盤”釉面蝕斑2000倍三維合成立體圖；
[0040]圖6是環(huán)境電子顯微鏡觀測瓷器A釉面上的自然老化裂紋；
[0041]圖7是環(huán)境電子顯微鏡觀測瓷器B釉面上的人工做舊裂紋；
[0042]圖8是瓷器A(右)與瓷器B (左)的釉面蝕刻痕跡掃描對比圖。
【具體實(shí)施方式】
[0043]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明。實(shí)施例中所使用的顯微儀器如無特別說明，均為基恩士多功能一體化超景深三維立體顯微鏡VHX-2000。
[0044]實(shí)施例一
[0045]一件北宋汝窯天青釉隱圈足花口盤瓷器(以下簡稱“花口盤”)的真?zhèn)舞b定實(shí)例。具體觀測內(nèi)容及鑒定結(jié)果如下:
[0046]先用三維掃描儀對“花口盤”進(jìn)行三維實(shí)物掃描。該器型釉面呈天青色，盤口直徑約16.5厘米，隱圈足直徑約6.5厘米，盤高約3.5厘米。
[0047]然后在200X倍率顯微儀器下觀察“花口盤”的釉面顯微特征，如圖1所示，其釉面有明顯的自然分形特征，并有細(xì)小樹狀分枝裂紋和不同層級大小的淺黃色斑點(diǎn)散布其間。
[0048]在此基礎(chǔ)上，靶定一些典型的蝕刻痕跡，如較明顯的蝕紋和較大的蝕斑，作為觀測目標(biāo)，然后在1000X-2000X倍率下做進(jìn)一步的觀測。圖2顯示的是“花口盤”釉面開片裂紋在1000倍率下觀察到的發(fā)育情形，裂紋呈淺黃色(自然老化顏色)，裂紋邊緣及裂紋走向順暢自然，沒有人為做舊痕跡那樣的呆板和生硬感。
[0049]圖3顯示的是“花口盤”釉面蝕斑在2000倍率下的發(fā)育情形，該蝕刻斑點(diǎn)呈不規(guī)則的破氣泡狀，破氣泡形態(tài)及破口邊緣發(fā)育自然，且與周邊不同層級的各色小泡有明顯的層次感。
[0050]進(jìn)一步，在步進(jìn)電機(jī)或伺服電機(jī)數(shù)控驅(qū)動(dòng)下，對靶定的觀測目標(biāo)(前述蝕紋和蝕斑)在2000X倍率下進(jìn)行大景深多焦平面觀測，并對每一個(gè)觀測目標(biāo)的所有圖像通過電腦軟件進(jìn)行合成，從而形成該目標(biāo)的三維立體圖像。圖4顯示的是“花口盤”開片蝕紋在2000X倍率下的三維立體合成圖像，清晰地呈現(xiàn)出開片裂紋與釉面晶相之間的相互關(guān)系及發(fā)育程度(即裂紋深度和寬度)，該裂紋是“花口盤”多個(gè)裂紋中最深和最寬的一個(gè)，并出現(xiàn)在“花口盤”多個(gè)裂紋出現(xiàn)的最薄處；圖5顯示的是“花口盤”破氣泡在2000X倍率下的三維立體合成圖像，也清晰地呈現(xiàn)出破氣泡與釉面晶相之間的相互關(guān)系及發(fā)育程度(即破氣泡的直徑和高度)，該破氣泡是“花口盤”多個(gè)破氣泡中最大和最深的一個(gè)，并出現(xiàn)在“花口盤”多個(gè)破氣泡出現(xiàn)的最薄處。因此，這兩處蝕刻痕跡的發(fā)育時(shí)序?qū)哟巫匀挥行颉?br>[0051]基于以上不同倍率下的顯微觀測結(jié)果，該“花口盤”瓷器的釉面確實(shí)出現(xiàn)了明顯的自然蝕刻痕跡特征，痕跡特征主要表現(xiàn)為蝕刻斑點(diǎn)呈不規(guī)則的破氣泡狀、不同蝕刻斑點(diǎn)和裂紋發(fā)育的時(shí)序?qū)哟巫匀挥行?，且整個(gè)釉面沒有觀測到形態(tài)比較規(guī)整、呈等高線樣分布、發(fā)育時(shí)序?qū)哟尾蛔匀坏娜斯のg刻痕跡。因此，可以判斷該“花口盤”瓷器是積年在100年以上的真品。
