連接器測試插座及連接器測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及一種連接器測試插座及連接器測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]常用的連接器，通常包括連接器殼體和殼體上設(shè)置的多個連接端子。連接端子連接有導(dǎo)線。在將連接端子安裝在連接器殼體過程中，存在損壞的風(fēng)險。越是小型化的連接器，安裝過程中連接端子損壞的風(fēng)險就越高。損壞的情況有可能是連接端子與導(dǎo)線脫離連接，也有可能是連接端子未安裝到位。無論是那種損壞，都會影響連接器的正常使用。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中，沒有專用的連接器測試裝置，無法快速測試連接器的連接端子是否安裝正確，是否可以正常導(dǎo)電。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的之一是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中的不足，提供一種可方便地測試連接器的連接器測試插座。
[0005]為實現(xiàn)以上目的，本發(fā)明通過以下技術(shù)方案實現(xiàn):
[0006]連接器測試插座，其特征在于，包括:
[0007]殼體，所述殼體具有探針固定孔；所述殼體設(shè)置有第一通孔，所述第一通孔與所述探針固定孔連通；
[0008]探針，所述探針設(shè)置于所述探針固定孔內(nèi)，并包括探頭部分；
[0009]保持架，所述保持架設(shè)置有探頭固定孔，所述保持架可移動地設(shè)置于所述殼體內(nèi)；
[0010]所述探頭部分位于所述保持架的所述探頭固定孔內(nèi)，并可在所述探頭固定孔內(nèi)移動。
[0011]優(yōu)選地是，還包括彈性復(fù)位裝置；所述保持架受壓移動時使所述彈性復(fù)位裝置產(chǎn)生彈性變形而具有彈性變形力；所述保持架受到的壓力消失后，所述彈性復(fù)位裝置的彈性變形力使所述保持架復(fù)位。
[0012]優(yōu)選地是，所述彈性復(fù)位裝置為彈簧。
[0013]優(yōu)選地是，還包括導(dǎo)向裝置，所述導(dǎo)向裝置與所述保持架連接；所述保持架受壓移動時，所述導(dǎo)向裝置限制所述保持架的移動軌跡。
[0014]優(yōu)選地是，所述導(dǎo)向裝置為導(dǎo)向桿；所述殼體包括探針固定板；所述探針設(shè)置于所述探針固定板上；所述殼體設(shè)置有導(dǎo)桿孔；所述導(dǎo)向桿一端與所述保持架連接，所述導(dǎo)向桿可沿所述導(dǎo)桿孔活動地插置于所述殼體內(nèi)。
[0015]優(yōu)選地是，所述殼體內(nèi)設(shè)置有壓縮彈簧；所述導(dǎo)向桿上設(shè)置有凸緣；所述壓縮彈簧套裝在所述導(dǎo)向桿上；所述壓縮彈簧一端抵靠在所述凸緣上，另一端抵靠在所述殼體內(nèi)壁上。
[0016]優(yōu)選地是，所述探針包括一主體部分，所述探針的主體部分與所述探針固定孔為過盈配合。
[0017]優(yōu)選地是，所述探針包括一探頭部分；所述探針的探頭部分位于所述探頭固定孔內(nèi)，并與所述探頭固定孔為間隙配合。
[0018]優(yōu)選地是，所述探針的探頭部分完全位于所述探頭固定孔內(nèi)，使所述保持架對所述探頭部分起到保護作用。
[0019]優(yōu)選地是，所述第一通孔內(nèi)壁設(shè)置有臺階面。
[0020]優(yōu)選地是，所述殼體包括探針固定板，所述探針固定板內(nèi)設(shè)置有探針固定孔。
[0021]優(yōu)選地是，所述殼體包括底板、探針座和前板；所述探針固定孔設(shè)置于所述探針座上；所述前板和所述底板分別安裝于所述探針座兩端；所述第一通孔設(shè)置于前板上。
[0022]優(yōu)選地是，所述前板上設(shè)置有臺階，用于配合被測連接器外殼上設(shè)置的凸塊。
[0023]優(yōu)選地是，所述前板數(shù)目為多個，所述多個前板與所述探針座可拆卸連接，并具有不同的第一通孔。
[0024]本發(fā)明的目的之二是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中的不足，提供一種可方便地測試連接器的連接器測試裝置。
[0025]為實現(xiàn)以上目的，本發(fā)明通過以下技術(shù)方案實現(xiàn):
[0026]連接器測試裝置，其特征在于，包括電流測試裝置及前述的連接器測試插座；所述探針和所述電流測試裝置形成電流回路的一部分；連接器的連接端子與所述探針連接時，所述電流測試裝置測試連接端子與所述探針是否電導(dǎo)通；根據(jù)連接端子與所述探針是否電導(dǎo)通，判斷連接端子是否安裝正確，如不導(dǎo)通，則連接端子安裝不正確，如導(dǎo)通，則連接端子安裝正確。
