光學(xué)薄膜的檢查裝置及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及光學(xué)薄膜的檢查裝置及方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 偏光件、TAC、相位差薄膜等之類的各種各樣的光學(xué)薄膜用于圖像顯示裝置中。由 于圖像顯示裝置的發(fā)展而用于其中的光學(xué)薄膜也要求高質(zhì)量。
[0003] 尤其是，偏光板由偏光件和與偏光件的至少一表面接合的保護(hù)薄膜構(gòu)成，因此有 以下各種各樣的原因，形成各分層薄膜的樹脂組成物中混合有異物的情況、樹脂組成物的 薄膜硬化時(shí)產(chǎn)生氣泡的情況、各分層薄膜的層疊時(shí)層間混入異物的情況、薄膜表面產(chǎn)生刮 痕的情況、薄膜產(chǎn)生翹曲的情況等。
[0004] 由于上述那樣的產(chǎn)生不良的各種各樣的原因而產(chǎn)生各種各樣形態(tài)的缺陷。例如， 如果插入有異物、或者產(chǎn)生氣泡，則光學(xué)薄膜的表面在該部位產(chǎn)生凹凸?fàn)畹娜毕?，而在產(chǎn)生 刮痕時(shí)在薄膜表面產(chǎn)生直線狀的缺陷。
[0005] 另外，在液晶顯示裝置中，偏光板由上部偏光板和下部偏光板這兩張構(gòu)成，上部偏 光板和下部偏光板可根據(jù)需要配置在其吸收軸相互垂直或者平行的位置，但是，有些缺陷 在吸收軸相互垂直配置或者平行配置時(shí)更容易發(fā)現(xiàn)、或者僅在某一配置時(shí)才能被發(fā)現(xiàn)。
[0006] 因而，在光學(xué)薄膜制造完成之后，為了除去產(chǎn)生這樣的缺陷的部分而配備用于檢 測(cè)缺陷的工序。因而，分別需要對(duì)制造好的偏光板進(jìn)行吸收軸相互垂直配置的檢查及平行 的配置的檢查。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007] 本發(fā)明要解決的技術(shù)問題
[0008] 本發(fā)明的目的在于，提供能夠?qū)Ω鞣N光學(xué)薄膜完成各種模式的全部檢查的檢查裝 置及方法。
[0009] 用于解決技術(shù)問題的方式
[0010] 1.提供一種光學(xué)薄膜檢查裝置，其中，具備：光源部，其具備照射綠色光或者藍(lán)色 光的第一光源部及照射紅色光或者紅外線的第二光源部，且所述第一光源部和第二光源部 交替地向偏光部照射光；偏光部，其具備配置在所述光向攝像部入射的路徑上的檢查對(duì)象 薄膜及檢查用偏光板；以及攝像部，其以所述偏光部為基準(zhǔn)而在所述光源的相反側(cè)對(duì)所述 偏光部進(jìn)行攝像。
[0011] 2.在所述項(xiàng)目1的基礎(chǔ)上提供一種光學(xué)薄膜檢查裝置，其中，所述第一光源部一 同照射綠色光和藍(lán)色光。
[0012] 3.在所述項(xiàng)目1的基礎(chǔ)上提供一種光學(xué)薄膜檢查裝置，其中，所述第二光源部一 同照射紅外線和紅色光。
[0013] 4.在所述項(xiàng)目1的基礎(chǔ)上提供一種光學(xué)薄膜檢查裝置，其中，所述檢查對(duì)象薄膜 為從偏光件、相位差薄膜、保護(hù)薄膜及它們的二個(gè)以上的層疊薄膜構(gòu)成的組中選擇出的光 學(xué)薄膜。
[0014] 5.在所述項(xiàng)目4的基礎(chǔ)上提供一種光學(xué)薄膜檢查裝置，其中，在所述檢查對(duì)象薄 膜包含偏光件的情況下，所述檢查用偏光板的吸收軸與所述偏光件的吸收軸垂直。
[0015] 6.在所述項(xiàng)目5的基礎(chǔ)上提供一種光學(xué)薄膜檢查裝置，其中，在所述檢查對(duì)象薄 膜為偏光件及相位差薄膜的層疊薄膜的情況下，所述相位差薄膜位于偏光件與所述檢查用 偏光板之間，且所述光為綠色光。
[0016] 7.在所述項(xiàng)目5的基礎(chǔ)上提供一種光學(xué)薄膜檢查裝置，其中，所述檢查用偏光板 在第二光源部的光照射時(shí)以所述偏光件與其吸收軸成為平行的方式旋轉(zhuǎn)90°。
[0017] 8.在所述項(xiàng)目1的基礎(chǔ)上提供一種光學(xué)薄膜檢查裝置，其中，所述檢查用偏光板 在第二光源部的光照射時(shí)脫離所述攝像部的攝像區(qū)域而進(jìn)行移動(dòng)。
[0018] 9.在所述項(xiàng)目1的基礎(chǔ)上提供一種光學(xué)薄膜檢查裝置，其中，所述檢查裝置用于 檢查對(duì)象薄膜被連續(xù)地提供的在線制造工序之中，還具備：編碼器，其用于測(cè)定檢查對(duì)象薄 膜的移動(dòng)速度；以及控制器，其通過從所述編碼器接收到的移動(dòng)速度來確定第一光源部及 第二光源部的照射周期，進(jìn)而將所述周期信號(hào)向光源部發(fā)送。
