一種檢測坩堝內(nèi)寬的方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及坩禍檢測領(lǐng)域，特別是涉及一種檢測坩禍內(nèi)寬的方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]坩禍制備過程中有一個燒結(jié)工藝，在燒結(jié)前后坩禍底部厚度會有尺寸變化，坩禍廠家的出廠尺寸都有一定的規(guī)格要求，需要對燒結(jié)成型后的坩禍底部厚度檢測，厚度尺寸偏差大的還需要再進一步的修模，再檢測厚度達到合格再出廠，但由于坩禍形狀的特殊性，截面呈凹形，普通的標度尺和游標卡尺等都不能很好的檢測到坩禍的內(nèi)部寬度尺寸。
[0003]目前大多數(shù)鑄錠廠家對坩禍內(nèi)寬尺寸的來料檢驗都使用卷尺或者直尺簡單的測量一下，但是卷尺或者直尺在測量過程都不能很好在坩禍內(nèi)部伸展，所以測量的坩禍內(nèi)寬尺寸與實際厚度尺寸偏差值較大，人為因素影響較大，不能統(tǒng)一坩禍內(nèi)寬尺寸的檢測標準。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的是提供一種檢測坩禍內(nèi)寬的方法及裝置，可以精確的得到坩禍內(nèi)部任意位置的內(nèi)寬尺寸。
[0005]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明實施例提供了一種檢測坩禍內(nèi)寬的方法，包括:
[0006]將第一卡尺的左爪和第二卡尺的右爪的刻度調(diào)整到同一水平高度；
[0007]調(diào)整所述第一卡尺在水平尺的位置，使得所述左爪的尖端對應(yīng)所述水平尺的O刻度線；
[0008]調(diào)整所述第二卡尺在所述水平尺的位置，使得所述第二卡尺與所述第一卡尺緊
A+-.罪；
[0009]將被測的坩禍放置于所述第一卡尺和所述第二卡尺下，移動所述水平尺，使得所述左爪的尖端與所述坩禍內(nèi)的左側(cè)面接觸；
[0010]移動所述第二卡尺，使得所述右爪的尖端與所述坩禍內(nèi)的右側(cè)面接觸，所述第二卡尺的讀數(shù)即是所述坩禍的內(nèi)寬度值；
[0011]調(diào)整所述左爪和所述右爪的高度，按照上述步驟測量所述坩禍內(nèi)的不同高度處的寬度值。
[0012]除此之外，本發(fā)明還提供了一種檢測坩禍內(nèi)寬的裝置，使用上述所述的檢測坩禍內(nèi)寬的方法，包括:
[0013]至少一個垂直支架；
[0014]固定在所述垂直支架，并且表面具有刻度的水平尺；
[0015]豎直設(shè)置于所述水平尺上的第一卡尺和第二卡尺；
[0016]所述第一卡尺或所述第二卡尺為滑動卡尺；
[0017]設(shè)置于所述第一卡尺的左爪，所述左爪的尖端朝外；
[0018]設(shè)置于所述第二卡尺的右爪，所述右爪的尖端朝外。
[0019]其中，所述第一卡尺和/所述第二卡尺為數(shù)顯游標卡尺。
[0020]其中，所述第一卡尺上還設(shè)置有可沿所述第一卡尺滑動的第一滑塊，所述左爪設(shè)置于所述第一滑塊上。
[0021]其中，所述第二卡尺上還設(shè)置有可沿所述第二卡尺滑動的第二滑塊，所述右爪設(shè)置于所述第二滑塊上。
[0022]其中，還包括設(shè)置于所述水平尺上的第三滑塊，所述第一卡尺設(shè)置于所述第三滑塊上。
[0023]其中，還包括設(shè)置于所述水平尺上的第四滑塊，所述第二卡尺設(shè)置于所述第四滑塊上。
[0024]其中，所述左爪的尖端與所述第一卡尺的O刻度線平齊，或所述右爪的尖端與所述第二卡尺的O刻度線平齊。
[0025]其中，還包括水平滑塊，用于將所述水平尺固定于所述垂直支架上，用于所述水平尺在水平方向上移動，或者所述水平尺沿著所述垂直支架在豎直方向上移動。
[0026]其中，還包括設(shè)置于所述第一卡尺或所述第二卡尺的緊鎖螺母，用于在所述第一卡尺或者所述第二卡尺對準后，阻止所述第一卡尺或所述第二卡尺移動。
[0027]本發(fā)明實施例所提供的檢測坩禍內(nèi)寬的方法及裝置，與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點:
[0028]所述檢測坩禍內(nèi)寬的方法，包括:
