一種芯片系統(tǒng)的顯示接口測試方法及裝置的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種芯片系統(tǒng)的顯示接口測試方法，包括控制器發(fā)送預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)給待測顯示接口輸出測試信號(hào)；將輸出的測試信號(hào)轉(zhuǎn)換成24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)；將24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)合并成一組數(shù)據(jù)輸出；采集輸出的一組數(shù)據(jù)，將采集的數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，得出測試結(jié)果。本發(fā)明優(yōu)點(diǎn)如下：可以通過小規(guī)模的可編程邏輯器件(或通過搭建組合邏輯電路)做數(shù)據(jù)的合并，并輔助測試，不僅可以省去數(shù)據(jù)分時(shí)采集的時(shí)間，提高顯示接口的測試速率，且可以降低芯片顯示接口的測試成本。
【專利說明】
一種芯片系統(tǒng)的顯示接口測試方法及裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001 ]本發(fā)明涉及芯片系統(tǒng)中顯示接口的測試，特別涉及一種芯片系統(tǒng)的顯示接口測試方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，芯片系統(tǒng)級(jí)測試(SLT)顯示接口的方法主要有以下三種:第一種是直接通過對(duì)應(yīng)協(xié)議的接收接口直接接收(如HDMI RX直接接收HDMI數(shù)據(jù)并分析)；第二種是通過串(并)、協(xié)議轉(zhuǎn)換等方式將待測信號(hào)轉(zhuǎn)換成另一種目標(biāo)格式的數(shù)據(jù)，再通過一定的方式去采集;第三種是直接在IC設(shè)計(jì)中實(shí)現(xiàn)Loopback方式的測試。其中，最簡單通用的是第二種方法，通過將復(fù)雜的協(xié)議或者串行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)成并行格式的RGB數(shù)據(jù)，再采用并行視頻數(shù)據(jù)輸入接口或者可編程邏輯器件直接采集，但是這兩種采集方式分別存在以下缺陷:
[0003]采用視頻數(shù)據(jù)輸入接口采集，由于通常支持RGB的視頻輸入接口支持的數(shù)據(jù)位數(shù)是8位或者12位模式，而轉(zhuǎn)換后的RGB數(shù)據(jù)是24位并行數(shù)據(jù)，所以在直接采集時(shí)，需要分時(shí)采集2次或者3次，這無形中增加了測試的時(shí)間，同時(shí)由于每次采集都必須在不同幀的情況下進(jìn)行，這導(dǎo)致采集幀等待的時(shí)間也增加了。
[0004]采用可編程邏輯器件直接采集24位的RGB數(shù)據(jù)，雖然可以做到24位一次采集，且無需分時(shí)采集，但是為了適應(yīng)不同顯示接口高分辨率的elk要求，在采集時(shí)需要使用高性能的可編程邏輯器件，這會(huì)增加測試平臺(tái)的成本。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題之一，在于提供一種芯片系統(tǒng)的顯示接口測試方法，通過該方法來提高芯片系統(tǒng)的顯示接口的測試速率，并降低顯示接口的測試成本。
[0006]本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)技術(shù)問題之一的:一種芯片系統(tǒng)的顯示接口測試方法，所述方法包括如下步驟:
[0007]步驟1、控制器發(fā)送預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)給待測顯示接口輸出測試信號(hào)；
[0008]步驟2、將輸出的測試信號(hào)轉(zhuǎn)換成24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)；
[0009]步驟3、將24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)合并成一組數(shù)據(jù)輸出；
[0010]步驟4、采集輸出的一組數(shù)據(jù)，將采集的數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，得出測試結(jié)果。
[0011]進(jìn)一步地，所述步驟3包括:
[0012]步驟31、將24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)平分成三組Sbit的數(shù)據(jù)或兩組12bit的數(shù)據(jù)；
[0013]步驟32、將平分的三組Sbit的數(shù)據(jù)進(jìn)行兩兩比對(duì)或兩組12bit的數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，若三組Sbit的數(shù)據(jù)或兩組12bit的數(shù)據(jù)相同，則任意選擇一組Sbit的數(shù)據(jù)或12bit的數(shù)據(jù);若不相同，則選擇一組預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)；
[0014]步驟33、將選擇的一組Sbit的數(shù)據(jù)或12bit的數(shù)據(jù)或者一組預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)輸出。
[0015]進(jìn)一步地，所述步驟4具體為:
[0016]直接采集輸出的一組Sbit或12bit數(shù)據(jù)或者一組錯(cuò)誤數(shù)據(jù)，從控制器獲取預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)，將采集到的數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)中的Sbit或12bit數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)；
[0017]若比對(duì)后結(jié)果一致，則判定該待測試接口正常；
[0018]若比對(duì)后結(jié)果不一致，則判定該待測試接口異常。