[0027]本發(fā)明中的連接器測試插座及連接器測試裝置，探針與連接器的連接端子以可插拔的方式連接，連接端子與探針連接后，利用電流測試裝置測試連接端子和探針兩端是否導(dǎo)電，即可判斷連接端子安裝是否合格。如導(dǎo)電，則說明連接端子安裝合格；如不導(dǎo)電，則說明連接端子安裝不合格。本發(fā)明中的連接器測試插座及連接器測試裝置，可以方便地測試連接器的連接端子是否安裝正確，能否正常導(dǎo)電。尤其適合用于測試設(shè)置有多個連接端子的連接器。探針端部位于保護架的探頭固定孔內(nèi)，保護架可保護探針，使其免受外力損壞。尤其是連接端子與探針接觸連接時，保護架可保護探針，防止連接過程中損壞探針。保護架可移動地設(shè)置，使其可適用于各種連接器，適用于各種長度尺寸的連接端子。通過設(shè)置彈性復(fù)位裝置，既可以使保護架自動復(fù)位，又可以在保護架受壓時提供緩沖作用。設(shè)置導(dǎo)向裝置，可限定保護架的移動，防止其移動過程中歪斜而卡死或損壞探針。前板、底板均與探針座可拆卸地連接，方便更換。
【附圖說明】
[0028]圖1為本發(fā)明實施例結(jié)構(gòu)的部分剖視示意圖。
[0029]圖2為本發(fā)明實施例結(jié)構(gòu)的剖視示意圖。
[0030]圖3為本發(fā)明實施例結(jié)構(gòu)在使用位置的剖視示意圖。
[0031]圖4為本發(fā)明中連接器測試插座的使用狀態(tài)參考圖。
[0032]圖5為圖4中的A部分放大示意圖。
【具體實施方式】
[0033]以下結(jié)合實施例和附圖對本發(fā)明進一步說明。
[0034]如圖1至圖5所示，連接器測試插座100，包括殼體110和探針120。殼體110具有探針固定孔111，沿連接器插入方向延伸。探針120固定設(shè)置于探針固定孔111內(nèi)。殼體110設(shè)置有第一通孔112，用于插置被測的連接器。第一通孔112與探針固定孔111連通，使插置在第一通孔112中的被測連接器可與設(shè)置在探針固定孔111內(nèi)的探針120連接。例如，連接器的連接端子與探針固定孔111內(nèi)的探針120以可插拔的方式插接。
[0035]在如圖所示的示例中，殼體110包括前板113、探針座114和底板115，前板113和底板115沿插入方向分別固定在探針座114的兩端。探針座114用于固定安裝探針120。探針座114包括有探針固定板116。探針固定板116中設(shè)置有一個或多個探針固定孔111，用于固定安裝探針120。在如圖所示的示例中，探針固定孔111與探針120的主體部分1201為過盈配合，探針的探頭部分121向上延伸出探針固定板116的上表面1161。例如，探針的探頭部分121設(shè)置在同一平面內(nèi)，如圖2中沿水平方向的平面。在如圖2所示的一個示例中，探針120的主體部分1201向上延伸出探針固定板116的上表面1161。
[0036]前板113和底板115分別連接在探針座114兩端，形成插座殼體110。前板113上設(shè)置有該第一通孔112。第一通孔112的形狀與被測連接器形狀相適應(yīng)，方便被測連接器插入，并在被測連接器插入過程中對其起導(dǎo)向作用。根據(jù)本發(fā)明的一優(yōu)選實施例，多個前板113分別以可拆卸的方式與探針座114相連接。在不同的前板116上設(shè)置不同形狀的第一通孔112，可通過更換前板116，使本發(fā)明適用于測試各種連接器。根據(jù)本發(fā)明的另一優(yōu)選實施例，前板113上設(shè)置有臺階面1131。臺階面1131的位置根據(jù)被測連接器的結(jié)構(gòu)設(shè)定。
[0037]多個探針120安裝在探針固定板116上。探針120用于與連接器的連接端子可插拔地連接，形成電通路。探針120的結(jié)構(gòu)與連接端子相適應(yīng)，兩者可插拔地連接。如連接端子為筒狀，則探針為桿狀、棒狀；如連接端子為桿狀、棒狀，則探針為筒狀。探針120的數(shù)目及在探針固定板116上的分布方式，與連接端子的數(shù)目及在連接器上的分布方式相適應(yīng)，每個探針120與其中一個連接端子可插拔地連接。在如圖所示的示例中，探針的探頭部分121為棒狀。探針120固定在探針固定板116上。在如圖2所示的一個示例中，探針的主體部分1201固定于探針固定孔111內(nèi)；探針的探頭部分121向上延伸出探針固定板116的上表面1161。在另一個示例中，探針120的主體部分1201向下延伸出探針固定板116的下表面1162，位于探針固定孔111之外。在如圖2所示的一個示例中，探針120的主體部分1201連續(xù)延伸穿過底板115，探針120的另一端122位于探針固定孔111之外。在另一個示例中，探針120的另一端122連續(xù)延伸穿過底板115的下表面1151，用于連接至一測試電路(圖中未示出)。
[0038]連接器測試插座100還包括一保持架130。保持架130設(shè)置在殼體110內(nèi)。在如圖2所示的一個示例中，保持架130設(shè)置在前板113和探針座114之間形成的上空間119內(nèi)。保持架130可移動地設(shè)置在殼體110的上空間119內(nèi)。
[0039]保持架130設(shè)置有探頭固定孔132。當連接器測試插座100安裝完畢后，保持架130中的探頭固定孔132與探針固定板116中的探針固定孔111對齊，用以容納安裝探針120。在如圖所示的示例中，每個探針120的主體部分1201被夾持在一個探針固定孔111內(nèi)，每個探針12