拉拔測試機(jī)構(gòu)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ]本發(fā)明描述一種拉拔測試機(jī)構(gòu)，尤指一種鍵帽的拉拔測試機(jī)構(gòu)。
【背景技術(shù)】
[0002]—般來說，鍵帽會因組裝不良以及結(jié)合力不足等情況而發(fā)生脫落，為了確保鍵帽組裝在鍵盤上后可與鍵盤穩(wěn)定的結(jié)合在一起，防止使用過程中鍵帽發(fā)生脫離，需要對鍵帽進(jìn)行拉拔力測試，即需要對每個鍵帽的結(jié)合情況進(jìn)行逐一檢查，從而保證鍵盤的質(zhì)量。
[0003]現(xiàn)有的對鍵帽進(jìn)行拉拔測試的裝置采用撥片以預(yù)設(shè)的力來拉拔鍵帽，其測試的原理為:撥片設(shè)置于鍵帽與鍵盤之間，且撥片與鍵帽的底部(鍵帽朝向底板的部位)相配合，藉由撥片對鍵帽施加一預(yù)設(shè)的作用力，并根據(jù)鍵帽在該作用力的作用下是否能脫離鍵盤，來判斷鍵帽的拉拔力是否符合標(biāo)準(zhǔn)，其中，若鍵帽在預(yù)設(shè)的作用力下脫離鍵盤，則判斷該鍵帽的拉拔力測試不合格，相反的，若鍵帽在預(yù)設(shè)的作用力下仍能固定在鍵盤，則判斷拉拔力測試合格。然而，目前，為了檢測效率的提升，通常使用同一撥片檢測多個鍵帽，且與檢測時，撥片以固定的方式安裝在支架上，在進(jìn)行鍵帽的拉拔力測試時，撥片隨著支架的移動在鍵帽之間移動，并與鍵帽之間滑動摩擦，但是由于撥片與支架采用固定連接，撥片與鍵帽之間摩擦力大，摩擦面小，且因撥片與多個鍵帽相接觸的部位是固定的，因此使得撥片的磨損嚴(yán)重，使用壽命較短，例如，一般4個小時，從而提高了成本。且對于工作人員而言，工作人員需要經(jīng)常更換撥片，提高了工作人員的勞動強(qiáng)度和人力成本。
[0004]因此，有必要提供一種新的拉拔測試機(jī)構(gòu)，以克服上述缺陷。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的在于提供一種拉拔測試機(jī)構(gòu)，其測試片與鍵帽之間采用滾動摩擦，減小了該測試片的磨損，延長了測試片的使用壽命。
[0006]為達(dá)上述目的，本發(fā)明提供一種拉拔測試機(jī)構(gòu)，用于檢測待測試裝置的待測試元件的拉拔力，該待測試裝置具有本體和設(shè)置于該本體上的沿第一方向排列的至少一行待測試元件，該拉拔測試機(jī)構(gòu)包含:
[0007]支架；
[0008]測試片，設(shè)置在該支架上且與該支架樞接，以使該測試片相對該支架轉(zhuǎn)動；
[0009]其中，當(dāng)該支架相對該待測試元件沿該第一方向移動時，該測試片與一行待測試元件滾動接觸且在接觸時該測試片抵頂該待測試元件，以施加第二方向上的拉拔力于該待測試元件上，當(dāng)該待測試元件與該本體的實(shí)際結(jié)合力小于該拉拔力時，該待測試元件脫離該本體，其中，該第二方向?yàn)樵摯郎y試元件脫離該本體的方向。
[0010]較佳的，該支架上具有兩個支撐部和轉(zhuǎn)軸，該兩個支撐部之間具有容置空間以容置該測試片，該測試片具有通孔以及相背的第一表面與第二表面，該通孔貫穿該第一表面和該第二表面，該轉(zhuǎn)軸穿設(shè)該通孔且該轉(zhuǎn)軸的兩端分別與該兩個支撐部固定連接，以使該測試片可相對該支架繞該轉(zhuǎn)軸的軸心旋轉(zhuǎn)。[0011 ]較佳的，該一行待測試元件包括相鄰的第一待測試元件和第二待測試元件，當(dāng)該支架沿該第一方向移動時，該測試片依次與該第一待測試元件和該第二待測試元件滾動接觸，且接觸該第一待測試元件的該測試片的部位與接觸該第二待測試元件的該待測試片的部位不同。