[0019]進(jìn)一步地，所述待測顯示接口包括:HDMI接口、MIPI接口、LVDS接口、EDP接口或者DP接口。
[0020]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題之二，在于提供一種芯片系統(tǒng)的顯示接口測試裝置，通過該裝置來提高芯片系統(tǒng)的顯示接口的測試速率，并降低顯示接口的測試成本。
[0021]本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)技術(shù)問題之二的:一種芯片系統(tǒng)的顯示接口測試裝置，所述裝置包括:
[0022]待測顯示接口模塊，用于控制器發(fā)送預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)給待測顯示接口輸出測試信號(hào)；
[0023]信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊，用于將輸出的測試信號(hào)轉(zhuǎn)換成24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)；
[0024]并行信號(hào)處理模塊，用于將24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)合并成一組數(shù)據(jù)輸出；
[0025]視頻采集比對(duì)模塊，用于采集輸出的一組數(shù)據(jù)，將采集的數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，得出測試結(jié)果。
[0026]進(jìn)一步地，所述并行信號(hào)處理模塊包括:
[0027]并行信號(hào)拆分單元，用于將24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)平分成三組Sbit的數(shù)據(jù)或兩組12bit的數(shù)據(jù)；
[0028]信號(hào)比對(duì)單元，用于將平分的三組Sbit的數(shù)據(jù)進(jìn)行兩兩比對(duì)或兩組12bit的數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，若三組Sbit的數(shù)據(jù)或兩組12bit的數(shù)據(jù)相同，則任意選擇一組Sbit的數(shù)據(jù)或12bit的數(shù)據(jù);若不相同，則選擇一組預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)；
[0029]信號(hào)輸出控制單元，用于將選擇的一組Sbit的數(shù)據(jù)或12bit的數(shù)據(jù)或者一組預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)輸出。
[0030]進(jìn)一步地，所述視頻采集比對(duì)模塊具體為:
[0031]直接采集輸出的一組Sbit或12bit數(shù)據(jù)或者一組錯(cuò)誤數(shù)據(jù)，從控制器獲取預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)，將采集到的數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)中的Sbit或12bit數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)；
[0032]若比對(duì)后結(jié)果一致，則判定該待測試接口正常；
[0033]若比對(duì)后結(jié)果不一致，則判定該待測試接口異常。
[0034]進(jìn)一步地，所述待測顯示接口包括:HDMI接口、MIPI接口、LVDS接口、EDP接口或者DP接口。
[0035]本發(fā)明具有如下優(yōu)點(diǎn):1、將顯示接口的24bit并行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成一組8bit或12bit數(shù)據(jù)，使得可以通過小規(guī)模的可編程邏輯器件(或通過搭建組合邏輯電路)做數(shù)據(jù)的合并，并輔助測試，不僅可以省去數(shù)據(jù)分時(shí)采集的時(shí)間，提高顯示接口的測試速率，且可以降低芯片顯示接口的測試成本;2、在測試待測顯示接口的同時(shí)，也可以批量測試視頻采集接口，可以取到一舉兩得的效果。
【附圖說明】
[0036]下面參照附圖結(jié)合實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說明。
[0037]圖1為本發(fā)明芯片系統(tǒng)的顯示接口測試裝置的結(jié)構(gòu)框圖。
[0038]圖2為本發(fā)明中并行信號(hào)處理模塊的結(jié)構(gòu)框圖。
[0039]圖3為本發(fā)明芯片系統(tǒng)的顯示接口測試方法的流程框圖。
【具體實(shí)施方式】
[0040]請(qǐng)參照?qǐng)D3所示，一種芯片系統(tǒng)的顯示接口測試方法，所述方法包括如下步驟:
[0041]步驟31、控制器發(fā)送預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)給待測顯示接口輸出測試信號(hào)；
[0042]步驟32、將輸出的測試信號(hào)轉(zhuǎn)換成24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)；
[0043]步驟33、將24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)合并成一組數(shù)據(jù)輸出；
[0044]步驟34、采集輸出的一組數(shù)據(jù)，將采集的數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，得出測試結(jié)果。
[0045]其中，所述步驟33包括:
[0046]步驟331、將24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)平分成三組8bit的數(shù)據(jù)或兩組12bit的數(shù)據(jù)；
[0047]步驟332、將平分的三組Sbit的數(shù)據(jù)進(jìn)行兩兩比對(duì)或兩組12bit的數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，若三組Sbit的數(shù)據(jù)或兩組12bit的數(shù)據(jù)相同，則任意選擇一組Sbit的數(shù)據(jù)或12bit的數(shù)據(jù)；若不相同，則選擇一組預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)；
