一種光學(xué)檢測(cè)設(shè)備的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，包括：光源處理組件以及依次設(shè)于所述光源處理組件上方的鏡頭組件和相機(jī)，其中，所述光源處理組件包括：三個(gè)用于產(chǎn)生、發(fā)射光纖光源的光源發(fā)生裝置、三個(gè)偏光鏡、兩個(gè)反射鏡、一反射增透鏡以及PCB偵測(cè)區(qū)，三個(gè)光源發(fā)生裝置產(chǎn)生光纖光源分別經(jīng)過與其對(duì)應(yīng)的偏光鏡投射至與其對(duì)應(yīng)的反光鏡上，而后聚焦至所述PCB偵測(cè)區(qū)上的PCB上，最后反射光經(jīng)鏡頭組件投射至所述相機(jī)中。本發(fā)明經(jīng)偏光鏡過濾的光線投射在待檢PCB板上，使反射到偵測(cè)光學(xué)器件中的光具有統(tǒng)一偏振特征，從而過濾掉其他雜散光線對(duì)光學(xué)檢測(cè)的影響，從而增強(qiáng)PCB板上的缺陷的顯示效果，提高了檢測(cè)效果。
【專利說明】
_種光學(xué)檢測(cè)設(shè)備
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，尤其涉及一種光學(xué)檢測(cè)設(shè)備。
[0002]
【背景技術(shù)】
[0003]自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)是基于機(jī)器視覺的新型測(cè)試技術(shù)，可以用于PCB生產(chǎn)線上代替人工檢測(cè)方法，對(duì)PCB的質(zhì)量進(jìn)行檢測(cè)。尤其對(duì)超微小、分布細(xì)密的線路進(jìn)行反復(fù)、高效、客觀的檢測(cè)，大大提高了產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率?；贏OI的PCB檢測(cè)系統(tǒng)可以檢測(cè)諸如突銅、缺口、短路、斷路、殘銅、針孔、漏線、漏鉆孔、蝕刻過度、蝕刻不足、尺寸不符、孔破等進(jìn)行檢測(cè)。當(dāng)前影響自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)質(zhì)量與效率的是:光源系統(tǒng)無法滿足高亮度的要求；鹵素?zé)袅炼却蟮珘勖?，使用維護(hù)費(fèi)用大;LED光源亮度不夠，造成檢測(cè)系統(tǒng)掃描成像速度慢，效率低，難以滿足PCB制程檢測(cè)需求。然而，LED光源和鹵素光源對(duì)PCB板的不同基材表面的缺陷和正常的非缺陷無法進(jìn)行區(qū)分，因而無法準(zhǔn)確地判定PCB板的合格與否。因而，一種能夠準(zhǔn)確判定PCB
板是否合格的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備亟待出現(xiàn)。
[0004]

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的目的在于一種光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，克服了現(xiàn)有技術(shù)的不足。
[0006]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
一種光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，包括:光源處理組件以及依次設(shè)于所述光源處理組件上方的鏡頭組件和相機(jī)，其中，所述光源處理組件包括:
三個(gè)用于產(chǎn)生、發(fā)射光纖光源的光源發(fā)生裝置，其中光源發(fā)生裝置一和光源發(fā)生裝置二間隔相對(duì)設(shè)置，光源發(fā)生裝置三設(shè)置位于光源發(fā)生裝置一的上方；
三個(gè)偏光鏡，其中偏光鏡一和偏光鏡二間隔設(shè)置、并位于所述光源發(fā)生裝置一和光源發(fā)生裝置二之間，所述偏光鏡一和偏光鏡二分別對(duì)應(yīng)于所述光源發(fā)生裝置一和光源發(fā)生裝置二，所述偏光鏡三設(shè)于所述光源發(fā)生裝置三的內(nèi)側(cè)，并對(duì)應(yīng)于所述光源發(fā)生裝置三；