[0012]較佳的，當(dāng)該支架沿該第一方向移動時，該測試片相對該待測試裝置所在的平面傾斜第一預(yù)設(shè)角度，以向該待測試元件提供該第二方向上的拉拔力，其中，該第一預(yù)設(shè)角度小于90度大于等于O度。
[0013]較佳的，該第一預(yù)設(shè)角度為45度。
[0014]較佳的，該待測試元件具有向第三方向延伸的凸起部，當(dāng)該測試片與該待測試元件接觸時，該測試片位于該凸起部和該本體之間且抵頂該凸起部，以向該待測試元件提供該第二方向上的拉拔力，其中，該第三方向平行于該待測試裝置所在的平面;或者，該待測試元件與該本體之間具有第一間隙，當(dāng)該測試片與該待測試元件接觸時，該測試片位于該第一間隙內(nèi)且該測試片抵頂該待測試元件，以向該待測試元件提供該第二方向上的拉拔力。
[0015]較佳的，該測試片為圓形，該測試片于其圓心位置處與該支架樞接，該測試片繞該圓心轉(zhuǎn)動。
[0016]較佳的，該測試片中心區(qū)域的厚度大于其邊緣區(qū)域的厚度，其中該中心區(qū)域指的是接近該圓心的位置，邊緣區(qū)域?yàn)檫h(yuǎn)離圓心的位置。
[0017]較佳的，還包括底座，該底座用于放置待檢測的待測試裝置，該支架設(shè)置于該底座上。
[0018]較佳的，當(dāng)該支架相對該待測試元件沿該第一方向移動時，該測試片與該待測試裝置接觸，使得該測試片受該待測試裝置施加的摩擦力而產(chǎn)生滾動;或者，拉拔測試機(jī)構(gòu)還包括第一驅(qū)動電機(jī)，該第一驅(qū)動電機(jī)帶動該測試片相對該支架旋轉(zhuǎn)。
[0019]較佳的，拉拔測試機(jī)構(gòu)還包括第二驅(qū)動電機(jī)，該第二驅(qū)動電機(jī)驅(qū)動該支架沿該第一方向勾速移動。
[0020]較佳的，該待測試裝置為鍵盤，該待測試元件為鍵帽。
[0021]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供一種拉拔測試機(jī)構(gòu)，包含支架和測試片，該測試片設(shè)置在該支架上且與該支架樞接，以使該測試片相對該支架轉(zhuǎn)動，當(dāng)該支架相對該待測試裝置沿該待測試元件的排列方向移動時，該測試片與一行待測試元件滾動接觸且在接觸時該測試片抵頂該待測試元件，以施加第二方向上的拉拔力于該待測試元件上，以測試該待測試元件的結(jié)合強(qiáng)度，當(dāng)該待測試元件與該本體的實(shí)際結(jié)合力小于該拉拔力時，該待測試元件脫離該本體，當(dāng)該待測試元件與該本體的實(shí)際結(jié)合力大于等于該拉拔力時，該待測試元件維持結(jié)合于該本體，且，該測試片與該鍵帽之間是滾動接觸，該測試片所受的摩擦力為滾動摩擦力，因此該測試片所受的摩擦力較小且摩擦區(qū)域較大，大大降低了該測試片的磨損，延長了該測試片的使用壽命，降低了成本，同時也大大降低了測試片的更換頻率，降低工作人員的勞動強(qiáng)度。
【附圖說明】
[0022]圖1為本發(fā)明實(shí)施例的拉拔測試機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0023]圖2為本發(fā)明實(shí)施例的拉拔測試機(jī)構(gòu)的工作狀態(tài)意圖。
[0024]圖3為本發(fā)明實(shí)施例的拉拔測試機(jī)構(gòu)的局部結(jié)構(gòu)示意圖。
[0025]圖4為本發(fā)明實(shí)施例的拉拔測試機(jī)構(gòu)于另一方向的局部結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0026]為使對本發(fā)明的目的、構(gòu)造、特征、及其功能有進(jìn)一步的了解，茲配合實(shí)施例詳細(xì)說明如下。