[0048]步驟333、將選擇的一組Sbit的數(shù)據(jù)或12bit的數(shù)據(jù)或者一組預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)輸出。
[0049]所述步驟34具體為:
[0050]直接采集輸出的一組Sbit或12bit數(shù)據(jù)或者一組錯(cuò)誤數(shù)據(jù)，從控制器獲取預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)，將采集到的數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)中的Sbit或12bit數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)；
[0051]若比對(duì)后結(jié)果一致，則判定該待測試接口正常；
[0052]若比對(duì)后結(jié)果不一致，則判定該待測試接口異常。
[0053]所述待測顯示接口包括:HDMI接口、MIPI接口、LVDS接口、EDP接口或者DP接口。
[0054]請(qǐng)參照?qǐng)D1所示，一種芯片系統(tǒng)的顯示接口測試裝置，所述裝置包括:
[0055]待測顯示接口模塊12，用于控制器11發(fā)送預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)給待測顯示接口輸出測試信號(hào);
[0056]信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊13，用于將輸出的測試信號(hào)轉(zhuǎn)換成24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)；
[0057]并行信號(hào)處理模塊14，用于將24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)合并成一組數(shù)據(jù)輸出；
[0058]視頻采集比對(duì)模塊15，用于采集輸出的一組數(shù)據(jù)，將采集的數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，得出測試結(jié)果。
[0059]其中，請(qǐng)參照?qǐng)D2所示，所述并行信號(hào)處理模塊21包括:
[0060]并行信號(hào)拆分單元211，用于將24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)平分成三組Sbit的數(shù)據(jù)或兩組12bit的數(shù)據(jù)；
[0061]信號(hào)比對(duì)單元212，用于將平分的三組Sbit的數(shù)據(jù)進(jìn)行兩兩比對(duì)或兩組12bit的數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，若三組Sbit的數(shù)據(jù)或兩組12bit的數(shù)據(jù)相同，則任意選擇一組Sbit的數(shù)據(jù)或12bit的數(shù)據(jù);若不相同，則選擇一組預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)；
[0062]信號(hào)輸出控制單元213，用于將選擇的一組Sbit的數(shù)據(jù)或12bit的數(shù)據(jù)或者一組預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)輸出。
[0063]所述視頻采集比對(duì)模塊15具體為:
[0064]直接采集輸出的一組Sbit或12bit數(shù)據(jù)或者一組錯(cuò)誤數(shù)據(jù)，從控制器11獲取預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)，將采集到的數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)中的Sbit或12bit數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)；
[0065]若比對(duì)后結(jié)果一致，則判定該待測試接口正常；
[0066]若比對(duì)后結(jié)果不一致，則判定該待測試接口異常。
[0067]所述待測顯示接口包括:HDMI接口、MIPI接口、LVDS接口、EDP接口或者DP接口。
[0068]下面以將本發(fā)明應(yīng)用到SOC芯片的EDP接口的測試為具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步說明:
[0069]請(qǐng)參照?qǐng)D1所示，所述測試裝置包括:
[0070]待測顯示接口模塊12，通過控制器11發(fā)送預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)給待測EDP接口，待測EDP接口輸出測試信號(hào);在實(shí)施時(shí)，可以利用控制器11對(duì)該待測m)P接口模塊12進(jìn)行配置，以保證最終輸出的RGB格式數(shù)據(jù)的R、G、B三組8bit數(shù)據(jù)——對(duì)應(yīng)相同，如:R->0x5a G->0x5aB:->0x5a，且為了使測試的覆蓋率更全面，可以對(duì)固定輸出的數(shù)據(jù)幀進(jìn)行分割，如將屏幕輸出6條不同值的彩色條以RGB或者YUV模式輸出。
[0071]信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊13，通過控制器11控制該信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊13將輸出的測試信號(hào)轉(zhuǎn)換成24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)；本實(shí)施例采用的信號(hào)轉(zhuǎn)換方式為先將EDP轉(zhuǎn)成HDMI信號(hào)，再把HDMI信號(hào)轉(zhuǎn)成24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)，上述轉(zhuǎn)換可以分別采用PS171和ADV7611兩顆轉(zhuǎn)換芯片來實(shí)現(xiàn)，這兩顆芯片都需要控制器11通過I2C并根據(jù)實(shí)際的測試規(guī)格需求進(jìn)行軟件配置。