兩個(gè)反射鏡，其中所述反射鏡一和反射鏡二間隔設(shè)置、并分別設(shè)于所述偏光鏡一和偏光鏡二之間，所述反射鏡一和反射鏡二分別對(duì)應(yīng)于所述偏光鏡一和偏光鏡二，且所述反射鏡一和反射鏡二相對(duì)于水平面傾斜設(shè)置；
一反射增透鏡，所述反射增透鏡設(shè)于所述偏光鏡三的內(nèi)側(cè)，并對(duì)應(yīng)于所述偏光鏡三，所述反射增透鏡相對(duì)于水平面傾斜設(shè)置；
位于所述光源發(fā)生裝置一和光源發(fā)生裝置二下方的PCB偵測(cè)區(qū)，所述PCB偵測(cè)區(qū)用于放置待檢測(cè)的PCB板；
三個(gè)光源發(fā)生裝置產(chǎn)生光纖光源分別經(jīng)過與其對(duì)應(yīng)的偏光鏡投射至與其對(duì)應(yīng)的反光鏡上，而后聚焦至所述PCB偵測(cè)區(qū)上的PCB板上，最后反射光經(jīng)鏡頭組件投射至所述相機(jī)中。
[0007]優(yōu)選的，所述鏡頭組件包括鏡頭和至少位于所述鏡頭上方的解析鏡。
[0008]進(jìn)一步的，該光學(xué)檢測(cè)設(shè)備還包括旋入旋出驅(qū)動(dòng)裝置，所述旋入旋出驅(qū)動(dòng)裝置用于驅(qū)動(dòng)所述解析鏡位于所述鏡頭的上方。
[0009]進(jìn)一步的，該光學(xué)檢測(cè)設(shè)備還包括360度旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)裝置，所述360度旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)裝置用于驅(qū)動(dòng)所述解析鏡旋轉(zhuǎn)而使得到達(dá)所述相機(jī)的光纖達(dá)到適合的感光強(qiáng)度。
[0010]優(yōu)選的，該光學(xué)檢測(cè)設(shè)備還包括偏光鏡控制裝置，用于控制所述偏光鏡切入至與之相對(duì)應(yīng)的所述光源發(fā)生裝置前。
[0011 ]優(yōu)選的，所述相機(jī)為感光相機(jī)。
[0012]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備具有以下優(yōu)點(diǎn):
偏光鏡控制裝置使偏光鏡切入到光釬光源前，三束光源經(jīng)偏光鏡后具有統(tǒng)一偏振特性，再投射至與其對(duì)應(yīng)的反光鏡上，而后聚焦至PCB偵測(cè)區(qū)上的PCB上，最后反射光經(jīng)鏡頭組件投射至相機(jī)中，從而進(jìn)行檢測(cè)工作。經(jīng)偏光鏡過濾的光線投射在待檢PCB板上，使反射到偵測(cè)光學(xué)器件中的光具有統(tǒng)一偏振特征，從而過濾掉其他雜散光線對(duì)光學(xué)檢測(cè)的影響，進(jìn)而增強(qiáng)PCB板上的缺陷的顯示效果，提高了檢測(cè)效果。
[0013]
【附圖說明】
[0014]為了更清楚地說明本發(fā)明結(jié)構(gòu)特征和技術(shù)要點(diǎn)，下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0015]圖1為本發(fā)明實(shí)施例所公開的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備的原理圖；
圖2為本發(fā)明實(shí)施例所公開的光源處理組件的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖3為本發(fā)明實(shí)施例所公開的鏡頭組件的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0016]
【具體實(shí)施方式】
[0017]下面將結(jié)合本實(shí)施例中的附圖，對(duì)實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行具體、清楚、完整地描述。
[0018]參見圖1-3所示，本發(fā)明實(shí)施例公開了一種光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，包括:光源處理組件I以及依次設(shè)于光源處理組件I上方的鏡頭組件2和相機(jī)3(可以采用感光相機(jī))，其中，光源處理組件I設(shè)置于一個(gè)光源盒內(nèi)，其包括:
