安檢設(shè)備和方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及安檢領(lǐng)域，具體地，涉及安檢設(shè)備和利用該設(shè)備進(jìn)行檢查的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前針對(duì)行包等的安檢主要采用X射線透射成像技術(shù)，透射成像技術(shù)對(duì)具有一定外形的金屬物品檢查效果較好，但對(duì)毒品、液體炸藥等的檢查的效果卻不理想。
[0003]在輻射成像技術(shù)廣泛用于安檢領(lǐng)域的當(dāng)今社會(huì)，小型安檢機(jī)、物品CT安檢機(jī)、集裝箱檢查系統(tǒng)已被大量裝備。但即便是采用目前最先進(jìn)的雙能或多能輻射成像技術(shù)也僅能對(duì)有機(jī)物無(wú)機(jī)物進(jìn)行適度區(qū)分，對(duì)物質(zhì)的準(zhǔn)確識(shí)別還有很大的差距，而與拉曼技術(shù)的聯(lián)用也無(wú)法做到實(shí)時(shí)有效的測(cè)量。本發(fā)明人前期申請(qǐng)的面陣采樣檢測(cè)裝置對(duì)于靜態(tài)的被檢對(duì)象能夠快速而且有效獲取樣品并對(duì)樣品成分進(jìn)行精確的定性分析，但對(duì)于移動(dòng)的對(duì)象以及與以上提及的對(duì)移動(dòng)物體進(jìn)行掃描的輻射成像設(shè)備進(jìn)行聯(lián)用時(shí)，由于可能會(huì)同時(shí)獲取到兩個(gè)相鄰掃描對(duì)象的“氣味”影響到測(cè)量的準(zhǔn)確性;且由于大量使用了進(jìn)樣頭、吹掃裝置提高了成本，由于物體的快速移動(dòng)，吹掃裝置吹出的樣品進(jìn)樣頭難以準(zhǔn)確取得。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種安檢設(shè)備，包括殼體和置于殼體內(nèi)部的部件，殼體內(nèi)部的部件包括:
[0005]采樣系統(tǒng)，采樣系統(tǒng)包括用于采集樣品的樣品采集裝置和用以將被檢物體從外界傳送至樣品采集裝置內(nèi)期望的位置處的傳送裝置；
[0006]樣品處理系統(tǒng)，用于濃縮樣品和解析樣品；和
[0007]檢測(cè)系統(tǒng)，用于檢測(cè)樣品成分；
[0008]其中，采樣系統(tǒng)、樣品處理系統(tǒng)以及檢測(cè)系統(tǒng)通過(guò)連接件依次連通，使得被送入構(gòu)成密閉的暗室的殼體內(nèi)的被檢物體在殼體內(nèi)完成樣品的采集、處理和檢測(cè);其特征在于，
[0009]樣品采集裝置包括采樣模塊和伸縮結(jié)構(gòu)；其中，采樣模塊包括多個(gè)吸氣采樣口和多個(gè)熱氣流吹掃口，多個(gè)熱氣流吹掃口配置為吹出設(shè)定溫度的氣流，多個(gè)吸氣采樣口配置為在負(fù)壓條件下吸入含樣品的氣體;并且，伸縮結(jié)構(gòu)配置為承載采樣模塊并且根據(jù)待檢物品的形狀作出相應(yīng)的伸縮動(dòng)作將多個(gè)吸氣采樣口和多個(gè)熱氣流吹掃口靠近待檢物品的表面。
[0010]根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供一種使用安檢設(shè)備對(duì)待檢物品進(jìn)行檢查的方法，包括:將被檢物體放置于傳送裝置，并通過(guò)傳送裝置送入安檢設(shè)備中；使用如前述安檢設(shè)備對(duì)被檢物體實(shí)施檢查。
【附圖說(shuō)明】
[0011]圖1示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的安檢設(shè)備的示意圖；
[0012]圖2示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的安檢設(shè)備的示意圖，其中伸縮結(jié)構(gòu)將多個(gè)吸氣采樣口和多個(gè)熱氣流吹掃口送至待檢物品的表面；
[0013]圖3示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的安檢設(shè)備的多個(gè)吸氣采樣口和多個(gè)熱氣流吹掃口的布置不意圖；
