.350納 米，-0. 300納米]的顏色為深藍(lán)，公差區(qū)間[-0. 300納米，-0. 250納米]的顏色為天藍(lán)，公 差區(qū)間[0. 250納米，0. 300納米]的顏色為粉紅，公差區(qū)間[0. 300納米，0. 350納米]的顏 色為深紅，大于允許的最大上公差值的公差區(qū)間[0.300納米，+-]的顏色為紫色，小于允 許的最大下公差值的公差區(qū)間350納米]的顏色為咖啡色。所述生成模塊106根 據(jù)每個(gè)Η角形的料厚偏差值所在的公差區(qū)間及顏色公差帶標(biāo)示每個(gè)Η角形的顏色，如圖8 所示。需要說明的是，圖8中是待測工件Η角網(wǎng)格化后的部分圖形。當(dāng)點(diǎn)云中所有Η角形 的顏色標(biāo)示完成后，生成完成的檢測報(bào)告，如圖9所示。檢測報(bào)告中還列出待測工件中每個(gè) 區(qū)域的偏差值。在其它實(shí)施例中，檢測報(bào)告也可表格或文本的形式呈現(xiàn)，例如，生成一 個(gè)TXT格式的文件，該文件記錄所述待測工件的料厚信息。
[0051] 最后所應(yīng)說明的是，W上實(shí)施例僅用W說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參 照W上較佳實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可W對(duì)本 發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的精神和范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種產(chǎn)品料厚三維分析系統(tǒng)，該系統(tǒng)運(yùn)行于主機(jī)中，其特征在于，所述主機(jī)與三維掃 描儀連接，該系統(tǒng)包括： 獲取模塊，用于通過所述三維掃描儀的電荷耦合裝置對(duì)待測工件進(jìn)行掃描，以得到待 測工件的點(diǎn)云； 三角網(wǎng)格化模塊，用于對(duì)所述點(diǎn)云進(jìn)行三角網(wǎng)格化處理； 計(jì)算模塊，用于確定三角網(wǎng)格化后的點(diǎn)云中每一個(gè)正面三角形及對(duì)應(yīng)的反面三角形； 所述計(jì)算模塊，還用于根據(jù)所述每一個(gè)正面三角形及對(duì)應(yīng)的反面三角形計(jì)算待測工件 的料厚偏差數(shù)組； 所述計(jì)算模塊，還用于根據(jù)所述待測工件的料厚偏差數(shù)組計(jì)算待測工件的料厚信息； 及 生成模塊，用于根據(jù)所述待測工件的料厚信息及顏色公差帶生成檢測報(bào)告。2. 如權(quán)利要求1所述的產(chǎn)品料厚三維分析系統(tǒng)，其特征在于，所述對(duì)所述點(diǎn)云進(jìn)行三 角網(wǎng)格化處理的方式如下： 所述點(diǎn)云中的任意三個(gè)點(diǎn)進(jìn)行連線組成三角形，其中，所述三角形的外接圓內(nèi)不包含 點(diǎn)云中除組成該三角形的三點(diǎn)之外的其它點(diǎn)，且所述三角形的向量與所有與該三角形相鄰 的三角形的向量的夾角不超過預(yù)設(shè)的曲率閾值。3. 如權(quán)利要求2所述的產(chǎn)品料厚三維分析系統(tǒng)，其特征在于，所述三角形與與其相鄰 的三角形有共同邊。4. 如權(quán)利要求2所述的產(chǎn)品料厚三維分析系統(tǒng)，其特征在于，所述組成三角形的方式 如下：取點(diǎn)云中任意一點(diǎn)為基準(zhǔn)點(diǎn)，尋找與該基準(zhǔn)點(diǎn)距離最近的第二點(diǎn)，該第二點(diǎn)與基準(zhǔn)點(diǎn) 的距離小于預(yù)設(shè)的第一閾值，將基準(zhǔn)點(diǎn)與第二點(diǎn)連成線，尋找與基準(zhǔn)點(diǎn)與第二點(diǎn)的連線臨 近的第三點(diǎn)，基準(zhǔn)點(diǎn)、第二點(diǎn)與第三點(diǎn)連成的三角形的外接圓中不包含點(diǎn)云中除組成該三 角形的三點(diǎn)之外的其它點(diǎn)。5. 如權(quán)利要求2所述的產(chǎn)品料厚三維分析系統(tǒng)，其特征在于，所述正面三角形與對(duì)應(yīng) 的反面三角形滿足以下條件：正面三角形的向量的方向朝上，對(duì)應(yīng)的反面三角形的向量的 方向朝下，且正面三角形與對(duì)應(yīng)的反面三角形之間的距離小于預(yù)設(shè)的第二閾值。6. 如權(quán)利要求5所述的產(chǎn)品料厚三維分析系統(tǒng)，其特征在于，所述計(jì)算待測工件的料 厚偏差數(shù)組的方式如下： 計(jì)算每個(gè)正面三角形與對(duì)應(yīng)的反面三角形之間的距離； 將該距離與理論距離進(jìn)行比較，得到每個(gè)三角形的料厚偏差值；及 將所有三角形的料厚偏差值組成一個(gè)數(shù)組，形成料厚偏差數(shù)組。7. 如權(quán)利要求6所述的產(chǎn)品料厚三維分析系統(tǒng)，其特征在于，所述顏色公差帶包括多 個(gè)公差區(qū)間及每個(gè)公差區(qū)間對(duì)應(yīng)的顏色。8. 