三個(gè)用于產(chǎn)生、發(fā)射光纖光源的光源發(fā)生裝置，其中光源發(fā)生裝置一 11和光源發(fā)生裝置二 12間隔相對(duì)設(shè)置，光源發(fā)生裝置三13設(shè)置位于光源發(fā)生裝置一 11的上方，
三個(gè)偏光鏡，其中偏光鏡一14和偏光鏡二15間隔設(shè)置、并位于光源發(fā)生裝置一11和光源發(fā)生裝置二 12之間，偏光鏡一 14和偏光鏡二 15分別對(duì)應(yīng)于光源發(fā)生裝置一 11和光源發(fā)生裝置二12，偏光鏡三16設(shè)于光源發(fā)生裝置三13的內(nèi)側(cè)，并對(duì)應(yīng)于光源發(fā)生裝置三13，
兩個(gè)反射鏡，其中反射鏡一 17和反射鏡二 18間隔設(shè)置、并分別設(shè)于偏光鏡一14和偏光鏡二15之間，反射鏡一 17和反射鏡二 18分別對(duì)應(yīng)于偏光鏡一14和偏光鏡二15，且反射鏡一17和反射鏡二 18相對(duì)于水平面傾斜設(shè)置；
一反射增透鏡19，反射增透鏡19設(shè)于偏光鏡三16的內(nèi)側(cè)，并對(duì)應(yīng)于偏光鏡三16，反射增透鏡19相對(duì)于水平面傾斜設(shè)置；
位于光源發(fā)生裝置一 11和光源發(fā)生裝置二 12下方的PCB偵測(cè)區(qū)6，PCB偵測(cè)區(qū)6用于放置待檢測(cè)的PCB板；
三個(gè)光源發(fā)生裝置產(chǎn)生光纖光源分別經(jīng)過與其對(duì)應(yīng)的偏光鏡投射至與其對(duì)應(yīng)的反光鏡上，而后聚焦至PCB偵測(cè)區(qū)6上的PCB板上，最后反射光經(jīng)鏡頭組件2投射至相機(jī)3中。
[0019]其中，鏡頭組件2包括鏡頭21和至少位于鏡頭21上方的解析鏡22。
[0020]該光學(xué)檢測(cè)設(shè)備還包括旋入旋出驅(qū)動(dòng)裝置4，旋入旋出驅(qū)動(dòng)裝置4用于驅(qū)動(dòng)解析鏡22位于鏡頭21的上方。
[0021]該光學(xué)檢測(cè)設(shè)備還包括360度旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)裝置5，360度旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)裝置5用于驅(qū)動(dòng)解析鏡22旋轉(zhuǎn)而使得到達(dá)相機(jī)3的光纖達(dá)到適合的感光強(qiáng)度。
[0022]該光學(xué)檢測(cè)設(shè)備還包括偏光鏡控制裝置(圖中未顯示)，用于控制偏光鏡切入至與之相對(duì)應(yīng)的光源發(fā)生裝置前。
[0023]本發(fā)明的工作原理如下:
偏光鏡控制裝置使偏光鏡切入到光釬光源前，三束光源經(jīng)偏光鏡后具有統(tǒng)一偏振特性，再投射至與其對(duì)應(yīng)的反光鏡上，而后聚焦至PCB偵測(cè)區(qū)6上的PCB板上，最后反射光經(jīng)鏡頭組件2投射至相機(jī)3中。具體的，光源發(fā)生裝置一 11、光源發(fā)生裝置二 12、光源發(fā)生裝置三13分別發(fā)射光纖光源分別經(jīng)過偏光鏡一 14、偏光鏡二 15和偏光鏡三16，再分別投射于反射鏡一 17、反射鏡二 18和反射增透鏡19上，而后均聚焦于PCB板上，最后反射光經(jīng)依次鏡頭和解析鏡投射至感光相機(jī)中，從而進(jìn)行檢測(cè)工作。經(jīng)偏光鏡過濾的光線投射在待檢PCB板上，使反射到偵測(cè)光學(xué)器件中的光具有統(tǒng)一偏振特征，從而過濾掉其他雜散光線對(duì)光學(xué)檢測(cè)的影響，進(jìn)而增強(qiáng)PCB板上的缺陷的顯示效果，提高了檢測(cè)效果。