[0019] 10.提供一種光學(xué)薄膜的檢查方法，其中，通過照射綠色光或者藍(lán)色光的第一光源 部和照射紅色光或者紅外線的第二光源部、交替地向具備檢查對(duì)象薄膜及檢查用偏光板的 偏光部照射光，以檢測(cè)不良。
[0020] 11.在所述項(xiàng)目10的基礎(chǔ)上，提供一種光學(xué)薄膜的檢查方法，其中，所述第一光源 部一同照射綠色光和藍(lán)色光。
[0021] 12.在所述項(xiàng)目10的基礎(chǔ)上，提供一種光學(xué)薄膜的檢查方法，其中，所述第二光源 部一同照射紅外線和紅色光。
[0022] 13.在所述項(xiàng)目10的基礎(chǔ)上，提供一種光學(xué)薄膜的檢查方法，其中，所述檢查對(duì)象 薄膜為從偏光件、相位差薄膜、保護(hù)薄膜及它們的二個(gè)以上的層疊薄膜構(gòu)成的組中選擇出 的光學(xué)薄膜。
[0023] 14.在所述項(xiàng)目13的基礎(chǔ)上，提供一種光學(xué)薄膜的檢查方法，其中，在所述檢查 對(duì)象薄膜包含偏光件的情況下，所述檢查用偏光板的吸收軸與所述偏光件的吸收軸垂直配 置，從而完成對(duì)象薄膜的暗黑模式及白色模式的全部檢查。
[0024] 15.在所述項(xiàng)目14的基礎(chǔ)上，提供一種光學(xué)薄膜的檢查方法，其中，在所述檢查對(duì) 象薄膜為偏光件及相位差薄膜的層疊薄膜的情況下，所述相位差薄膜位于偏光件與所述檢 查用偏光板之間，且所述光為綠色光。
[0025] 16.在所述項(xiàng)目14的基礎(chǔ)上，提供一種光學(xué)薄膜的檢查方法，其中，所述檢查用偏 光板在第二光源部的光照射時(shí)以所述偏光件與其吸收軸成為平行的方式旋轉(zhuǎn)90°。
[0026] 17.在所述項(xiàng)目10的基礎(chǔ)上，提供一種光學(xué)薄膜的檢查方法，其中，所述檢查用偏 光板在第二光源部的光照射時(shí)脫離所述檢查區(qū)域而進(jìn)行移動(dòng)。
[0027] 18.在所述項(xiàng)目10的基礎(chǔ)上，提供一種光學(xué)薄膜的檢查方法，其中，所述檢查方法 用于檢查對(duì)象薄膜被連續(xù)地提供的在線制造工序之中，在所述檢查方法中使用：編碼器，其 用于測(cè)定檢查對(duì)象薄膜的移動(dòng)速度；以及控制器，其通過從所述編碼器接收到的移動(dòng)速度 來確定光源部的綠色光及紅外線的照射周期，進(jìn)而將所述周期信號(hào)向光源部發(fā)送。
[0028] 發(fā)明效果
[0029] 本發(fā)明的檢查裝置通過采用特定波長(zhǎng)的光，由此在光學(xué)薄膜的檢查時(shí)能夠更加精 確地檢查，且能夠?qū)崿F(xiàn)各種各樣的檢查。
[0030] 在對(duì)偏光板進(jìn)行檢查的情況下，能夠完成暗黑模式及白色模式的全部缺陷檢測(cè)。 由此，無需另行進(jìn)行各模式的缺陷檢測(cè)，能夠沒有額外的設(shè)備而更加迅速地完成偏光板的 檢查。
[0031] 尤其是，即便在偏光板在其一表面作為保護(hù)薄膜而采用相位差薄膜的情況下（或 者保護(hù)薄膜具有相位差的情況下），也能夠?qū)崿F(xiàn)準(zhǔn)確的暗黑模式的檢查。
【附圖說明】
[0032] 圖1是概略性地表示本發(fā)明的檢查裝置的一實(shí)施方式的圖。
[0033] 圖2是概略性地表示基于本發(fā)明的光源的一實(shí)施方式的圖。
[0034] 圖3是表示試驗(yàn)例1的影像的圖像的圖。
[0035] 圖4是表示試驗(yàn)例2的影像的圖像的圖。
[0036] 圖5是表示試驗(yàn)例3的影像的圖像的圖。
[0037] 圖6是表示試驗(yàn)例4的影像的圖像的圖。
[0038] 附圖標(biāo)記說明
[0039] 100 :光源部
[0040] 200 :偏光部
[0041] 210:檢查對(duì)象薄膜
[0042] 220 :檢查用偏光板
[0043] 300 :攝像部
[0044] 400 :編碼器
[0045] 5〇0 :控制器
【具體實(shí)施方式】
[0046] 本發(fā)明涉及一種光學(xué)薄膜檢查裝置，具備：光源部，其具備照射綠色光或者藍(lán)色光 的第一光源部及照射紅色光或者紅外線的第二光源部，且所述第一光源部和第二光源部交 替地向偏光部照射光；偏光部，其具備配置在所述光向攝像部入射的路徑上的檢查對(duì)象薄 膜及檢查用偏光板；以及攝像部，其以所述偏光部為基準(zhǔn)而在所述光源的相反側(cè)對(duì)所述偏 光部進(jìn)行攝像，由此能夠完成暗黑模式及白色模式的全部檢查。
[0047] 在本發(fā)明中，所謂暗黑模式的檢查為：在將兩張偏光板以其吸收軸成為相互垂直 的方式配置之后，使光源位于所述偏光板的一側(cè)，并向偏光板照射光，通常由于光無法透射 所述兩張偏光板，故以黑暗的狀態(tài)作為基準(zhǔn)（暗黑模式）而在其相反側(cè)對(duì)亮點(diǎn)缺陷（