[0052]實(shí)施例二
[0053]清涼寺汝窯瓷器真品與新仿汝窯瓷器的顯微觀測鑒定。
[0054]用三維掃描儀對待鑒定的瓷器A和B的外觀形態(tài)進(jìn)行三維實(shí)物掃描，然后在200X-500X倍率顯微儀器下觀察兩個(gè)瓷器的釉面，兩個(gè)瓷器釉面均出現(xiàn)蝕紋。
[0055]再通過步進(jìn)電機(jī)或伺服電機(jī)數(shù)控驅(qū)動(dòng)的1000X-5000X倍率環(huán)境電子顯微鏡對靶定的瓷器釉面蝕刻痕跡進(jìn)行大景深多焦平面觀測，圖6是瓷器A釉面蝕紋2000倍顯微鏡圖、圖7是瓷器B釉面蝕紋2000倍顯微鏡圖，從兩個(gè)圖的比較可以清晰分辨:瓷器A的蝕刻裂紋邊緣不清晰、蝕刻裂紋呈不規(guī)則樹枝狀，因此形態(tài)特征不規(guī)整；而瓷器B的蝕刻裂紋的線條均勻光滑，蝕刻裂紋呈規(guī)則的樹枝狀，因此形態(tài)特征規(guī)整。
[0056]圖8中的右面兩張圖是瓷器A的釉面蝕刻痕跡掃描圖，左面兩張圖是瓷器B的釉面蝕刻痕跡掃描圖，右下圖為3000X掃描圖，其余三個(gè)圖為450X掃描圖，從圖上清晰可見:瓷器A的蝕刻痕跡(蝕斑)分布都有明顯的隨機(jī)性；而瓷器B在左下圖中的蝕紋呈規(guī)整的等高線樣分布，而在左上圖的蝕紋則呈規(guī)整的放射狀分布。
[0057]據(jù)此判斷為:瓷器A為真品，瓷器B為仿品。經(jīng)過與瓷器保存者及資料的印證，瓷器A為清涼寺汝窯瓷器真品，瓷器B為經(jīng)化學(xué)處理“做舊”后的新仿做舊品。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種古陶瓷真?zhèn)蔚娜S數(shù)控顯微觀測鑒定方法，其特征在于，包括以下步驟:先用三維掃描儀對待鑒定陶瓷器的外觀形態(tài)進(jìn)行三維實(shí)物掃描，然后在200X-500X倍率顯微儀器下觀察陶瓷器的釉面，靶定陶瓷器的釉面蝕刻痕跡，再通過步進(jìn)電機(jī)或伺服電機(jī)數(shù)控驅(qū)動(dòng)的1000X-5000X倍率顯微儀器對所靶定的陶瓷器釉面蝕刻痕跡進(jìn)行大景深多焦平面觀測，以顯微儀器觀測到的釉面蝕刻痕跡的特征和性質(zhì)為依據(jù)，對該陶瓷器進(jìn)行判斷: (1)若陶瓷器釉面無蝕刻痕跡，為近百年出現(xiàn)的新仿品； (2)若陶瓷器釉面有蝕刻痕跡，再按以下標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行判斷: A.