定期更換，一方面能保證樣品氣不與金屬材料接觸、反應(yīng)并由此導(dǎo)致的檢測樣品和檢測信號的失真，另一方面還可阻擋大顆粒物質(zhì)掉入色譜柱并堵塞色譜柱。
[0046]根據(jù)本發(fā)明的實施例，采樣及進樣解析過程中，耐高溫形密封圈116能有效的保證活塞式吸附器與活塞缸117之間的密封連接，能確保樣品采集效率和進樣解析效率。導(dǎo)熱護套126—方面用于保護MCC，另一方面還為MCC提供與熱解析腔121，雙模式離子迀移譜設(shè)備之間連接的密封接口，同時還有利于外部加熱保溫電路對MCC進行加熱保溫。待樣品被推至熱解析腔121進行熱解析時，傳送帶104工作，將前一個被檢行包(A)從安檢門出口傳送出，同時將另一個被檢行包(B)再從傳送帶104入口處進入殼體102，待行包恰好完全進入殼體102內(nèi)部時，開始采樣，如此循環(huán)實現(xiàn)多個被檢物品的全時收集及檢測。
[0047]下面描述根據(jù)本發(fā)明的實施例，使用安檢設(shè)備對被檢物體進行檢查的方法。方法大體包括樣品采集步驟、樣品處理步驟和樣品檢測步驟。
[0048]首先是樣品采集。將被檢行包放置于安檢設(shè)備的傳送帶104上，即檔桿前后位置，傳送帶104將被檢行李傳送至暗室，其中檔桿阻礙及放行待檢物品105的時間可以是0.1秒?？梢栽黾蛹t外感應(yīng)探頭感應(yīng)待檢物品105是否進入被檢區(qū)域。
[0049]X射線成像系統(tǒng)獲得待檢物品105的內(nèi)部圖像和外形輪廓，操作人員在檢查待檢物品105內(nèi)部的同時，控制裝置可以接收測距傳感器的探頭與被檢物之間的位置信息，并控制伸縮結(jié)構(gòu)107運動使伸縮結(jié)構(gòu)107到達預(yù)定位置，進行取樣檢測。
[0050]例如，啟動與伸縮氣囊單元連接的充氣抽氣栗111，控制裝置根據(jù)檢測到的待檢物品105的外形輪廓控制氣囊單元的伸縮，調(diào)整采樣距離。例如，也可通過X射線成像系統(tǒng)檢測的待檢物品105的外形輪廓輔助定位，調(diào)整采樣距離。也可以通過測距傳感器檢測的待檢物品105的外形輪廓控制氣囊單元的伸縮，調(diào)整采樣距離。
[0051 ]多個熱氣流吹掃口 109和多個吸氣采樣口 108開始工作采集樣品。粘附在行包表面的固體小顆粒狀樣品或行包中夾帶的可揮發(fā)性物質(zhì)揮發(fā)/釋放出來的氣體被采集，并從經(jīng)加熱保溫的采樣管道由采樣吸氣栗吸入裝有吸附劑的活塞式全時預(yù)濃縮吸附腔內(nèi)進行樣品吸附，兩個活塞式吸附器交替使用可實現(xiàn)樣品的全時交替收集，采樣吸氣栗持續(xù)吸氣采樣可實現(xiàn)樣品濃縮。樣品采集結(jié)束后，伸縮結(jié)構(gòu)107收縮離開待檢物品105。
[0052]將活塞式吸附器上吸附甚至濃縮有樣品的吸附篩筒119迅速推至熱解析腔121內(nèi)，吸附在吸附劑上的樣品在高溫作用下被迅速析出，析出的樣品與從解析腔底部流入且經(jīng)預(yù)熱的色譜載氣迅速混合并被載氣帶入分析檢測部分(MCC及頂S)，完成解析進樣。
[0053]所述熱解析腔121以及上述管道加熱系統(tǒng)均采用程序升溫模式，可以有效的減小功率消耗。解析進樣時，電機驅(qū)動其中一個吸附并濃縮有樣品的活塞式吸附器從活塞缸117迅速推至具有高溫的熱解析腔121內(nèi)，同時驅(qū)動另一已解析進樣并完成檢測的活塞式吸附器拔出，準(zhǔn)備對下一被檢行包的樣品吸附劑濃縮。吸附在被迅速推入熱解析腔121的活塞式吸附器上的樣品在高溫條件下被瞬間析出，并與從熱解析腔121底部流入的載氣混合，然后被帶入色譜柱進行預(yù)分離，再到MS進行檢測。