[0027]參照圖1至圖4所示，揭示了本發(fā)明拉拔測試機(jī)構(gòu)100的結(jié)構(gòu)示意圖。圖1為本發(fā)明實(shí)施例的拉拔測試機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖，圖2為本發(fā)明實(shí)施例的拉拔測試機(jī)構(gòu)的工作狀態(tài)意圖，圖3為本發(fā)明實(shí)施例的拉拔測試機(jī)構(gòu)的局部結(jié)構(gòu)示意圖，圖4為本發(fā)明實(shí)施例的拉拔測試機(jī)構(gòu)于另一方向的局部結(jié)構(gòu)示意圖。本發(fā)明拉拔測試機(jī)構(gòu)100用于檢測待測試裝置的待測試元件的拉拔力，本實(shí)施例中，該待測試裝置為鍵盤10，該待測試元件為鍵帽101，但不以此為限，拉拔測試機(jī)構(gòu)100亦可以用于檢測其它元件與其本體的結(jié)合牢固程度，具體由設(shè)計人員根據(jù)實(shí)際情況而定，在此不再贅述。其中，鍵盤10具有本體102和設(shè)置于本體102上的沿第一方向排列的至少一行鍵帽101，較佳的，該第一方向平行于該本體102所在的平面，但不以此為限。
[0028]本發(fā)明拉拔測試機(jī)構(gòu)100包含支架11和測試片12，測試片12設(shè)置在支架11上且與支架11樞接，以使測試片12可相對支架11轉(zhuǎn)動;其中，當(dāng)支架11相對鍵盤1沿第一方向Fl移動時，測試片12與一行鍵帽101滾動接觸，且在接觸時測試片12抵頂鍵帽101，以施加第二方向上的拉拔力于鍵帽101上，若鍵帽101與本體102的實(shí)際結(jié)合力小于該拉拔力時鍵帽101會脫離本體102，若鍵帽101與本體102的實(shí)際結(jié)合力大于等于該拉拔力，則鍵帽101會維持結(jié)合于本體102上，以此測試鍵帽101與本體102的結(jié)合力是否滿足要求，其中，該第二方向?yàn)殒I帽101脫離本體102的方向，例如為垂直于本體102所在平面的方向F2，但不以此為限。本發(fā)明中，因測試片12與鍵帽101是滾動接觸，因此，本發(fā)明測試片所受的摩擦力為滾動摩擦力，較傳統(tǒng)的拉拔測試機(jī)構(gòu)的測試片所受的滑動摩擦力，本發(fā)明測試片12所受的摩擦力較小;且檢測過程中，因測試片12與鍵帽的接觸部位是沿測試片的邊緣變化，使得測試片12的實(shí)際承受的摩擦力的面積也較大，大大降低了測試片12的局部部位磨損，延長了測試片12整體的使用壽命，降低了使用成本，同時也大大降低了測試片12的更換頻率，降低工作人員的勞動強(qiáng)度。
[0029]進(jìn)一步的，如圖1和圖2所示，支架11上具有兩個支撐部111和轉(zhuǎn)軸112，兩個支撐部111之間具有容置空間以容置測試片12，測試片12具有通孔121以及相背的第一表面124和第二表面125，通孔121貫穿第一表面124和第二表面125，轉(zhuǎn)軸112穿設(shè)通孔121，且轉(zhuǎn)軸112的兩端分別與兩個支撐部111固定連接，以使測試片12相對支架11繞轉(zhuǎn)軸112的軸心旋轉(zhuǎn)。從而使得，當(dāng)支架11沿該第一方向移動時，測試片12與每一行的多個鍵帽101之間始終滾動接觸，測試片12上與鍵帽相接觸位置不斷變化，以增大接觸面積、減小摩擦力，從而減小測試片12的磨損，延長使用壽命。例如圖1和圖2所示，一行鍵帽101包括相鄰的第一鍵帽1011和第二鍵帽1012，當(dāng)支架11沿該第一方向移動時，測試片12與一行鍵帽101滾動接觸，測試片12依次與第一鍵帽1011和第二鍵帽1012滾動接觸，且測試片12接觸第一