若蝕刻痕跡具備以下三個(gè)指標(biāo)中的任意一個(gè)或一個(gè)以上，這樣的蝕刻痕跡即為自然蝕刻痕跡:蝕刻痕跡形態(tài)特征不規(guī)整、蝕刻痕跡的分布呈現(xiàn)隨機(jī)性、蝕刻痕跡發(fā)育的時(shí)序?qū)哟巫匀挥行?；只觀測到自然蝕刻痕跡的釉面陶瓷器，可以判定為積年在100年以上的古陶瓷器真品； B.若蝕刻痕跡具備以下三個(gè)指標(biāo)中的任意一個(gè)或一個(gè)以上，即為人為蝕刻痕跡:蝕刻痕跡的形態(tài)特征比較規(guī)整、蝕刻痕跡發(fā)育的時(shí)序?qū)哟尾蛔匀?、蝕刻痕跡的分布呈等高線樣的非隨機(jī)性；只觀測到人為蝕刻痕跡的釉面陶瓷器，可以判定為100年以內(nèi)經(jīng)過人工做舊處理的新仿做舊品； C.若陶瓷器釉面既出現(xiàn)了自然蝕刻痕跡，又出現(xiàn)了人為蝕刻痕跡，可以判定該陶瓷器為積年在100年以上的古陶瓷器仿品，即后仿做舊品。
2.如權(quán)利要求1所述的古陶瓷真?zhèn)蔚娜S數(shù)控顯微觀測鑒定方法，其特征在于:經(jīng)數(shù)控驅(qū)動(dòng)的1000X-5000X倍率顯微儀器觀察后，再采用電腦三維圖形合成軟件將靶定目標(biāo)的所有觀測圖形合成為清晰的三維立體圖像，并進(jìn)一步以三維立體圖像所顯示出的釉面蝕刻痕跡的特征和性質(zhì)為依據(jù)，對該陶瓷器進(jìn)行判斷。
3.如權(quán)利要求1或2所述的古陶瓷真?zhèn)蔚娜S數(shù)控顯微觀測鑒定方法，其特征在于:對A中判定積年在100年以上的古陶瓷器真品，進(jìn)一步從以下三個(gè)方面鑒別: a.釉面蝕刻痕跡的蝕紋或蝕斑中沉積物少，該古陶瓷器真品屬于傳世品； b.釉面蝕刻痕跡的蝕紋或蝕斑中沉積物多，并以微細(xì)小沙粒為主，該古陶瓷器真品屬于土古品； c.釉面蝕刻痕跡的蝕紋或蝕斑中沉積物多，并以微生物殘骸為主，該古陶瓷器真品屬于水古品。
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種鑒別各類古陶瓷器物的真假品質(zhì)及新舊屬性的三維數(shù)控顯微觀測的科學(xué)鑒定方法。先用三維掃描儀對待鑒定陶瓷器的外觀形態(tài)進(jìn)行三維實(shí)物掃描，然后在200X-500X倍率顯微儀器下觀察陶瓷器的釉面，靶定陶瓷器釉面蝕刻痕跡，再通過步進(jìn)電機(jī)或伺服電機(jī)數(shù)控驅(qū)動(dòng)的1000X-5000X倍率顯微儀器對靶定的陶瓷器釉面蝕刻痕跡進(jìn)行大景深多焦平面觀測，并將三維數(shù)控顯微圖形合成為立體圖像，綜合鑒別古陶瓷器的新舊屬性及真假品質(zhì)。本發(fā)明利用古陶瓷釉面在時(shí)空長河中自然發(fā)育形成的自然蝕刻痕跡特征，通過高分辨率顯微觀測儀器和三維數(shù)控顯微圖形合成的立體成像技術(shù)來鑒別古陶瓷器的新舊屬性及真假品質(zhì)，可以準(zhǔn)確無誤地做出鑒識和判別。
【IPC分類】G01N21-84
【公開號】CN104807827
【申請?zhí)枴緾N201510262721
【發(fā)明人】潘彥伯, 曹茂林
【申請人】四川雅知堂藝術(shù)品有限公司
【公開日】2015年7月29日
【申請日】2015年5月21日...