[0054]雙模式頂S檢測樣品離子，并與樣品庫自動對比。當(dāng)檢測到的樣品屬于違禁物質(zhì)的時候，發(fā)出警告信號。
[0055]盡管已經(jīng)參考本發(fā)明的典型實施例，具體示出和描述了本發(fā)明，但本領(lǐng)域普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，在不脫離所附權(quán)利要求所限定的本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可以對這些實施例進行形式和細節(jié)上的多種改變。
【主權(quán)項】
1.一種安檢設(shè)備，包括殼體和殼體內(nèi)部的部件，殼體內(nèi)部的部件包括: 采樣系統(tǒng)，采樣系統(tǒng)包括用于采集樣品的樣品采集裝置和用以將被檢物體從外界傳送至樣品采集裝置內(nèi)期望的位置處的傳送裝置； 樣品處理系統(tǒng)，用于濃縮樣品和解析樣品;和 檢測系統(tǒng)，用于檢測樣品成分； 其中，采樣系統(tǒng)、樣品處理系統(tǒng)以及檢測系統(tǒng)通過連接件依次連通，使得被送入殼體內(nèi)的被檢物體在殼體內(nèi)完成樣品的米集、處理和檢測;其特征在于， 樣品采集裝置包括采樣模塊和伸縮結(jié)構(gòu)；其中，采樣模塊包括多個吸氣采樣口和多個熱氣流吹掃口，多個熱氣流吹掃口配置為吹出設(shè)定溫度的氣流，多個吸氣采樣口配置為在負壓條件下吸入含樣品的氣體;并且，伸縮結(jié)構(gòu)配置為承載采樣模塊并且根據(jù)待檢物品的形狀作出相應(yīng)的伸縮動作將多個吸氣采樣口和多個熱氣流吹掃口靠近待檢物品的表面。2.如權(quán)利要求1所述的安檢設(shè)備，其中伸縮結(jié)構(gòu)通過相應(yīng)的伸縮動作將多個吸氣采樣口和多個熱氣流吹掃口靠近待檢物品的表面從而構(gòu)成取樣通道，被檢物體能夠在通過所述取樣通道進行取樣分析。3.如權(quán)利要求1所述的安檢設(shè)備，其中伸縮結(jié)構(gòu)包括多個波紋氣囊單元，其中每個波紋氣囊單元通過充氣和排氣實現(xiàn)伸縮動作，從而將連接至該每個波紋氣囊單元的一個或多個吸氣采樣口或一個或多個熱氣流吹掃口輸送至待檢物品表面附近。4.如權(quán)利要求1所述的安檢設(shè)備，還包括X射線成像系統(tǒng)，成像系統(tǒng)包括X射線發(fā)生器及L形陣列探測器，通過設(shè)置L形陣列探測器探測投射通過待檢物品后的X射線構(gòu)造投影圖像，其中L形陣列探測器能夠探測出待檢物品的長度、寬度和高度； 其中伸縮結(jié)構(gòu)能夠根據(jù)L形陣列探測器構(gòu)造的投影圖像作出相應(yīng)的伸縮動作將多個吸氣采樣口和多個熱氣流吹掃口靠近待檢物品的表面。5.如權(quán)利要求3所述的安檢設(shè)備，其中每個氣囊單元前端設(shè)置測距傳感器，配置成測量相應(yīng)的氣囊單元前端距離待檢物品表面的距離，從而在氣囊單元前端距離待檢物品表面的距離符合設(shè)定距離值時停止相應(yīng)的氣囊單元的運動，以實現(xiàn)近距離取樣。6.