以下問題:掃描時間與掃描成像速度的大小與患者受輻射程度緊密相關(guān),掃描時間長、成像速度慢會增加患者受輻射劑量。若X射線輻射量過大,增大了對患者健康的危害性;在一些實際應(yīng)用中,受掃描環(huán)境及檢測目標(biāo)等方面的影響,常規(guī)掃描成像方式不能被有效利用。因此,如何開發(fā)出一種能造保證成像質(zhì)量的前提下有效降低輻射劑量的計算機掃描成像系統(tǒng),以克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題是本領(lǐng)域技術(shù)人員需要研究的方向。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是提供一種平移式計算機斷層掃描成像系統(tǒng),以克服現(xiàn)有技術(shù)所存在的上述問題。
[0004]其采用的技術(shù)方案是:
[0005]—種平移式計算機斷層掃描成像系統(tǒng),包括射線發(fā)生裝置、L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置、平移式傳送裝置、控制與圖像處理系統(tǒng)和載物裝置;所述射線發(fā)生裝置用于朝所述L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置輻射檢測射線;所述射線發(fā)生裝置安裝于平移式傳送裝置上;所述載物裝置位于射線發(fā)生裝置與L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置之間;所述L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置用于接收射線發(fā)生裝置輻射的檢測射線,實現(xiàn)對檢測數(shù)據(jù)的采集;所述控制與圖像處理系統(tǒng)分別與L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置、射線發(fā)生裝置及載物裝置電連接;所述控制與圖像處理系統(tǒng)用于接收并處理L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置輸出的檢測信號,并相應(yīng)控制射線發(fā)生裝置沿平移式傳送裝置運動及控制載物裝置自體旋轉(zhuǎn)。
[0006]優(yōu)選的是,上述平移式計算機斷層掃描成像系統(tǒng)中:所述平移式傳送裝置包括板體,板體上設(shè)有滑槽;所述射線發(fā)生裝置包括發(fā)射器和電機;所述發(fā)射器的底座卡嵌在所述滑槽中,所述電機推動發(fā)射器沿滑槽往復(fù)運動。
[0007]優(yōu)選的是,上述平移式計算機斷層掃描成像系統(tǒng)中:所述射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置呈L型。
[0008]通過采用這種方式:將被檢測對象位于載物裝置上,視檢測需求和成像情況通過控制與圖像處理系統(tǒng),控制載物裝置的旋轉(zhuǎn)或靜止。且同時通過控制與圖像處理系統(tǒng)控制平移式傳送裝置的平移速度,實現(xiàn)減少射線曝光時間、加快掃描時間。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單、易于實現(xiàn)。CT成像快速,掃描時間短;能有效降低輻射劑量,減少患者所受輻射危害。
【附圖說明】
[0009]圖1為本發(fā)明實施例1的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0010]1、射線發(fā)生裝置;2、L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置;3、平移式傳送裝置;4、控制與圖像處理系統(tǒng);5、載物裝置。
【具體實施方式】
[0011]以下結(jié)合實施例對本發(fā)明做進一步的描述。
[0012]如圖1所示實施例1:
[0013]—種平移式計算機斷層掃描成像系統(tǒng):包括射線發(fā)生裝置1、L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置2、平移式傳送裝置3、控制與圖像處理系統(tǒng)4和載物裝置5。
[0014]所述射線發(fā)生裝置I用于朝所述L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置2輻射檢測射線;所述射線發(fā)生裝置I包括發(fā)射器和電機。所述平移式傳送裝置3包括板體,板體上設(shè)有滑槽。所述發(fā)射器的底座卡嵌在所述滑槽中,所述電機推動發(fā)射器沿滑槽往復(fù)運動。
[0015]所述射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置2呈L型,用于接收射線發(fā)生裝置I輻射的檢測射線,實現(xiàn)對檢測數(shù)據(jù)的采集;
[0016]所述載物裝置5位于射線發(fā)生裝置I與L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置2之間;所述控制與圖像處理系統(tǒng)4分別與L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置2、射線發(fā)生裝置I及載物裝置5電連接;
[0017]所述控制與圖像處理系統(tǒng)4用于接收并處理L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置2輸出的檢測信號,并相應(yīng)控制射線發(fā)生裝置I沿平移式傳送裝置3運動及控制載物裝置5自體旋轉(zhuǎn)。
[0018]實踐中,其工作過程如下:
[0019]1、同時啟動射線發(fā)生裝置1、L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置2、控制及圖像處理系統(tǒng)4和平移式傳送裝置3;
[0020]2、射線發(fā)生裝置產(chǎn)生扇形束射線對檢測對象進行掃描,L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置獲得射線投影數(shù)據(jù);
[0021]3、控制及圖像處理系統(tǒng)接收射線投影數(shù)據(jù);
[0022]4、重建待檢測對象掃描部位的斷層CT圖像。
[0023]以上所述,僅是本發(fā)明的實施例,本發(fā)明不受限于上述實施例的限制,凡依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實質(zhì)對上述實施例所作的類似修改、變化與替換,仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。本發(fā)明的保護范圍僅由權(quán)利要求書界定。
【主權(quán)項】
1.一種平移式計算機斷層掃描成像系統(tǒng),其特征在于:包括射線發(fā)生裝置(I)、L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置(2)、平移式傳送裝置(3)、控制與圖像處理系統(tǒng)(4)和載物裝置(5); 所述射線發(fā)生裝置(I)用于朝所述L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置(2)輻射檢測射線;所述射線發(fā)生裝置(I)安裝于平移式傳送裝置(3)上;所述載物裝置(5)位于射線發(fā)生裝置(I)與L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置(2)之間;所述L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置(2)用于接收射線發(fā)生裝置(I)輻射的檢測射線,實現(xiàn)對檢測數(shù)據(jù)的采集;所述控制與圖像處理系統(tǒng)(4)分別與L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置(2)、射線發(fā)生裝置(I)及載物裝置(5)電連接; 所述控制與圖像處理系統(tǒng)(4)用于接收并處理L型射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置(2)輸出的檢測信號,并相應(yīng)控制射線發(fā)生裝置(I)沿平移式傳送裝置(3)運動及控制載物裝置(5)自體旋轉(zhuǎn)。2.如權(quán)利要求1所述一種平移式計算機斷層掃描成像系統(tǒng),其特征在于:所述平移式傳送裝置(3)包括板體,板體上設(shè)有滑槽;所述射線發(fā)生裝置(I)包括發(fā)射器和電機;所述發(fā)射器的底座卡嵌在所述滑槽中,所述電機推動發(fā)射器沿滑槽往復(fù)運動。3.如權(quán)利要求1所述一種平移式計算機斷層掃描成像系統(tǒng),其特征在于:所述射線探測及數(shù)據(jù)采集裝置(2)呈L型。
【文檔編號】G01N23/04GK106018444SQ201610534874
【公開日】2016年10月12日
【申請日】2016年7月8日
【發(fā)明人】余維, 聶小英
【申請人】湖北科技學(xué)院
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