電連接器電性檢測夾具及電連接器電性測試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及一種電連接器電性檢測夾具及電連接器電性測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，在電連接器的開路檢測環(huán)節(jié)中，通常采用人工進(jìn)行檢測，檢測方法為將萬用表連接電連接器，然后讀取萬用表信息以判斷是否開路，但是，人工檢測通常會帶來如下問題:一、效率低；二、準(zhǔn)確率低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是提供一種電連接器電性檢測夾具，其安裝方便，快速，且結(jié)構(gòu)簡單便于實現(xiàn)，可提尚檢測速度，提尚檢測的效率。
[0004]為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案如下:一種電連接器電性檢測夾具，用以夾持電連接器，且與電連接器電性連接，所述電連接器電性檢測夾具包括絕緣本體、設(shè)置在所述絕緣本體上的若干探針、與所述若干探針電性連接的PCB轉(zhuǎn)接板、與所述PCB轉(zhuǎn)接板電性連接的轉(zhuǎn)接連接器及與所述轉(zhuǎn)接連接器電性連接的轉(zhuǎn)接排線，所述絕緣本體包括基板及相對設(shè)置在所述基板兩側(cè)的第一卡扣和第二卡扣，所述基板上開設(shè)有若干安裝所述若干探針的安裝孔。
[0005]進(jìn)一步的，所述電連接器電性檢測夾具還包括設(shè)置在所述基板上的拎把。
[0006]進(jìn)一步的，所述基板包括板體式本體和自所述本體的兩側(cè)向外突伸形成的第一轉(zhuǎn)軸座和第二轉(zhuǎn)軸座，所述第一卡扣上開設(shè)有第一軸孔，所述第二卡扣上開設(shè)有第二軸孔，所述基板與第一卡扣之間安裝有連接第一轉(zhuǎn)軸座和第一軸孔的第一轉(zhuǎn)軸，所述基板與第二卡扣之間安裝有連接第二轉(zhuǎn)軸座和第二軸孔的第二轉(zhuǎn)軸。
[0007]進(jìn)一步的，所述第一卡扣包括豎直設(shè)置且呈板體結(jié)構(gòu)的第一施力部、自所述第一施力部的一側(cè)彎折延伸形成的第一折彎部及自所述第一折彎部的一側(cè)向下延伸形成的第一卡扣部，所述第一軸孔開設(shè)在所述第一折彎部，所述第二卡扣包括豎直設(shè)置且呈板體結(jié)構(gòu)的第二施力部、自所述第二施力部的一側(cè)彎折延伸形成的第二折彎部及自所述第二折彎部的一側(cè)向下延伸形成的第二卡扣部，所述第二軸孔開設(shè)在所述第二折彎部。
[0008]進(jìn)一步的，所述第一施力部遠(yuǎn)離第一折彎部的一側(cè)開設(shè)有第一腰型通孔，所述第二施力部遠(yuǎn)離第二折彎部的一側(cè)開設(shè)有第二腰型通孔。
[0009]進(jìn)一步的，所述電連接器電性檢測夾具還包括安裝在所述基板下方的導(dǎo)向板，所述導(dǎo)向板包括分別垂直所述本體的第一導(dǎo)向塊和第二導(dǎo)向塊，所述第一導(dǎo)向塊和第二導(dǎo)向塊位于所述第一卡扣、第二卡扣之間，所述第一導(dǎo)向塊靠近第一卡扣，所述第二導(dǎo)向塊靠近第二卡扣，且第一導(dǎo)向塊和第二導(dǎo)向塊位于所述若干探針的兩側(cè)。
[0010]進(jìn)一步的，所述第一導(dǎo)向塊具有背向第一卡扣設(shè)置的第一導(dǎo)向面和第一導(dǎo)向斜面，所述第一導(dǎo)向斜面自所述第一導(dǎo)向面的底邊向外傾斜延伸，所述第二導(dǎo)向塊具有背向第二卡扣設(shè)置的第二導(dǎo)向面和第二導(dǎo)向斜面，所述第二導(dǎo)向斜面自所述第二導(dǎo)向面的底邊向外傾斜延伸。
[0011]進(jìn)一步的，所述第一導(dǎo)向面上開設(shè)有若干第一導(dǎo)向槽，所述第一導(dǎo)向槽延伸至第一導(dǎo)向斜面，所述第二導(dǎo)向面上開設(shè)有若干第二導(dǎo)向槽，所述第二導(dǎo)向槽延伸至第二導(dǎo)向斜面。
[0012]本發(fā)明還提供了一種電連接器電性測試系統(tǒng)，包括電連接器電性檢測夾具、與所述電連接器電性檢測夾具信號連接的控制盒及與所述控制盒信號連接的顯示器，所述顯示器顯示控制盒的檢測結(jié)果，所述控制盒控制電連接器電性檢測夾具中的一組探針導(dǎo)通。
[0013]進(jìn)一步的，所述控制盒內(nèi)設(shè)置有FPGA板。