[0014]圖4示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的安檢設(shè)備的截面示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0015]現(xiàn)在對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例提供詳細(xì)參考，其范例在附圖中說(shuō)明，圖中相同的數(shù)字全部代表相同的元件。為解釋本發(fā)明下述實(shí)施例將參考附圖被描述。
[0016]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例提供一種安檢設(shè)備，其包括殼體102和殼體102內(nèi)部的部件，殼體102內(nèi)部的部件包括:采樣系統(tǒng)，采樣系統(tǒng)包括用于采集樣品的樣品采集裝置和用以將被檢物體從外界傳送至樣品采集裝置內(nèi)期望的位置處的傳送裝置;樣品處理系統(tǒng)，用于濃縮樣品和解析樣品；和檢測(cè)系統(tǒng)，用于檢測(cè)樣品成分，例如通過(guò)氣相色譜-離子迀移譜儀127或單獨(dú)的離子迀移譜儀127檢測(cè)樣品成分，如圖1所示。
[0017]在本實(shí)施例中，采樣系統(tǒng)、樣品處理系統(tǒng)以及檢測(cè)系統(tǒng)通過(guò)連接件依次連通，例如通過(guò)管道112連通，使得被送入安檢通道的殼體102內(nèi)的被檢物體在殼體102內(nèi)完成樣品的米集、處理和檢測(cè)。
[0018]在本實(shí)施例中，樣品采集裝置包括采樣模塊和伸縮結(jié)構(gòu)107。采樣模塊包括多個(gè)吸氣采樣口 108和多個(gè)熱氣流吹掃口 109，多個(gè)熱氣流吹掃口 109配置為吹出設(shè)定溫度的氣流，多個(gè)吸氣采樣口 108配置為在負(fù)壓條件下吸入含樣品的氣體。多個(gè)熱氣流吹掃口 109可以連接熱流吹掃栗110。伸縮結(jié)構(gòu)107配置為承載采樣模塊并且根據(jù)待檢物品105的形狀作出相應(yīng)的伸縮動(dòng)作將多個(gè)吸氣采樣口 108和多個(gè)熱氣流吹掃口 109靠近待檢物品105的表面，如圖2所示。
[0019]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，伸縮結(jié)構(gòu)107通過(guò)相應(yīng)的伸縮動(dòng)作將多個(gè)吸氣采樣口108和多個(gè)熱氣流吹掃口 109靠近待檢物品105的表面，并且這些吸氣采樣口 108和熱氣流吹掃口 109構(gòu)成取樣通道，如圖2所示，被檢物體在傳送帶104的作用下穿過(guò)取樣通道，并接受檢查。例如，被檢物體以0.1m/s的速度行進(jìn)通過(guò)取樣通道，完成被檢物的近距離取樣檢測(cè)分析。
[0020]在本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中，如圖4所示，安檢設(shè)備包括殼體102、傳送帶104以及檔桿分隔器131。傳送帶104用于將待檢物品105從安檢設(shè)備的入口端送入安檢設(shè)備，從出口端送出安檢設(shè)備。檔桿分隔器131配置成在前一待檢物品通過(guò)安檢設(shè)備時(shí)阻擋后一待檢物品105預(yù)定的阻擋時(shí)長(zhǎng)。殼體還可以包括入口端和出口端的屏蔽簾等。
[0021 ]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，多個(gè)吸氣采樣口 108可以包括過(guò)濾結(jié)構(gòu)，例如微孔濾網(wǎng)，以便過(guò)濾到灰塵、泥土、紙肩或其他不想要的污染物。吸氣采樣口 108上的過(guò)濾結(jié)構(gòu)可防止采樣過(guò)程中大顆粒物質(zhì)堵塞或污染管道。
