用于環(huán)境測(cè)試的測(cè)試設(shè)備及方法
【專利說明】用于環(huán)境測(cè)試的測(cè)試設(shè)備及方法
[0001]
技術(shù)領(lǐng)域
[0002]本發(fā)明涉及電測(cè)試領(lǐng)域，特別涉及用于環(huán)境測(cè)試的測(cè)試設(shè)備及方法。
[0003]
【背景技術(shù)】
[0004]設(shè)計(jì)師使用新的元器件前，需要知道此款元器件的真實(shí)性能和它的典型使用方法，應(yīng)用驗(yàn)證的任務(wù)是在設(shè)計(jì)師使用這款元器件前，預(yù)先搭建此元器件的典型應(yīng)用線路，對(duì)于數(shù)字芯片還需編寫相應(yīng)的軟件，使此元器件能夠進(jìn)入運(yùn)行，并對(duì)元器件的以及它們外圍電路的狀態(tài)(模擬量，數(shù)字量)進(jìn)行記錄和評(píng)估。評(píng)估結(jié)果對(duì)設(shè)計(jì)師決定是否采用此芯片提供參考。
[0005]驗(yàn)證元器件需要一個(gè)測(cè)試設(shè)備。測(cè)試設(shè)備的功能是對(duì)元器件給出激勵(lì)信號(hào)(模擬量或數(shù)字量)，采集、顯示并分析元器件的輸出信號(hào)(模擬量或數(shù)字量)。測(cè)試設(shè)備需要具備的具體功能包括:模擬信號(hào)/數(shù)字信號(hào)的激勵(lì)，模擬信號(hào)的采集，數(shù)字信號(hào)的讀取，數(shù)據(jù)傳輸，數(shù)據(jù)的顯示和分析。現(xiàn)有技術(shù)中，待測(cè)元器件是通過直插接口直接與測(cè)試設(shè)備連接，進(jìn)行測(cè)試;但是環(huán)境測(cè)試需要在非常規(guī)環(huán)境下對(duì)被測(cè)對(duì)象進(jìn)行電測(cè)試。測(cè)試設(shè)備一般電路規(guī)模較大，在嚴(yán)酷的目標(biāo)環(huán)境中，難以保證測(cè)試設(shè)備本身在目標(biāo)環(huán)境中不出現(xiàn)異常。因此常規(guī)的測(cè)試設(shè)備都只能進(jìn)行電性能測(cè)試。
[0006]

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明解決的問題是，現(xiàn)有的測(cè)試設(shè)備不能用于環(huán)境嚴(yán)酷的環(huán)境測(cè)試;為解決所述問題，本發(fā)明提供一種用于環(huán)境測(cè)試的測(cè)試設(shè)備及方法。
[0008]本發(fā)明提供的用于環(huán)境測(cè)試的測(cè)試設(shè)備包括:設(shè)備板和轉(zhuǎn)接板，所述設(shè)備板包括第一直插接口和第一線纜接口，所述轉(zhuǎn)接板包括第二直插接口和第二線纜接口，設(shè)備板具有測(cè)試設(shè)備的電路。
[0009]進(jìn)一步，所述第一直插接口和第一線纜接口之間連接有第一驅(qū)動(dòng)與變壓芯片;第二直插接口和第二線纜接口之間連接有第二驅(qū)動(dòng)與變壓芯片。
[0010]進(jìn)一步，所述轉(zhuǎn)接板置于環(huán)境測(cè)試箱內(nèi)。
[0011 ]進(jìn)一步，第一直插接口和第一線纜接口之間連接有第一驅(qū)動(dòng)與變壓芯片，第二直插接口和第二線纜接口之間安裝有上拉電阻。
[0012]本發(fā)明還提供所述的用于環(huán)境測(cè)試的測(cè)試設(shè)備的測(cè)試方法，在進(jìn)行環(huán)境測(cè)試時(shí)，包括:
步驟一、將被測(cè)板連接于轉(zhuǎn)接板，并將被測(cè)板與轉(zhuǎn)接板置于環(huán)境測(cè)試箱內(nèi)；
步驟二、利用線纜通過第一線纜接口和第二線纜接口連接設(shè)備板與轉(zhuǎn)接板；
步驟三、開始測(cè)試。