[0014]借由上述方案，本發(fā)明至少具有以下優(yōu)點:通過本發(fā)明的電連接器電性檢測夾具以與電連接器電性連接，由控制盒實現(xiàn)檢測，然后在顯示器上顯示檢測結(jié)果，從而便于電連接器電性測試系統(tǒng)對電連接器減小檢測，從而可提高效率和準(zhǔn)確率，而電連接器電性檢測夾具安裝方便，快速，且結(jié)構(gòu)簡單便于實現(xiàn)，可提高檢測速度，提高檢測的效率。
[0015]上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段，并可依照說明書的內(nèi)容予以實施，以下以本發(fā)明的較佳實施例并配合附圖詳細(xì)說明如后。
【附圖說明】
[0016]圖1是本發(fā)明電連接器電性測試系統(tǒng)的系統(tǒng)框圖；
[0017]圖2是本發(fā)明電連接器電性檢測夾具的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0018]圖3是圖2所示的電連接器電性檢測夾具于另一方向上的結(jié)構(gòu)示意圖，未顯示轉(zhuǎn)接排線；
[0019]圖4為圖2中第一導(dǎo)向塊的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0020]下面結(jié)合附圖和實施例，對本發(fā)明的【具體實施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實施例用于說明本發(fā)明，但不用來限制本發(fā)明的范圍。
[0021]參見圖1，本發(fā)明一較佳實施例所述的一種電連接器電性測試系統(tǒng)用以檢測電連接器(未圖示)是否開路，其包括電連接器電性檢測夾具10、與所述電連接器電性檢測夾具10信號連接的控制盒20及與所述控制盒20信號連接的顯示器30，所述控制盒20內(nèi)設(shè)置有FPGA板，所述顯示器30顯示控制盒20的檢測結(jié)果，所述控制盒20控制電連接器電性檢測夾具10中的一組探針導(dǎo)通。
[0022]請參見圖2至圖4，所述電連接器電性檢測夾具10用以夾持電連接器(未圖示)，且與電連接器電性連接。所述電連接器電性檢測夾具10包括絕緣本體1、設(shè)置在所述絕緣本體1上的若干探針2、與所述若干探針2電性連接的PCB轉(zhuǎn)接板(未圖示)、與所述PCB轉(zhuǎn)接板電性連接的轉(zhuǎn)接連接器(未圖示)、與所述轉(zhuǎn)接連接器電性連接的轉(zhuǎn)接排線(未圖示)、及設(shè)置在所述絕緣本體1上的拎把3。所述絕緣本體1包括基板11及相對設(shè)置在所述基板11兩側(cè)的第一卡扣12和第二卡扣13，所述基板11上開設(shè)有若干安裝所述若干探針2的安裝孔(未圖示)。
[0023]所述基板11與第一^^扣12、第二卡扣13之間鉸接。在本實施例中，所述基板11包括板體式本體111和自所述本體111的兩側(cè)向外突伸形成的第一轉(zhuǎn)軸座112和第二轉(zhuǎn)軸座113，所述第一卡扣12上開設(shè)有第一軸孔121，所述第二卡扣13上開設(shè)有第二軸孔131，所述基板11與第一卡扣12之間安裝有連接第一轉(zhuǎn)軸座112和第一軸孔121的第一轉(zhuǎn)軸14，所述基板11與第二卡扣13之間安裝有連接第二轉(zhuǎn)軸座113和第二軸孔131的第二轉(zhuǎn)軸15。所述第一卡扣12包括豎直設(shè)置且呈板體結(jié)構(gòu)的第一施力部122、自所述第一施力部122的一側(cè)彎折延伸形成的第一折彎部123及自所述第一折彎部123的一側(cè)向下延伸形成的第一卡扣部124，所述第一軸孔121開設(shè)在所述第一折彎部123，所述第二卡扣13包括豎直設(shè)置且呈板體結(jié)構(gòu)的第二施力部132、自所述第二施力部132的一側(cè)彎折延伸形成的第二折彎部133及自所述第二折彎部133的一側(cè)向下延伸形成的第二卡扣部135，所述第二軸孔131開設(shè)在所述第二折彎部133。所述第一卡扣部124的底部、第二卡扣部135的底部分別形成有第—^勾125和第二卡勾135。為了便于驅(qū)動第—^扣12、第二卡扣13相對基板11轉(zhuǎn)動，所述第一施力部122遠(yuǎn)離第一折彎部123的一側(cè)開設(shè)有第一腰型通孔126，所述第二施力部132遠(yuǎn)離第二折彎部133的一側(cè)開設(shè)有第二腰型通孔136。
[0024]在本實施例中，若干探針2排列