如權(quán)利要求3所述的安檢設(shè)備，其中每個波紋氣囊單元設(shè)置氣囊單元閥，用于控制相應(yīng)的波紋氣囊單元的充氣和排氣以便實現(xiàn)每個氣囊單元的伸縮動作。7.如權(quán)利要求1所述的安檢設(shè)備，其中多個吸氣采樣口和多個熱氣流吹掃口在待檢物品的移動方向上前后成陣列布置，使得在待檢物品的運動方向上，多個熱流吹掃口設(shè)置在多個吸氣采樣口上游，并且多個熱流吹掃口的開口方向設(shè)置為朝向待檢物品的運動方向，多個吸氣采樣口的開口方向設(shè)置為朝向待檢物品的運動方向的反方向，以便采樣。8.如權(quán)利要求7所述的安檢設(shè)備，其中多個吸氣采樣口的陣列和多個熱氣流吹掃口的陣列之間的間距布置成使得樣品從待檢物體上被吹掃離開后運動到多個吸氣采樣口附近。9.如權(quán)利要求1所述的安檢設(shè)備，還包括分隔裝置，用于將相鄰待檢物品分隔開。10.如權(quán)利要求9所述的安檢設(shè)備，其中分隔裝置包括單檔桿分隔器，在前一待檢物品通過安檢設(shè)備時阻擋后一待檢物品預(yù)定的阻擋時長。11.如權(quán)利要求2所述的安檢設(shè)備，其中采樣模塊包括安裝在多個吸氣采樣口的每個過濾結(jié)構(gòu)，用于防止大顆粒堵塞或污染與多個吸氣采樣口連接的管道。12.如權(quán)利要求1所述的安檢設(shè)備，其中傳送裝置包括傳送帶，用于承載待檢物品從安檢設(shè)備的入口端進入，從安檢設(shè)備的出口端離開。13.如權(quán)利要求6所述的安檢設(shè)備，還包括控制裝置，配置成控制氣囊單元閥從而控制氣囊單元的充氣和排氣。14.如權(quán)利要求1所述的安檢設(shè)備，樣品處理系統(tǒng)包括預(yù)濃縮采樣吸附器，包括用于濃縮樣品的吸附篩筒和用于將吸附篩筒中的樣品通過活塞送至熱解析腔的活塞桿;和 熱解析腔，用于在高溫下析出吸附篩筒中的樣品，并使用合適載氣與樣品混合； 其中，吸氣采樣口將采集到的樣品送至預(yù)濃縮采樣吸附器。15.如權(quán)利要求1所述的安檢設(shè)備，檢測系統(tǒng)包括用于預(yù)分離樣品的集束毛細管柱，和離子迀移譜設(shè)備。16.—種使用安檢設(shè)備對待檢物品進行檢查的方法，包括: 將被檢物體放置于傳送裝置，并通過傳送裝置送入安檢設(shè)備中； 使用如權(quán)利要求1-15中任一項所述的安檢設(shè)備對被檢物體實施檢查。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種安檢設(shè)備和利用該設(shè)備進行檢查的方法。安檢設(shè)備包括殼體和置于殼體內(nèi)部的部件，殼體內(nèi)部的部件包括：采樣系統(tǒng)，采樣系統(tǒng)包括用于采集樣品的樣品采集裝置和傳送裝置；樣品處理系統(tǒng)；和檢測系統(tǒng)。樣品采集裝置包括采樣模塊和伸縮結(jié)構(gòu)。采樣模塊包括多個吸氣采樣口和多個熱氣流吹掃口；并且，伸縮結(jié)構(gòu)配置為承載采樣模塊并且根據(jù)待檢物品的形狀作出相應(yīng)的伸縮動作將多個吸氣采樣口和多個熱氣流吹掃口靠近待檢物品的表面。
【IPC分類】G01B15/04, G01N27/62, G01N23/04
【公開號】CN105486743
【申請?zhí)枴緾N201511005824
【發(fā)明人】張清軍, 朱偉平, 馬秋峰, 何會紹, 李鴿
【申請人】同方威視技術(shù)股份有限公司
【公開日】2016年4月13日
【申請日】2015年12月29日