[0072]并行信號(hào)處理模塊14，通過控制器11控制該并行信號(hào)處理模塊14將24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)合并成一組數(shù)據(jù)輸出；本實(shí)施例可以采用MAX V型號(hào)的CPLD(也可以直接用多路選擇器和比較器)來實(shí)現(xiàn)將24bit的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)合并成I組Sbit的數(shù)據(jù)輸出。請(qǐng)重點(diǎn)參照?qǐng)D2所示，該并行信號(hào)處理模塊21包括:
[0073]并行信號(hào)拆分單元211，通過控制器11控制該并行信號(hào)拆分單元211將24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)平分成三組8bit的數(shù)據(jù)并輸入CPLD，如:
[0074]第一組:
[0075]data0\datal\data2\data3\data4\data5\data6\data7；
[0076]第二組:
[0077]data8\data9\datal0\datall\datal2\datal3\datal4\datal5；
[0078]第三組:
[0079]Datal6\datal7\datal8\datal9\data20\data21\data22\data23；
[0080]拆分的時(shí)候需要根據(jù)輸出的測試數(shù)據(jù)和采集時(shí)所支持的數(shù)據(jù)線位數(shù)來決定，本實(shí)施例采用的是Sbit的視頻采集接口，因此需要拆分成3組Sbit數(shù)據(jù)，并且要保證三組數(shù)據(jù)值時(shí)刻都保持一致。
[0081 ] 信號(hào)比對(duì)單元212，通過控制器11控制該信號(hào)比對(duì)單元212將平分的三組8bit的數(shù)據(jù)進(jìn)行兩兩比對(duì)，若三組8bit的數(shù)據(jù)相同(BPdataO = data8 = datal6 ,datal =data9 =datal7……)，則任意選擇一組Sbit的數(shù)據(jù);若不相同，則選擇一組預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)。預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)是一組測試數(shù)據(jù)中沒有的數(shù)值，這在視頻采集接口采集數(shù)據(jù)時(shí)，若出現(xiàn)某些時(shí)刻或者整幀都等于預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)時(shí)，則說明三根信號(hào)線中肯定有出錯(cuò)的。
[0082]信號(hào)輸出控制單元213，通過控制器11控制該信號(hào)輸出控制單元213將選擇的一組Sbit的數(shù)據(jù)或者一組預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)輸出。
[0083]視頻采集比對(duì)模塊15，通過控制器11控制該視頻采集比對(duì)模塊15直接采集輸出的一組Sbit或者一組錯(cuò)誤數(shù)據(jù)，并從控制器11獲取預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)，將采集到的數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)中的Sbit進(jìn)行比對(duì)；
[0084]若比對(duì)后結(jié)果不一致，且有出現(xiàn)預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)，則說明三組數(shù)據(jù)中定有部分?jǐn)?shù)據(jù)出錯(cuò)了，此時(shí)判定該待測m)P接口異常；
[0085]若比對(duì)后結(jié)果不一致，且沒有出現(xiàn)預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)，則說明三組數(shù)據(jù)同時(shí)出錯(cuò)，此時(shí)判定該待測Η)Ρ接口異常；
[0086]若比對(duì)后結(jié)果完全相同，此時(shí)判定該待測EDP接口正常。
[0087]綜上所述，本發(fā)明具有如下優(yōu)點(diǎn):1、將顯示接口的24bit并行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成一組Sbit或12bit數(shù)據(jù)，使得可以通過小規(guī)模的可編程邏輯器件(或通過搭建組合邏輯電路)做數(shù)據(jù)的合并，并輔助測試，不僅可以省去數(shù)據(jù)分時(shí)采集的時(shí)間，提高顯示接口的測試速率，且可以降低芯片顯示接口的測試成本;2、在測試待測顯示接口的同時(shí)，也可以批量測試視頻采集接口，可以取到一舉兩得的效果。
[0088]雖然以上描述了本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】，但是熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，我們所描述的具體的實(shí)施例只是說明性的，而不是用于對(duì)本發(fā)明的范圍的限定，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員在依照本發(fā)明的精神所作的等效的修飾以及變化，都應(yīng)當(dāng)涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求所保護(hù)的范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種芯片系統(tǒng)的顯示接口測試方法，其特征在于:包括如下步驟: 步驟1、控制器發(fā)送預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)給待測顯示接口輸出測試信號(hào)； 步驟2、將輸出的測試信號(hào)轉(zhuǎn)換成24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)； 