[0022]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，安檢設(shè)備還包括X射線成像系統(tǒng)，通過(guò)設(shè)置L形陣列探測(cè)器106探測(cè)通過(guò)待檢物品105的X射線構(gòu)造透射圖像。X射線成像系統(tǒng)可以是現(xiàn)有常用的X射線成像系統(tǒng)，例如包括發(fā)射X射線的X射線源128，用于探測(cè)通過(guò)待檢物品105的X射線的L形陣列探測(cè)器106。一方面X射線成像系統(tǒng)可以有效的檢測(cè)如刀具、槍支等高原子系數(shù)物質(zhì)等違禁品，并初步判斷低原子序數(shù)的諸如液體及塑料違禁品；另一方面，X射線成像系統(tǒng)還能顯示待檢物品105的外形輪廓，包括橫向和縱向的輪廓，從而輔助伸縮結(jié)構(gòu)107的定位，使伸縮結(jié)構(gòu)107將多個(gè)吸氣采樣口 108和多個(gè)熱氣流吹掃口 109靠近待檢物品105的表面。例如，L形陣列探測(cè)器106可以包括水平部分和豎直部分，水平部分可以探測(cè)被檢物品的寬度和長(zhǎng)度，豎直部分可以探測(cè)被檢物品的高度和長(zhǎng)度，通過(guò)綜合L形陣列探測(cè)器106的探測(cè)結(jié)果，可以得出待檢物品105的長(zhǎng)度、寬度和高度，從而為伸縮結(jié)構(gòu)107提供待檢物品105的尺寸信息，伸縮結(jié)構(gòu)107由此形成取樣通道。
[0023]在一個(gè)實(shí)施例中，在X射線源128的出束窗前端處安裝有紅外傳感器129用于感知待檢物品105是否進(jìn)入檢測(cè)區(qū)域，待紅外傳感器129探測(cè)到待檢物品105恰好進(jìn)入檢測(cè)區(qū)后X射線源128出束，L形陣列探測(cè)器106探測(cè)穿過(guò)待檢物品105的X射線，經(jīng)光電轉(zhuǎn)換、A/D轉(zhuǎn)換以及數(shù)字圖像處理后形成待檢物品的截面投影圖像，隨著目標(biāo)的運(yùn)動(dòng)，待檢物品的每一個(gè)截面被連續(xù)掃描，這樣就能得到從X射線源到探測(cè)器方向整個(gè)待檢物品的完整的二維投影圖像。
[0024]在實(shí)際操作過(guò)程中，X射線成像系統(tǒng)發(fā)射X射線并檢測(cè)透射待檢物品105的X射線，從而獲得待檢物品105內(nèi)部的圖像，以及待檢物品105的外形輪廓。伸縮結(jié)構(gòu)107根據(jù)待檢物品105的外形輪廓作出了相應(yīng)的伸縮動(dòng)作，從而多個(gè)吸氣采樣口 108和多個(gè)熱氣流吹掃口109被送到待檢物品105的表面附近，開始檢測(cè)樣品。在此檢查過(guò)程中，可以同時(shí)觀察待檢物品105內(nèi)部包含物和操作伸縮結(jié)構(gòu)107的伸縮動(dòng)作，甚至檢查待檢物品105所攜帶的樣品。
[0025]由此可見，本實(shí)施例的設(shè)備可以對(duì)待檢物品105進(jìn)行全面的檢查，包括物理檢查，例如可以直接顯示是否包含刀具、炸藥等違禁物品，以及違禁化學(xué)物品等，并且兩個(gè)檢查可以同時(shí)進(jìn)行，待檢物品105可以在行進(jìn)過(guò)程中完成檢查和取樣、分析，大大提高了安檢的速度。X射線成像系統(tǒng)可以包括X射線源、L形探測(cè)器陣列以及數(shù)據(jù)處理和圖像顯示裝置，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以從現(xiàn)有的設(shè)備中獲得。一方面完成X射線透射掃描，另一方面完成被檢物的近距離取樣檢測(cè)分析。在一個(gè)實(shí)施例中，被檢物可以在檢查通道內(nèi)停留若干秒以便檢查。
[0026]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，伸縮結(jié)構(gòu)107可以包括多個(gè)波紋氣囊單元107’，其中每個(gè)波紋氣囊單元107’通過(guò)充氣和排氣實(shí)現(xiàn)伸縮動(dòng)作。多個(gè)波紋氣囊單元107’組合在一起構(gòu)成伸縮結(jié)構(gòu)107。每個(gè)波紋氣囊單元107 ’可以連接一個(gè)或多個(gè)吸氣采樣口 108，或者，還可以連接一個(gè)或多個(gè)熱氣流吹掃口 109，從而在每個(gè)波紋氣囊單元107 ’根據(jù)待檢物品105的外部輪廓伸縮移動(dòng)的時(shí)候，可以將連接到對(duì)應(yīng)的波紋