[0029]將第一卡尺的左爪和第二卡尺的右爪的刻度調(diào)整到同一水平高度；
[0030]調(diào)整所述第一卡尺在水平尺的位置，使得所述左爪的尖端對應(yīng)所述水平尺的O刻度線；
[0031]調(diào)整所述第二卡尺在所述水平尺的位置，使得所述第二卡尺與所述第一卡尺緊
A+-.罪；
[0032]將被測的坩禍放置于所述第一卡尺和所述第二卡尺下，移動所述水平尺，使得所述左爪的尖端與所述坩禍內(nèi)的左側(cè)面接觸；
[0033]移動所述第二卡尺，使得所述右爪的尖端與所述坩禍內(nèi)的右側(cè)面接觸，所述第二卡尺的讀數(shù)即是所述坩禍的內(nèi)寬度值；
[0034]調(diào)整所述左爪和所述右爪的高度，按照上述步驟測量所述坩禍內(nèi)的不同高度處的寬度值。
[0035]所述檢測坩禍內(nèi)寬的方法，通過將所述水平尺上的第一卡尺和第二卡尺的放入被檢測的坩禍內(nèi)，由設(shè)置于所述第一卡尺上的左爪接觸坩禍內(nèi)的左側(cè)，由置于所述第二卡尺上的右爪接觸所述坩禍內(nèi)的右側(cè)，調(diào)節(jié)所述左爪和右爪的尖端在需要測量的所述坩禍的高度上，由于所述左爪和所述右爪在同一水平線上，所述左爪的尖端與所述右爪的尖端之間的間距就是需要測量的坩禍的寬度值，與所述左爪對應(yīng)的第一卡尺和與所述右爪對應(yīng)的第二卡尺之間的外端的距離就是需要測量的坩禍的這一高度的內(nèi)寬。
[0036]在整個操作過程中，操作簡單，測量精確，讀數(shù)方便、快捷，有利于檢測人員的快速理解和掌握，可以對坩禍內(nèi)任意位置進行檢測，檢測位置無死角，容易形成統(tǒng)一的檢驗標準和方法。與所述檢測坩禍內(nèi)寬的方法對應(yīng)的檢測坩禍內(nèi)寬的裝置，結(jié)構(gòu)簡單，制造成本低，測量過程簡單、快速、方便，便于檢測人員的快速掌握。
[0037]綜上所述，本發(fā)明實施例所提供的檢測坩禍內(nèi)寬的方法及裝置，測量精確，讀數(shù)方便、快捷，有利于檢測人員的快速理解和掌握，可以對坩禍內(nèi)任意位置進行檢測，檢測位置無死角，容易形成統(tǒng)一的檢驗標準和方法。
【附圖說明】
[0038]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0039]圖1為本發(fā)明實施例所提供的檢測坩禍內(nèi)寬的方法示意圖；
[0040]圖2為本發(fā)明實施例所提供的檢測坩禍內(nèi)寬的裝置檢測坩禍內(nèi)寬的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0041]正如【背景技術(shù)】部分所述，現(xiàn)有技術(shù)中的坩禍內(nèi)寬尺寸的來料檢驗都使用卷尺或者直尺簡單的測量一下，但是卷尺或者直尺在測量過程都不能很好在坩禍內(nèi)部伸展，所以測量的坩禍內(nèi)寬尺寸與實際厚度尺寸偏差值較大，人為因素影響較大，不能統(tǒng)一坩禍內(nèi)寬尺寸的檢測標準。
[0042]基于此，本發(fā)明實施例提供了所述檢測坩禍內(nèi)寬的方法，包括:
[0043]將第一卡尺的左爪和第二卡尺的右爪的刻度調(diào)整到同一水平高度；
[0044]調(diào)整所述第一卡尺在水平尺的位置，使得所述左爪的尖端對應(yīng)所述水平尺的O刻度線；
[0045]調(diào)整所述第二卡尺在所述水平尺的位置，使得所述第二卡尺與所述第一卡尺緊
A+-.罪；
[0046]將被測的坩禍放置于所述第一卡尺和所述第二卡尺下，移動所述水平尺，使得所述左爪的尖端與所述坩禍內(nèi)的左側(cè)面接觸；
[0047]移動所述第二卡尺，使得所述右爪的尖端與所述坩禍內(nèi)的右側(cè)面接觸，所述第二卡尺的讀數(shù)即是所述坩禍的內(nèi)寬度值；
[0048]調(diào)整所述左爪和所述右爪的高度，按照上述步驟測量所述坩禍內(nèi)的不同高度處的寬度值。
[0049]除此之外，本發(fā)明實施例還提供了一種檢測坩禍內(nèi)寬的裝置，使用上述所述的檢測坩禍內(nèi)寬的方法，包括:
[0050]至少一個垂直支架；
[0051]固定在所述垂直支架，并且表面具有刻度的水平尺；
[0052]豎直設(shè)置于所述水平尺上的第一卡尺和第二卡