步驟3、將24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)合并成一組數(shù)據(jù)輸出； 步驟4、采集輸出的一組數(shù)據(jù)，將采集的數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，得出測試結(jié)果O2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片系統(tǒng)的顯示接口測試方法，其特征在于:所述步驟3包括: 步驟31、將24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)平分成三組Sbit的數(shù)據(jù)或兩組12bit的數(shù)據(jù)； 步驟32、將平分的三組Sbit的數(shù)據(jù)進(jìn)行兩兩比對(duì)或兩組12bit的數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，若三組Sbit的數(shù)據(jù)或兩組12bit的數(shù)據(jù)相同，則任意選擇一組Sbit的數(shù)據(jù)或12bit的數(shù)據(jù);若不相同，則選擇一組預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)； 步驟33、將選擇的一組Sbit的數(shù)據(jù)或12bit的數(shù)據(jù)或者一組預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)輸出。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種芯片系統(tǒng)的顯示接口測試方法，其特征在于:所述步驟4具體為: 直接采集輸出的一組Sbit或12bit數(shù)據(jù)或者一組錯(cuò)誤數(shù)據(jù)，從控制器獲取預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)，將采集到的數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)中的Sbit或12bit數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)； 若比對(duì)后結(jié)果一致，則判定該待測試接口正常； 若比對(duì)后結(jié)果不一致，則判定該待測試接口異常。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片系統(tǒng)的顯示接口測試方法，其特征在于:所述待測顯示接口包括:HDMI接口、MIPI接口、LVDS接口、EDP接口或者DP接口。5.一種片系統(tǒng)的顯示接口測試裝置，其特征在于:所述裝置包括: 待測顯示接口模塊，用于控制器發(fā)送預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)給待測顯示接口輸出測試信號(hào)； 信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊，用于將輸出的測試信號(hào)轉(zhuǎn)換成24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)； 并行信號(hào)處理模塊，用于將24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)合并成一組數(shù)據(jù)輸出； 視頻采集比對(duì)模塊，用于采集輸出的一組數(shù)據(jù)，將采集的數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，得出測試結(jié)果。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種芯片系統(tǒng)的顯示接口測試裝置，其特征在于:所述并行信號(hào)處理模塊包括: 并行信號(hào)拆分單元，用于將24bit并行的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)平分成三組Sbit的數(shù)據(jù)或兩組12bit的數(shù)據(jù)； 信號(hào)比對(duì)單元，用于將平分的三組Sbit的數(shù)據(jù)進(jìn)行兩兩比對(duì)或兩組12bit的數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，若三組Sbit的數(shù)據(jù)或兩組12bit的數(shù)據(jù)相同，則任意選擇一組Sbit的數(shù)據(jù)或12bit的數(shù)據(jù);若不相同，則選擇一組預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)； 信號(hào)輸出控制單元，用于將選擇的一組Sbit的數(shù)據(jù)或12bit的數(shù)據(jù)或者一組預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)輸出。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種芯片系統(tǒng)的顯示接口測試裝置，其特征在于:所述視頻采集比對(duì)模塊具體為: 直接采集輸出的一組Sbit或12bit數(shù)據(jù)或者一組錯(cuò)誤數(shù)據(jù)，從控制器獲取預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)，將采集到的數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)的輸出數(shù)據(jù)中的Sbit或12bit數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)； 若比對(duì)后結(jié)果一致，則判定該待測試接口正常； 若比對(duì)后結(jié)果不一致，則判定該待測試接口異常。8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種芯片系統(tǒng)的顯示接口測試裝置，其特征在于:所述待測顯示接口包括:HDMI接口、MIPI接口、LVDS接口、EDP接口或者DP接口。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK105891638SQ201610235826
【公開日】2016年8月24日
【申請(qǐng)日】2016年4月15日
【發(fā)明人】劉梅英
【申請(qǐng)人】福州瑞芯微電子股份有限公司