[0013]進(jìn)一步，在進(jìn)行常規(guī)測(cè)試時(shí)，被測(cè)板通過直插接口與設(shè)備板連接。
[0014]本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)包括:
在進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)時(shí)，測(cè)試設(shè)備仍然置于常規(guī)環(huán)境中，被測(cè)對(duì)象置于目標(biāo)環(huán)境中，從而避免了嚴(yán)酷的測(cè)試環(huán)境對(duì)測(cè)試設(shè)備造成損壞。
[0015]設(shè)備板與它們之間通過線纜連接，通過在直插接口與線纜接口之間安裝驅(qū)動(dòng)芯片，使信號(hào)具備較強(qiáng)的驅(qū)動(dòng)能力。
[0016]在進(jìn)行電性能測(cè)試時(shí)，采用直插連接，測(cè)試設(shè)備的各主要模塊不經(jīng)驅(qū)動(dòng)芯片直接連到了被測(cè)對(duì)象，因此沒有額外的傳輸延時(shí)。
[0017]由于有時(shí)需要探索被測(cè)對(duì)象的極限電源電壓，此時(shí)，設(shè)備板上主控芯片輸出的數(shù)字信號(hào)的高電平電壓仍然與被測(cè)對(duì)象正常工作時(shí)的電壓一致。但被測(cè)對(duì)象由于輸入電源已不是它正常工作的電源，它的信號(hào)的高電平電壓也隨之改變。測(cè)試設(shè)備和被測(cè)對(duì)象高電平電壓的不一致導(dǎo)致它們不能之間相連，必須通過變壓措施把它們的高電平電壓調(diào)節(jié)為一致，我們?cè)O(shè)備上的驅(qū)動(dòng)與變壓芯片起到了水壩的作用。
[0018]
【附圖說明】
[0019]圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的用于環(huán)境測(cè)試的測(cè)試設(shè)備與被測(cè)板的直插式連接示意圖；
圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的用于環(huán)境測(cè)試的測(cè)試設(shè)備與被測(cè)板采用線纜連接的示意圖；
圖3為設(shè)備板上的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖4為轉(zhuǎn)接板結(jié)構(gòu)示意圖。
[0020]
【具體實(shí)施方式】
[0021]下文中，結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步闡述。
[0022]結(jié)合參考圖1至圖4，本發(fā)明實(shí)施例提供的用于環(huán)境測(cè)試的測(cè)試設(shè)備包括:設(shè)備板03和轉(zhuǎn)接板08，所述設(shè)備板03包括第一直插接口 031和第一線纜接口 05，所述轉(zhuǎn)接板08包括第二直插接口 081和第二線纜接口 09，設(shè)備板03具有測(cè)試電路。
[0023]如圖1所示，通過電腦01對(duì)設(shè)備板03進(jìn)行控制，執(zhí)行測(cè)試操作。電源板04對(duì)被測(cè)板02和設(shè)備板03提供電源。在進(jìn)行常規(guī)電測(cè)試時(shí)，所述被測(cè)板02直接通過直插接口與設(shè)備板03進(jìn)行電連接。
[0024]如圖2所示，在進(jìn)行環(huán)境測(cè)試時(shí)，所述被測(cè)板02與轉(zhuǎn)接板連接后，置于環(huán)境實(shí)驗(yàn)箱07，轉(zhuǎn)接板的第二線纜接口 09與設(shè)備板的第一設(shè)備接口通過線纜連接，從而實(shí)現(xiàn)被測(cè)板與設(shè)備板的連接，而設(shè)備板與電源板置于常溫環(huán)境下，從而避免了嚴(yán)酷環(huán)境造成設(shè)備板不能正常工作或損壞。