[0024]上述【具體實(shí)施方式】，僅為說明本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思和結(jié)構(gòu)特征，目的在于讓熟悉此項(xiàng)技術(shù)的相關(guān)人士能夠據(jù)以實(shí)施，但以上所述內(nèi)容并不限制本發(fā)明的保護(hù)范圍，凡是依據(jù)本發(fā)明的精神實(shí)質(zhì)所作的任何等效變化或修飾，均應(yīng)落入本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，包括:光源處理組件以及依次設(shè)于所述光源處理組件上方的鏡頭組件和相機(jī)，其中，所述光源處理組件包括三個(gè)用于產(chǎn)生、發(fā)射光纖光源的光源發(fā)生裝置，其中光源發(fā)生裝置一和光源發(fā)生裝置二間隔相對(duì)設(shè)置，光源發(fā)生裝置三設(shè)置位于光源發(fā)生裝置一的上方。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于:所述光源處理組件包括偏光鏡一、偏光鏡二和偏光鏡三，其中偏光鏡一和偏光鏡二間隔設(shè)置、并位于所述光源發(fā)生裝置一和光源發(fā)生裝置二之間，所述偏光鏡一和偏光鏡二分別對(duì)應(yīng)于所述光源發(fā)生裝置一和光源發(fā)生裝置二，所述偏光鏡三設(shè)于所述光源發(fā)生裝置三的內(nèi)側(cè)，并對(duì)應(yīng)于所述光源發(fā)生裝置_- O3.根據(jù)權(quán)利要求2所述一種光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于:所述光源處理組件包括反射鏡一和反射鏡二，所述反射鏡一和反射鏡二間隔設(shè)置、并分別設(shè)于所述偏光鏡一和偏光鏡二之間，所述反射鏡一和反射鏡二分別對(duì)應(yīng)于所述偏光鏡一和偏光鏡二，且所述反射鏡一和反射鏡二相對(duì)于水平面傾斜設(shè)置。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述一種光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于:所述光學(xué)檢測(cè)設(shè)備包括一反射增透鏡和PCB偵測(cè)區(qū)，所述反射增透鏡設(shè)于所述偏光鏡三的內(nèi)側(cè)，并對(duì)應(yīng)于所述偏光鏡三，所述反射增透鏡相對(duì)于水平面傾斜設(shè)置； 所述PCB偵測(cè)區(qū)位于光源發(fā)生裝置一和光源發(fā)生裝置二下方，PCB偵測(cè)區(qū)用于放置待檢測(cè)的PCB板。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述鏡頭組件包括鏡頭和至少位于所述鏡頭上方的解析鏡。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，該光學(xué)檢測(cè)設(shè)備還包括旋入旋出驅(qū)動(dòng)裝置，所述旋入旋出驅(qū)動(dòng)裝置用于驅(qū)動(dòng)所述解析鏡位于所述鏡頭的上方。7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，該光學(xué)檢測(cè)設(shè)備還包括360度旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)裝置，所述360度旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)裝置用于驅(qū)動(dòng)所述解析鏡旋轉(zhuǎn)而使得到達(dá)所述相機(jī)的光纖達(dá)到適合的感光強(qiáng)度。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，該光學(xué)檢測(cè)設(shè)備還包括偏光鏡控制裝置，用于控制所述偏光鏡切入至與之相對(duì)應(yīng)的所述光源發(fā)生裝置前。9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述相機(jī)為感光相機(jī)。
【文檔編號(hào)】G01N21/956GK106018434SQ201610527253
【公開日】2016年10月12日
【申請(qǐng)日】2016年7月6日
【發(fā)明人】張志軍
【申請(qǐng)人】康代影像科技(蘇州)有限公司