如權(quán)利要求7所述的產(chǎn)品料厚三維分析系統(tǒng)，其特征在于，所述生成模塊，還用于根 據(jù)每個(gè)三角形的料厚偏差值所在的公差區(qū)間及顏色公差帶標(biāo)示每個(gè)三角形的顏色。9. 一種產(chǎn)品料厚三維分析方法，該方法運(yùn)用于主機(jī)中，其特征在于，所述主機(jī)與三維掃 描儀連接，該方法包括如下步驟： 通過所述三維掃描儀的電荷耦合裝置對(duì)待測工件進(jìn)行掃描，以得到待測工件的點(diǎn)云； 對(duì)所述點(diǎn)云進(jìn)行三角網(wǎng)格化處理； 確定三角網(wǎng)格化后的點(diǎn)云中每一個(gè)正面三角形及對(duì)應(yīng)的反面三角形； 根據(jù)所述每一個(gè)正面三角形及對(duì)應(yīng)的反面三角形計(jì)算待測工件的料厚偏差數(shù)組； 根據(jù)所述待測工件的料厚偏差數(shù)組計(jì)算待測工件的料厚信息；及 根據(jù)所述待測工件的料厚信息及顏色公差帶生成檢測報(bào)告。10. 如權(quán)利要求9所述的產(chǎn)品料厚三維分析方法，所述對(duì)所述點(diǎn)云進(jìn)行三角網(wǎng)格化處 理的方式如下： 所述點(diǎn)云中的任意三個(gè)點(diǎn)進(jìn)行連線組成三角形，其中，所述三角形的外接圓內(nèi)不包含 點(diǎn)云中除組成該三角形的三點(diǎn)之外的其它點(diǎn)，且所述三角形的向量與所有與該三角形相鄰 的三角形的向量的夾角不超過預(yù)設(shè)的曲率閾值。11. 如權(quán)利要求10所述的產(chǎn)品料厚三維分析方法，其特征在于，所述三角形與與其相 鄰的三角形有共同邊。12. 如權(quán)利要求10所述的產(chǎn)品料厚三維分析方法，其特征在于，所述組成三角形的方 式如下：取點(diǎn)云中任意一點(diǎn)為基準(zhǔn)點(diǎn)，尋找與該基準(zhǔn)點(diǎn)距離最近的第二點(diǎn)，該第二點(diǎn)與基準(zhǔn) 點(diǎn)的距離小于預(yù)設(shè)的第一閾值，將基準(zhǔn)點(diǎn)與第二點(diǎn)連成線，尋找與基準(zhǔn)點(diǎn)與第二點(diǎn)的連線 臨近的第三點(diǎn)，基準(zhǔn)點(diǎn)、第二點(diǎn)與第三點(diǎn)連成的三角形的外接圓中不包含點(diǎn)云中除組成該 三角形的三點(diǎn)之外的其它點(diǎn)。13. 如權(quán)利要求10所述的產(chǎn)品料厚三維分析方法，其特征在于，所述正面三角形與對(duì) 應(yīng)的反面三角形滿足以下條件：正面三角形的向量的方向朝上，對(duì)應(yīng)的反面三角形的向量 的方向朝下，且正面三角形與對(duì)應(yīng)的反面三角形之間的距離小于預(yù)設(shè)的第二閾值。14. 如權(quán)利要求13所述的產(chǎn)品料厚三維分析方法，其特征在于，所述計(jì)算待測工件的 料厚偏差數(shù)組的方式如下： 計(jì)算每個(gè)正面三角形與對(duì)應(yīng)的反面三角形之間的距離； 將該距離與理論距離進(jìn)行比較，得到每個(gè)三角形的料厚偏差值；及 將所有三角形的料厚偏差值組成一個(gè)數(shù)組，形成料厚偏差數(shù)組。15. 如權(quán)利要求14所述的產(chǎn)品料厚三維分析方法，其特征在于，所述顏色公差帶包括 多個(gè)公差區(qū)間及每個(gè)公差區(qū)間對(duì)應(yīng)的顏色。16. 如權(quán)利要求15所述的產(chǎn)品料厚三維分析方法，其特征在于，所述產(chǎn)品料厚三維分 析方法還包括如下步驟： 根據(jù)每個(gè)三角形的料厚偏差值所在的公差區(qū)間及顏色公差帶標(biāo)示每個(gè)三角形的顏色。
【專利摘要】一種產(chǎn)品料厚三維分析方法，該方法運(yùn)用于主機(jī)中，所述主機(jī)與三維掃描儀連接，該方法包括如下步驟：通過所述三維掃描儀的電荷耦合裝置對(duì)待測工件進(jìn)行掃描，以得到待測工件的點(diǎn)云；對(duì)所述點(diǎn)云進(jìn)行三角網(wǎng)格化處理；計(jì)算三角網(wǎng)格化后的點(diǎn)云中每一個(gè)正面三角形及對(duì)應(yīng)的反面三角形；根據(jù)所述每一個(gè)正面三角形及對(duì)應(yīng)的反面三角形計(jì)算待測工件的料厚偏差數(shù)組；根據(jù)所述待測工件的料厚偏差數(shù)組計(jì)算待測工件的料厚信息；根據(jù)所述待測工件的料厚信息及顏色公差帶生成檢測報(bào)告。本發(fā)明還提供一種產(chǎn)品料厚三維分析系統(tǒng)。利用本發(fā)明可以對(duì)產(chǎn)品的整個(gè)形面進(jìn)行三維量測，提高了量測效率和量測精度。
【IPC分類】G06T7/00, G01B11/06
【公開號(hào)】CN105627935
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201410614825
【發(fā)明人】張旨光, 吳新元
【申請(qǐng)人】富泰華工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司
【公開日】2016年6月1日
【申請(qǐng)日】2014年11月4日
【公告號(hào)】US20160123722