[0025]結(jié)合參考圖3和圖4，所述第一線纜接口包括第一數(shù)字接口051、第一模擬接口 052、第一電源接口 053;所述第二線纜接口包括第二數(shù)字接口 091、第二模擬接口 092、第二電源接口 093;連接時(shí)，對(duì)應(yīng)接口一一連接。
[0026]通過線纜連接設(shè)備板與轉(zhuǎn)接板時(shí)，測(cè)試設(shè)備端和被測(cè)對(duì)象端需要有足夠強(qiáng)的驅(qū)動(dòng)能力，繼續(xù)參考圖3和圖4，在本實(shí)施例中，當(dāng)使用線纜連接時(shí)，所述第一直插接口031和第一線纜接口 05之間連接有第一驅(qū)動(dòng)與變壓芯片032 ；第二直插接口 081和第二線纜接口 09之間連接有第二驅(qū)動(dòng)與變壓芯片082。所述第一驅(qū)動(dòng)與變壓芯片、第二驅(qū)動(dòng)與變壓芯片采用16T245芯片。在其他實(shí)施例中，還可以采用它他驅(qū)動(dòng)與變壓芯片或者上拉電阻提高驅(qū)動(dòng)能力。
[0027]在本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例中，第一直插接口和第一線纜接口之間連接有第一驅(qū)動(dòng)與變壓芯片，第二直插接口和第二線纜接口之間安裝上拉電阻，所述上拉電阻的阻值為3?10千歐，上拉電阻具有提高驅(qū)動(dòng)能力的作用，但沒有變壓的作用，經(jīng)過實(shí)踐發(fā)現(xiàn)，上拉電阻與第一驅(qū)動(dòng)與變壓芯片的組合可靠性最高，軟件兼容度最高。
[0028]在進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)時(shí)，測(cè)試設(shè)備上各數(shù)字信號(hào)首先通過驅(qū)動(dòng)芯片，然后再傳輸至環(huán)境試驗(yàn)箱中的轉(zhuǎn)接板;轉(zhuǎn)接板把第二數(shù)字接口、第二模擬接口、第二電源接口重新合并為直插接口，被測(cè)對(duì)象直插在轉(zhuǎn)接板上。所述環(huán)境試驗(yàn)箱置于目標(biāo)環(huán)境中，環(huán)境試驗(yàn)箱固定轉(zhuǎn)接板和被測(cè)板，環(huán)境試驗(yàn)箱具有抗震性和導(dǎo)熱性，可以防止振動(dòng)測(cè)試過程中，被測(cè)板和轉(zhuǎn)接板分離，并且可以起到熱傳遞的作用。信號(hào)的傳輸方向是雙向的，與設(shè)備板類似，在轉(zhuǎn)接板上，第二線纜接口和第二直插接口之間的驅(qū)動(dòng)與變壓芯片增強(qiáng)了從被測(cè)對(duì)象到測(cè)試設(shè)備方向的數(shù)字信號(hào)的驅(qū)動(dòng)能力。第二驅(qū)動(dòng)與變壓芯片或者上拉電阻安裝在轉(zhuǎn)接板上而不是被測(cè)板上，是因?yàn)閷?duì)于各種被測(cè)芯片，驅(qū)動(dòng)與變壓是一種通用的需求。
[0029]有些情況下，測(cè)試設(shè)備上的主控芯片驅(qū)動(dòng)能力很強(qiáng)，此時(shí)測(cè)試設(shè)備可不加驅(qū)動(dòng)芯片。在環(huán)境試驗(yàn)箱中，直插在轉(zhuǎn)接板上的被測(cè)板必須提高驅(qū)動(dòng)能力以適應(yīng)各種驅(qū)動(dòng)能力不同的被測(cè)芯片。
[0030]驅(qū)動(dòng)與變壓芯片不僅可以增強(qiáng)驅(qū)動(dòng)能力，還可以改變信號(hào)的電壓值。由于有時(shí)需要探索被測(cè)對(duì)象的極限電源電壓，此時(shí)，設(shè)備板上主控芯片輸出的數(shù)字信號(hào)的高電平電壓仍然與被測(cè)對(duì)象正常工作時(shí)的電壓一致。但被測(cè)對(duì)象由于輸入電源已不是它正常工作的電源，它的信號(hào)的高電平電壓也隨之改變。測(cè)試設(shè)備和被測(cè)對(duì)象高電平電壓的不一致導(dǎo)致它們不能之間相連，必須通過變壓措施把它們的高電平電壓調(diào)節(jié)為一致，此時(shí)驅(qū)動(dòng)與變壓芯片16T245芯片起到了水壩的作用。
[0031 ]本發(fā)明實(shí)施例還提供上述用于環(huán)境測(cè)試的測(cè)試設(shè)備的測(cè)試方法。
[0032]本發(fā)明雖然已以較佳實(shí)施例公開如上，但其并不是用來限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，都可以利用上述揭示的方法和技術(shù)內(nèi)容對(duì)本發(fā)明技術(shù)方案做出可能的變動(dòng)和修改，因此，凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡(jiǎn)單修改、等同變化及修飾，均屬于本發(fā)明技術(shù)方案的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于環(huán)境測(cè)試的測(cè)試設(shè)備，其特征在于，包括:設(shè)備板和轉(zhuǎn)接板，所述設(shè)備板包括第一直插接口和第一線纜接口，所述轉(zhuǎn)接板包括第二直插接口和第二線纜接口。2.依據(jù)權(quán)利要求1所述的用于環(huán)境測(cè)試的測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述第一直插接口和第一線纜接口之間連接有第一驅(qū)動(dòng)與變壓芯片;第二直插接口和第二線纜接口之間連接有第二驅(qū)動(dòng)與變壓芯片。3.依據(jù)權(quán)利要求1所述的用于環(huán)境測(cè)試的測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述轉(zhuǎn)接板置于環(huán)境測(cè)試箱內(nèi)。4.依據(jù)權(quán)利要求1所述的用于環(huán)境測(cè)試的測(cè)試設(shè)備，其特征在于，第一直插接口和第一線纜接口之間連接有第一驅(qū)動(dòng)與變壓芯片，第二直插接口和第二線纜接口之間存在上拉電阻。5.采用權(quán)利要求1至4中任意一項(xiàng)所提供的用于環(huán)境測(cè)試的測(cè)試設(shè)備的測(cè)試方法，其特征在于，在進(jìn)行環(huán)境測(cè)試時(shí)，包括: 步驟一、將被測(cè)板連接于轉(zhuǎn)接板，并將被測(cè)板與轉(zhuǎn)接板置于環(huán)境測(cè)試箱內(nèi)； 步驟二、利用線纜通過第一線纜接口和第二線纜接口連接設(shè)備板與轉(zhuǎn)接板； 步驟三、開始測(cè)試。6.依據(jù)權(quán)利要求5所述的用于環(huán)境測(cè)試的測(cè)試設(shè)備的測(cè)試方法，其特征在于，在進(jìn)行常規(guī)測(cè)試時(shí)，被測(cè)板通過直插接口與設(shè)備板連接。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種用于環(huán)境測(cè)試的測(cè)試設(shè)備及測(cè)試方法，本發(fā)明公開的用于環(huán)境測(cè)試的測(cè)試設(shè)備包括：設(shè)備板和轉(zhuǎn)接板，所述設(shè)備板包括第一直插接口和第一線纜接口，所述轉(zhuǎn)接板包括第二直插接口和第二線纜接口。本發(fā)明提供的方案可以用于嚴(yán)酷的環(huán)境測(cè)試。
【IPC分類】G01R31/28
【公開號(hào)】CN105548859
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510906021
【發(fā)明人】項(xiàng)宗杰, 胡小海, 王蘭來, 劉偉鑫, 劉大鵬
【申請(qǐng)人】上海精密計(jì)量測(cè)試研究所
【公開日】2016年5月4日
【申請(qǐng)日】2015年12月9日